JPH03264140A - 半導体装置のリードカツト方法 - Google Patents

半導体装置のリードカツト方法

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JPH03264140A
JPH03264140A JP9063125A JP6312590A JPH03264140A JP H03264140 A JPH03264140 A JP H03264140A JP 9063125 A JP9063125 A JP 9063125A JP 6312590 A JP6312590 A JP 6312590A JP H03264140 A JPH03264140 A JP H03264140A
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JP
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lead
semiconductor device
cutting
leads
cut
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Saonori Hieda
稗田 佐百規
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、リードの切断に使用する半導体装置のり一部
カット方法に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の半導体装置のリードカット方法は、次に
示す手順を経て行われる。すなわち、第2図に示すよう
にめっきlによって外装処理が施された外部接続用のり
−ド2を有する半導体装置(図示せず)を受けダイ4上
に載置し、次にこの半導体装置(図示せず)のり一部2
を上下方向に昇降するカットダイ5によって切断するの
である。
この場合、切断時にはカットダイ5を上方から下方に向
かって垂直に下降させる。なお、リード2の切断面2a
には、切断時にだれによってめっき1が付着する。
この後、リード2には基板実装用の半田が付着される。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、従来の半導体装置のリードカット方法におい
ては、リード2の切断面2aがリード突出方向に対して
垂直な切断面となるものであるため、この切断面2aに
めっき1が十分に付着せず、リード切断面の一部が外部
に露呈されていた。この結果、次工程においてリード2
の一部に半田が付着せず、電気抵抗が大きくなったり、
接合強度が低下したり、リード切断面が腐蝕したり、あ
るいは外観不良が発生したりして品質上の信頼性が低下
するという問題があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、リー
ドにおける電気抵抗の増大、接合強度の低下、切断面の
腐蝕あるいは外観不良の発生を防止することができ、も
って品質上の信頼性を向上させることができる半導体装
置のリードカット方法を提供するものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る半導体装置のリードカフ)方法は、予め外
装めっき処理が施された外部接続用のリードを有する半
導体装置を受けダイ上に載置し、次にこの半導体装置の
リードをカントダイによって切断する方法であって、リ
ードに対してリード切断面がリード先端部に向かって下
る勾配をもつ傾斜面となるような塑性変形力を切断時に
付与するものである。
〔作 用〕
本発明においては、リード切断時にリードの切断面に外
装処理用のめっきを付着させることができる。
〔実施例〕
以下、本発明の槽底等を図に示す実施例によって詳細に
説明する。
第1図は本発明に係る半導体装置のリードカット方法を
説明するための断面図で、同図において第2図と同一の
部材については同一の符号を付し、詳細な説明は省略す
る。同図において、符号11で示す外部接続用のリード
の切断面11aは、封止樹脂(図示せず)の側から先端
部に向かってリード厚が薄くなるような傾斜面によって
形成されている。すなわち、このリード11の傾斜面は
、リード先端部に向かって下る勾配をもつのである。
12は前記リード11を切断するカットダイで、前記受
けダイ4の上方に昇降自在に設けられている。このカッ
トダイ12の先端部は、前記リード11の切断面11a
に適合する形状に形成されている。
次に、本発明の一実施例である半導体装置のリードカッ
ト方法について説明する。
すなわち、リードカットは、予め外装めっき処理が施さ
れた外部接続用のリード11を有する半導体装置(図示
せず)を受けダイ4上に載置し、次にこの半導体装置(
図示せず)のリード11をカットダイ12によって切断
する方法であって、リード11にリード切断面11aが
リード先端部に向かって下る勾配をもつ傾斜面になるよ
うな塑性変形力を付与することにより行われる。この場
合、リード切断時にはカットダイ12を上方から下方に
向かって垂直に下降させる。
この後、リード11には基板接続用の半田が付着される
したがって、本実施例においては、リード切断時にリー
ド11の切断面11aにめっき1を付着させることがで
きるから、めっき1によってり一部11の切断面11a
を覆うことができ、次工程におけるリード11に対する
半田付着を十分に保証することができる。
なお、本実施例においては、カットダイ5を垂直に下降
させることによりリード切断面11aを傾斜させる例を
示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例
えばカントダイ12の下降方向を変更しても実施例と同
様の切断面11aとすることができる。すなわち要する
に、本発明はリード切断面11aをリード先端部に向か
って下る勾配をもつ傾斜面とすることにより、リード切
断面11aにめっき1を付着させることができればよい
のである。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、予め外装めっき処
理が施された外部接続用のリードを有する半導体装置を
受けダイ上に載置し、次にこの半導体装置のリードをカ
ットダイによって切断する方法であって、リードにリー
ド切断面がリード先端部に向かって下る勾配を傾斜面と
なるような塑性変形力を切断時に付与するので、リード
切断時にリードの切断面に外装処理用のめっきを付着さ
せ、このめっきによってリードの切断面を覆うことがで
きる。したがって、次工程におけるリードに対する半田
付着を十分に保証することができるから、リードにおけ
る電気抵抗の増大、接合強度の低下、切断面の腐蝕ある
いは外観不良の発生を防止することができ、品質上の信
頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る半導体装置のリードカット方法を
説明するための断面図、第2図は従来の半導体装置のリ
ードカット方法を説明するための断面図である。 1・・・・めっき、4・・・・受けダイ、11・・・・
リード、lla・・・・切断面、12・・・・カットダ
イ。 代  理  人  大 岩 増 雄 12: カヅトタ〆

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 予め外装めっき処理が施された外部接続用のリードを有
    する半導体装置を受けダイ上に載置し、次にこの半導体
    装置のリードをカットダイによって切断する方法であっ
    て、前記リードに対してリード切断面がリード先端部に
    向かって下る勾配をもつ傾斜面となるような塑性変形力
    を切断時に付与することを特徴とする半導体装置のリー
    ドカット方法。
JP2063125A 1990-03-14 1990-03-14 半導体装置のリードカツト方法 Expired - Fee Related JPH0832348B2 (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010033943A (ja) * 2008-07-30 2010-02-12 Yazaki Corp コネクタ端子の製造方法及びコネクタ端子
JP2013215742A (ja) * 2012-04-05 2013-10-24 Eiko Yamada 溶剤封入溶接線用の鋼片の製造方法
JP2015153913A (ja) * 2014-02-14 2015-08-24 セイコーインスツル株式会社 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2022080002A (ja) * 2020-11-17 2022-05-27 サンコール株式会社 バスバーアッセンブリ及びその製造方法
CN116282841A (zh) * 2023-03-31 2023-06-23 四川虹科创新科技有限公司 玻璃窑炉清理旋转闸板积灰结构

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JPH0832348B2 (ja) 1996-03-29

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