JPH03264181A - ダイヤモンドの研磨方法 - Google Patents
ダイヤモンドの研磨方法Info
- Publication number
- JPH03264181A JPH03264181A JP2058702A JP5870290A JPH03264181A JP H03264181 A JPH03264181 A JP H03264181A JP 2058702 A JP2058702 A JP 2058702A JP 5870290 A JP5870290 A JP 5870290A JP H03264181 A JPH03264181 A JP H03264181A
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- Japan
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- diamond
- laser beam
- atmosphere
- polishing method
- laser
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- Pending
Links
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- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 3
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 claims abstract 2
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Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、切削工具、メス、ヒートシンク、電子基板
材料などに用いられるダイヤモンドの研磨方法に関する
ものである。
材料などに用いられるダイヤモンドの研磨方法に関する
ものである。
従来の技術
切削工具、例えば、切削用バイトの先端には人造ダイヤ
モンドで形式したチップが設けられているが、このチッ
プのすくい面は切れ味を良くするため研磨されている。
モンドで形式したチップが設けられているが、このチッ
プのすくい面は切れ味を良くするため研磨されている。
このチップ(ダイヤモンド)のすくい面の研磨方法とし
て、従来、ダイヤモンド粒子を用いた、所謂「とも擦り
法」が用いられている。
て、従来、ダイヤモンド粒子を用いた、所謂「とも擦り
法」が用いられている。
発明が解決しようとする課題
従来例のダイヤモンドの研磨方法では、研磨速度が0.
1 μs/min、〜0.1 μ@/h、と遅いので小
さなチップの研磨に長時間を要している。
1 μs/min、〜0.1 μ@/h、と遅いので小
さなチップの研磨に長時間を要している。
この発明は、前記事情に鑑み効率良くダイヤモンドを研
磨できるようにすることを目的とする。
磨できるようにすることを目的とする。
課題を解決するための手段
この発明は、ダイヤモンドの表面にレーザビームの側面
を当接せしめることにより前記目的を遠戚しようとする
ものである。
を当接せしめることにより前記目的を遠戚しようとする
ものである。
作用
レーザビームの側面がダイヤモンドの表面に当接すると
、該表面は同時に広い範囲に亘りレーザビームの熱エネ
ルギが与えられ、該表面の凹凸部分が除去され平坦な面
となる。
、該表面は同時に広い範囲に亘りレーザビームの熱エネ
ルギが与えられ、該表面の凹凸部分が除去され平坦な面
となる。
実施例
この発明の実施例を添付図面により説明するが、同一図
面符号はその名称も機能も同一である。
面符号はその名称も機能も同一である。
メタンと水素ガスを原料としてアーク放電プラズマジェ
ットCVD法によりダイヤモンド1を合成し、該ダイヤ
モンド1をYAGレーザ装置などにより三角形状に切断
して切削用バイトのチップ1を形成する。
ットCVD法によりダイヤモンド1を合成し、該ダイヤ
モンド1をYAGレーザ装置などにより三角形状に切断
して切削用バイトのチップ1を形成する。
このチップ(ダイヤモンド〉1の表面1aにレーザ発生
装置、例えば、YAGレーザ装置3のレーザビーム4を
照射する。
装置、例えば、YAGレーザ装置3のレーザビーム4を
照射する。
この時の仮想設計面、すなわち、研磨完了時のダイヤモ
ンドの研磨面、1bに対する照射角度θは、15度にし
、レーザビーム4の側面4aがチップの仮想設計面1b
と平行となるようにする。照射角度θは、レーザビーム
の広がり角やパワー等により適宜調整されることは勿論
である。このYAGレーザ装置3は、平均出力で最大1
2Wの連続発振と尖頭値出力で最大23KWのパルス発
振が可能であり、また、発振したレーザビーム4は焦点
距離50■のレンズ5により集光される。
ンドの研磨面、1bに対する照射角度θは、15度にし
、レーザビーム4の側面4aがチップの仮想設計面1b
と平行となるようにする。照射角度θは、レーザビーム
の広がり角やパワー等により適宜調整されることは勿論
である。このYAGレーザ装置3は、平均出力で最大1
2Wの連続発振と尖頭値出力で最大23KWのパルス発
振が可能であり、また、発振したレーザビーム4は焦点
距離50■のレンズ5により集光される。
次に、X−Yテーブル2を矢印2Y方向に移動して、チ
ップの表面1aをレーザビーム4の側面4aに当接させ
ると、第2図に示すように、レーザビーム4の側面4a
はチップ1の底辺上に位置し、該底辺の全長に亘り同時
に接触して熱エネルギを与える。この状態において、テ
ーブル2を矢印2X方向に移動すると、チップ1の表面
1aはレーザビームの側面4aからの熱エネルギを吸収
して第3図に示すように凹凸部分が除去され、滑らかな
すくい面となる。
ップの表面1aをレーザビーム4の側面4aに当接させ
ると、第2図に示すように、レーザビーム4の側面4a
はチップ1の底辺上に位置し、該底辺の全長に亘り同時
に接触して熱エネルギを与える。この状態において、テ
ーブル2を矢印2X方向に移動すると、チップ1の表面
1aはレーザビームの側面4aからの熱エネルギを吸収
して第3図に示すように凹凸部分が除去され、滑らかな
すくい面となる。
チップの逃げ面はYAGレーザ装置により切断されたレ
ーザ切断面である。YAGレーザをダイヤモンドに対し
垂直に照射した場合レーザ切断面は垂直方向に対し7度
の傾きを持つ面となるがこの照射角度を変化させること
により任意の傾きを有する切断面を得ることが出来る。
ーザ切断面である。YAGレーザをダイヤモンドに対し
垂直に照射した場合レーザ切断面は垂直方向に対し7度
の傾きを持つ面となるがこの照射角度を変化させること
により任意の傾きを有する切断面を得ることが出来る。
この発明の実施例は上記に限定されるものではなく、例
えば、YAGレーザ装置3を固定し、ダイヤモンド1を
移動する代わりに、前者3を移動し、後者1を固定して
もよいことは勿論である。 又、X−Yテーブル上のダ
イヤモンド1をチャンバの中に入れ、該チャンバ内を真
空にしたり、または、酸素、空気、アルゴンの何れか、
をチャンバ内に供給して雰囲気を形成しながら研磨作業
を行ってもよい。
えば、YAGレーザ装置3を固定し、ダイヤモンド1を
移動する代わりに、前者3を移動し、後者1を固定して
もよいことは勿論である。 又、X−Yテーブル上のダ
イヤモンド1をチャンバの中に入れ、該チャンバ内を真
空にしたり、または、酸素、空気、アルゴンの何れか、
をチャンバ内に供給して雰囲気を形成しながら研磨作業
を行ってもよい。
なお、このダイヤモンドの研磨方法によりダイヤモンド
の表面を一度粗研磨した後、従来の「とも擦り法」によ
り仕上げ研磨をすると、短時間に、しかも、より滑らか
な研磨面を得ることが出来る。 更に、この研磨方法に
より研磨されたダイヤモンド1は、切削用バイトのみな
らず、メス、ヒートシンク、電子基板材料等へも広く利
用できることは言うまでもない。
の表面を一度粗研磨した後、従来の「とも擦り法」によ
り仕上げ研磨をすると、短時間に、しかも、より滑らか
な研磨面を得ることが出来る。 更に、この研磨方法に
より研磨されたダイヤモンド1は、切削用バイトのみな
らず、メス、ヒートシンク、電子基板材料等へも広く利
用できることは言うまでもない。
発明の効果
この発明に係るダイヤモンドの研磨方法は、ダイヤモン
ドの表面にレーザビームの側面を当接せしめるので、レ
ーザビームがダイヤモンドの表面と広い範囲にわたり、
同時に接触して熱エネル玉゛−を与え、該表面の凹凸部
分を除去し平坦な面とする。
ドの表面にレーザビームの側面を当接せしめるので、レ
ーザビームがダイヤモンドの表面と広い範囲にわたり、
同時に接触して熱エネル玉゛−を与え、該表面の凹凸部
分を除去し平坦な面とする。
そのため、効率良くダイヤモンドの研磨作業を行うこと
ができる。
ができる。
第1図は本発明の実施例を示す正面図、第2図は平面図
の一部を示す略図、第3図は第1の■−■線断面の拡大
図、である。 1 ・・・・・・ ダイヤモンド 3 ・・・・・・ YAGレーザ装置 4 ・・・・・・ レーザビーム 4a ・・・・・・ 側面 図
の一部を示す略図、第3図は第1の■−■線断面の拡大
図、である。 1 ・・・・・・ ダイヤモンド 3 ・・・・・・ YAGレーザ装置 4 ・・・・・・ レーザビーム 4a ・・・・・・ 側面 図
Claims (8)
- (1)ダイヤモンドの表面にレーザビームの側面を当接
せしめることを特徴とするダイヤモンドの研磨方法 - (2)レーザビームの仮想設計面に対する照射角度が、
15度であることを特徴とする請求項第1記載のダイヤ
モンドの研磨方法 - (3)レーザビームが、YAGレーザ装置により発生す
ることを特徴とする請求項第1記載のダイヤモンドの研
磨方法 - (4)雰囲気の中でダイヤモンドの表面にレーザビーム
の側面を当接せしめることを特徴とするダイヤモンドの
研磨方法 - (5)雰囲気が、酸素雰囲気であることを特徴とするダ
イヤモンドの研磨方法 - (6)雰囲気が、空気雰囲気であることを特徴とするダ
イヤモンドの研磨方法 - (7)雰囲気が、アルゴン雰囲気であることを特徴とす
るダイヤモンドの研磨方法 - (8)雰囲気が、真空雰囲気であることを特徴とするダ
イヤモンドの研磨方法
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2058702A JPH03264181A (ja) | 1990-03-10 | 1990-03-10 | ダイヤモンドの研磨方法 |
| EP91103604A EP0446811A1 (en) | 1990-03-10 | 1991-03-08 | Method and apparatus for grinding diamond and diamond product using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2058702A JPH03264181A (ja) | 1990-03-10 | 1990-03-10 | ダイヤモンドの研磨方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03264181A true JPH03264181A (ja) | 1991-11-25 |
Family
ID=13091853
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2058702A Pending JPH03264181A (ja) | 1990-03-10 | 1990-03-10 | ダイヤモンドの研磨方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03264181A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5483038A (en) * | 1992-04-23 | 1996-01-09 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of working diamond with ultraviolet light |
| KR20140026749A (ko) * | 2012-08-23 | 2014-03-06 | 주식회사 엘지화학 | 유리 기판 연마 장치 및 방법 |
| US12697682B2 (en) * | 2022-01-27 | 2026-08-04 | Ii-Vi Delaware, Inc. | Polycrystalline diamond (PCD) laser lapping machine |
-
1990
- 1990-03-10 JP JP2058702A patent/JPH03264181A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5483038A (en) * | 1992-04-23 | 1996-01-09 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of working diamond with ultraviolet light |
| KR20140026749A (ko) * | 2012-08-23 | 2014-03-06 | 주식회사 엘지화학 | 유리 기판 연마 장치 및 방법 |
| US12697682B2 (en) * | 2022-01-27 | 2026-08-04 | Ii-Vi Delaware, Inc. | Polycrystalline diamond (PCD) laser lapping machine |
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