JPH03264885A - 距離計 - Google Patents

距離計

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Publication number
JPH03264885A
JPH03264885A JP6596190A JP6596190A JPH03264885A JP H03264885 A JPH03264885 A JP H03264885A JP 6596190 A JP6596190 A JP 6596190A JP 6596190 A JP6596190 A JP 6596190A JP H03264885 A JPH03264885 A JP H03264885A
Authority
JP
Japan
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time
circuit
optical path
light
distance
Prior art date
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Pending
Application number
JP6596190A
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English (en)
Inventor
Tsugio Ito
伊藤 二夫
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M T PRECISION KK
Original Assignee
M T PRECISION KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、距離計に関する。
〔従来の技術〕
従来、土木測量、一般測量等において2点間の距離の測
定は、三角測量による間接測量が長い間行われてきた。
これに対し、近年では、光波距離計を使用し、2点間の
距離を直接測定する方法が採用されている。光波距離計
は、計ろうとする2点にそれぞれ、投光器兼受光器と反
射鏡を対向して置き、投光器から出た光が反射鏡で反射
し受光器に入射するまでの時間Tを計り、大気中の光の
速度Cとの関係式(1)から距離Sをもとめる装置であ
る。
S=1/2xTxC・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(1)S:測定する距離 T:2点間を光が伝わる時間 C:大気中の光の速度 ここで、2点間を光が伝わる時間Tは非常に短いため、
直接この時間を精度よく測定することは困難である。こ
のため、従来の光波距離計では、投光器からの射出光を
例えば1.5MHzの周波数で変調し、射出光と入射光
との位相を測定する方法を採用している。この方法によ
れば、上記周波数をビートダウンして得られた低い周波
数でも位相関係は変わらない為、精度良く位相を測定で
きる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、この方法は、回路が複雑になり、射出光を変調
する際の波形率が悪いと位相測定に誤差が大きくなるこ
とがある。
本発明は、射出光として非常に幅の狭い(例えば100
ns)光パルスを使用し、発光から受光するまでの時間
と回路が作る無駄時間を複数(N)回例えば10000
回繰返し測定し、測定時間精度を向上するものである。
本発明による距離測定は、次の(2)式で表される。
  C ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(
2)S:距離 C:空中での光の速度 T、:投光器から反射鏡まで光が伝達する時間 T、二反射鏡から受光器まで光が伝達する時間 (TI+T2=T) T3:参照光路L1を含むループ回路を信号が一巡する
時間(無駄時間t) N:測定回数 ■:測距光路L2を含むループ回路を信号がN回循環す
る時間 ■:参照光路り、を含むループ回路を信号がN回循環す
る時間 例えば光がl cm動く時間は1/30nsecである
から、この10000倍を測定すると173μsecと
なり、3MHzの発振器DSCではパルス1個に対応す
るので1 cmの長さでも充分測定可能である。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので
、発光装置LBDより短いパルスP、の光を測距光路L
2に送って再び受光装置FDで受け、これを遅延回路D
LAYを有する循環回路DLAY、 A2. lc。
[]R,la、 AIを通して再び発光し、この循環回
路による信号の循環を複数(N)回行い、上記測距光路
L2に要した時間N (T+t)と参照光路L1に要し
た時間Ntとの時間差をとることで上記循環回路におけ
る遅延時間その他の誤差による無駄時間Ntを打ち消し
、それに要した測定時間NTより測定する距離Sを求め
るようにしたものである。
〔作 用〕
上記測距光路L2を光が伝わる時間Tは非常に短くても
循環回路による信号の循環を複数(N)回行うことによ
り測定しうる値となり、簡単な回路で測定する距離Sを
精度よく測定することができるものである。
〔実施例〕
この装置は発光部1と計測部2とよりなる。
発光部1において、ASM[ILTIは非安定マルチバ
イブレータ(以下ASM[ILTIと記す)、ORはオ
ア回路、1aは単パルス切出回路、A1は増幅器、LB
Dはフォトダイオード、1bは光路切替回路、PDは受
光装置、DLAYは遅延回路(以下DLAYと記す〉、
A2は増幅器、ICは波形成形回路で、し、は標準距離
の反射光の参照光路、L2は例えばコーナーキュービッ
クミラーのような被測定距離の位置においた反射鏡3の
反射光の測距光路である。
計測部2において2aは1/Nカウンター (Nは例え
ば10000)、MMIは単安定マルチバイブレータ、
FFは双安定マルチバイブレータ、A3は増幅器、MM
2は単安定マルチバイブレーク、O8Cは基準周波数発
振器、2bはアップダウンカウンター、HDLD回路2
cは出力の一時保持回路である。
次にこの装置の動作を説明する。
第■図において、装置の電源が投入されると、第2図(
イ)示のようにASMULTIが自起動し、そのフリー
ランニング周波数で発振し、第2図(ロ)示のパルスP
1を出力する。
パルスP1はOR回路・単パルス切出回路1aと順次伝
達し、第2図(ハ)示の短いパルスP、となる。このパ
ルスP2は増幅器AIで増幅されフォトダイオードLE
Dを点灯する。このフォトタイオードLBDは、非常に
短い時間点灯し、測距用光パルスを発生する。測距用光
パルスは、参照光路L1または測距光路L2を経て受光
装置PDに入力し、パルスP2より測定時間T遅れた電
気信号に変換される。受光装置PDからの信号出力は信
号遅延回路DLAY、増幅器A2を経て、遅延時間の長
さのパルスP3(第2図(ニ)〉となり、更に波形成形
回路1cにおいてパルスP2より測定時間Tと遅延時間
遅れた第2図(ホ〉示の矩形波P4に変換される。
矩形波P4はオア回路ORに入力する。このため上記回
路は、循環回路を形成し、矩形波P、は上記循環回路を
一巡し、一定時間差をもって矩形波P4が作られる。な
お矩形波P4は、ASMLILTIのリセット端子の入
力となり、ASMULTIの発振を抑え、ASMULT
Iは初期の起動を行うのみでその後は停止を続ける。こ
こでもし、入射光の消滅により矩形波P。
が再生されないときは、ASMULTIは自起動を開始
し再びパルスP1波を出力し、上記動作を繰り返す。
上記矩形波P4は、距離計数のための計測部2の1/N
カウンター2aの入力となり、上記循環回路を一巡する
回数をN回計数する。このN回計数は1/Nカウンター
2aの信号aを受ける単安定マルチバイブレータ−MM
Iのリセット信号P5(第2図(ト)参照)により行う
上記1/Nカウンター2aの信号aは双安定マルチバイ
ブレータFFに人力され、その出力信号すは上下切替信
号としてアップダウンカウンター2bニ入力れるので、
上記計数時間に、N段のアップダウンカウンター2bは
基準周波数発振器O3Cのクロックパルス (第2図(
チ))の数を計数する。このN段のアップダウンカウン
タ2bによる計数値より算出した時間は、前記循環回路
−逐時間T+tのN倍の時間に比例する。
上記双安定マルチバイブレータFFの上下切替用の信号
P6 (第2図(ヌ))は更に増幅器A3を介して光路
切替回路1bに入力され、第2図(ル〉示のように上記
測距用光パルスの光路を参照光路L1と測距光路L2に
交互に切り替える。したがって信号すは第2図(す)示
のようにN段のアップダウンカウンター2bの動作モー
ドを光路切換器の動作即ち、測距光路L2を光が辿る場
合と、参照光路L1を光が辿る場合に対応させ、これら
を引算することで、両光路L+ 、L2における時間差
は、N段のアップダウンカウンター2bに残る。これに
よって上記循環回路における遅延時間その他の誤差によ
る無駄時間tは打ち消され、この測定値Cは上記信号P
8を単安定マルチバイブレータMM2を介して受けるH
DLD回路2cで保持され、第2図(才)示のように(
図中×は測定の区切りを示す)デジタル値として表示さ
れ、この測定値に計数を乗することで測定する距離Sが
得られるものである。
上記循環回路においてDLAYがなければ、単パルス切
出回路1aからの出力パルスP2は、回路と光路の通過
により、パルスの後縁が長くなり、幅広のパルスP4′
(図示せず)に変化する。それが極端な場合はパルスP
2の後縁とパルスP4′の前縁が重なり合い、パルスの
切れ目が判別つかなくなり、上記ループ回路は機能しな
くなる。しかし上記装置では循環回路にDLAY回路を
設け、パルスP2の後縁とパルスP4の前縁が接しない
時間以上にDLAY回路の遅延による無駄時間遅れをと
ることで、上記循環回路を安定に機能させることができ
る。また、遅延回路[ILAYを設けることで、循環回
路を信号が一巡する無駄時間tを長くできるので、この
後に接続する回路の上限周波数を下げることができ、そ
のため回路素子に安価な汎用の素子を使用することがで
きるものである。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、従来の方法に比し次の特
徴がある。
a)無駄時間tを任意に選べるため測定時間を前者に比
し短縮できる。
b〉無駄時間tを適当に選ぶことで時間測定回路の動作
周波数を下げることができる。
C)回路が簡単になる。
d)調整部分が2乃至3箇所と非常に少ない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例回路のブロック図、第2図(
イ)〜(才)は上記実施例における各信号のタイムチャ
ートである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 発光装置より短いパルスの光を測距光路に送って再び受
    光装置で受け、これを遅延回路を有する循環回路を通し
    て再び発光し、この循環回路による信号の循環を複数回
    行い、上記測距光路に要した時間と参照光路に要した時
    間との時間差をとることで上記循環回路における遅延時
    間その他の誤差による無駄時間を打ち消し、それに要し
    た測定時間より測定する距離を求めるようにしたことを
    特徴とする距離計。
JP6596190A 1990-03-15 1990-03-15 距離計 Pending JPH03264885A (ja)

Priority Applications (1)

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JP6596190A JPH03264885A (ja) 1990-03-15 1990-03-15 距離計

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JP6596190A JPH03264885A (ja) 1990-03-15 1990-03-15 距離計

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Family

ID=13302095

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JP6596190A Pending JPH03264885A (ja) 1990-03-15 1990-03-15 距離計

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JP (1) JPH03264885A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011191106A (ja) * 2010-03-12 2011-09-29 Sokkia Topcon Co Ltd 光波距離計
WO2020137754A1 (ja) * 2018-12-27 2020-07-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置及び測距方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011191106A (ja) * 2010-03-12 2011-09-29 Sokkia Topcon Co Ltd 光波距離計
WO2020137754A1 (ja) * 2018-12-27 2020-07-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置及び測距方法

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