JPH03276906A - パルス幅伝送用の発振回路 - Google Patents
パルス幅伝送用の発振回路Info
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- JPH03276906A JPH03276906A JP7780690A JP7780690A JPH03276906A JP H03276906 A JPH03276906 A JP H03276906A JP 7780690 A JP7780690 A JP 7780690A JP 7780690 A JP7780690 A JP 7780690A JP H03276906 A JPH03276906 A JP H03276906A
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- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、パルス幅伝送用の発振回路に関するものであ
り、例えば時分割多重伝送システムの端末用ＩＣに利用
されるものである。
り、例えば時分割多重伝送システムの端末用ＩＣに利用
されるものである。
［従来の技術］
従来、共通の伝送線に１台の親機と複数台の端末器を接
続し、親機から時分割多重伝送信号を送信し、各端末器
を個別にアクセスして、制御データを与えたり、監視デ
ータを返信させる時分割多重伝送システムが広く用いら
れている。このようなシステムにおいては、長パルスを
１”に、短パルスをＯ”に対応させるパルス幅伝送が利
用されることが多い。端末器では、ＣＲ発振回路により
クロックを発生させて、受信パルス幅に応じてクロック
をカウントし、そのカウント値に応じて長パルスと短パ
ルスを区別している。このような端末器は、多数使用さ
れるものであるがら、１チツプＩＣ化することが好まし
い。
続し、親機から時分割多重伝送信号を送信し、各端末器
を個別にアクセスして、制御データを与えたり、監視デ
ータを返信させる時分割多重伝送システムが広く用いら
れている。このようなシステムにおいては、長パルスを
１”に、短パルスをＯ”に対応させるパルス幅伝送が利
用されることが多い。端末器では、ＣＲ発振回路により
クロックを発生させて、受信パルス幅に応じてクロック
をカウントし、そのカウント値に応じて長パルスと短パ
ルスを区別している。このような端末器は、多数使用さ
れるものであるがら、１チツプＩＣ化することが好まし
い。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、ＣＲ発振回路を１チツプＩＣに内蔵しよ
うとすると、ＩＣ化によるコンデンサと抵抗の値のばら
つきにより、３０％以上の発振周波数のばらつきが生じ
る。このため、発振回路内蔵のＩＣは実用化レベルには
至っていない。したがって、従来は端末用ＩＣにクロッ
ク発振回路あるいはその時定数回路を外付けする必要が
あった。
うとすると、ＩＣ化によるコンデンサと抵抗の値のばら
つきにより、３０％以上の発振周波数のばらつきが生じ
る。このため、発振回路内蔵のＩＣは実用化レベルには
至っていない。したがって、従来は端末用ＩＣにクロッ
ク発振回路あるいはその時定数回路を外付けする必要が
あった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、パルス幅伝送用の発振回路にお
いて、発振周波数のばらつきを抑えることにあり、他の
目的とするところは、受信パルス幅に応じて発振周波数
を自動的に調整可能とすることにある。
の目的とするところは、パルス幅伝送用の発振回路にお
いて、発振周波数のばらつきを抑えることにあり、他の
目的とするところは、受信パルス幅に応じて発振周波数
を自動的に調整可能とすることにある。
［課題を解決するための手段］
請求項１記載の発明にあっては、上記の課題を解決する
ために、第１図に示すように、パルス幅伝送の受信パル
ス幅判定用のクロックを発生する発振回路において、コ
ンデンサと抵抗の時定数により発振周波数が決定される
ＣＲ発振回路１と、前記抵抗の値を調整するためのアナ
ログスイッチＳＷｉと、アナログスイッチＳＷｉによる
抵抗の値の調整結果を記憶する不揮発性メモリー２と、
不揮発性メモリー２にデータを書き込む手段とを備える
ことを特徴とするものである。
ために、第１図に示すように、パルス幅伝送の受信パル
ス幅判定用のクロックを発生する発振回路において、コ
ンデンサと抵抗の時定数により発振周波数が決定される
ＣＲ発振回路１と、前記抵抗の値を調整するためのアナ
ログスイッチＳＷｉと、アナログスイッチＳＷｉによる
抵抗の値の調整結果を記憶する不揮発性メモリー２と、
不揮発性メモリー２にデータを書き込む手段とを備える
ことを特徴とするものである。
また、請求項２記載の発明にあっては、第３図に示すよ
うに、受信パルス幅に応じてクロックをカウントするカ
ウンタ１１と、カウンタ１１のカウント値が所定値とな
るように不揮発性メモリーにデータを設定するデータ設
定回路１２とを更に備えている。
うに、受信パルス幅に応じてクロックをカウントするカ
ウンタ１１と、カウンタ１１のカウント値が所定値とな
るように不揮発性メモリーにデータを設定するデータ設
定回路１２とを更に備えている。
［作用］
請求項１記載の発明にあっては、ＣＲ発振回路１の時定
数設定用の抵抗の値をアナログスイッチＳＷｉと不揮発
性メモリー２により調整可能としたので、回路定数や電
源電圧にばらつきがあっても、ＣＲ発振回路１からは、
周波数のばらつきの少ない高精度のクロックを発振させ
ることができるものである。
数設定用の抵抗の値をアナログスイッチＳＷｉと不揮発
性メモリー２により調整可能としたので、回路定数や電
源電圧にばらつきがあっても、ＣＲ発振回路１からは、
周波数のばらつきの少ない高精度のクロックを発振させ
ることができるものである。
請求項２記載の発明にあっては、受信パルス幅に応じて
カウンタ１１によりクロックをカウントし、そのカウン
ト値が所定値となるようにデータ設定回路１２により不
揮発性メモリー２のデータを設定するようにしたから、
受信パルス幅の判定に適した周波数のクロックを自動的
に発振させることができるものである。
カウンタ１１によりクロックをカウントし、そのカウン
ト値が所定値となるようにデータ設定回路１２により不
揮発性メモリー２のデータを設定するようにしたから、
受信パルス幅の判定に適した周波数のクロックを自動的
に発振させることができるものである。
［実施例］
第１図は本発明の一実施例のブロック回路図である。こ
の回路は、時分割多重伝送用の端末用ＩＣの内部構成を
示しており、時分割多重伝送のための制御を行う多重伝
送回路３と、これに動作クロックを与えるためのＣＲ発
振回路１と、その発振周波数を調整するためのアナログ
スイッチＳ Ｗ ｉ及びＥ２ＰＲＯＭ２から構成されて
いる。
の回路は、時分割多重伝送用の端末用ＩＣの内部構成を
示しており、時分割多重伝送のための制御を行う多重伝
送回路３と、これに動作クロックを与えるためのＣＲ発
振回路１と、その発振周波数を調整するためのアナログ
スイッチＳ Ｗ ｉ及びＥ２ＰＲＯＭ２から構成されて
いる。
多重伝送回路３は、ＣＲ発振回路１により発振されたク
ロックにより動作し、伝送線Ｑに接続された親機との間
で時分割多重伝送を行い、入出力ポートＰからの入力デ
ータを親機に伝送したり、親機からの制御により入出力
ボートＰから制御信号を出力するものである。ＣＲ発振
回路１の時定数設定用の抵抗の値は、アナログスイッチ
Ｓ Ｗ ｉにより自由に変えることができる。このアナ
ログスイッチＳＷｉは、Ｅ２ＰＲＯＭ２のデータに基づ
いてオン状態又はオフ状態に制御される。
ロックにより動作し、伝送線Ｑに接続された親機との間
で時分割多重伝送を行い、入出力ポートＰからの入力デ
ータを親機に伝送したり、親機からの制御により入出力
ボートＰから制御信号を出力するものである。ＣＲ発振
回路１の時定数設定用の抵抗の値は、アナログスイッチ
Ｓ Ｗ ｉにより自由に変えることができる。このアナ
ログスイッチＳＷｉは、Ｅ２ＰＲＯＭ２のデータに基づ
いてオン状態又はオフ状態に制御される。
ＣＲ発振回路１における時定数設定用の抵抗の値を調整
するための具体的な回路構成を第２図に示す。Ｅ２ＦＲ
ＯＭ２には、ライト信号ＷＲによりバス上のデータＤ１
〜Ｄ、が書き込まれる。このＥ２ＦＲＯＭ２に記憶され
たデータＤ１〜Ｄ５の各ビットに対応してアナログスイ
ッチＳ Ｗ ＋〜Ｓ Ｗ ｓがオン状態又はオフ状態に
制御される。いずれかのアナログスイッチ５Ｗｉ（ｉ＝
１〜５）がオン状態になっていると、このスイッチＳＷ
ｉに対応した抵抗Ｒｉは短絡されるため、短絡された抵
抗分だけ端子Ａ、Ｂ間の抵抗値が小さくなる。例えば、
Ｅ２ＦＲＯＭ２に記憶されたデータＤ、、Ｄ２．ＤＩ。
するための具体的な回路構成を第２図に示す。Ｅ２ＦＲ
ＯＭ２には、ライト信号ＷＲによりバス上のデータＤ１
〜Ｄ、が書き込まれる。このＥ２ＦＲＯＭ２に記憶され
たデータＤ１〜Ｄ５の各ビットに対応してアナログスイ
ッチＳ Ｗ ＋〜Ｓ Ｗ ｓがオン状態又はオフ状態に
制御される。いずれかのアナログスイッチ５Ｗｉ（ｉ＝
１〜５）がオン状態になっていると、このスイッチＳＷ
ｉに対応した抵抗Ｒｉは短絡されるため、短絡された抵
抗分だけ端子Ａ、Ｂ間の抵抗値が小さくなる。例えば、
Ｅ２ＦＲＯＭ２に記憶されたデータＤ、、Ｄ２．ＤＩ。
Ｄ ＝ 、 Ｄ ｓが０．０．１，１．．１であれば、
スイッチＳＷ＋、ＳＷ２はオフ状態となり、スイッチＳ
Ｗ、、ＳＷ４．ＳＷｓはオン状態となる。これにより、
端子Ａ、Ｂ間の抵抗はＲｏ ＋Ｒ＋ ＋ Ｒ２どなる。
スイッチＳＷ＋、ＳＷ２はオフ状態となり、スイッチＳ
Ｗ、、ＳＷ４．ＳＷｓはオン状態となる。これにより、
端子Ａ、Ｂ間の抵抗はＲｏ ＋Ｒ＋ ＋ Ｒ２どなる。
以上の方式により、Ｅ２ＰＲＯＭ２／＼のデータ書き込
みにより、端子Ａ、Ｂ間の抵抗をＲ８−Ｒ５の組み合わ
せで自由に変更できる。すなわち、ＣＲ発振回路１の発
振周波数を調整することができる。
みにより、端子Ａ、Ｂ間の抵抗をＲ８−Ｒ５の組み合わ
せで自由に変更できる。すなわち、ＣＲ発振回路１の発
振周波数を調整することができる。
ところで、第１図に示すように、端末用ＩＣにＣＲ発振
回路１を内蔵した場合には、回路定数のばらつきにより
発振周波数には３０％以上のばらつきが生じる。そこで
、ＩＣ製造後、発振周波数を調整するために、クロック
出力端子φからクロックを取り出して、クロックの周波
数を測定し、その測定結果を見なからＥ２ＰＲＯＭ２の
データ設定端子Ｄｉにデータを設定し、定格通りの発振
周波数に調整するものである。
回路１を内蔵した場合には、回路定数のばらつきにより
発振周波数には３０％以上のばらつきが生じる。そこで
、ＩＣ製造後、発振周波数を調整するために、クロック
出力端子φからクロックを取り出して、クロックの周波
数を測定し、その測定結果を見なからＥ２ＰＲＯＭ２の
データ設定端子Ｄｉにデータを設定し、定格通りの発振
周波数に調整するものである。
第２図は本発明の他の実施例のブロック回路図である。
本実施例にあっては、受信パルス幅に応じてクロックの
発振周波数を自動調整するものである。そのために、本
実施例では、短パルス判定カウンタ１１と、データ設定
回路１２と、短パルス検出回路１３を備えている。
発振周波数を自動調整するものである。そのために、本
実施例では、短パルス判定カウンタ１１と、データ設定
回路１２と、短パルス検出回路１３を備えている。
一般的な時分割多重伝送システムでは、伝送信号のパ１
”、°゛０”をパルスの長さで判定している。
”、°゛０”をパルスの長さで判定している。
例えば、短パルスは“０″を意味するものとし、そのパ
ルス長が１２５７１ｓｅｃであるとする。ここで、クロ
ックの発振周波数が１００ｋＨｚの場合、受信パルスの
サンプリング間隔は１０μＳｅｅとなるので、パルス長
がサンプリング１２回分であれば、短パルスであると判
定する。したがって、端末側では、親機から送られた伝
送信号の短パルスを検出し、そのパルス長がサンプリン
グ数１２となるように５クロツクの発振周波数を調整す
れば、信頼性の高い伝送が行える。
ルス長が１２５７１ｓｅｃであるとする。ここで、クロ
ックの発振周波数が１００ｋＨｚの場合、受信パルスの
サンプリング間隔は１０μＳｅｅとなるので、パルス長
がサンプリング１２回分であれば、短パルスであると判
定する。したがって、端末側では、親機から送られた伝
送信号の短パルスを検出し、そのパルス長がサンプリン
グ数１２となるように５クロツクの発振周波数を調整す
れば、信頼性の高い伝送が行える。
以上のことを実現するために、本実施例では、短パルス
検出回路１３で親機からの多重伝送信号の短パルスを検
出し、そのパルス変化点を検出する。この短パルス変化
点を元に、ＣＲ発振回路１からのタロツクをカウンタ１
１によりカウントする。データ設定回路１２では、短パ
ルスの受信時にカウンタ１１によりカウントされたカウ
ント数か１２カウントであるか否かを判定する。そして
、カウント数が１２カウントであれば、Ｅ２ＰＲＯＭ２
のデータはそのままとし、カウント数が１２カウントで
ない場合には、カウント数が１２カウントとなるように
、Ｅ２ＰＲＯＭ２のデータを設定する。
検出回路１３で親機からの多重伝送信号の短パルスを検
出し、そのパルス変化点を検出する。この短パルス変化
点を元に、ＣＲ発振回路１からのタロツクをカウンタ１
１によりカウントする。データ設定回路１２では、短パ
ルスの受信時にカウンタ１１によりカウントされたカウ
ント数か１２カウントであるか否かを判定する。そして
、カウント数が１２カウントであれば、Ｅ２ＰＲＯＭ２
のデータはそのままとし、カウント数が１２カウントで
ない場合には、カウント数が１２カウントとなるように
、Ｅ２ＰＲＯＭ２のデータを設定する。
例えば、第４図（ａ）、（ｂ）に示すように、短パルス
の変化点間のクロックのカウント数が１５カウントであ
ったとすると、データ設定口ｖ＠１２では、発振周波数
を低くするなめに、抵抗調整用のＥ２ＰＲＯＭ２にデー
タを設定して、アナログスイッチＳ Ｗ ｉの一部をオ
フ状態とする。これにより、ＣＲ発振回路１の時定数設
定用の抵抗の値を大きくすることができる。その結果、
第４図（ｃ）に示すように、短パルスのカウント数が１
２カウントとなるような発振周波数のクロックが得られ
るものである。
の変化点間のクロックのカウント数が１５カウントであ
ったとすると、データ設定口ｖ＠１２では、発振周波数
を低くするなめに、抵抗調整用のＥ２ＰＲＯＭ２にデー
タを設定して、アナログスイッチＳ Ｗ ｉの一部をオ
フ状態とする。これにより、ＣＲ発振回路１の時定数設
定用の抵抗の値を大きくすることができる。その結果、
第４図（ｃ）に示すように、短パルスのカウント数が１
２カウントとなるような発振周波数のクロックが得られ
るものである。
本実施例の回路を使用すれば、伝送路の特性等により親
機からの伝送信号波形に歪みを生じて、信号全体のパル
ス幅が長くなった場合にも、端末側では、その長くなっ
たパルス幅の検出に適するような周波数のクロックを自
動的に発振するので、正常に信号伝送を行うことができ
る。さらに、親機の仕様変更により短パルス、長パルス
共に通常のパルス幅よりも長く設定された場合にも、端
末側で自動的にクロックの発振周波数を変更するので、
端末を置き換える必要は無い。
機からの伝送信号波形に歪みを生じて、信号全体のパル
ス幅が長くなった場合にも、端末側では、その長くなっ
たパルス幅の検出に適するような周波数のクロックを自
動的に発振するので、正常に信号伝送を行うことができ
る。さらに、親機の仕様変更により短パルス、長パルス
共に通常のパルス幅よりも長く設定された場合にも、端
末側で自動的にクロックの発振周波数を変更するので、
端末を置き換える必要は無い。
なお、時分割多重伝送用の端末用ＩＣでは、自局のアド
レス設定用のＥ２ＰＲＯＭを内蔵していることが多いの
で、このＥ２ＰＲＯＭの記憶領域の一部を抵抗値調整用
データの記憶領域として流用しても良い。
レス設定用のＥ２ＰＲＯＭを内蔵していることが多いの
で、このＥ２ＰＲＯＭの記憶領域の一部を抵抗値調整用
データの記憶領域として流用しても良い。
［発明の効果］
請求項１記載の発明にあっては、上述のように、ＣＲ発
振回路における時定数設定用の抵抗の値をアナログスイ
ッチと不揮発性メモリーにより調整可能としたので、不
揮発性メモリーにデータを書き込むだけで、ＣＲ発振回
路の発振周波数を精度良く調整することができ、電源電
圧や回路定数にばらつきがあっても、発振周波数のばら
つきは少なくすることができるという効果がある。した
がって、全体を１チツプのＩＣで構成することも可能に
なるという利点がある。
振回路における時定数設定用の抵抗の値をアナログスイ
ッチと不揮発性メモリーにより調整可能としたので、不
揮発性メモリーにデータを書き込むだけで、ＣＲ発振回
路の発振周波数を精度良く調整することができ、電源電
圧や回路定数にばらつきがあっても、発振周波数のばら
つきは少なくすることができるという効果がある。した
がって、全体を１チツプのＩＣで構成することも可能に
なるという利点がある。
請求項２記載の発明にあっては、上述のように、受信パ
ルス幅に応じてカウンタによりクロックをカウントし、
そのカウント値が所定値となるようにデータ設定回路に
より不揮発性メモリーにデータを書き込むようにしたか
ら、送信元の仕様変更や電源変動あるいは伝送系の特性
により受信パルス幅が変動しても、そのパルス幅を受信
するのに適した周波数のクロックが自動的に発振される
ので、パルス幅伝送の信顆性を高くすることができると
いう効果がある。
ルス幅に応じてカウンタによりクロックをカウントし、
そのカウント値が所定値となるようにデータ設定回路に
より不揮発性メモリーにデータを書き込むようにしたか
ら、送信元の仕様変更や電源変動あるいは伝送系の特性
により受信パルス幅が変動しても、そのパルス幅を受信
するのに適した周波数のクロックが自動的に発振される
ので、パルス幅伝送の信顆性を高くすることができると
いう効果がある。
第１図は本発明の一実施例のブロック回路図、第２図は
同上の要部回路図、第３図は本発明の他の実施例のブロ
ック回路図、第４図は同上の動作説明図である。 ｌはＣＲ発振回路、２は不揮発性メモリー、３は多重伝
送回路、ＳＷｉはアナログスイッチ、１１は短パルス判
定カウンタ、１２はデータ設定回路である。
同上の要部回路図、第３図は本発明の他の実施例のブロ
ック回路図、第４図は同上の動作説明図である。 ｌはＣＲ発振回路、２は不揮発性メモリー、３は多重伝
送回路、ＳＷｉはアナログスイッチ、１１は短パルス判
定カウンタ、１２はデータ設定回路である。
Claims (2)
- （１）パルス幅伝送の受信パルス幅判定用のクロックを
発生する発振回路において、コンデンサと抵抗の時定数
により発振周波数が決定されるＣＲ発振回路と、前記抵
抗の値を調整するためのアナログスイッチと、アナログ
スイッチによる抵抗の値の調整結果を記憶する不揮発性
メモリーと、不揮発性メモリーにデータを書き込む手段
とを備えることを特徴とするパルス幅伝送用の発振回路
。 - （２）受信パルス幅に応じてクロックをカウントするカ
ウンタと、カウンタのカウント値が所定値となるように
不揮発性メモリーにデータを設定するデータ設定回路と
を更に備えることを特徴とする請求項１記載のパルス幅
伝送用の発振回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02077806A JP3132819B2 (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | パルス幅伝送用の発振回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02077806A JP3132819B2 (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | パルス幅伝送用の発振回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03276906A true JPH03276906A (ja) | 1991-12-09 |
| JP3132819B2 JP3132819B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=13644261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02077806A Expired - Fee Related JP3132819B2 (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | パルス幅伝送用の発振回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3132819B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7531852B2 (en) | 2004-06-14 | 2009-05-12 | Denso Corporation | Electronic unit with a substrate where an electronic circuit is fabricated |
| JP2017510107A (ja) * | 2013-12-24 | 2017-04-06 | ノルディック セミコンダクタ アーエスアーＮｏｒｄｉｃ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ＡＳＡ | 改善された低電力発振器 |
| CN112526443A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-03-19 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种电能表误差自检测功能的测试装置 |
| WO2025205223A1 (ja) * | 2024-03-27 | 2025-10-02 | ダイキン工業株式会社 | 電子デバイス、電子機器、電子機器システム、空調システム及び空調装置 |
-
1990
- 1990-03-27 JP JP02077806A patent/JP3132819B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7531852B2 (en) | 2004-06-14 | 2009-05-12 | Denso Corporation | Electronic unit with a substrate where an electronic circuit is fabricated |
| JP2017510107A (ja) * | 2013-12-24 | 2017-04-06 | ノルディック セミコンダクタ アーエスアーＮｏｒｄｉｃ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ＡＳＡ | 改善された低電力発振器 |
| CN112526443A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-03-19 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种电能表误差自检测功能的测试装置 |
| WO2025205223A1 (ja) * | 2024-03-27 | 2025-10-02 | ダイキン工業株式会社 | 電子デバイス、電子機器、電子機器システム、空調システム及び空調装置 |
| JP2025151124A (ja) * | 2024-03-27 | 2025-10-09 | ダイキン工業株式会社 | 電子デバイス、電子機器、電子機器システム、空調システム及び空調装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3132819B2 (ja) | 2001-02-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |