JPH03280441A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH03280441A JPH03280441A JP2078823A JP7882390A JPH03280441A JP H03280441 A JPH03280441 A JP H03280441A JP 2078823 A JP2078823 A JP 2078823A JP 7882390 A JP7882390 A JP 7882390A JP H03280441 A JPH03280441 A JP H03280441A
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- JP
- Japan
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- bonding pads
- area
- memory cell
- bonding
- chip
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W72/921—Structures or relative sizes of bond pads
- H10W72/923—Bond pads having multiple stacked layers
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- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/932—Plan-view shape, i.e. in top view
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- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/934—Cross-sectional shape, i.e. in side view
-
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- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/951—Materials of bond pads
- H10W72/952—Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明はボンディングパッドによりチップと外部との接
続を行う半導体装置に関する。
続を行う半導体装置に関する。
(従来の技術)
通常半導体集積回路チップにはメモリセル部周辺回路部
等の周辺に円形および正方形を組み合わせた形状のボン
ディングパッドが複数個配置されそれぞれのボンディン
グパッドは引出し配線を有し集積回路チップの保護の為
に形成された絶縁性保護膜の窓から外面に露出し電気的
接続を可能としている。
等の周辺に円形および正方形を組み合わせた形状のボン
ディングパッドが複数個配置されそれぞれのボンディン
グパッドは引出し配線を有し集積回路チップの保護の為
に形成された絶縁性保護膜の窓から外面に露出し電気的
接続を可能としている。
近年集積回路の高集積化に伴いメモリセル部の面積が増
し全体のチップ面積は大きくなる。これにより半導体集
積回路チップを接続するパッケージも大きくなる。パッ
ケージが大きくなることにより実装デザインの変更を必
要゛とされる場合がある。この為半導体集積回路チップ
の集積度が増しても同一パッケージに接続できるように
1個のメモリセル面積を減少させ、−メモリセル部全体
の面積を小さくする。これにより配線パターンは細くサ
ブミクロンからハーフミクロンの線幅となってきている
為、配線パターンを形成するホルトエツチング工程では
超微細によりパターン形成できない問題が生じる。
し全体のチップ面積は大きくなる。これにより半導体集
積回路チップを接続するパッケージも大きくなる。パッ
ケージが大きくなることにより実装デザインの変更を必
要゛とされる場合がある。この為半導体集積回路チップ
の集積度が増しても同一パッケージに接続できるように
1個のメモリセル面積を減少させ、−メモリセル部全体
の面積を小さくする。これにより配線パターンは細くサ
ブミクロンからハーフミクロンの線幅となってきている
為、配線パターンを形成するホルトエツチング工程では
超微細によりパターン形成できない問題が生じる。
また1以上の問題を解決する為にメモリセル部の面積を
十分に与えるためボンディングパッド部の面積を小さく
することが試みられているがその結果ボンディングワイ
ヤの接続強度は十分でなく或いは接触抵抗が高くなり信
頼性や特性の面で問題が生じる。
十分に与えるためボンディングパッド部の面積を小さく
することが試みられているがその結果ボンディングワイ
ヤの接続強度は十分でなく或いは接触抵抗が高くなり信
頼性や特性の面で問題が生じる。
(発明が解決しようとする課M)
以上のように半導体集積回路ではメモリセル部面積の増
大を防ぐ為配線パターン幅を超微細によりパターン形成
できない問題が生じてきている。
大を防ぐ為配線パターン幅を超微細によりパターン形成
できない問題が生じてきている。
又、メモリセル部面積を十分に与える為ボンディングパ
ッドの面積縮小により機械的な或いは電気的なボンディ
ング特性に問題が生じてきている。
ッドの面積縮小により機械的な或いは電気的なボンディ
ング特性に問題が生じてきている。
本発明はこの様な問題を解決してボンディングパッドの
面積を減少させずにメモリセル部の面積増加を実現した
半導体装置を提供することを目的とする。
面積を減少させずにメモリセル部の面積増加を実現した
半導体装置を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明にかかる半導体装置は素子形成された半導体チッ
プのボンディングパッドをメモリセル領域内に多層構造
により形成することを特徴とする。
プのボンディングパッドをメモリセル領域内に多層構造
により形成することを特徴とする。
(作 用)
ボンディングパッド面をメモリセル領域内に集積構造に
よって設けることによりボンディングパッド面積をチッ
プ面積から除くことができる。
よって設けることによりボンディングパッド面積をチッ
プ面積から除くことができる。
これにより、メモリセル部の面積を大きくすることによ
り配線パターンの微細化を防ぐことができる。又、ボン
ディングワイヤとポンプイングツ(ラドの接合面積を大
きくすることができる。従ってボンディングパッド材料
ボンディング性に拘らず十分なボンディング接続強度を
得ることができる。
り配線パターンの微細化を防ぐことができる。又、ボン
ディングワイヤとポンプイングツ(ラドの接合面積を大
きくすることができる。従ってボンディングパッド材料
ボンディング性に拘らず十分なボンディング接続強度を
得ることができる。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。第1
図は、実施例の半導体素子のボンディング接続部の構造
を示す断面図である。多数の素子が集積形成された半導
体チップ■のMOS FETを構成するゲート電極2
上にSio2やPSG等の絶縁膜3を形成する。チップ
周辺の絶縁膜上にFETの拡散層4へ接続されるアルミ
ニウム配線5と同時にボンディングパッドと接続される
電極6を形成する。このアルミニウムの配線5.電極6
形成後、Sio、やPSG等の2層目の絶縁膜7が形成
され、電極6部分のみホ*トエッチングによりコンタク
トホール8を形成する。次にスパッタ法により2層目の
12膜を形成しホ叡トエッチングによりボンディングパ
ッド9が形成される。
図は、実施例の半導体素子のボンディング接続部の構造
を示す断面図である。多数の素子が集積形成された半導
体チップ■のMOS FETを構成するゲート電極2
上にSio2やPSG等の絶縁膜3を形成する。チップ
周辺の絶縁膜上にFETの拡散層4へ接続されるアルミ
ニウム配線5と同時にボンディングパッドと接続される
電極6を形成する。このアルミニウムの配線5.電極6
形成後、Sio、やPSG等の2層目の絶縁膜7が形成
され、電極6部分のみホ*トエッチングによりコンタク
トホール8を形成する。次にスパッタ法により2層目の
12膜を形成しホ叡トエッチングによりボンディングパ
ッド9が形成される。
これによりワイヤlOを電極パッドに接続する。
第2図は上記実施例を用いた半導体集積回路チップの平
面図を示す、1は半導体集積回路チップである。コンタ
クトホール8から引き出し配線11を有しメモリセル部
12領域内にボンディングパッド9が形成されている。
面図を示す、1は半導体集積回路チップである。コンタ
クトホール8から引き出し配線11を有しメモリセル部
12領域内にボンディングパッド9が形成されている。
この実施例によればボンディングパットの面積をなくす
ことによりメモリセル部の面積を大きくすることができ
る。これにより従来より10膜程度の配線パターンを太
めることができる。又テストパターンを入れることやボ
ンディングワイヤとボンディングパッドの接合に要する
チップ上の面積は実質的に従来より大きくとることがで
きる。
ことによりメモリセル部の面積を大きくすることができ
る。これにより従来より10膜程度の配線パターンを太
めることができる。又テストパターンを入れることやボ
ンディングワイヤとボンディングパッドの接合に要する
チップ上の面積は実質的に従来より大きくとることがで
きる。
以上述べたように本発明によれば、ボンディングパッド
をメモリセル領域内に多層構造で形成することによりメ
モリセル部の面積を大きくすること、また、ボンディン
グパッド面積を大きくしボンディングの接続強度を実現
した半導体装置を得ることができる。
をメモリセル領域内に多層構造で形成することによりメ
モリセル部の面積を大きくすること、また、ボンディン
グパッド面積を大きくしボンディングの接続強度を実現
した半導体装置を得ることができる。
第1図は本発明の実施例の一つのボンディング接続部の
構造を示す断面図、第2図は平面図である。 図において、 1・・半導体集積回路チップ、 2・・ゲート電極、 3・・・絶縁膜、4・・・拡
散層、 5・・・アルミニウム配線、6・・
電極、 7・・・2層目の絶縁膜、8・・・
コンタクトホール。 9・・・ボンディングパッド。 10・・・ワイヤ、 11・・・引き出し
配線、12・・・メモリセル部。
構造を示す断面図、第2図は平面図である。 図において、 1・・半導体集積回路チップ、 2・・ゲート電極、 3・・・絶縁膜、4・・・拡
散層、 5・・・アルミニウム配線、6・・
電極、 7・・・2層目の絶縁膜、8・・・
コンタクトホール。 9・・・ボンディングパッド。 10・・・ワイヤ、 11・・・引き出し
配線、12・・・メモリセル部。
Claims (2)
- (1)素子形成された半導体チップに形成されたボンデ
ィングパッドが素子上に形成されたことを特徴とする半
導体装置。 - (2)金属膜よりなる第1の電極と、第1の電極上に形
成された第1の絶縁膜と、第1の電極部に形成されたコ
ンタクトホールを通して接続され素子上に延長する、ボ
ンディングパッドを構成する金属膜よりなる第2の電極
とを備えたことを特徴とする請求項1記載の半導体装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2078823A JPH03280441A (ja) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2078823A JPH03280441A (ja) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03280441A true JPH03280441A (ja) | 1991-12-11 |
Family
ID=13672554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2078823A Pending JPH03280441A (ja) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03280441A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5834849A (en) * | 1996-02-13 | 1998-11-10 | Altera Corporation | High density integrated circuit pad structures |
-
1990
- 1990-03-29 JP JP2078823A patent/JPH03280441A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5834849A (en) * | 1996-02-13 | 1998-11-10 | Altera Corporation | High density integrated circuit pad structures |
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