JPH0328510Y2 - - Google Patents

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JPH0328510Y2
JPH0328510Y2 JP1987151522U JP15152287U JPH0328510Y2 JP H0328510 Y2 JPH0328510 Y2 JP H0328510Y2 JP 1987151522 U JP1987151522 U JP 1987151522U JP 15152287 U JP15152287 U JP 15152287U JP H0328510 Y2 JPH0328510 Y2 JP H0328510Y2
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insulator
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 「技術分野」 本考案は、高耐圧半導体装置に適した形状およ
び構造を有する絶縁物封止半導体装置に関する。
「従来技術」 第1図〜第5図は従来の樹脂モールド形パワー
トランジスタの1例を示すもので、第1図と第2
図はモールドされた樹脂体のない状態、第3図〜
第5図はモールドされた樹脂体のある状態であ
る。第1図と第3図は平面図、第2図と第4図は
それぞれ第1図と第3図のA−A線断面図、第5
図は第3図に対応する正面図である。第1図と第
2図にはモールドされた樹脂体の外形を破線で示
している。
裏面をコレクタ電極とするトランジスタチツプ
1が放熱板2の上に固着されており、放熱板2か
らコレクタリードとなる外部リード3が延びてい
る。外部リード3と並列配置された外部リード
4,5は、それぞれベースリードとエミツタリー
ドであり、トランジスタチツプ1の表面のベース
電極あるいはエミツタ電極との間はそれぞれ内部
リード線6,7で接続されている。トランジスタ
チツプ1は樹脂体8でモールド(封止)されてお
り、外部リード3,4,5は樹脂体8から1平面
上に並列して導出されている。
外部リード3,4,5は樹脂体8からの導出側
が幅広部3a,4a,5aとなつており、そこか
ら先端側が幅狭部3b,4b,5bとなつてい
る。幅広部3a,4a,5aは、外部リードに外
力が加わつてもあるいは加えても樹脂体8からの
導出部近傍で外部リードが変形し難いように補強
するためのものである。幅広部3a,4a,5a
は、それぞれの幅狭部3b,4b,5bを樹脂体
8まで延長した部分の両側に張出した形状であ
る。幅狭部3b,4b,5bは、実質的に外部へ
の接続端子として使われる部分であり、かなり幅
を狭くしてリード線として必要な柔軟性を持たせ
ている。外部リード4,5の放熱板2に隣接する
部分は、内部リード線6,7を接続するための端
子部4c,5cとなつている。
放熱板2には孔9が形成されており、孔9を貫
通するように樹脂体8の一部で取付け孔10が形
成されている。パワートランジスタを外部放熱体
等にネジ止め等するために必要な取付け孔10
は、1例として直径3.1mmの大きさが必要である。
そのためには、孔9の周囲に形成される樹脂体8
aがネジ止めによるしめつけに耐える強度を持つ
厚さとなるように、孔9は直径4.1mm以上の大き
さに形成しておかなければならない。この場合、
孔9を通常行われるように機械的に打抜いて形成
するためには、孔9を形成すべき部分において放
熱板2にかなりの強度が要求される。すなわち、
放熱板2の厚さが0.4〜1.0mmの場合、孔9の中心
から放熱板2の上端までの長さ(第1図のH)が
4mm以上必要である。また、放熱板2の端には、
製造過程で多数の放熱板2を並列・一体化してお
くために必要であつた放熱板連結部の残存部1
1,12が放熱板2の一部として形成されてお
り、樹脂体8から突出している。
ところで、トランジスタチツプ1に高耐圧のも
のを使用したとき、高電圧の印加される2点を樹
脂体8の表面に沿つて結ぶ最短距離、いわゆる沿
面距離が問題となる。すなわち、沿面距離が短い
と、悪条件下の使用では樹脂体8の表面を電流通
路とする絶縁耐圧不良が発生してしまう。したが
つて、耐圧400V以上の製品では、沿面距離を2
mm以上取るのが望ましい。
しかし、上記従来構造では、パワートランジス
タを放熱板2の底面に絶縁シートを介して外部放
熱体にネジ止めした場合でも、孔9の周囲に樹脂
体8aの表面において、取付け孔10に差込まれ
たネジと放熱板2の間、すなわち外部放熱体とパ
ワートランジスタのコレクタの間で絶縁耐圧不良
を発生しやすい。樹脂体8aを厚くしてこの部分
の沿面距離を大きく取ればこの問題は解決する
が、そのためには孔9の径を大きくしなければな
らず、その分第1図のHが大きくなつて、樹脂体
8の平面サイズが大きくなつてしまう。
「考案の目的および特徴」 本考案は、上記従来の欠点を解消して、外部放
熱体との間の沿面距離を大きく取れる絶縁物封止
半導体装置を提供することを目的とする。
本考案は、以下で実施例について説明するよう
に、放熱板の形状とモールドされた絶縁物の形状
に特徴を有する絶縁物封止半導体装置である。
「実施例」 第6図〜第10図は、本考案の1実施例に係る
樹脂モールド形パワートランジスタを示すもの
で、第1図〜第5図の従来構造にそれぞれ対応し
ている。したがつて、同一箇所には同一符号を付
し、その説明を省略する。なお、従来例を含むす
べての断面は実質的に同一箇所であるので、これ
らに共通する形でA−A線断面と表示した。
放熱板2は、肉厚部2aと肉薄部2bに2分さ
れている。肉厚部2aにはトランジスタチツプ1
が固着されている。肉薄部2bにはU字形状の凹
部13が形成されている。肉薄部2bには凹部1
3の底部と頂部の途中に折曲げ部を有し、この折
曲げ部から放熱板連結部の残存部11,12まで
は放熱板の肉厚部2aのトランジスタチツプ1側
の上方に偏位させられている。放熱板の肉薄部と
同様の薄板状部材で形成されたリード線3,4,
5についても、同様に偏位させられている。放熱
板の肉厚部2aの底面側には樹脂体8が厚さ1mm
以下(例えば0.5mm)の薄板状に形成されており、
このパワートランジスタを外部放熱体に取りつけ
るときに、この部分に絶縁シートを置く必要がな
い構造としている。この結果、外部リード線3,
4,5と放熱板連結部の残存部11,12が樹脂
体8から突出している以外には、このパワートラ
ンジスタの外表面はすべて樹脂体8で覆われてい
る。
放熱板の凹部13の位置には、樹脂体8の一部
によつて凹部13を貫通するように取付け孔10
が形成されている。取付け孔10は外付けの絶縁
ブツシユをはめ込んだ上でネジ止め等をする必要
のない構造である。また、取付け孔10の部分を
補強するために、第6図と第8図の平面状態で見
たとき取付け孔10が凹部13に完全に収容され
るようになつている。
中央に位置する外部リード3については、幅広
部3aが幅狭部3bを樹脂体8まで延長した部分
の両側に張出している。上側に位置する外部リー
ド4については、幅広部4aは幅狭部4bを樹脂
体8まで延長した部分の上側(外部リード3に対
面する側とは反対側)にのみ張出しており、外部
リード4の下側面は樹脂体8から先端まで直線的
に延びている。このため、外部リード4は直線状
の外部リードと見なせる範囲のものである。下側
に位置する外部リード5については、上下の違い
があるだけで、外部リード4と同じである。
なお、外部リードの幅広部3a,4a,5aに
は、第8図に対応する第11図の平面図で示すよ
うに、製造段階で外部リード同志を連結していた
部分を切断した結果として残るリード連結部の残
存部14が見られる場合が多い。しかし、外部リ
ード4の下側面と外部リード5の上側面は、それ
ぞれ樹脂体8から先端まで直線的であることにつ
いては変りがなく、外部リード4,5が直線状の
外部リードと見なせるものであることにも変りが
ない。
外部リード3と4の間および外部リード3と5
の間には、樹脂体8の形状変更による段差部1
5,16を設けている。段差部15,16は、樹
脂体8に凹部17を設けることにより形成されて
おり、外部リード3を凹部17の底面から導出し
ている。外部リード4,5は、凹部17の底面に
対して相対的に凸部となる凹部17の両側からそ
れぞれ導出している。段差部15,16の設け方
としては、凹部17を逆に凸部とするなどの種々
の方法が考えられるが、樹脂体8の外形寸法や強
度に影響を与えることのない凹部17とする方法
が最も実用的である。
以上、この実施例によれば次のような効果が得
られる。
(i) 取付け孔10の内周およびその近辺に放熱板
2が露出していないので、取付け孔10に差込
まれるネジと放熱板2の間の沿面距離不足によ
る絶縁耐圧不良はまつたく発生しない。
この場合、放熱板連結部の残存部11,12
と樹脂体8の底面までの沿面距離(第10図の
m)および外部リード3,4,5と樹脂体8の
底面までの沿面距離(第10図のn)がパワー
トランジスタと外部放熱体との間の絶縁耐圧を
決定することになる。沿面距離mについては、
放熱板連結部の残存部11,12を放熱板の肉
薄部2bに形成するとともに、放熱板連結部の
残存部11,12を放熱板の肉厚部2aに対し
てトランジスタチツプ1側の上方に偏位させる
ことによつて十分な長さを取つている。沿面距
離nについても、肉薄の外部リード3,4,5
を放熱板連結部の残存部11,12と同じく偏
位させることによつて十分な長さを取つてい
る。例えば、mとnを2.5mmとしている。
したがつて、放熱板2の底面側に樹脂体8を
薄く形成したタイプの従来品と比べても、外部
放熱体との絶縁耐圧の面で優れている。
(ii) 取付け孔10の形成箇所を放熱板の孔9から
凹部13に変更したことにより、従来は加工上
の制約から第1図のHが例えば4mm以上必要で
あつたものが、この制約がなくなつた。そこ
で、Hに相当する第6図のhを例えば2.3mmに
短縮したが、何ら問題は生じなかつた。したが
つて、第8図における樹脂体8の平面サイズを
小さくすることができ、小形軽量化が達成され
ている。放熱板2の材料削減によつてコストダ
ウンもはかられている。また、放熱板2を肉厚
部2aと肉薄部2bに2分して肉薄部2bに凹
部13を形成していることにより、放熱板2の
材料削減に伴う軽量化およびコストダウンの効
果が一層大きくなつている。
なお、第1図のHに対応する部分の放熱板2
は、構造上、あまり放熱効果を発揮していな
い。したがつて、この実施例のように、第6図
のhに対応する部分の放熱板2を肉薄部2bと
するとともにできるだけ小面積とし、放熱能力
は肉厚部2aの厚みと面積によつて調整するの
が合理的である。このため、肉薄部2bはもは
や放熱板とは言えない面もあるが、ここでは便
宜上、放熱板2の一部と見なしている。
(iii) 外部リード間の沿面距離も、外部リード間の
樹脂体8の表面での絶縁耐圧を確保するために
重要である。しかし、外部リードの幅広部3
a,4a,5aの幅は、補強部としての効果を
持たせるために小さくするにも限度がある。ま
た、外部リード3,4,5の間隔は、半導体装
置の小形化の要求に応えるために樹脂体8の幅
をできるだけ小さく設計する必要のあることか
ら、大きくするにも限度がある。しかも、外部
リードの間隔は、業界としての標準的な値があ
つて設計の自由度がない場合も多い。このた
め、特に小形の樹脂モールド形パワートランジ
スタでは、その耐圧からすると外部リード間の
沿面距離が不足している場合がある。
そこで、外部リードの幅広部4a,5aの張
出し形状を直線状の外部リードと見なせる範囲
で変更して、直線状の外部リードのもつ取扱い
の容易さを損なうことなく外部リード間の沿面
距離を大きく取つている。また、樹脂体8に凹
部17を形成したことによる段差部15,16
によつても外部リード間の沿面距離を大きく取
つている。1例として、外部リードの間隔を
2.54mm、外部リードの幅広部の幅を1.4mm、外
部リードの幅狭部の幅を0.7mm、段差部15,
16の長さ(凹部17の深さ)を0.6mmとする
と、外部リード間の沿面距離は2.09mmとなる。
同じ条件で従来構造であれば、外部リード間の
沿面距離は1.14mmである。
(iv) 樹脂体8の外部リードが導出された側と反対
の側面と放熱板2の折曲げ部との間隔が、折曲
げ部と放熱板2の肉厚部2aとの間隔よりも大
きくなつている。結果として、放熱板2の折曲
げ部を樹脂体8の側面から離れさせることがで
き、放熱板連結部の破断時に折曲げ部近傍の樹
脂体8に亀裂や割れが生じることが防止され
る。このため、長期間にわたつて使用しても特
性低下等が生じない信頼性の高い樹脂モールド
型パワートランジスタを提供できる。
「考案の効果」 以上実施例について説明したように、本考案に
よれば、放熱板連結部の残存部の露出部および外
部リードの導出部以外は放熱板および外部リード
の露出部分が実質的になく、かつ放熱板連結部の
残存部の露出部分および外部リードの導出部と樹
脂体の底面との沿面距離が増大した絶縁物封止半
導体装置が得られる。したがつて、絶縁物封止半
導体装置と外部放熱体との絶縁耐圧が増大し、高
耐圧の半導体素子を組込むのに好適な絶縁物封止
半導体装置を提供することができる。また、放熱
板の折曲げ部が絶縁物の側面から離間しているの
で、放熱板連結部の破断時に折曲げ部近傍の絶縁
物に亀裂や割れが生じ難い構造の絶縁物封止半導
体装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図は従来の絶縁物封止半導体装置
を示す。第6図〜第11図は本考案に係る絶縁物
封止半導体装置を示す。なお、第1図、第2図、
第6図および第7図の破線は、絶縁物の外形を示
している。 1はパワートランジスタチツプ(半導体素子)、
2は放熱板、2aは放熱板の肉厚部、2bは放熱
板の肉薄部、3,4,5は外部リード、3a,4
a,5aは外部リードの幅広部、3b,4b,5
bは外部リードの幅狭部、4c,5cは外部リー
ドの内部リード線用端子部、6,7は内部リード
線、8は樹脂体(絶縁物)、9は放熱板の孔9、
8aは孔9の周囲に形成された樹脂体、10は取
付け孔、11,12は放熱板連結部の残存部、1
3は放熱板の凹部、14はリード連結部の残存
部、15,16は樹脂体の段差部、17は樹脂体
の凹部。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 一方の主面に半導体素子が固着された肉厚部と
    先端部分に放熱板連結部の残存部を有する肉薄部
    とを備えた放熱板と、前記放熱板の肉厚部よりも
    薄い板状部材から形成された複数の外部リードと
    を具備し、前記放熱板の肉薄部は折曲げ部を有し
    て前記放熱板連結部の残存部を含む先端側が前記
    放熱板の肉厚部の前記一方の主面よりも上方に偏
    位しており、前記半導体素子は絶縁物に封止さ
    れ、前記放熱板連結部の残存部は前記放熱板の肉
    厚部の前記一方の主面よりも上方に偏位した位置
    において前記絶縁物から露出した露出部を有し、
    前記複数の外部リードは前記放熱板の肉厚部の前
    記一方の主面から上方に偏位した位置において前
    記絶縁物から導出した導出部を有し、前記放熱板
    連結部の残存部の露出部及び前記複数の外部リー
    ドの導出部以外では前記放熱板及び前記複数の外
    部リードが前記絶縁物から露出しておらず、前記
    放熱板の肉厚部の前記一方の主面とは反対側の主
    面に形成された前記絶縁物の厚さが1mm以下とな
    つており、前記絶縁物の前記複数の外部リードが
    導出された側面とは反対の側面と前記放熱板の肉
    薄部の前記折曲げ部との間隔が前記放熱板の肉薄
    部の前記折曲げ部と前記放熱板の肉厚部との間隔
    よりも大きくなつていることを特徴とする絶縁物
    封止半導体装置。
JP1987151522U 1987-10-02 1987-10-02 Expired JPH0328510Y2 (ja)

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JPS6371548U JPS6371548U (ja) 1988-05-13
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS51131174U (ja) * 1975-04-15 1976-10-22
JPS57147260A (en) * 1981-03-05 1982-09-11 Matsushita Electronics Corp Manufacture of resin-sealed semiconductor device and lead frame used therefor
JPS6225905Y2 (ja) * 1981-04-30 1987-07-02

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