JPH03285371A - 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 - Google Patents
有機超電導体を用いた接合およびその製造方法Info
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- JPH03285371A JPH03285371A JP2087230A JP8723090A JPH03285371A JP H03285371 A JPH03285371 A JP H03285371A JP 2087230 A JP2087230 A JP 2087230A JP 8723090 A JP8723090 A JP 8723090A JP H03285371 A JPH03285371 A JP H03285371A
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- 239000002887 superconductor Substances 0.000 title claims description 69
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 16
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 3
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 claims description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000002577 pseudohalo group Chemical group 0.000 claims description 2
- BESMENYYPMISDY-UHFFFAOYSA-N 2-(1,3-dithiol-2-ylidene)-5,6-dihydro-[1,3]dithiolo[4,5-b][1,4]dithiine Chemical compound S1CCSC(S2)=C1SC2=C1SC=CS1 BESMENYYPMISDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 31
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 12
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 3
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 3
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- CMSGUKVDXXTJDQ-UHFFFAOYSA-N 4-(2-naphthalen-1-ylethylamino)-4-oxobutanoic acid Chemical compound C1=CC=C2C(CCNC(=O)CCC(=O)O)=CC=CC2=C1 CMSGUKVDXXTJDQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005668 Josephson effect Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 125000000118 dimethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 125000000325 methylidene group Chemical group [H]C([H])=* 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 239000003495 polar organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- ZNNZYHKDIALBAK-UHFFFAOYSA-M potassium thiocyanate Chemical compound [K+].[S-]C#N ZNNZYHKDIALBAK-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000003115 supporting electrolyte Substances 0.000 description 1
- SBSSZSCMFDYICE-UHFFFAOYSA-N tetrabutylazanium;triiodide Chemical compound I[I-]I.CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC SBSSZSCMFDYICE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、有機超電導体を用いた有機超電導体/絶縁体
/有機超電導体(SIS)構造を有する接合およびその
製造方法に関するものである。
/有機超電導体(SIS)構造を有する接合およびその
製造方法に関するものである。
〔従来の技術j
近年、有機超電導体として、テトラチアフルバレン−テ
トラシアノキノジメタン錯体(TTF−TCNQIやテ
トラメチルテトラセレノフルバレン(TMTSF)を用
いた電荷移動錯体 (丁MTSF) 、X (Xは、C
ffO4やPF、−などのアクセプター)等が開発され
、これらの有機超電導体を用いた素子作成技術について
も提案がなされている。
トラシアノキノジメタン錯体(TTF−TCNQIやテ
トラメチルテトラセレノフルバレン(TMTSF)を用
いた電荷移動錯体 (丁MTSF) 、X (Xは、C
ffO4やPF、−などのアクセプター)等が開発され
、これらの有機超電導体を用いた素子作成技術について
も提案がなされている。
例えば、特開昭58−157182号公報には、 (T
MTSF) 、C1o、等の擬−次元有機超電導体を用
いて、ジョセフソン効果等を利用した小型回路とその製
造方法が示されている。この方法では、擬−次元有機超
電導体を部材とする基板の所定領域に高エネルギー粒子
ビームを照射して、絶縁領域を形成している。
MTSF) 、C1o、等の擬−次元有機超電導体を用
いて、ジョセフソン効果等を利用した小型回路とその製
造方法が示されている。この方法では、擬−次元有機超
電導体を部材とする基板の所定領域に高エネルギー粒子
ビームを照射して、絶縁領域を形成している。
また、本発明者は、先に、二次元的構造を有するビスエ
チレンジチアテトラチアフルバレン(BEDT−TTF
)系有機超電導体を用いた有様超電導素子(接合)およ
びその製造方法について提案している(特願平1−87
867号)。この方法では、(BEDT−TTFl系有
機超電導体に光を照射して絶縁部を形成している。
チレンジチアテトラチアフルバレン(BEDT−TTF
)系有機超電導体を用いた有様超電導素子(接合)およ
びその製造方法について提案している(特願平1−87
867号)。この方法では、(BEDT−TTFl系有
機超電導体に光を照射して絶縁部を形成している。
ところで、超電導デバイス作成の重要かつ基本要素であ
る接合には、超電導体/絶縁体/超電導体からなるSI
S接合、超電導体/常任導体金属(非超電導体金111
E)/超電導体からなるSMS接合、超電導体/半導体
/超電導体からなる5SC8接合等が知られている。
る接合には、超電導体/絶縁体/超電導体からなるSI
S接合、超電導体/常任導体金属(非超電導体金111
E)/超電導体からなるSMS接合、超電導体/半導体
/超電導体からなる5SC8接合等が知られている。
これらの接合におけるM(非超電導体金属)層や■ (
絶縁体)層などの厚さは、S(超電導体)層のコヒーレ
ント長程度であることが必要であり、通常、約数nm−
約10nmのオーダーである。しかも、平滑でピンホー
ルのないことや、界面での密着性の良好なM層または1
層の作成が要求される。
絶縁体)層などの厚さは、S(超電導体)層のコヒーレ
ント長程度であることが必要であり、通常、約数nm−
約10nmのオーダーである。しかも、平滑でピンホー
ルのないことや、界面での密着性の良好なM層または1
層の作成が要求される。
しかしながら、従来提案されている高エネルギー粒子ビ
ームや光ビームを用いて、有機超電導体の所定領域にI
Nを作成する方法では、上記要求を満足させることは容
易ではない。
ームや光ビームを用いて、有機超電導体の所定領域にI
Nを作成する方法では、上記要求を満足させることは容
易ではない。
〔発明が解決しようとする課題J
本発明の目的は、超電導体として有機超電導体薄膜を用
い、1層として、平滑でピンホールがな(、かつ、超電
導体のコヒーレント超程度の厚さの非超電導体金属層を
有するSIS構造の接合を提供することにある。
い、1層として、平滑でピンホールがな(、かつ、超電
導体のコヒーレント超程度の厚さの非超電導体金属層を
有するSIS構造の接合を提供することにある。
従来、有機超電導体は、バルク、結晶の形で得ることは
できても、膜や薄膜の形では得ることができなかった。
できても、膜や薄膜の形では得ることができなかった。
前記特開昭58−]57182号公報や特願平1−87
867号に開示されている有機超電導素子おいても、有
償超電導体の結晶を用いている。
867号に開示されている有機超電導素子おいても、有
償超電導体の結晶を用いている。
ところで、本発明者は、先に、有機超電導体が膜状で得
られることを初めて見出した(特願平]−214951
号)。
られることを初めて見出した(特願平]−214951
号)。
すなわち、導電性基板上に、電子供与性有機化合物の蒸
着膜を作成し、次いで、電子アクセプターをドーピング
することにより、有機超電導体膜の作成が可能であるこ
とを見出した。
着膜を作成し、次いで、電子アクセプターをドーピング
することにより、有機超電導体膜の作成が可能であるこ
とを見出した。
そこで、さらに本発明者らは、この有機超電導体膜を利
用して、新規な接合を作成するために鋭意研究した結果
、電子供与性有機化合物の蒸着膜に電子アクセプターを
ドーピングしてなる2つの有機超電導体層の間に、絶縁
体層を設けることにより、前記目的を達成できることを
見出した。
用して、新規な接合を作成するために鋭意研究した結果
、電子供与性有機化合物の蒸着膜に電子アクセプターを
ドーピングしてなる2つの有機超電導体層の間に、絶縁
体層を設けることにより、前記目的を達成できることを
見出した。
本発明は、これらの知見に基づいて完成するに至ったも
のである。
のである。
[課題を解決するための手段〕
か(して、本発明によれば、電子供与性有機化合物の蒸
着膜に電子アクセプターをドーピングしてなる2つの有
機超電導体層の間に、絶縁体膜を設けてなることを特徴
とする有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超電導体膜(S
IS)構造を有する接合が提供される。
着膜に電子アクセプターをドーピングしてなる2つの有
機超電導体層の間に、絶縁体膜を設けてなることを特徴
とする有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超電導体膜(S
IS)構造を有する接合が提供される。
また、本発明によれば、工程(a)ないしくelを含む
ことを特徴とする有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超電
導体膜(SIS)構造を有する接合の製造方法が提供さ
れる。
ことを特徴とする有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超電
導体膜(SIS)構造を有する接合の製造方法が提供さ
れる。
(a)導電性基板上に、電子供与性有機化合物の蒸着膜
を作成する工程、 (b)該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングして有
機超電導体層を形成する工程、 (c)前記有機超電導体層の上に、絶縁体膜を設ける工
程、 (d)絶縁体膜の上に、電子供与性有機化合物の蒸着膜
を作成する工程、 (e)該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングして有
機超電導体層を形成する工程。
を作成する工程、 (b)該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングして有
機超電導体層を形成する工程、 (c)前記有機超電導体層の上に、絶縁体膜を設ける工
程、 (d)絶縁体膜の上に、電子供与性有機化合物の蒸着膜
を作成する工程、 (e)該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングして有
機超電導体層を形成する工程。
さらに、本発明によれば、工程(a) 、 (c)およ
び(d)を順次行ない、次いで、電子アクセプターをド
ーピングするSIS接合の製造方法、あるいは導電性膜
を設ける付加的な工程(f)を含む方法などが提供され
る。
び(d)を順次行ない、次いで、電子アクセプターをド
ーピングするSIS接合の製造方法、あるいは導電性膜
を設ける付加的な工程(f)を含む方法などが提供され
る。
以下、本発明について詳述する。
第1図は、本発明の接合の断面の概念図である。
本発明の接合は、導電性基板3上に、2層の有機超電導
体層1.1を有し、これらの間に絶縁体層2が設けられ
た構造を有している。導電性基板として導電性酸化物が
コーティングされているITOガラスやNESAガラス
などを用いる場合には、基板表面導電層4が存在する。
体層1.1を有し、これらの間に絶縁体層2が設けられ
た構造を有している。導電性基板として導電性酸化物が
コーティングされているITOガラスやNESAガラス
などを用いる場合には、基板表面導電層4が存在する。
また、第2図に示すように、上層の有機超電導体層1の
上に、さらに電極5となる導電性膜を一体に設けてもよ
い。
上に、さらに電極5となる導電性膜を一体に設けてもよ
い。
このような構造のSIS接合は、次の各工程により作成
される。
される。
工程(ai〜(b)では、導電性基板上に、電子供与性
有機化合物を、減圧下に、加熱して蒸着膜を形成し、次
いで、電子アクセプターを電解法または気相法などによ
りドーピングして、第一の有機超電導体層とする。
有機化合物を、減圧下に、加熱して蒸着膜を形成し、次
いで、電子アクセプターを電解法または気相法などによ
りドーピングして、第一の有機超電導体層とする。
工程(c)では、上言己第−の有機超電導体層の上に、
絶縁体層(1層)を設ける。
絶縁体層(1層)を設ける。
絶縁体層の膜厚は、通常、数10人〜数100人とする
。
。
絶縁体としては、有機物、高分子、酸化物などいかなる
ものでもよい。絶縁体膜を形成するには、蒸着法、CV
D法、スパッタ法、クラスターイオンビーム法等の気相
プロセス、LB腹膜法との液相プロセスが用いられる。
ものでもよい。絶縁体膜を形成するには、蒸着法、CV
D法、スパッタ法、クラスターイオンビーム法等の気相
プロセス、LB腹膜法との液相プロセスが用いられる。
これらの方法により、平滑でピンホールのない絶縁層が
形成される。
形成される。
工程(d1〜(e)では、上記絶縁体層の上に3電子供
与性有機化合物の蒸着膜を形成し、次いで、電子アクセ
プターをドーピングして、第二の有機超電導体層を設け
る。
与性有機化合物の蒸着膜を形成し、次いで、電子アクセ
プターをドーピングして、第二の有機超電導体層を設け
る。
以上の各工程により、基板の上に有機超電導体Wa/絶
縁体膜/何機超電導体肋のSIS構造の接合が製造され
る。
縁体膜/何機超電導体肋のSIS構造の接合が製造され
る。
また、工程fflを付加して、前記接合の上に電極とし
て導電性膜を一体的に設けてもよい。電極としては、例
えば、金、白金、酸化インジウム、ITOなどを、蒸着
法やスパッタ法、クラスターイオンビーム法等の手法で
作成する。
て導電性膜を一体的に設けてもよい。電極としては、例
えば、金、白金、酸化インジウム、ITOなどを、蒸着
法やスパッタ法、クラスターイオンビーム法等の手法で
作成する。
さらに、前記工程(b)および(e)の蒸着膜に電子ア
クセプターをドーピングする工程は、工程fa) 、
(c)および(dlの後、あるいは工程(a)、(c)
、 (dlおよび(flの後に、−括して行なうこと
ができる。
クセプターをドーピングする工程は、工程fa) 、
(c)および(dlの後、あるいは工程(a)、(c)
、 (dlおよび(flの後に、−括して行なうこと
ができる。
これらの方法によれば、平滑で、ピンホールのない絶縁
体層が作成でき、しかも、各層の界面での密着性も良好
である。
体層が作成でき、しかも、各層の界面での密着性も良好
である。
電子供与性有機化合物としては、ビスエチレンジチアテ
トラチアフルバレン(BEDT−TTFI、テトラメチ
ルテトラセレナフルバレン(TMTSFI 、ジメチル
(エチレンジチオ)ジセレナジチアフルバレン(DME
TI 、 メチレンジチオテトラチアフルバレン(MD
T)などを挙げることができるが、その中でも、有機超
電導体としての性能から見て、 BEDTTTFが好ま
しい。
トラチアフルバレン(BEDT−TTFI、テトラメチ
ルテトラセレナフルバレン(TMTSFI 、ジメチル
(エチレンジチオ)ジセレナジチアフルバレン(DME
TI 、 メチレンジチオテトラチアフルバレン(MD
T)などを挙げることができるが、その中でも、有機超
電導体としての性能から見て、 BEDTTTFが好ま
しい。
本発明で用いる電子アクセプターとしては、例えば、1
3− 、 Brt−1IBr2− 、 ICJ2− 、
TJr−などのX3−[ただし、Xはハロゲン原子で
ある]で表わされるトリハライド陰イオン; Au1z
AuIBr−1AuBrt−、Cu(NCS)2− 、
Ag(NC3)−Au(NCS)z−、Cu(NC5
e)y−1CufNco)x\Au(cN)2などのM
、X2−rただし、Mは金属原子、Xはハロゲンまたは
擬ハロゲンである〕で表わされる陰イオンなどを挙げる
ことができる。これらの電子アクセプターは、分子また
はイオンとして、をドーピングすることによって、超電
導性を示す有機薄膜を得ることができる。
3− 、 Brt−1IBr2− 、 ICJ2− 、
TJr−などのX3−[ただし、Xはハロゲン原子で
ある]で表わされるトリハライド陰イオン; Au1z
AuIBr−1AuBrt−、Cu(NCS)2− 、
Ag(NC3)−Au(NCS)z−、Cu(NC5
e)y−1CufNco)x\Au(cN)2などのM
、X2−rただし、Mは金属原子、Xはハロゲンまたは
擬ハロゲンである〕で表わされる陰イオンなどを挙げる
ことができる。これらの電子アクセプターは、分子また
はイオンとして、をドーピングすることによって、超電
導性を示す有機薄膜を得ることができる。
本発明における有機超電導体は、 (BEDT−TTF
) 。
) 。
X、および (BEDT−丁子F)2間X、から選ばれ
る少なくとも1種であるものが好ましい。
る少なくとも1種であるものが好ましい。
本発明における電子供与性有機化合物の薄膜の形成は、
減圧下(真空中)で薄膜形成材料を加熱蒸発させ、この
蒸発粒子を基板上に沈着させて薄膜を形成する真空蒸着
法により、通常の熱蒸着装置を用いて行なうことができ
る。
減圧下(真空中)で薄膜形成材料を加熱蒸発させ、この
蒸発粒子を基板上に沈着させて薄膜を形成する真空蒸着
法により、通常の熱蒸着装置を用いて行なうことができ
る。
電子供与性有機化合物としてBEf)T−TTFを用い
る場合には、10−2〜I O−”Torrid上の真
空下、好ましくは10−” 〜10−” Torrで、
260”CLJ下、好ましくは180〜250℃の、温
度で加熱することにより、基板上にBEDT−TTFの
薄膜を形成さゼることができる。
る場合には、10−2〜I O−”Torrid上の真
空下、好ましくは10−” 〜10−” Torrで、
260”CLJ下、好ましくは180〜250℃の、温
度で加熱することにより、基板上にBEDT−TTFの
薄膜を形成さゼることができる。
電子アクセプターのドーピングは、電解法や気相法など
により行なうことができる。
により行なうことができる。
例久ば、電解法によるドーピングは、公知の電解結晶装
置などを用いて、常法により行なうことができる。具体
例としては、電解液を入れた反応器中で、陽極側に電子
供与性有機化合物を蒸着した導電性基板を保持し、陰極
側に白金板または線を用い、直流定電流を流す方法があ
る。電解液としては、前記陰イオンを含む支持電解質を
、酸化・還元を受けにくい極性の強い有機溶媒溶液に溶
解したものを用いる。また、陰イオンの種類やドープ率
を選択することなどにより、電導度を謂整することがで
きる。
置などを用いて、常法により行なうことができる。具体
例としては、電解液を入れた反応器中で、陽極側に電子
供与性有機化合物を蒸着した導電性基板を保持し、陰極
側に白金板または線を用い、直流定電流を流す方法があ
る。電解液としては、前記陰イオンを含む支持電解質を
、酸化・還元を受けにくい極性の強い有機溶媒溶液に溶
解したものを用いる。また、陰イオンの種類やドープ率
を選択することなどにより、電導度を謂整することがで
きる。
本発明で使用する基板は、例えば、(100) S i
(n型、p型) 、 (l111 S i (n型、p
型)などのシリコン、Ge、GaAs、InPなどの半
導体;酸化インジウムやITOをコートしたガラス、石
英またはポリエステルフィルム;などを挙げることがで
きる。
(n型、p型) 、 (l111 S i (n型、p
型)などのシリコン、Ge、GaAs、InPなどの半
導体;酸化インジウムやITOをコートしたガラス、石
英またはポリエステルフィルム;などを挙げることがで
きる。
[実施例〕
以下に、実施例を挙げて本発明について具体的に説明す
る。
る。
[実施例1]
(a) BEDT−TTF 10 m gを入れた原
料セル、1cmXBcmサイズのn型シリコンウェハ(
100)[抵抗0.01〜0.02Ωcm]を石英製反
応管内に、原料セルと基板間距離が10cmとなるよう
に設置し、反応管を2ゾーン管状炉にセットした。反応
管内を排気・減圧し、I O−” l’orrの真空度
で原料セル部を約り℃/分の昇、温速度で250℃に加
熱し、25℃で30分間保持した。
料セル、1cmXBcmサイズのn型シリコンウェハ(
100)[抵抗0.01〜0.02Ωcm]を石英製反
応管内に、原料セルと基板間距離が10cmとなるよう
に設置し、反応管を2ゾーン管状炉にセットした。反応
管内を排気・減圧し、I O−” l’orrの真空度
で原料セル部を約り℃/分の昇、温速度で250℃に加
熱し、25℃で30分間保持した。
蒸着部7品度は175℃あった。室温に放置後、基板を
取り出した。
取り出した。
(b)次いで、窒素ガス雰囲気中で、CuSCN70m
g、KSCN 126mg、18−クラウン−621
0mgを100mgのエタノールに溶解させた電解液中
で、BEDT−TTF蒸着シリコン基板を陽極とし、白
金ワイヤを陰極どして、温度20℃に保たれた恒温器中
で10μAの直流定電流を5日間流した。
g、KSCN 126mg、18−クラウン−621
0mgを100mgのエタノールに溶解させた電解液中
で、BEDT−TTF蒸着シリコン基板を陽極とし、白
金ワイヤを陰極どして、温度20℃に保たれた恒温器中
で10μAの直流定電流を5日間流した。
得られた (BEDT−TTF) tcu (NC3)
z 膜は、エタノールで洗浄後、真空乾燥を行なっ
た。
z 膜は、エタノールで洗浄後、真空乾燥を行なっ
た。
この膜の直流帯磁率を測定したところ、Tc=9にでマ
イスナー効果を示した。また、走査型電子顕微fi(S
EM)による観察を行なったところ、膜厚は約5000
人であり、表面平滑でピンホールのない膜が得られてい
ることが確認された。
イスナー効果を示した。また、走査型電子顕微fi(S
EM)による観察を行なったところ、膜厚は約5000
人であり、表面平滑でピンホールのない膜が得られてい
ることが確認された。
(c)続いて、 (BEDT−TTF)zcu(N(:
Slx膜の上に、膜厚約150人のポリイミドの超薄膜
をLB腹膜法作成した。
Slx膜の上に、膜厚約150人のポリイミドの超薄膜
をLB腹膜法作成した。
(d)次に、(a)項と同様の手法で、ポリイミド膜上
にBEDT−TTFの蒸着膜を作成し、その後、(b1
項と同様の手法でCu (NC5)−陽イオンのドーピ
ングを行ない、 (BEDT−TTF) 2Cu (N
C3) −膜を作成した。
にBEDT−TTFの蒸着膜を作成し、その後、(b1
項と同様の手法でCu (NC5)−陽イオンのドーピ
ングを行ない、 (BEDT−TTF) 2Cu (N
C3) −膜を作成した。
以上の工程により、シリコンウェハ基板上に、(BED
T−TTF)2Cu (NCS) 2/ポリイミド/
(BEDT−TTFI2C+、+(IJcs)2からな
るSIS構造の接合が作成できた。
T−TTF)2Cu (NCS) 2/ポリイミド/
(BEDT−TTFI2C+、+(IJcs)2からな
るSIS構造の接合が作成できた。
[実施例2]
導電性基板を、p型シリコン(100) 、 n型シリ
コン(111) 、 p型シリコン(111) 、 G
a A s、InP、NESAガラス、ITOコート
ポリエステルフィルムに代えて、実施例1と同様にSI
S構造の接合を作成した。
コン(111) 、 p型シリコン(111) 、 G
a A s、InP、NESAガラス、ITOコート
ポリエステルフィルムに代えて、実施例1と同様にSI
S構造の接合を作成した。
[実施例3]
実施例1の(b)項の電解液を、テトラブチルアンモニ
ウムトリアイオダイド243mgのエタノール溶液とし
た以外、実施例1と同様にし2て、(BEDT−TTF
) 、1./ポリイミド/ (BEDT−TTF) 2
1.からなるSMS構造の接合を作成した。
ウムトリアイオダイド243mgのエタノール溶液とし
た以外、実施例1と同様にし2て、(BEDT−TTF
) 、1./ポリイミド/ (BEDT−TTF) 2
1.からなるSMS構造の接合を作成した。
[実施例4]
実施例1の(c)項において、ポリイミドの代わりに、
ポリアミドイミドを用いる以外は、同様にしてSTS接
合を作成した。
ポリアミドイミドを用いる以外は、同様にしてSTS接
合を作成した。
本発明によれば、有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超電
導体膜(SIS)構造を有する接合が提供される。
導体膜(SIS)構造を有する接合が提供される。
本発明の接合における1層は、平滑でビンホルがなく、
かつ、超電導体のコヒーレント長程度の膜厚を有するも
のである。そして、本発明の接合は、ジョセフソン効果
を示すので、有機超電導体素子やセンサーなどとして有
効に使用できる。
かつ、超電導体のコヒーレント長程度の膜厚を有するも
のである。そして、本発明の接合は、ジョセフソン効果
を示すので、有機超電導体素子やセンサーなどとして有
効に使用できる。
第1図および第2図は、本発明の有機超電導体を用いた
接合の断面図を示すものである。 有機超電導体層、 2 絶縁体層、 3二基1. 4:基板表面導電層、 5:II極。 第1図 第2図1
接合の断面図を示すものである。 有機超電導体層、 2 絶縁体層、 3二基1. 4:基板表面導電層、 5:II極。 第1図 第2図1
Claims (8)
- (1)電子供与性有機化合物の蒸着膜に電子アクセプタ
ーをドーピングしてなる2つの有機超電導体層の間に、
絶縁体膜を設けてなることを特徴とする有機超電導体膜
/絶縁体膜/有機超電導体膜(SIS)構造を有する接
合。 - (2)電子供与性有機化合物がビスエチレンジチアテト
ラチアフルバレン(BEDT−TTF)であって、電子
アクセプターをドーピングしてなる有機超電導体が(B
EDT−TTF)_2X_3および(BEDT−TTF
)_2MX_2から選ばれる少なくとも1種である請求
項1記載の接合。 (ただし、Mは金属原子、Xはハロゲンまたは擬ハロゲ
ンを表わす。) - (3)絶縁体膜が、有機絶縁体薄膜からなるものである
請求項1または2記載の接合。 - (4)下記の工程(a)ないし(e)を含むことを特徴
とする有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超電導体膜(S
IS)構造を有する接合の製造方法。 (a)導電性基板上に、電子供与性有機化合物の蒸着膜
を作成する工程、 (b)該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングして有
機超電導体層を形成する工程、 (c)前記有機超電導体層の上に、絶縁体膜を設ける工
程、 (d)絶縁体膜の上に、電子供与性有機化合物の蒸着膜
を作成する工程、 (e)該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングして有
機超電導体層を形成する工程。 - (5)請求項4記載の工程(a)、(c)および(d)
を順次行ない、次いで、工程(a)および工程(d)で
作成された電子供与性有機化合物の蒸着膜に電子アクセ
プターを同時にドーピングして有機超電導体層を形成す
ることを特徴とする有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超
電導体膜(SIS)構造を有する接合の製造方法。 - (6)請求項4または5記載の接合の上に、さらに、電
極として導電性膜を設ける工程(f)を付加することを
特徴とする有機超電導体膜/絶縁体膜/有機超電導体膜
(SIS)構造を有する接合の製造方法。 - (7)請求項4記載の工程(a)、(c)、(d)およ
び請求項6記載の工程(f)を順次行ない、次いで、工
程(a)および工程(d)で作成された電子供与性有機
化合物の蒸着膜に電子アクセプターを同時にドーピング
して有機超電導体層を形成することを特徴とする有機超
電導体膜/絶縁体膜/有機超電導体膜(SIS)構造を
有する接合の製造方法。 - (8)導電性基板が、Si、Ge、GaAs、InPな
どの半導体、あるいは酸化インジウムやITOをコート
したガラス、石英またはポリエステルフィルムから選ば
れる少なくとも1種の材料から形成されたものである請
求項4ないし7のいずれか1項記載の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2087230A JPH03285371A (ja) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2087230A JPH03285371A (ja) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03285371A true JPH03285371A (ja) | 1991-12-16 |
Family
ID=13909059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2087230A Pending JPH03285371A (ja) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03285371A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006351803A (ja) * | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Ulvac Japan Ltd | ジョセフソン素子の製造方法 |
-
1990
- 1990-03-31 JP JP2087230A patent/JPH03285371A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006351803A (ja) * | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Ulvac Japan Ltd | ジョセフソン素子の製造方法 |
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