JPH03285370A - 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 - Google Patents
有機超電導体を用いた接合およびその製造方法Info
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- JPH03285370A JPH03285370A JP2087229A JP8722990A JPH03285370A JP H03285370 A JPH03285370 A JP H03285370A JP 2087229 A JP2087229 A JP 2087229A JP 8722990 A JP8722990 A JP 8722990A JP H03285370 A JPH03285370 A JP H03285370A
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- 239000002887 superconductor Substances 0.000 title claims description 65
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 35
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 32
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 15
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 11
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 10
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 10
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 8
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 7
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BESMENYYPMISDY-UHFFFAOYSA-N 2-(1,3-dithiol-2-ylidene)-5,6-dihydro-[1,3]dithiolo[4,5-b][1,4]dithiine Chemical compound S1CCSC(S2)=C1SC2=C1SC=CS1 BESMENYYPMISDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 claims description 2
- 125000002577 pseudohalo group Chemical group 0.000 claims description 2
- -1 gold and platinum Chemical class 0.000 claims 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 36
- 239000000370 acceptor Substances 0.000 description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 5
- VKOBVWXKNCXXDE-UHFFFAOYSA-N icosanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O VKOBVWXKNCXXDE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- YMWLPMGFZYFLRP-UHFFFAOYSA-N 2-(4,5-dimethyl-1,3-diselenol-2-ylidene)-4,5-dimethyl-1,3-diselenole Chemical compound [Se]1C(C)=C(C)[Se]C1=C1[Se]C(C)=C(C)[Se]1 YMWLPMGFZYFLRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CMSGUKVDXXTJDQ-UHFFFAOYSA-N 4-(2-naphthalen-1-ylethylamino)-4-oxobutanoic acid Chemical compound C1=CC=C2C(CCNC(=O)CCC(=O)O)=CC=CC2=C1 CMSGUKVDXXTJDQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005668 Josephson effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 125000000118 dimethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical group 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 125000000325 methylidene group Chemical group [H]C([H])=* 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003495 polar organic solvent Substances 0.000 description 1
- ZNNZYHKDIALBAK-UHFFFAOYSA-M potassium thiocyanate Chemical compound [K+].[S-]C#N ZNNZYHKDIALBAK-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000003115 supporting electrolyte Substances 0.000 description 1
- SBSSZSCMFDYICE-UHFFFAOYSA-N tetrabutylazanium;triiodide Chemical compound I[I-]I.CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC SBSSZSCMFDYICE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001291 vacuum drying Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、有機超電導体を用いた有機超電導体/非超電
導体金属/有磯超電導体(Srν4S)構造を有する接
合およびその製造方法に関するものである。
導体金属/有磯超電導体(Srν4S)構造を有する接
合およびその製造方法に関するものである。
[従来の技術]
近年、有機超電導体として、テトラチアフルバレン−テ
トラシアノキノジメタン錯体(TTF−TCNQ)やテ
トラメチルテトラセレノフルバレン(TMTSFIヲ用
イタ電荷移動錯体 (TMTSF) 2X (Xは、C
404やPF、−などのアクセプター)等が開発され、
これらの有機超電導体を用いた素子作成技術についても
提案がなされている。
トラシアノキノジメタン錯体(TTF−TCNQ)やテ
トラメチルテトラセレノフルバレン(TMTSFIヲ用
イタ電荷移動錯体 (TMTSF) 2X (Xは、C
404やPF、−などのアクセプター)等が開発され、
これらの有機超電導体を用いた素子作成技術についても
提案がなされている。
例久ば、特開昭58−157182号公報には、 (T
MTSFl 2CI04等の擬−次元有機超電導体を用
いて、ジョセフソン効果等を利用した小型回路とその製
造方法が示されている。この方法では。
MTSFl 2CI04等の擬−次元有機超電導体を用
いて、ジョセフソン効果等を利用した小型回路とその製
造方法が示されている。この方法では。
擬−次元有機超電導体を部材とする基板の所定領域に高
エネルギー粒子ビームを照射して、絶縁領域を形成して
いる。
エネルギー粒子ビームを照射して、絶縁領域を形成して
いる。
また、本発明者は、先に、ビスエチレンジチアテトラチ
アフルバレン(BEDT−TTF)系有機超電導体を用
いた有機超電導素子(接合)およびその製造方法につい
て提案している(特願平1−87867号)。この方法
では、(BEDT−TTFJ系有機超電導体に光を照射
して絶縁部を形成している。
アフルバレン(BEDT−TTF)系有機超電導体を用
いた有機超電導素子(接合)およびその製造方法につい
て提案している(特願平1−87867号)。この方法
では、(BEDT−TTFJ系有機超電導体に光を照射
して絶縁部を形成している。
ところで、超電導デバイス作成の基本要素である接合に
は、超電導体/絶縁体/超電導体からなるSIS接合、
超電導体/宮仕導体金属(非超電導体金属)/超電導体
からなるS M S接合、超電導体/′半導体/超電導
体からなる5scs接合等が知られている。
は、超電導体/絶縁体/超電導体からなるSIS接合、
超電導体/宮仕導体金属(非超電導体金属)/超電導体
からなるS M S接合、超電導体/′半導体/超電導
体からなる5scs接合等が知られている。
これらの接合におけるM(非超電導体金属)層や工 (
絶縁体)層などの厚さは、超電導体のコヒーレント長程
魔であることが必要であり、通常、p 10 n m以
下の厚さが要求される。しかも、平滑でピンホールのな
いことや、界面での密看牲の良好なN1層または1層の
作成が要求される。
絶縁体)層などの厚さは、超電導体のコヒーレント長程
魔であることが必要であり、通常、p 10 n m以
下の厚さが要求される。しかも、平滑でピンホールのな
いことや、界面での密看牲の良好なN1層または1層の
作成が要求される。
しかしながら、従来提案さとている高エネルギー粒子ビ
ームや光ビームを用いて、何機超電導体の所定領域に1
層を作成する方法では、上記要求を濯足させることは容
易ではない。
ームや光ビームを用いて、何機超電導体の所定領域に1
層を作成する方法では、上記要求を濯足させることは容
易ではない。
[発明が解決しようとする課題]
本発明の目的は、起電導体として有機超電導体薄膜を用
い、Mlilとして、平滑でピンホールがなく、かつ、
超電導体のコヒーレント超程度の厚さの非超電導体金属
層を有する5MS構造の接合を提供することにある。
い、Mlilとして、平滑でピンホールがなく、かつ、
超電導体のコヒーレント超程度の厚さの非超電導体金属
層を有する5MS構造の接合を提供することにある。
従来、有機超電導体は、バルク、結晶の形で得ることは
できても、膜や薄膜の形では得ることができなかった。
できても、膜や薄膜の形では得ることができなかった。
前記特開昭58−157182号公報や特願平1−87
867号に開示されている有機超電導素子おいても、有
機超電導体の結晶を用いている。
867号に開示されている有機超電導素子おいても、有
機超電導体の結晶を用いている。
ところで、本発明者は、先に、有機超電導体が膜状で得
られることを初めて見出した(特願平]−214951
号)。
られることを初めて見出した(特願平]−214951
号)。
すなわち、導を性基板上に、電子供与性有機化合物の医
着膜を作成し、次いで、電子アクセプターをドーピング
することにより、有機超電導体膜の作成が可能であるこ
とを見出した。
着膜を作成し、次いで、電子アクセプターをドーピング
することにより、有機超電導体膜の作成が可能であるこ
とを見出した。
そこで、さらに本発明者らは、この有機超電導体膜を利
用して、新規な接合を作成するために鋭意研究した結果
、電子供与性有機化合物の蒸着膜に電子アクセプターを
ドーピングしてなる2つの有機超電導体層の間に、非超
電導体金属層を設けることにより、前記目的を達成でき
ることを見出した。
用して、新規な接合を作成するために鋭意研究した結果
、電子供与性有機化合物の蒸着膜に電子アクセプターを
ドーピングしてなる2つの有機超電導体層の間に、非超
電導体金属層を設けることにより、前記目的を達成でき
ることを見出した。
本発明は、これらの知見に基づいて完成するに至ったも
のである。
のである。
[課題を解決するための手段]
か(して、本発明によれば、電子供与性有機化合物の蒸
着膜に電子アクセプターをドーピングしてなる2つの有
機超電導体層の間に、非超電導体金属層を設けてなるこ
とを特徴とする有機超1i4体/非超電導体金属/有機
超電導体(SMS)構造を有する接合が提供される。
着膜に電子アクセプターをドーピングしてなる2つの有
機超電導体層の間に、非超電導体金属層を設けてなるこ
とを特徴とする有機超1i4体/非超電導体金属/有機
超電導体(SMS)構造を有する接合が提供される。
また、本発明によれば、下記の第一工程ないし第三工程
を含むことを特徴とする有機超電導体/非超電導体金属
/有機超電導体(SMS)構造を有する接合の製造方法
が提供される。
を含むことを特徴とする有機超電導体/非超電導体金属
/有機超電導体(SMS)構造を有する接合の製造方法
が提供される。
(1)導電性基板上に、電子供与性有機化合物の蒸着膜
を作成し、該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングし
て有機起電導体層を形成する第−工程、 (2)前記有機超電導体層の上に、非超電導体金属薄膜
を設ける第二工程、 (3)非超電導体金属薄膜層の上に、電子供与付有機化
合物の蒸着膜を作成し、該蒸着膜に電子アクセプターを
ドーピングして有機起電導体層を形成する第三工程。
を作成し、該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングし
て有機起電導体層を形成する第−工程、 (2)前記有機超電導体層の上に、非超電導体金属薄膜
を設ける第二工程、 (3)非超電導体金属薄膜層の上に、電子供与付有機化
合物の蒸着膜を作成し、該蒸着膜に電子アクセプターを
ドーピングして有機起電導体層を形成する第三工程。
以下、本発明について詳述する。
第1図は、本発明の接合の断面の概念図である。
本発明の接合は、導電性基板3上に、2層の有機超電導
体層1.1を有し、これらの間に非超電導体金属層2が
設けられた構造を有している。導電性基板として導電性
酸化物がコーティングされているITOガラスやNES
Aガラスなどを用いる場合には、基板表面導電層4が存
在する。
体層1.1を有し、これらの間に非超電導体金属層2が
設けられた構造を有している。導電性基板として導電性
酸化物がコーティングされているITOガラスやNES
Aガラスなどを用いる場合には、基板表面導電層4が存
在する。
このような構造のSMS接合は、次の各工程により作成
される。
される。
第一工程では、導電性基板上に、電子供与性有機化合物
を、減圧下に、加熱して蒸着膜を形成し、次いで、電子
アクセプターを電解法または気相法などによりドーピン
グして、第一の有機起電導体層とする。
を、減圧下に、加熱して蒸着膜を形成し、次いで、電子
アクセプターを電解法または気相法などによりドーピン
グして、第一の有機起電導体層とする。
第二工程では、上記第一の有機超電導体層の上に、非超
電導体金属層(M層)を設ける。
電導体金属層(M層)を設ける。
非超電導体金属層の膜厚は、通常、数10人〜数100
人とする。
人とする。
金属どしては、金、白金などが用いられ、蒸着ン去によ
り数100人までのn膜厚の層は容易に作成できる。
り数100人までのn膜厚の層は容易に作成できる。
非超電導体金属層として、有機電導体を用いることもで
きる。有ti電導体としては、例久ば(BEDT−TT
F)z [K)tg(SCN)−)、fBEDO−TT
F) 、 Is、(TMETlz(CJO−1x、
ト’)デシルメチルアンモニウム−Au (dmit)
2とアラキン酸の混合LB膜の累積酸化物などを挙げ
ることができる。(なお、ここで、BEDO−TTFは
ビスエチレンジオキサテトラチアフルバレンを、また、
TMETはビスジメチルエチレンジチオテトラチアフル
バレンを表わす。)有機電導体は、LB腹膜法より、単
分子膜や累積膜とすれば、数10人〜数100人の膜厚
の層が容易に達成できる。
きる。有ti電導体としては、例久ば(BEDT−TT
F)z [K)tg(SCN)−)、fBEDO−TT
F) 、 Is、(TMETlz(CJO−1x、
ト’)デシルメチルアンモニウム−Au (dmit)
2とアラキン酸の混合LB膜の累積酸化物などを挙げ
ることができる。(なお、ここで、BEDO−TTFは
ビスエチレンジオキサテトラチアフルバレンを、また、
TMETはビスジメチルエチレンジチオテトラチアフル
バレンを表わす。)有機電導体は、LB腹膜法より、単
分子膜や累積膜とすれば、数10人〜数100人の膜厚
の層が容易に達成できる。
第三工程では、上記非超電導体金属層の上に、電子供与
性有機化合物の蒸着膜を形成し、次いで、電子アクセプ
ターをドーピングして、第二の有機超電導体層を設ける
。
性有機化合物の蒸着膜を形成し、次いで、電子アクセプ
ターをドーピングして、第二の有機超電導体層を設ける
。
以上の各工程により、基板の上に有機超電導体/非超電
導体金属/有機超電導体のS IVI S構造の接合が
製造される。
導体金属/有機超電導体のS IVI S構造の接合が
製造される。
また、第一二−程;こお:するドーピングを第三工程の
ドーピング時に、合わせて$施してもよい、これらの方
法によれば、工滑で、ピンホールのない非超電導体金属
層が作成でき、しかも、各層の界面でのに着付も良好で
ある。
ドーピング時に、合わせて$施してもよい、これらの方
法によれば、工滑で、ピンホールのない非超電導体金属
層が作成でき、しかも、各層の界面でのに着付も良好で
ある。
電子供与性有機化合物としては、ビスエチレンジチアテ
トラチアフルバレン1BED丁−丁子F)、テトラメチ
ルテトラセレナフルバレン(TXTSFI 、ジメチル
(エチレンジチオ)ジセレナジチアフルバレン(DME
T)、メチレンジチオテトラチアフルバレン(MDTl
などを挙げることができるが、その中でも、何機超電
導体としての性能から見て、 BEDTTTFが好まし
い。
トラチアフルバレン1BED丁−丁子F)、テトラメチ
ルテトラセレナフルバレン(TXTSFI 、ジメチル
(エチレンジチオ)ジセレナジチアフルバレン(DME
T)、メチレンジチオテトラチアフルバレン(MDTl
などを挙げることができるが、その中でも、何機超電
導体としての性能から見て、 BEDTTTFが好まし
い。
本発明で用いる電子アクセプターとしては、例えば、I
m−、Br5−1IBri−、IC1x−、ItBr−
などのXS−[ただし、Xはハロゲン原子である]で表
わされるトリハライド陰イオン; AuIx−AuIB
r”、^uBr2−1Cu(NC5Iz−、Ag(NC
5)mAu(N(:5)2− 、 Cu(NC3e)x
−1Cu(NCO)i−、Au(CN)xなどのMX”
iただし、Mは金属原子、Xはハロゲンまたは擬ハロゲ
ンである]で表わされる陰イオンなどを挙げることがで
きる。これらの電子アクセプターをドーピングすること
によって、超電導性を示す有機薄膜を得ることができる
。
m−、Br5−1IBri−、IC1x−、ItBr−
などのXS−[ただし、Xはハロゲン原子である]で表
わされるトリハライド陰イオン; AuIx−AuIB
r”、^uBr2−1Cu(NC5Iz−、Ag(NC
5)mAu(N(:5)2− 、 Cu(NC3e)x
−1Cu(NCO)i−、Au(CN)xなどのMX”
iただし、Mは金属原子、Xはハロゲンまたは擬ハロゲ
ンである]で表わされる陰イオンなどを挙げることがで
きる。これらの電子アクセプターをドーピングすること
によって、超電導性を示す有機薄膜を得ることができる
。
本発明における有機超電導体は、 (BEDT4TF)
2X、および (BEDT−TTF) 、MX、から
選ばれる少なくとも1種であるものが好ましい。
2X、および (BEDT−TTF) 、MX、から
選ばれる少なくとも1種であるものが好ましい。
本発明における電子供与性有機化合物の薄膜の形成は、
減圧下(真空中)で薄膜形成材料を加熱蒸発させ、この
蒸発粒子を基板上に沈着させて薄膜を形成する真空蒸着
法により、通常の熱蒸着装置を用いて行なうことができ
る。
減圧下(真空中)で薄膜形成材料を加熱蒸発させ、この
蒸発粒子を基板上に沈着させて薄膜を形成する真空蒸着
法により、通常の熱蒸着装置を用いて行なうことができ
る。
電子供与性有機化合物としてBEDT−TTFを用いる
場合には、101〜10−”Torr以上の真空下。
場合には、101〜10−”Torr以上の真空下。
好ましくは101〜10−” Torrで、260℃以
下、好ましくは180〜250℃の温度で加熱すること
により、基板上にBEDT−TTFの薄膜を形成させる
ことができる。
下、好ましくは180〜250℃の温度で加熱すること
により、基板上にBEDT−TTFの薄膜を形成させる
ことができる。
電子アクセプターのドーピングは、電解法や気相法など
により行なうことができる。
により行なうことができる。
例えば、電解法によるドーピングは、公知の電解結晶装
置などを用いて、常法により行なうことができる。具体
例としては、電解液を入れた反応器中で、陽極側に電子
供与性有機化合物を蒸着した導電性基板を保持し、陰極
側に白金板または線を用い、直流定電流を流す方法があ
る。電解液としては、前記陰イオンを含む支持電解質を
、酸化・還元を受けにくい極性の強い有機溶媒溶液に溶
解したものを用いる。また、陰イオンの種類やドープ率
を選択することなどにより、電導層を調整することがで
きる。
置などを用いて、常法により行なうことができる。具体
例としては、電解液を入れた反応器中で、陽極側に電子
供与性有機化合物を蒸着した導電性基板を保持し、陰極
側に白金板または線を用い、直流定電流を流す方法があ
る。電解液としては、前記陰イオンを含む支持電解質を
、酸化・還元を受けにくい極性の強い有機溶媒溶液に溶
解したものを用いる。また、陰イオンの種類やドープ率
を選択することなどにより、電導層を調整することがで
きる。
本発明で使用する基板は、例えば、floo) S i
(n型、p型) 、 (111) S i (n型、p
型)などのシリコン、Ge、GaAs、InPなどの半
導体:酸化インジウムやITOをコートしたガラス、石
英、ポリエステルフィルムおよびNFSへガラスなどを
挙げることができる。
(n型、p型) 、 (111) S i (n型、p
型)などのシリコン、Ge、GaAs、InPなどの半
導体:酸化インジウムやITOをコートしたガラス、石
英、ポリエステルフィルムおよびNFSへガラスなどを
挙げることができる。
[実施例]
以下に、実施例を挙げて本発明について具体的に説明す
る。
る。
[実施例1]
fa) BEDT−T丁F10mgを入れた原料セル
、cmXBcmサイズのn型シリコンウェハ(1001
[抵抗0.01〜0.02Ωcm]を石英製反応管内に
、原料セルと基板間距離が10cmとなるように設置し
、反応管を2ゾーン管状炉にセットした。反応管内を排
気・減圧し、10−” Torrの真空度で原料セル部
を約り℃/分の昇温速度で250℃に加熱し、25℃で
30分間保持した。
、cmXBcmサイズのn型シリコンウェハ(1001
[抵抗0.01〜0.02Ωcm]を石英製反応管内に
、原料セルと基板間距離が10cmとなるように設置し
、反応管を2ゾーン管状炉にセットした。反応管内を排
気・減圧し、10−” Torrの真空度で原料セル部
を約り℃/分の昇温速度で250℃に加熱し、25℃で
30分間保持した。
蒸着部温度は175℃あった。室温に放置後、基板を取
り出しまた。
り出しまた。
(b)次いで、窒素ガス雰囲気中で、CuSCN70m
g、KSCN 126mg、18−クラウン−621
0mgを100℃氾のエタノールに溶解させた電解液中
で、BEDT−T丁F蒸着シリコン基板を陽極として、
温度20℃に保たれた恒温器中で10μAの直流定電流
を5日間流した。得られた (BEDT−TTF) a
cu (NC5) 2 膜は、エタノールで洗浄後、
真空乾燥を行なった。
g、KSCN 126mg、18−クラウン−621
0mgを100℃氾のエタノールに溶解させた電解液中
で、BEDT−T丁F蒸着シリコン基板を陽極として、
温度20℃に保たれた恒温器中で10μAの直流定電流
を5日間流した。得られた (BEDT−TTF) a
cu (NC5) 2 膜は、エタノールで洗浄後、
真空乾燥を行なった。
この膜の直流帯磁率を測定したところ、Tc=9にでマ
イスナー効果を示した。また、走査型電子顕y!1鏡(
SEM)による観察を行なったところ、膜厚は約400
0〜5000人であり、表面平滑でピンホールのない膜
が得られていることが確認された。
イスナー効果を示した。また、走査型電子顕y!1鏡(
SEM)による観察を行なったところ、膜厚は約400
0〜5000人であり、表面平滑でピンホールのない膜
が得られていることが確認された。
fc)続いて、 (BEDT−TTF) 2Cu (N
C3) 2BHの上に、膜厚約150人で金の真空蒸着
を行なった。平滑でピンホールのない蒸着膜が得られた
。
C3) 2BHの上に、膜厚約150人で金の真空蒸着
を行なった。平滑でピンホールのない蒸着膜が得られた
。
(d)次に、(a)項と同様の手法で、金蒸着膜上にB
EDT−TTFの蒸着膜を作成し、その後、fb1項と
同様の手l去でCu (NCS)−陽イオンのドーピン
グを行ない、 (BEDT−TTF) xcu (NC
5) x Mlを作成した。
EDT−TTFの蒸着膜を作成し、その後、fb1項と
同様の手l去でCu (NCS)−陽イオンのドーピン
グを行ない、 (BEDT−TTF) xcu (NC
5) x Mlを作成した。
以上の工程により、シリコンウェハ基板上に、(BED
T−TTF)tcu(NC3)−/金/ (BEDT−
TTF)*Cu(NC3)2からなる5MS構造の接合
が作成できた。
T−TTF)tcu(NC3)−/金/ (BEDT−
TTF)*Cu(NC3)2からなる5MS構造の接合
が作成できた。
[実施例2]
導電性基板を、p型シリコン(100) 、 n型シリ
コンml) 、p型シリコン(111) 、 G a
A s、InP、NESAガラスに代えて、実施例1と
同様に5MS構造の接合を作成した。
コンml) 、p型シリコン(111) 、 G a
A s、InP、NESAガラスに代えて、実施例1と
同様に5MS構造の接合を作成した。
[実施例3J
実施例1の(b)項の電解液を、テトラブチルアンモニ
ウムトリアイオダイド243mgのエタノール溶液とし
た以外、実施例1と同様にして、(BEDT4TF)
aI−/金/ (BEDT−TTF) 21.からなる
5MS構造の接合を作成した。
ウムトリアイオダイド243mgのエタノール溶液とし
た以外、実施例1と同様にして、(BEDT4TF)
aI−/金/ (BEDT−TTF) 21.からなる
5MS構造の接合を作成した。
[実施例4]
実施例1の(c)項において、金の蒸着膜の代わりに、
LB腹膜法より、トリデシルメチルアンモニウム−Au
(dmi t)2とアラキン酸との1:1a合物の単
分子膜累積膜を作成し、臭素の気相ドーピングを行なっ
て、導電性薄膜を作成した。
LB腹膜法より、トリデシルメチルアンモニウム−Au
(dmi t)2とアラキン酸との1:1a合物の単
分子膜累積膜を作成し、臭素の気相ドーピングを行なっ
て、導電性薄膜を作成した。
累積回数を調整して、膜厚を約125人とした。この膜
厚は、 (BEDT−TTF) 、Cu (NC3)
、のす、 c軸面内のコヒーレント長126人と同等の
ものである。
厚は、 (BEDT−TTF) 、Cu (NC3)
、のす、 c軸面内のコヒーレント長126人と同等の
ものである。
また、ここで作成した単分子累積膜の電導度は、10〜
2OS/cmであり、 (BEDT−TTF) 2CL
I(NC3)zの電導度と同等の値を示す。
2OS/cmであり、 (BEDT−TTF) 2CL
I(NC3)zの電導度と同等の値を示す。
C発明の効果〕
本発明によれば、有機超電導体/非超電導体金属/荷機
超電導体(SMS)構造を有する接合が提供される。
超電導体(SMS)構造を有する接合が提供される。
本発明の接合におけるM層は、平滑でピンホールがなく
、かつ、超電導体のコヒーレント長程度の膜厚を有する
ものであり、有機超電導体素子として優れた性能が期待
される。
、かつ、超電導体のコヒーレント長程度の膜厚を有する
ものであり、有機超電導体素子として優れた性能が期待
される。
第1図は、本発明の有機超電導体を用いた接合の断面図
を示すものである。 】コ有機超電導体屡、 2:非超電導体金属層、 3:基板、 4:基板表面導電層。 第1図
を示すものである。 】コ有機超電導体屡、 2:非超電導体金属層、 3:基板、 4:基板表面導電層。 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)電子供与性有機化合物の蒸着膜に電子アクセプタ
ーをドーピングしてなる2つの有機超電導体層の間に、
非超電導体金属層を設けてなることを特徴とする有機超
電導体/非超電導体金属/有機超電導体(SMS)構造
を有する接合。 (2)電子供与性有機化合物がビスエチレンジチアテト
ラチアフルバレン(BEDT−TTF)であって、電子
アクセプターをドーピングしてなる有機超電導体が(B
EDT−TTF)_2X_3および(BEDT−TTF
)_2MX_2から選ばれる少なくとも1種である請求
項1記載の接合。 (ただし、Mは金属原子、Xはハロゲンまたは擬ハロゲ
ンを表わす。) (3)非超電導体金属が、金、白金などの金属および有
機電導体から選ばれる少なくとも1種である請求項1ま
たは2記載の接合。 (4)下記の第一工程ないし第三工程を含むことを特徴
とする有機超電導体/非超電導体金属/有機超電導体(
SMS)構造を有する接合の製造方法。 (1)導電性基板上に、電子供与性有機化合物の蒸着膜
を作成し、該蒸着膜に電子アクセプターをドーピングし
て有機超電導体層を形成する第一工程、 (2)前記有機超電導体層の上に、非超電導体金属薄膜
を設ける第二工程、 (3)非超電導体金属薄膜層の上に、電子供与性有機化
合物の蒸着膜を作成し、該蒸着膜に電子アクセプターを
ドーピングして有機超電導体層を形成する第三工程。 (5)前記第一工程における電子供与性有機化合物の蒸
着膜のドーピングを、第三工程におけるドーピング時に
同時に行なう請求項4記載の製造方法。 (6)導電性基板が、Si、Ge、GaAs、InPな
どの半導体、あるいは酸化インジウムやITOをコート
したガラス、石英、ポリエステルフィルムおよびNES
Aガラスから選ばれる少なくとも1種の材料から形成さ
れたものである請求項4または5記載の製造方法。 (7)電子アクセプターのドーピングを、電解法または
気相法により行なう請求項4ないし6のいずれか1項記
載の製造方法。 (8)非超電導体金属が、金、白金などの金属および有
機電導体から選ばれる少なくとも1種の蒸着膜またはL
B膜である請求項4ないし7のいずれか1項記載の製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2087229A JPH03285370A (ja) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2087229A JPH03285370A (ja) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03285370A true JPH03285370A (ja) | 1991-12-16 |
Family
ID=13909033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2087229A Pending JPH03285370A (ja) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | 有機超電導体を用いた接合およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03285370A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006520624A (ja) * | 2003-03-24 | 2006-09-14 | ノボ・ノルデイスク・エー/エス | 薬用カートリッジの透明な電子マーキング |
-
1990
- 1990-03-31 JP JP2087229A patent/JPH03285370A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006520624A (ja) * | 2003-03-24 | 2006-09-14 | ノボ・ノルデイスク・エー/エス | 薬用カートリッジの透明な電子マーキング |
| JP4762131B2 (ja) * | 2003-03-24 | 2011-08-31 | ノボ・ノルデイスク・エー/エス | 薬用カートリッジの透明な電子マーキング |
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