JPH03285384A - 超電導厚膜回路板及びその製造法 - Google Patents
超電導厚膜回路板及びその製造法Info
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- JPH03285384A JPH03285384A JP2087736A JP8773690A JPH03285384A JP H03285384 A JPH03285384 A JP H03285384A JP 2087736 A JP2087736 A JP 2087736A JP 8773690 A JP8773690 A JP 8773690A JP H03285384 A JPH03285384 A JP H03285384A
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は超電導厚膜回路板及びその製造法に関する。
(従来の技術)
従来、超電導体として用いられてい/E) Nb3 S
n +QaV3 、 Nb5Oe等の金属間化合物は、
超電導性を示す金属間化合物の中では臨界温度が16.
8〜23にと高く、また4、2にの温度で20〜40テ
スラの臨界磁界を示すことから超電導コイルの他、ジョ
セフソン素子などに実用化されていた。
n +QaV3 、 Nb5Oe等の金属間化合物は、
超電導性を示す金属間化合物の中では臨界温度が16.
8〜23にと高く、また4、2にの温度で20〜40テ
スラの臨界磁界を示すことから超電導コイルの他、ジョ
セフソン素子などに実用化されていた。
しかしながら、前記のNb5Sn、 GaVa等は、い
ずれも超′に4性を示す温度が低いという欠点がある。
ずれも超′に4性を示す温度が低いという欠点がある。
例えば超電導性を示す温度(以下Tc とする)及
び完全に超電導性を示[,2,かつ抵抗が零になる@度
(以下TZeroとする)Viいずれも30に以下であ
る。
び完全に超電導性を示[,2,かつ抵抗が零になる@度
(以下TZeroとする)Viいずれも30に以下であ
る。
このため超電導体の実用には冷媒として極めて高価な液
体ヘリウムを使用しなければならず、さらに液体ヘリウ
ム金柑いることから装置が複雑化するという欠点がある
。
体ヘリウムを使用しなければならず、さらに液体ヘリウ
ム金柑いることから装置が複雑化するという欠点がある
。
この改良として新超電導材l+研究会、第1回シンポジ
ウム・グロシーデングの第24負〜第33頁に足置れる
ようにBa−La−Cu−0系の化合物を用いた超電導
体が開発された。この超電導体により臨界温fは30K
を越え、さらにその彼に発見されたY−Ba−Cu−0
系の化合物を用いた超電導体によって臨界温度は液体窒
素温度の77.3により高い90に@まで改良された。
ウム・グロシーデングの第24負〜第33頁に足置れる
ようにBa−La−Cu−0系の化合物を用いた超電導
体が開発された。この超電導体により臨界温fは30K
を越え、さらにその彼に発見されたY−Ba−Cu−0
系の化合物を用いた超電導体によって臨界温度は液体窒
素温度の77.3により高い90に@まで改良された。
Y−Ba−Cu−0系の化合物を用いた超電導体の臨界
電流密度(以下Jcとする)は、新超電導材料研究会、
第3回シンポジウム・プロシーデングの第67頁〜第7
5頁に示されるようにチタン酸ストロンチウム(SrT
iC)g )単結晶基板上にスパッタリング法で形成し
た単結晶薄膜は、液体窒素温度で1.8 X 10”
A/m2と高いJcを有している。
電流密度(以下Jcとする)は、新超電導材料研究会、
第3回シンポジウム・プロシーデングの第67頁〜第7
5頁に示されるようにチタン酸ストロンチウム(SrT
iC)g )単結晶基板上にスパッタリング法で形成し
た単結晶薄膜は、液体窒素温度で1.8 X 10”
A/m2と高いJcを有している。
一方粉末冶金協会、昭和63年度、秋季大会講演概要集
の第24頁に示されるようにY −Ba −Cu−0系
の超!4体用粉体にAg、0を添加した超電導厚膜回路
板は、液体窒素温度で1.3 X 10’A/m2のJ
cを有している。
の第24頁に示されるようにY −Ba −Cu−0系
の超!4体用粉体にAg、0を添加した超電導厚膜回路
板は、液体窒素温度で1.3 X 10’A/m2のJ
cを有している。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら前者の場合、 1.8 X 10” A
/m2と高いJcを得ているが、単結晶の基板を用いる
ため高価となシ、かつ基板の大きさが制限され、またス
ルーホールを介して基板の両面に形成した回路同士を導
通させることが困難であ6という欠点を有する。
/m2と高いJcを得ているが、単結晶の基板を用いる
ため高価となシ、かつ基板の大きさが制限され、またス
ルーホールを介して基板の両面に形成した回路同士を導
通させることが困難であ6という欠点を有する。
一方後者の場合、1.3X10’A/m2のJcを得て
いるが、これは日経超電導第18号の第2項(1988
年10月3日発行)K示されるようK。
いるが、これは日経超電導第18号の第2項(1988
年10月3日発行)K示されるようK。
回路の厚さが40μmで2幅が5mの場合であシ。
厚さが10μmで1幅が1mの場合、JcdO,6X1
07A/m2に低下する。このため回路の幅が0.5謹
以下のものが要求される超電導厚膜回路板としてはo、
6X 10’A/m”以下のJcLか得られないという
欠点がある。
07A/m2に低下する。このため回路の幅が0.5謹
以下のものが要求される超電導厚膜回路板としてはo、
6X 10’A/m”以下のJcLか得られないという
欠点がある。
またY−Ba−Cu−0系の化合物を用いた超電導体の
Jcは、磁場依存性が大きく1例えばジャパニーズ、ジ
ャーナル、オプ、アプライド、フィジックス(JAPA
NE8E JOURNAL 0FAPPLIED
PHYSIC8)VOL、278Q2の第185〜第
187Jjに示される様に10−2Tと極めて弱い磁場
において、 Jcが大きく低下しゃす〈2デイバイス用
の信号線として用いることが困難であつfcl。
Jcは、磁場依存性が大きく1例えばジャパニーズ、ジ
ャーナル、オプ、アプライド、フィジックス(JAPA
NE8E JOURNAL 0FAPPLIED
PHYSIC8)VOL、278Q2の第185〜第
187Jjに示される様に10−2Tと極めて弱い磁場
において、 Jcが大きく低下しゃす〈2デイバイス用
の信号線として用いることが困難であつfcl。
さらにセラミック基板上に銀の被膜を印刷、焼付は法に
よ多形成した稜、超電導体回路を印刷。
よ多形成した稜、超電導体回路を印刷。
焼付ける方法では1例えば特開平1−107594号公
報に示されるように釧の粒径及び銀の焼付は条件を制御
しなければセラミック基板上に鋏の被膜を形成すること
が困難となる。
報に示されるように釧の粒径及び銀の焼付は条件を制御
しなければセラミック基板上に鋏の被膜を形成すること
が困難となる。
本発明は上記欠点のない超電導厚膜回路板及びその製造
法を提供することを目的とするものである。
法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明者らは、超電導厚膜回路板のJcの向上について
種々検討したところ、銀がその溶融している温度以上で
該超t4体の粒成長を著しく促進させ、高Jc化できる
こと、また銀にパラジウムを添加することでJcのa場
依存性が改善されることをつきとめさらに検討を進めた
。
種々検討したところ、銀がその溶融している温度以上で
該超t4体の粒成長を著しく促進させ、高Jc化できる
こと、また銀にパラジウムを添加することでJcのa場
依存性が改善されることをつきとめさらに検討を進めた
。
その結果、安定化したジルコニア基板上にパラジウム及
び酸化ビスマスを含む銀とランタノイド元素(ただしC
e、 Pr及びTbを除く)及び/又はY、 Ba、
Cu並びにOを主成分とした超電導体とからなる超電導
複合体層を形成することで1例えば回路の幅が05閣の
場合においてもI X 10’ A1以上の高いJcが
安定して得られ、その磁場依存性も大幅に改善でき、ジ
ルコニア基板と超電導厚膜回路との密着力が優れること
を見出した。
び酸化ビスマスを含む銀とランタノイド元素(ただしC
e、 Pr及びTbを除く)及び/又はY、 Ba、
Cu並びにOを主成分とした超電導体とからなる超電導
複合体層を形成することで1例えば回路の幅が05閣の
場合においてもI X 10’ A1以上の高いJcが
安定して得られ、その磁場依存性も大幅に改善でき、ジ
ルコニア基板と超電導厚膜回路との密着力が優れること
を見出した。
本発明は安定化したジルコニア基板上に、ランタノイド
元素(ただしCe、 Pr及びTbを除く)及び/又は
Y、 Ba、 Cu並びに0を主成分とする超t4体、
パラジウム、酸化ビスマス及び銀からなる超電導複合体
層を形成してなる超電導厚膜回路板及び安定化したジル
コニア基板上に、パラジウムを0.1〜5311チ及び
酸化ビスマスを0.1〜5重量%含む釧の被膜を形成し
、さらにその上面にランタノイド元素(ただしCe、
Pr及びTbを除0及び/又はY、 Ba、 Cu並び
にOを生成分とした超電導体用ペーストを塗布し、つい
で#素を含む雰囲気中で焼成する超電導厚膜回路板の製
造法に関する。
元素(ただしCe、 Pr及びTbを除く)及び/又は
Y、 Ba、 Cu並びに0を主成分とする超t4体、
パラジウム、酸化ビスマス及び銀からなる超電導複合体
層を形成してなる超電導厚膜回路板及び安定化したジル
コニア基板上に、パラジウムを0.1〜5311チ及び
酸化ビスマスを0.1〜5重量%含む釧の被膜を形成し
、さらにその上面にランタノイド元素(ただしCe、
Pr及びTbを除0及び/又はY、 Ba、 Cu並び
にOを生成分とした超電導体用ペーストを塗布し、つい
で#素を含む雰囲気中で焼成する超電導厚膜回路板の製
造法に関する。
本発明において安定化したジルコニア基板としては、酸
化イツトリウム、酸化セリウム、@化カルシウム等で安
定化したジルコニア基板を用いることが好ましく、この
ような安定化したジルコニア基板は従来公知の方法2例
えば酸化イツ) リウム、酸化セリウム、Wl化カルシ
ウム叫を酸化ジルコニウムの安定化剤として使用し、詳
しくh酸化イツトリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化
セリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化カルシウム粉と
酸化ジルコニウム粉等を所定量配合して混合し。
化イツトリウム、酸化セリウム、@化カルシウム等で安
定化したジルコニア基板を用いることが好ましく、この
ような安定化したジルコニア基板は従来公知の方法2例
えば酸化イツ) リウム、酸化セリウム、Wl化カルシ
ウム叫を酸化ジルコニウムの安定化剤として使用し、詳
しくh酸化イツトリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化
セリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化カルシウム粉と
酸化ジルコニウム粉等を所定量配合して混合し。
1000〜1500℃の温度で熱処理して仮焼物とし、
ついで仮焼物にアルミニウム化合物を所定量添加し、混
合、粉砕、成形後1500〜1700℃の温度で焼成し
て得られる。
ついで仮焼物にアルミニウム化合物を所定量添加し、混
合、粉砕、成形後1500〜1700℃の温度で焼成し
て得られる。
本発明では、安定化し、fcジルコニア基板上に形成す
る被膜はパラジウム、酸化ビスマス及び釧を含む被膜と
され、これ以外の金属では本発明の目的を連成すること
カニできない。該被膜の形成は。
る被膜はパラジウム、酸化ビスマス及び釧を含む被膜と
され、これ以外の金属では本発明の目的を連成すること
カニできない。該被膜の形成は。
パラジウム、酸化ビスマス及び俵を含むベーストによる
厚膜印刷法、めっき法、蒸着法、溶射法等により行われ
特に制W&はない。
厚膜印刷法、めっき法、蒸着法、溶射法等により行われ
特に制W&はない。
パラジウム、酸化ビスマス及び銀を含む被膜の厚さにつ
いては特に制限はないが5μm以上であることが好まし
く、10μm以上であればさらに好ましい。
いては特に制限はないが5μm以上であることが好まし
く、10μm以上であればさらに好ましい。
本発明においてパラジウムとしては、パラジウム粉末の
他、酸化パラジウムなどが用いられ、焼成後パラジウム
単体になる物質であれば特に制限はない。
他、酸化パラジウムなどが用いられ、焼成後パラジウム
単体になる物質であれば特に制限はない。
また酸化ビスマスとしては、−酸化ビスマス。
三酸化ビスマス、四散化ビスマス等ビスマスの酸化物が
用いられるが、このうち三酸化ビスマスを用いることが
好ましい。
用いられるが、このうち三酸化ビスマスを用いることが
好ましい。
さらに鋏としては、銀粉末の他、酸化銀、塩化銀、硝酸
銀等が用いられ焼成後銀単体になる物質であれは特に制
限はない。
銀等が用いられ焼成後銀単体になる物質であれは特に制
限はない。
超電導体用ペーストは1例えばランタノイド元素(ただ
しCe、 Pr及びTbを除く)及び/又はY。
しCe、 Pr及びTbを除く)及び/又はY。
Ba並ひにCuの基又#″i酸化物に有機結合剤、有機
溶剤等を添加し、均一に混合して得られる。なお超電導
体用ペーストとしては、超電導性を示す粉体を用いてペ
ースト化したものを用いてもよく。
溶剤等を添加し、均一に混合して得られる。なお超電導
体用ペーストとしては、超電導性を示す粉体を用いてペ
ースト化したものを用いてもよく。
焼成後に超電導性を示す粉体を甲いてペースト化したも
のを用いてもよい。
のを用いてもよい。
超電導体相ペーストの配合割合についてVi特に制限は
ないが、ランタノイド元素(ただしCe、 Pr及びT
bを除く)及び/又1’i Y : Ba : Cu並
ひにOを原子比で1:2:3ニア−δ(ただしδは酸素
欠損量)の割合とした超電導体用ペーストを用いればT
ぎ0が高いので好ましい。
ないが、ランタノイド元素(ただしCe、 Pr及びT
bを除く)及び/又1’i Y : Ba : Cu並
ひにOを原子比で1:2:3ニア−δ(ただしδは酸素
欠損量)の割合とした超電導体用ペーストを用いればT
ぎ0が高いので好ましい。
焼成条件は、酸素を含む雰囲気中で焼成す8ことが必要
とされ、酸素を含まない雰囲気中で焼成すると酸素を含
む雰囲気中で貴焼成しなければならず、また回路の幅が
05鼠の場合においてもlX10’A/m”以上のJc
が得られない。
とされ、酸素を含まない雰囲気中で焼成すると酸素を含
む雰囲気中で貴焼成しなければならず、また回路の幅が
05鼠の場合においてもlX10’A/m”以上のJc
が得られない。
なお本発明において焼成とは昇温から降温までを示し、
昇温における雰囲気は、&素を含む雰囲気が好ましいが
、必ずしもその必要はない。しかし降温の場合11.酸
Xを含む雰囲気が必要である。
昇温における雰囲気は、&素を含む雰囲気が好ましいが
、必ずしもその必要はない。しかし降温の場合11.酸
Xを含む雰囲気が必要である。
また焼成温度は、超電導体粉末の種類、配合割合などに
よシ適宜選定されるが、少なくとも980℃以上、11
00℃未満の温度で焼成することが好ましい。
よシ適宜選定されるが、少なくとも980℃以上、11
00℃未満の温度で焼成することが好ましい。
焼成時間については焼成温度により適宜選定されるが0
05時間以上の時間で焼成することが好ましい。
05時間以上の時間で焼成することが好ましい。
本発明における超電導複合体層とはランタノイド元素(
ただしCe、 Pr及びTbを除く)及び/又#iY、
Ba、 Cu並ひにOを主成分とした超電導体にパ
ラジウム、酸化ビスマス及び鎖のうちの1つ以上の成分
が固溶している層及び/又は上記超電導体中にパラジウ
ム、酸化ビスマス及び鋏のうちの1つ以上の成分が混在
している層を示す。
ただしCe、 Pr及びTbを除く)及び/又#iY、
Ba、 Cu並ひにOを主成分とした超電導体にパ
ラジウム、酸化ビスマス及び鎖のうちの1つ以上の成分
が固溶している層及び/又は上記超電導体中にパラジウ
ム、酸化ビスマス及び鋏のうちの1つ以上の成分が混在
している層を示す。
(実施例)
以下本発明の詳細な説明する。
実施例1.比較例1
出発原料としてYzOs(信越化学製、純度99,9’
fb ) 、 BaCO5(和光紬薬製。試薬特級)
及びCu0(高純度化学制、純度99.9嗟)を、
Y、 Ba及びCυの原子比がl:2:3となるように
秤量した後。
fb ) 、 BaCO5(和光紬薬製。試薬特級)
及びCu0(高純度化学制、純度99.9嗟)を、
Y、 Ba及びCυの原子比がl:2:3となるように
秤量した後。
合成樹脂製のボールミルで24時時間式混合し。
次いで100℃で12時間乾燥し、混合粉末を得た。こ
の混合粉末100重量部に対し、有機結合剤としてポリ
ビニルアルコール(和光紬薬製。試薬)を3重量部添加
し、均一に混合した後98MPaの圧力で直径30m(
φ)×厚さ2mの成形体を得た。この後成形体を酸素雰
囲気中で、950℃で10時間焼結し1次いで焼結体を
メノウ乳鉢で粗砕後、ジルコニア製ボールミルで24時
時間式粉砕し、平均粒径20μmの超電導体粉末を得た
。
の混合粉末100重量部に対し、有機結合剤としてポリ
ビニルアルコール(和光紬薬製。試薬)を3重量部添加
し、均一に混合した後98MPaの圧力で直径30m(
φ)×厚さ2mの成形体を得た。この後成形体を酸素雰
囲気中で、950℃で10時間焼結し1次いで焼結体を
メノウ乳鉢で粗砕後、ジルコニア製ボールミルで24時
時間式粉砕し、平均粒径20μmの超電導体粉末を得た
。
次に超電導体粉末100重量部に対し、有機結合剤とし
てエチルセルロース(和光紬薬製、45cp)を5重量
部及び有機溶剤としてチルビオネール(和光紬薬製。試
薬1級)を20重量部添加し。
てエチルセルロース(和光紬薬製、45cp)を5重量
部及び有機溶剤としてチルビオネール(和光紬薬製。試
薬1級)を20重量部添加し。
均一に混合して超電導体用ペーストを得几。
上記とは別に銀粉末(日中マツセイ製、商品名AY−6
080,平均粒径0.8μm)、パラジウム粉末(徳力
化学製、商品名PD◆301.平均粒径1 lim )
及び三酸化ビスマス粉末(高純度化学製、純度99,9
チ、平均粒径1〜2μm)を第1表に示す割合で混合し
、この混合物1001i量部に対し有機結合剤としてエ
チルセルロース(和光紬薬製、45cp)を5重量部及
び有機溶剤としてテルピネオール(和光紬薬製。試薬1
級)を20重量部添加し均一に混合して、パラジウム及
び三酸化ビスマスを含む欽ペースト(以下、銀ペースト
とする)を得た。
080,平均粒径0.8μm)、パラジウム粉末(徳力
化学製、商品名PD◆301.平均粒径1 lim )
及び三酸化ビスマス粉末(高純度化学製、純度99,9
チ、平均粒径1〜2μm)を第1表に示す割合で混合し
、この混合物1001i量部に対し有機結合剤としてエ
チルセルロース(和光紬薬製、45cp)を5重量部及
び有機溶剤としてテルピネオール(和光紬薬製。試薬1
級)を20重量部添加し均一に混合して、パラジウム及
び三酸化ビスマスを含む欽ペースト(以下、銀ペースト
とする)を得た。
一方、散化セリウムで安定化したジルコニア基板(日立
化成セラミックス製、商標名ハロックス。
化成セラミックス製、商標名ハロックス。
商品名482)上に、上記の釧ペーストをスクリーン印
刷し、100℃で30分乾燥後、大気中で900℃で1
0分間焼成してパラジウム及び三酸化ビスマスを含む銀
の被膜(以下、銀被膜とする)を形成した厚膜回路板を
得た。
刷し、100℃で30分乾燥後、大気中で900℃で1
0分間焼成してパラジウム及び三酸化ビスマスを含む銀
の被膜(以下、銀被膜とする)を形成した厚膜回路板を
得た。
次にこのS被膜の上面に上記で得た超電導体用ペースト
を銀被膜と同一パターンにスクリーン印刷し、&素雰囲
気中で1020℃で5時間の条件で焼成し1回路の幅が
0.5閣の超電導厚膜回路板を得た。なお焼成において
1020℃までは200℃/時間の速度で昇温し、冷却
は300℃壕では100℃/時間の速度で冷却し、その
後常温舊では炉冷した。得られた超電導厚膜回路板につ
いて四端子法で抵抗の温度変化を測定し T : e
r O及びJcを求めた。
を銀被膜と同一パターンにスクリーン印刷し、&素雰囲
気中で1020℃で5時間の条件で焼成し1回路の幅が
0.5閣の超電導厚膜回路板を得た。なお焼成において
1020℃までは200℃/時間の速度で昇温し、冷却
は300℃壕では100℃/時間の速度で冷却し、その
後常温舊では炉冷した。得られた超電導厚膜回路板につ
いて四端子法で抵抗の温度変化を測定し T : e
r O及びJcを求めた。
なお、 Jcはt流−電圧曲線から電圧降下が1μ■
/a11になったときのta値及び超電導厚膜回路板の
断面積から算出した。これらの測定値及び計算値を第2
表に示す。また尚1.Nc3.尚7及び勲9の欽ペース
トを用いた超電導厚膜回路板についてF′i磁場中での
Jcを求めた。この計算値を第3表に示す。
/a11になったときのta値及び超電導厚膜回路板の
断面積から算出した。これらの測定値及び計算値を第2
表に示す。また尚1.Nc3.尚7及び勲9の欽ペース
トを用いた超電導厚膜回路板についてF′i磁場中での
Jcを求めた。この計算値を第3表に示す。
第2表及び第3表においてJcは液体♀累温度(77,
3K)でのJcである。
3K)でのJcである。
第2表
第2表及び第3表によシ1本発明になる超電導厚膜回路
板のTぎ0け89.9に以上で、Jcはl、23 X
10’A/1以上と共に良好な値を示し。
板のTぎ0け89.9に以上で、Jcはl、23 X
10’A/1以上と共に良好な値を示し。
また500X10−’Tまでの磁場中におけるJcの低
下4少ないことが示される。
下4少ないことが示される。
これに対しパラジウムを含まないjlkll、 47及
びNn9の銀ペーストを用いた超電導厚膜回路板のTc
H2O,3に以上、 Jcは1.10 X 107A
/rr?以上と良好な値を示したが、500X10−’
Tまでの磁場中におけるJcは大きく低下した。
びNn9の銀ペーストを用いた超電導厚膜回路板のTc
H2O,3に以上、 Jcは1.10 X 107A
/rr?以上と良好な値を示したが、500X10−’
Tまでの磁場中におけるJcは大きく低下した。
一方パラジウムを10重fr%含む逐6の銀ペーストを
用いた超電導厚膜回路板のTZeroは90.2Kと良
好な値を示したが、 Jcは0.74 X 10’
A/dと低い値であった。
用いた超電導厚膜回路板のTZeroは90.2Kと良
好な値を示したが、 Jcは0.74 X 10’
A/dと低い値であった。
また三酸化ビスマスを含まないNn7及びNci12の
鋏ペーストを用いた超電導厚膜回路板は、超電導体用ペ
ーストを印刷時、*被膜の剥離が多発した。
鋏ペーストを用いた超電導厚膜回路板は、超電導体用ペ
ーストを印刷時、*被膜の剥離が多発した。
(発明の効果)
本発明によって得らfLる超亀導厚膜回111i!+板
は。
は。
T:eroが77に以上であるため、液体窒素中で使用
可能であり、また回路の幅が0.5閣の場合でもI X
10’ A/m”以上の高いJcを有し、外部磁場に
よるJcの低下が少ないばかりでなく、超電導厚膜回路
板の製造過程において、ジルコニア基板と銀被膜の安定
した密着が得られるため、工業的に極めて好適な超電導
厚膜回路板である。
可能であり、また回路の幅が0.5閣の場合でもI X
10’ A/m”以上の高いJcを有し、外部磁場に
よるJcの低下が少ないばかりでなく、超電導厚膜回路
板の製造過程において、ジルコニア基板と銀被膜の安定
した密着が得られるため、工業的に極めて好適な超電導
厚膜回路板である。
Claims (2)
- 1.安定化したジルコニア基板上に,ランタノイド元素
(ただしCe,Pr及びTbを除く)及び/又はY,B
a,Cu並びにOを主成分とする超電導体,パラジウム
,酸化ビスマス及び銀からなる超電導複合体層を形成し
てなる超電導厚膜回路板。 - 2.安定化したジルコニア基板上に,パラジウムを0.
1〜5重量%及び酸化ビスマスを0.1〜5重量%含む
銀の被膜を形成し,さらにその上面にランタノイド元素
(ただしCe,Pr及びTbを除く)及び/又はY,B
a,Cu並びにOを主成分とした超電導体用ペーストを
塗布し,ついで酸素を含む雰囲気中で焼成することを特
徴とする超電導厚膜回路板の製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2087736A JPH03285384A (ja) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2087736A JPH03285384A (ja) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03285384A true JPH03285384A (ja) | 1991-12-16 |
Family
ID=13923211
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2087736A Pending JPH03285384A (ja) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03285384A (ja) |
-
1990
- 1990-04-02 JP JP2087736A patent/JPH03285384A/ja active Pending
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