JPH03287065A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPH03287065A JPH03287065A JP2090942A JP9094290A JPH03287065A JP H03287065 A JPH03287065 A JP H03287065A JP 2090942 A JP2090942 A JP 2090942A JP 9094290 A JP9094290 A JP 9094290A JP H03287065 A JPH03287065 A JP H03287065A
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- Japan
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は例えば、被検材に超音波を入射し被検材から
の反射波を表示して欠陥の検出を行う超音波探傷装置、
特に対比試験片を基準とした探傷試験に関する。
の反射波を表示して欠陥の検出を行う超音波探傷装置、
特に対比試験片を基準とした探傷試験に関する。
［従来の技術］
タービンや発電機のロータ軸、車輌の車軸など鍛造品よ
りなる被検材４は複雑な形状をなし、探傷試験のため超
音波を入射すると欠陥エコーと共にその形状に基因した
エコーが発生する。
りなる被検材４は複雑な形状をなし、探傷試験のため超
音波を入射すると欠陥エコーと共にその形状に基因した
エコーが発生する。
第５図は例えば従来の超音波探傷装置のブロック図であ
り、１は一定周期にて同期信号を発生する同期信号発生
器、４は被検材、２１は同期信号と同期して超音波送波
の付勢を行う第１送信回路、２２は同期信号と同期して
超音波送波の付勢を行う第２送信回路、２３は第１送信
回路２１の付勢により超音波の送波／受波を行う第１探
触子、２４は第２送信回路２２の付勢により超音波の送
波／受波を行う第２探触子、２５は被検材４と類似の材
質ならびに形状をなす対比試験片、２６は第１探触子２
３からの信号を受信する第１受信回路、２７は第２探触
子２４からの信号を受信する第２受信回路、２８は第１
受信回路２６および第２受信回路２７からの信号を表示
する表示器である。
り、１は一定周期にて同期信号を発生する同期信号発生
器、４は被検材、２１は同期信号と同期して超音波送波
の付勢を行う第１送信回路、２２は同期信号と同期して
超音波送波の付勢を行う第２送信回路、２３は第１送信
回路２１の付勢により超音波の送波／受波を行う第１探
触子、２４は第２送信回路２２の付勢により超音波の送
波／受波を行う第２探触子、２５は被検材４と類似の材
質ならびに形状をなす対比試験片、２６は第１探触子２
３からの信号を受信する第１受信回路、２７は第２探触
子２４からの信号を受信する第２受信回路、２８は第１
受信回路２６および第２受信回路２７からの信号を表示
する表示器である。
従来の超音波探傷装置は上記のように構成され、第１送
信回路２１にて付勢される第１探触子２３を接触媒質を
介して基準となる対比試験片２５に当接して超音波を入
射し、対比試験片２５からの反射信号即ち基準エコーが
第１受信回路２６にて受信され表示器２８へ加えられる
。
信回路２１にて付勢される第１探触子２３を接触媒質を
介して基準となる対比試験片２５に当接して超音波を入
射し、対比試験片２５からの反射信号即ち基準エコーが
第１受信回路２６にて受信され表示器２８へ加えられる
。
第１送信回路２１と同期して作動する第２送信回路２２
にて付勢された第２探触子２４は、接触媒質を介して被
検材４に当接して超音波を入射しその反射信号即ちエコ
ーが第２受信回路２７にて受信され表示器２８へ加えら
れる。表示器２８には対比試験片２５からの基準エコー
と被検材４から反射されたエコーがそれぞれの時間軸上
に表示される。
にて付勢された第２探触子２４は、接触媒質を介して被
検材４に当接して超音波を入射しその反射信号即ちエコ
ーが第２受信回路２７にて受信され表示器２８へ加えら
れる。表示器２８には対比試験片２５からの基準エコー
と被検材４から反射されたエコーがそれぞれの時間軸上
に表示される。
第６図は従来の探傷試験にあけるエコー表示例、■は送
信パルス、■は底面エコー、■は固定エコー、■は欠陥
エコー、■は被検材４と類似の材質ならびに形状をなす
対比試験片２５からの基準エコー、■は被検材４から反
射されたエコーである。
信パルス、■は底面エコー、■は固定エコー、■は欠陥
エコー、■は被検材４と類似の材質ならびに形状をなす
対比試験片２５からの基準エコー、■は被検材４から反
射されたエコーである。
互に同期して入射された超音波に基づき受信された基準
エコーならびにエコーは並列に設けられた同一掃引速度
の時間軸上に表示される。
エコーならびにエコーは並列に設けられた同一掃引速度
の時間軸上に表示される。
複雑な形状をなす鍛造品の被検材４では送信パルス■ヤ
底面エコー■の他に被検材４の形状による段差などから
の反射による固定エコー■が発生する。欠陥エコー■の
検出を容易にするため両者のエコーを相互に比較し、鋼
塊、鍛造、熱処理などにより発生する欠陥エコー■の検
出即ちその発生位置とそのレベルならびに波形の検知が
行われる。
底面エコー■の他に被検材４の形状による段差などから
の反射による固定エコー■が発生する。欠陥エコー■の
検出を容易にするため両者のエコーを相互に比較し、鋼
塊、鍛造、熱処理などにより発生する欠陥エコー■の検
出即ちその発生位置とそのレベルならびに波形の検知が
行われる。
［発明が解決しようとする課題］
上記のような従来の超音波探傷装置では、例えば複雑な
形状をなすＭ造品の被検材４の探傷に際しては、その形
状に基因する固定エコー■が発生して欠陥エコー■の識
別や検出が困難になるため、対比試験片２５を用いて試
験を行いその結果を同一表示器２８に同時に表示して対
照される。このとき送信回路、探触子、受信回路はそれ
ぞれ２組設けられ、対比試験片２５と被検材４には第１
探触子２３および第２探触子２４を当接して、個別に操
作され複数の人を介して試験が行われる。
形状をなすＭ造品の被検材４の探傷に際しては、その形
状に基因する固定エコー■が発生して欠陥エコー■の識
別や検出が困難になるため、対比試験片２５を用いて試
験を行いその結果を同一表示器２８に同時に表示して対
照される。このとき送信回路、探触子、受信回路はそれ
ぞれ２組設けられ、対比試験片２５と被検材４には第１
探触子２３および第２探触子２４を当接して、個別に操
作され複数の人を介して試験が行われる。
表示器２８には並列に設けられた時間軸上に基準エコー
と被検材４からのエコーが個別に表示され、互いに時間
軸は分離しているので両者のエコーレベルや波形の対照
が正しく行えない。
と被検材４からのエコーが個別に表示され、互いに時間
軸は分離しているので両者のエコーレベルや波形の対照
が正しく行えない。
更に両者の表示の相違による雑音に埋もれた微小欠陥エ
コーの識別や検出が困難である。
コーの識別や検出が困難である。
また鍛造品は鋼塊に基因した異常偏析きず、砂きずや鍛
造や熱処理によるワレきず、金属組織の欠陥など各種の
欠陥が発生するので固定エコーと欠陥エコーとの識別が
効率良く行えず、欠陥の種類ならびに性状の調査や欠陥
位置の検知に時間を要するという問題点があった。
造や熱処理によるワレきず、金属組織の欠陥など各種の
欠陥が発生するので固定エコーと欠陥エコーとの識別が
効率良く行えず、欠陥の種類ならびに性状の調査や欠陥
位置の検知に時間を要するという問題点があった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、対比試験片２５と被検材４の試験は簡易構成の装置
を用いて簡単な操作により行え、同一表示器２８に表示
される両者のエコーはその対照が迅速且つ正確にでき、
被検材４の欠陥の識別ならびに検出が効率良く行える超
音波探傷装置を得ることを目的とする。
で、対比試験片２５と被検材４の試験は簡易構成の装置
を用いて簡単な操作により行え、同一表示器２８に表示
される両者のエコーはその対照が迅速且つ正確にでき、
被検材４の欠陥の識別ならびに検出が効率良く行える超
音波探傷装置を得ることを目的とする。
［課題を解決するための手段］
この発明に係わる超音波探傷装置は、被検材と類似した
材質ならびに形状の対比試験片を探傷試験して得られた
基準エコーが格納されるメモリと、超音波を入射する周
期の隔周毎に作動しメモリから読出された基準エコーと
被検材から反射されたエコーを交互に選択する切換器と
、基準エコーと被検材から反射されたエコーとが加えら
れ個別に色区分された信号を出力する色弁別回路とを設
けたものである。
材質ならびに形状の対比試験片を探傷試験して得られた
基準エコーが格納されるメモリと、超音波を入射する周
期の隔周毎に作動しメモリから読出された基準エコーと
被検材から反射されたエコーを交互に選択する切換器と
、基準エコーと被検材から反射されたエコーとが加えら
れ個別に色区分された信号を出力する色弁別回路とを設
けたものである。
［作用］
この発明においては、被検材と類似の材質ならびに形状
をなす対比試験片を探傷試験して得られた基準エコーを
メモリに格納し、被検材から反射されたエコーと、メモ
リから読み出された基準エコーとを交互に選択して色弁
別回路にて色区分してカラー表示器の同一時間軸にカラ
ー表示される。
をなす対比試験片を探傷試験して得られた基準エコーを
メモリに格納し、被検材から反射されたエコーと、メモ
リから読み出された基準エコーとを交互に選択して色弁
別回路にて色区分してカラー表示器の同一時間軸にカラ
ー表示される。
同一時間軸上にカラー表示される基準エコーとエコーは
そのレベルや波形の対照が迅速且つ正確に行えて、被検
材の欠陥エコーと固定エコーなどとの識別が容易にでき
る。
そのレベルや波形の対照が迅速且つ正確に行えて、被検
材の欠陥エコーと固定エコーなどとの識別が容易にでき
る。
複雑な形状をなす鍛造品のタービンや発電機のロータ軸
、車輌の車軸などの探傷試験において、鋼塊、鍛造、熱
処理などに基因して発生する欠陥の検出が正しく行える
。
、車輌の車軸などの探傷試験において、鋼塊、鍛造、熱
処理などに基因して発生する欠陥の検出が正しく行える
。
また雑音内に埋もれた微小欠陥の検出が容易にてきる。
上記のとおり簡易構成の装置を用いた探傷試験が簡単な
操作により効率良〈実施できる。
操作により効率良〈実施できる。
［実施例］
この発明の一実施例を添付図面を参照して詳細に説明す
る。
る。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図であり、
１．４．２５は上記従来装置と同一であり、２は同期信
号と同期して超音波送波の付勢を行う送信回路、３は超
音波の送波／受波を行う探触子、５は探触子３からの信
号を受信する受信回路、旦はマイクロコンピュータ、７
は入出力回路、８は中央演算装置、９は書き込み読み出
し可能なメモリのＲＡＭ、１０は読み出し専用メモリの
ＲＯＭ、１１はクロックパルスを出力するクロック発振
器、１２は同期信号を分周して隔周毎に切換信号を出力
する切換回路、１３は切換回路１２により作動する切換
器、１４はＡ／Ｄ回路、１５はＤ／Ａ回路、１６は受信
回路５から出力される被検材４から反射されるエコーと
ＲＡＭ９から読出された基準エコーの色区分を行う色弁
別回路、１７はカラー表示器を示している。
号と同期して超音波送波の付勢を行う送信回路、３は超
音波の送波／受波を行う探触子、５は探触子３からの信
号を受信する受信回路、旦はマイクロコンピュータ、７
は入出力回路、８は中央演算装置、９は書き込み読み出
し可能なメモリのＲＡＭ、１０は読み出し専用メモリの
ＲＯＭ、１１はクロックパルスを出力するクロック発振
器、１２は同期信号を分周して隔周毎に切換信号を出力
する切換回路、１３は切換回路１２により作動する切換
器、１４はＡ／Ｄ回路、１５はＤ／Ａ回路、１６は受信
回路５から出力される被検材４から反射されるエコーと
ＲＡＭ９から読出された基準エコーの色区分を行う色弁
別回路、１７はカラー表示器を示している。
上記のように構成された超音波探傷装置においては、同
期信号発生器１からの同期信号により送信回路２は探触
子３を付勢するパルスを発生する。探触子３から被検材
４へ超音波が入射されると、被検材４から反１されたエ
コーは受信回路５にて受信される。
期信号発生器１からの同期信号により送信回路２は探触
子３を付勢するパルスを発生する。探触子３から被検材
４へ超音波が入射されると、被検材４から反１されたエ
コーは受信回路５にて受信される。
第２図は被検材としての鍛造品探傷の一例、４、■、■
、■、■は従来装置と同一であり、例えば車輌の車軸の
一端から軸方向に超音波を入９Ａすると、輪心座、南車
座、軸受などに用いられる段差が外周面に形成されてい
るので、これらからの反射波は固定エコー■となり、底
面エコー■ヤ欠陥エコー■と共にエコーを形成する。
、■、■は従来装置と同一であり、例えば車輌の車軸の
一端から軸方向に超音波を入９Ａすると、輪心座、南車
座、軸受などに用いられる段差が外周面に形成されてい
るので、これらからの反射波は固定エコー■となり、底
面エコー■ヤ欠陥エコー■と共にエコーを形成する。
切換回路１２は同期信号発生器１からの信号を受けて、
同期信号の隔周毎に切換器１３を作動させる。マイクロ
コンピュータ６は同期信号と同期して作動し、対比試験
片２５が探傷試験された基準エコーは、所定速度（例え
ば約１５ＭＨｚ＞にて標本化された後Ａ／Ｄ回路１４に
て量子化されて予めメモ１）のＲＡＭ９４こ格納される
。ＲＡＭ９に格納された基準エコーは同期信号の隔周毎
に作動する切換器１３と同期して、クロック発振器１１
の指令を受けて読み出されＤ 、’ Ａ回路１５を介し
てアナログ信号に変換され色弁別回路１６の該当回路（
例えば赤色Ｒ）へ加えられる。また受信回路５から切換
器１３を経た被検材４から反射されたエコーは色弁別回
路１５の該当回路（例えば緑色Ｇ）へ加えられる。色弁
別回路１６にて色区分された出力はカラーＣＲＴまたは
Ｒ，Ｇ、Ｂのカラーフィルりを配列し走査駆動されるカ
ラー液晶パネルなとのカラー表示器１６の該当回路へ接
続され、同一時間軸上に同期信号の隔周毎に基準エコー
と被検材４から反射されたエコーとが交互に表示される
。
同期信号の隔周毎に切換器１３を作動させる。マイクロ
コンピュータ６は同期信号と同期して作動し、対比試験
片２５が探傷試験された基準エコーは、所定速度（例え
ば約１５ＭＨｚ＞にて標本化された後Ａ／Ｄ回路１４に
て量子化されて予めメモ１）のＲＡＭ９４こ格納される
。ＲＡＭ９に格納された基準エコーは同期信号の隔周毎
に作動する切換器１３と同期して、クロック発振器１１
の指令を受けて読み出されＤ 、’ Ａ回路１５を介し
てアナログ信号に変換され色弁別回路１６の該当回路（
例えば赤色Ｒ）へ加えられる。また受信回路５から切換
器１３を経た被検材４から反射されたエコーは色弁別回
路１５の該当回路（例えば緑色Ｇ）へ加えられる。色弁
別回路１６にて色区分された出力はカラーＣＲＴまたは
Ｒ，Ｇ、Ｂのカラーフィルりを配列し走査駆動されるカ
ラー液晶パネルなとのカラー表示器１６の該当回路へ接
続され、同一時間軸上に同期信号の隔周毎に基準エコー
と被検材４から反射されたエコーとが交互に表示される
。
第３図はフローチャートの一例を示し、Ｐｌは被検材４
と類似した材質ならびに形状の対比試験片２５の探傷試
験を行い得られた基準エコーをＲＡＭ９へ格納する。
と類似した材質ならびに形状の対比試験片２５の探傷試
験を行い得られた基準エコーをＲＡＭ９へ格納する。
Ｐ２は同期信号と同期して被検材４の探傷試験を行い被
検材４から反射されたエコーを受信する。
検材４から反射されたエコーを受信する。
Ｐ３は対比試験片２５の基準エコーと被検材４からのエ
コーとは同期信号に同期して選択され、色弁別回路１６
を介してカラー表示器１７の同一時間軸上にカラー表示
する。
コーとは同期信号に同期して選択され、色弁別回路１６
を介してカラー表示器１７の同一時間軸上にカラー表示
する。
第４図は探傷試験におけるカラー表示の一例を示し、■
、■、■、■は上記従来装置と同一であるが、■はメモ
リから読出され色区分された基準エコー、■は被検材４
から反射され色区分されたエコーを示し、 基準エコーとエコーは色区分され異なった色で同一時間
軸に表示されるので、両エコーのレベル、波形ならびに
発生位置の差異が正確に検知できる。
、■、■、■は上記従来装置と同一であるが、■はメモ
リから読出され色区分された基準エコー、■は被検材４
から反射され色区分されたエコーを示し、 基準エコーとエコーは色区分され異なった色で同一時間
軸に表示されるので、両エコーのレベル、波形ならびに
発生位置の差異が正確に検知できる。
被検材４としての鍛造品に発生した異常偏析きず、砂き
ず、ワレきず、金属組織の欠陥などの欠陥エコー■の固
定エコー■からの識別や検出が迅速且つ正確に行える。
ず、ワレきず、金属組織の欠陥などの欠陥エコー■の固
定エコー■からの識別や検出が迅速且つ正確に行える。
また雑音に埋もれた微小欠陥エコー■も明瞭に検出でき
る。
る。
％準エコーと被検材４からのエコーは切換器１３の作動
により常に隔周毎に表示されるが、切換回路１２の動作
を停止させ切換器１３を操作して基準エコーまたはエコ
ーの何れか一方のみを選択表示させ観測することができ
る。
により常に隔周毎に表示されるが、切換回路１２の動作
を停止させ切換器１３を操作して基準エコーまたはエコ
ーの何れか一方のみを選択表示させ観測することができ
る。
［発明の効果］
この発明は以上説明したとおり、対比試験片の基準エコ
ーを格納するメモリと、被検材から反射されたエコーと
基準エコーを切換える切換器と、両エコーを色区分する
色弁別回路を設ける簡単な構造により、 被検材からのエコーと対比試験片の基準エコーとは色区
分され同一時間軸にカラー表示されるので装置の構成が
簡易化され且つ操作も簡単に行えるので探傷試験が効率
良〈実施できる。
ーを格納するメモリと、被検材から反射されたエコーと
基準エコーを切換える切換器と、両エコーを色区分する
色弁別回路を設ける簡単な構造により、 被検材からのエコーと対比試験片の基準エコーとは色区
分され同一時間軸にカラー表示されるので装置の構成が
簡易化され且つ操作も簡単に行えるので探傷試験が効率
良〈実施できる。
同一時間軸に表示される基準エコーとエコーはそのレベ
ルや波形の対照が迅速且つ正確にできる。
ルや波形の対照が迅速且つ正確にできる。
被検材の欠陥エコーは固定エコーとの識別が容易にでき
る。
る。
雑音に埋もれた微小欠陥エコーが明瞭に検出できるとい
う効果がある。
う効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
は被検材としての鍛造品探傷の一例、第３図はフローチ
ャートの一例、第４図は探傷試験におけるカラー表示の
一例、第５図は従来の超音波探傷装置のブロック図、第
６図は従来の探傷試験にあけるエコー表示例である。 図において、４は被検材、６はマイクロコンピュータ、
７は入出力回路、８は中央演算装置、９はＲＡＭ、１０
はＲＯＭ、１１はクロック発振器、１２は切換回路、１
３は切換器、１４はＡ／Ｄ回路、］５はＤ ／ Ａ回路
、１６は色弁別回路、１７はカラー表示器である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
は被検材としての鍛造品探傷の一例、第３図はフローチ
ャートの一例、第４図は探傷試験におけるカラー表示の
一例、第５図は従来の超音波探傷装置のブロック図、第
６図は従来の探傷試験にあけるエコー表示例である。 図において、４は被検材、６はマイクロコンピュータ、
７は入出力回路、８は中央演算装置、９はＲＡＭ、１０
はＲＯＭ、１１はクロック発振器、１２は切換回路、１
３は切換器、１４はＡ／Ｄ回路、］５はＤ ／ Ａ回路
、１６は色弁別回路、１７はカラー表示器である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一定周期にて被検材に向け超音波を入射し被検材からの
反射波を表示して欠陥の検出を行う超音波探傷装置にお
いて、 被検材と類似した材質ならびに形状の対比試験片を探傷
試験して得られた基準エコーが格納されるメモリと、上
記周期の隔周毎に作動し上記メモリから読出された基準
エコーと上記被検材から反射されたエコーを交互に選択
する切換器と、上記基準エコーと上記被検材から反射さ
れたエコーとが加えられ個別に色区分された信号を出力
する色弁別回路とを備え、色区分された基準エコーと反
射されたエコーは同一時間軸上にカラー表示されること
を特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2090942A JP2758970B2 (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2090942A JP2758970B2 (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 | 超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03287065A true JPH03287065A (ja) | 1991-12-17 |
| JP2758970B2 JP2758970B2 (ja) | 1998-05-28 |
Family
ID=14012511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2090942A Expired - Lifetime JP2758970B2 (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2758970B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008122187A (ja) * | 2006-11-10 | 2008-05-29 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置及びその方法並びにプログラム |
| JP2012093093A (ja) * | 2010-10-22 | 2012-05-17 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 構造部材検査装置、構造部材検査方法 |
| JP2015163853A (ja) * | 2014-02-28 | 2015-09-10 | 三菱重工業株式会社 | 超音波探傷方法及び超音波探傷装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2758970B2 (ja) | 1998-05-28 |
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