JPH0331708A - 基準位置測定装置 - Google Patents
基準位置測定装置Info
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- JPH0331708A JPH0331708A JP16816389A JP16816389A JPH0331708A JP H0331708 A JPH0331708 A JP H0331708A JP 16816389 A JP16816389 A JP 16816389A JP 16816389 A JP16816389 A JP 16816389A JP H0331708 A JPH0331708 A JP H0331708A
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- JP
- Japan
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- light receiving
- light
- shaft
- columnar body
- measuring
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は１例えばマグネットロールのような円柱体の表
面に軸方向に延びる複数個のＭ１極を着磁する場合にお
いて、軸に設けた基準部の位置または磁極と基準部との
相対回転角を測定する基準位置測定装置に関するもので
ある。
面に軸方向に延びる複数個のＭ１極を着磁する場合にお
いて、軸に設けた基準部の位置または磁極と基準部との
相対回転角を測定する基準位置測定装置に関するもので
ある。
従来電子写真装置においては、磁性現像剤を現像領域に
搬送する手段として５円柱体の表面に軸方向に延びる複
数個の［ｉを設けたマグネットロールが広く使用されて
いる。このマグネットロールは軸を固定した状態若しく
は軸の回りに回転可能に支承され、そのまま若しくは非
磁性材料からなる中空円筒状のスリーブを同軸的に破着
して使用される。なおマグネットロールを固定した状態
で使用する場合には、現像領域における磁極の位置を精
度よく保持する必要があるため、軸に設けた基準部と磁
極との相対中心角を正確に測定し。
搬送する手段として５円柱体の表面に軸方向に延びる複
数個の［ｉを設けたマグネットロールが広く使用されて
いる。このマグネットロールは軸を固定した状態若しく
は軸の回りに回転可能に支承され、そのまま若しくは非
磁性材料からなる中空円筒状のスリーブを同軸的に破着
して使用される。なおマグネットロールを固定した状態
で使用する場合には、現像領域における磁極の位置を精
度よく保持する必要があるため、軸に設けた基準部と磁
極との相対中心角を正確に測定し。
マグネットロールを正値に現像装置に装着することが肝
要である。またマグネットロールに着磁をする場合には
、基準部から所定の中心角度の位置に磁極を設ける必要
があり、このため基準部の位置を精度よく測定する必要
がある。
要である。またマグネットロールに着磁をする場合には
、基準部から所定の中心角度の位置に磁極を設ける必要
があり、このため基準部の位置を精度よく測定する必要
がある。
第１２図は従来のマグふソトロールの着磁位置を測定す
る装置を示す要部斜視図である。第１２図において１は
マグネットロールであり１円筒体２の表面に軸方向に延
びる複数個のＮＳ磁極を所定の中心角を介して設けてあ
り９両端部に軸３を同軸的に一体に固着しである。なお
一方の軸３には、軸線を含む平面と平行な基準面４を設
けて基準部を形成している。このような基準面４は１例
えばフライス削りによって形成することができる。
る装置を示す要部斜視図である。第１２図において１は
マグネットロールであり１円筒体２の表面に軸方向に延
びる複数個のＮＳ磁極を所定の中心角を介して設けてあ
り９両端部に軸３を同軸的に一体に固着しである。なお
一方の軸３には、軸線を含む平面と平行な基準面４を設
けて基準部を形成している。このような基準面４は１例
えばフライス削りによって形成することができる。
次に５は測定治具であり、基準部４を存する軸３に相対
回転なく嵌合する穴６を設けて、軸３および基準面と着
脱自在に形成すると共に、磁性材料からなる針７を軸３
の回りに回動自在に設ける。
回転なく嵌合する穴６を設けて、軸３および基準面と着
脱自在に形成すると共に、磁性材料からなる針７を軸３
の回りに回動自在に設ける。
８は角度目盛であり、測定治具５の表面に刻設し前記針
７の先端７ａを臨ませる。９は止めねしである。
７の先端７ａを臨ませる。９は止めねしである。
上記の構成により、測定治具５を基準面４を有する軸３
に装着して止めねじ９で固定すると、針７が磁力によっ
て吸引されて磁極の方向を指すから、先ａｉｉ７ａによ
って角度目盛８を読み取ることができ、基準面４との相
対中心角を測定することができる。
に装着して止めねじ９で固定すると、針７が磁力によっ
て吸引されて磁極の方向を指すから、先ａｉｉ７ａによ
って角度目盛８を読み取ることができ、基準面４との相
対中心角を測定することができる。
しかしながら上記測定手段は横ａ簡単であり。
測定作業が容易であるという長所を有する反面において
１個人差を含めた測定誤差が大であると共に、マグネッ
トロール１のアイテム毎の測定治具５を必要とし１段取
り替えが必要であるという短所がある。また人力作業に
よるため、自動化、定量化が困難であるきいう問題点が
ある。
１個人差を含めた測定誤差が大であると共に、マグネッ
トロール１のアイテム毎の測定治具５を必要とし１段取
り替えが必要であるという短所がある。また人力作業に
よるため、自動化、定量化が困難であるきいう問題点が
ある。
上記問題点を解決するために１本出願人はすでに高精度
の自動測定が可能である基準位置測定装置について出願
をしている（特願昭６１−１８１５０１号明細書、特開
昭６３−３８１０９号公報参照）。
の自動測定が可能である基準位置測定装置について出願
をしている（特願昭６１−１８１５０１号明細書、特開
昭６３−３８１０９号公報参照）。
第１０図は上記改良測定装置を示す要部斜視図であり、
同一部分は前記第１２図と同一の参照符号で示す、第１
θ図において１１．１２は各々エンコーダおよびパルス
モータであり、軸３と同軸的に一体回転可能に形成しで
ある。１３はホール素子であり１円筒体２に設けたＮＳ
［極（図示せず）に臨ませて設け、測定手段（図示せず
）と電気的に接続する９次に１４はスライド治具であり
。
同一部分は前記第１２図と同一の参照符号で示す、第１
θ図において１１．１２は各々エンコーダおよびパルス
モータであり、軸３と同軸的に一体回転可能に形成しで
ある。１３はホール素子であり１円筒体２に設けたＮＳ
［極（図示せず）に臨ませて設け、測定手段（図示せず
）と電気的に接続する９次に１４はスライド治具であり
。
基準面４と当接させ、かつ軸線と直角方向上下動自在に
配設する。１５は距離センサであり、スライド治具１４
の上方に所定間隔を介して設け、スライド治具１４上端
面との距離を測定し、この測定値を記憶する手段（図示
せず）と接続する。
配設する。１５は距離センサであり、スライド治具１４
の上方に所定間隔を介して設け、スライド治具１４上端
面との距離を測定し、この測定値を記憶する手段（図示
せず）と接続する。
上記の構成により、マグネットロールｌをパルスモータ
１２により回転さゼ、エンコーダ１． Ｉによって回転
角を測定する。一方ホール素子１３および距離センサ１
５によって磁力値および路間１埴を同時に測定する。
１２により回転さゼ、エンコーダ１． Ｉによって回転
角を測定する。一方ホール素子１３および距離センサ１
５によって磁力値および路間１埴を同時に測定する。
第１１図はるｎ力値および距離値と角度値との関係を示
す図であり、上記マグネットロールｌの１回転分の測定
値を出力した結果である。第】１図から明らかなように
、最大磁力値を示す回転角θ９と、Ｒ大距離値を示す回
転角θｒとの差θが、基準部からの青磁角度である。
す図であり、上記マグネットロールｌの１回転分の測定
値を出力した結果である。第】１図から明らかなように
、最大磁力値を示す回転角θ９と、Ｒ大距離値を示す回
転角θｒとの差θが、基準部からの青磁角度である。
上記構成の測定装置を使用すれば８例えばシーケンサに
よる動作制御１マイコンによる測定および処理を併用す
ることにより、パソコンによって自動的にデータ処理を
することができるため、測定作業を自動化することがで
きるという効果を有する反面において、未だ若干の問題
点が存在する。
よる動作制御１マイコンによる測定および処理を併用す
ることにより、パソコンによって自動的にデータ処理を
することができるため、測定作業を自動化することがで
きるという効果を有する反面において、未だ若干の問題
点が存在する。
まず基準部を軸３に設けた基準面４によって形成したマ
グ７ツトロールｌにおいては測定に支障はないが アイ
テムによっては軸３に通し穴を設けて基準部を形成する
ものもあり、このようなマグネットロールには適用でき
ない。またスライド治具１４の基準面４との当接部が使
用中に摩耗し。
グ７ツトロールｌにおいては測定に支障はないが アイ
テムによっては軸３に通し穴を設けて基準部を形成する
ものもあり、このようなマグネットロールには適用でき
ない。またスライド治具１４の基準面４との当接部が使
用中に摩耗し。
測定誤差を生じるという問題点がある。スライド治具１
４を耐摩耗性材料によって形成した場合であっても、測
定精度を向上させる関係上薄板とせざるを得す、特に多
量生産の場合には上記問題点がクローズアンプされる。
４を耐摩耗性材料によって形成した場合であっても、測
定精度を向上させる関係上薄板とせざるを得す、特に多
量生産の場合には上記問題点がクローズアンプされる。
更に上記測定装置と着磁装置と接続して測定後そのまま
着磁するような生産形態を採用する場合には、スライド
治具１４の存在が機械的自由度を大幅に低下させるとい
う問題点がある。
着磁するような生産形態を採用する場合には、スライド
治具１４の存在が機械的自由度を大幅に低下させるとい
う問題点がある。
本発明は上記従来技術に存在する問題点を解決し、適用
範囲が広く、高精度かつ自動化が可能である基準位置測
定装置を提供することを目的とする。
範囲が広く、高精度かつ自動化が可能である基準位置測
定装置を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、まず第１の発明において
は、長柱体を構成する軸若しくは短柱体と同軸的に一体
回転可能かつ着脱自在に係合した軸の一部に、軸線を含
む平面と平行な基準面若しくは基準輪郭線を有する基準
部の中心角度位置を測定する基準位置測定装置において
、長柱体若しくは短柱体を回転する手段と、基準部にお
いて軸と交差するように対向して設けた１対の投光手段
および受光手段と、測定開始位置からの回転角に相当す
るパルス数を記憶する手段と、前記受光手段における受
光量を記憶する手段とからなり、最大受光量により測定
開始位置からの基準部の位置を測定するように構成する
。という技術的手段を採用した。
は、長柱体を構成する軸若しくは短柱体と同軸的に一体
回転可能かつ着脱自在に係合した軸の一部に、軸線を含
む平面と平行な基準面若しくは基準輪郭線を有する基準
部の中心角度位置を測定する基準位置測定装置において
、長柱体若しくは短柱体を回転する手段と、基準部にお
いて軸と交差するように対向して設けた１対の投光手段
および受光手段と、測定開始位置からの回転角に相当す
るパルス数を記憶する手段と、前記受光手段における受
光量を記憶する手段とからなり、最大受光量により測定
開始位置からの基準部の位置を測定するように構成する
。という技術的手段を採用した。
また第２の発明においては、長柱体を構成する軸若しく
は短柱体と同軸的に一体回転可能かつ着脱自在に係合し
た軸の一部に、軸線を含む平面と平行な基準面若しくは
基準輪郭線を有する基準部の中心角度位置を測定する基
準位置測定装置において、長柱体若しくは短柱体を回転
する手段と。
は短柱体と同軸的に一体回転可能かつ着脱自在に係合し
た軸の一部に、軸線を含む平面と平行な基準面若しくは
基準輪郭線を有する基準部の中心角度位置を測定する基
準位置測定装置において、長柱体若しくは短柱体を回転
する手段と。
基準部において軸と交差するように対向して設けた１対
の投光手段および受光手段と、測定開始位置からの回転
角に相当するパルス数を記憶する手段と、前記受光手段
における受光量を記憶する手段と、長柱体若しくは短柱
体に存在する物理量およびその中心角度位置を測定する
手段および記憶手段とからなり、最大受光量により測定
した基準部の位置と、前記物理量の位置との相対回転角
を測定するように構成する。という技術的手段を採用し
た。
の投光手段および受光手段と、測定開始位置からの回転
角に相当するパルス数を記憶する手段と、前記受光手段
における受光量を記憶する手段と、長柱体若しくは短柱
体に存在する物理量およびその中心角度位置を測定する
手段および記憶手段とからなり、最大受光量により測定
した基準部の位置と、前記物理量の位置との相対回転角
を測定するように構成する。という技術的手段を採用し
た。
上記の構成により、まず第１の発明においては長柱体若
しくは短柱体を任意の測定開始位置から１回転させれば
、受光手段に各回転位置毎の受光量が記憶されるから、
その最大受光量に対応する回転位置若しくは回転角の位
置を基準位置として判定することができる。
しくは短柱体を任意の測定開始位置から１回転させれば
、受光手段に各回転位置毎の受光量が記憶されるから、
その最大受光量に対応する回転位置若しくは回転角の位
置を基準位置として判定することができる。
また第２の発明においては１例えば磁力量のような物理
量の最大値を示す回転角の位置と前記第１の発明におけ
る回転角の位置の差を検出することにより、基準位置と
物理量の存在位置との相対回転角を測定することができ
るのである。
量の最大値を示す回転角の位置と前記第１の発明におけ
る回転角の位置の差を検出することにより、基準位置と
物理量の存在位置との相対回転角を測定することができ
るのである。
第１図は本発明の第１実施例を示す要部斜視図であり、
同一部分は前記第１０図および第１２図と同一の参照符
号にて示す、第１図において。
同一部分は前記第１０図および第１２図と同一の参照符
号にて示す、第１図において。
！６は投光器、１７は受光器であり、マグネットロール
ｌの軸３に設けた基準面４を挟んで対向して配設する。
ｌの軸３に設けた基準面４を挟んで対向して配設する。
１８は遮光板であり、受光器１７の近傍に、前記投光器
１６からの光を一部遮断するように設け、上下調整自在
に形成する。
１６からの光を一部遮断するように設け、上下調整自在
に形成する。
第２図は本発明の第１実施例における制御システムを示
すブロック図である。第２図において１９は電源、２０
はＣＰＵであり５パスライン２１を介して接続されてい
る。２２は測定データを格納するＲＡＭである０次に３
０は入力モジュール、４０は出力モジュール、５０はＡ
／Ｄモジュール、６０はカウンタモジエール、７０は位
置決めモジュールであり５夫々前記パスライン２１を介
して電源１９およびＣＰＵ２０と接続されている。入力
モジュール３０はインタフェース３１と入力回路３２と
からなり、測定装置に配設されたスタートスイッチ、位
置積出リミットスイッチ等のスイッチ３３からの信号を
入力する。出力モジュール４０はインタフェース４１と
出力回路４２とからなり、各表示ランプ、ａＭ１バルブ
等の出力機器４３を作動する。Ａ／Ｄモジュール５０は
インタフェース５１．入力レジスタ５２．Ａ／Ｄ変換回
ｌ５５３おび入力回路５４からなり、前記第１図におけ
る受光器１７からの信号を入力可能に形成する。カウン
タモジュール６０はインタフェース６１．アップダウン
カウンタ６２および入力回路６３からなり、第１図に示
すエンコーダ１１からの信号を入力可能に形成する０次
に位置決めモジュール７０はインタフニースフ１１位置
決めコントローラ７２および入出力回路７３からナリ、
ハルス列出力によりパルスモータコントロラフ４を介し
てパルスモータ１２を駆動するように形成する。なお原
点リミットスインチア６からの信号を入力可能に形成す
る。
すブロック図である。第２図において１９は電源、２０
はＣＰＵであり５パスライン２１を介して接続されてい
る。２２は測定データを格納するＲＡＭである０次に３
０は入力モジュール、４０は出力モジュール、５０はＡ
／Ｄモジュール、６０はカウンタモジエール、７０は位
置決めモジュールであり５夫々前記パスライン２１を介
して電源１９およびＣＰＵ２０と接続されている。入力
モジュール３０はインタフェース３１と入力回路３２と
からなり、測定装置に配設されたスタートスイッチ、位
置積出リミットスイッチ等のスイッチ３３からの信号を
入力する。出力モジュール４０はインタフェース４１と
出力回路４２とからなり、各表示ランプ、ａＭ１バルブ
等の出力機器４３を作動する。Ａ／Ｄモジュール５０は
インタフェース５１．入力レジスタ５２．Ａ／Ｄ変換回
ｌ５５３おび入力回路５４からなり、前記第１図におけ
る受光器１７からの信号を入力可能に形成する。カウン
タモジュール６０はインタフェース６１．アップダウン
カウンタ６２および入力回路６３からなり、第１図に示
すエンコーダ１１からの信号を入力可能に形成する０次
に位置決めモジュール７０はインタフニースフ１１位置
決めコントローラ７２および入出力回路７３からナリ、
ハルス列出力によりパルスモータコントロラフ４を介し
てパルスモータ１２を駆動するように形成する。なお原
点リミットスインチア６からの信号を入力可能に形成す
る。
第３図（ａ）（ｂ）は各々本発明の第１実施例における
基準位置測定の処理手順を示すフローチャートである。
基準位置測定の処理手順を示すフローチャートである。
第１図、第２図および第３図（ａ）（ｂ）を参照して本
発明の実施例における基準位置測定の処理手順を説明す
る。まず第１図に示すようにマグネットロールｌをエン
コーダ１１およびパルスモータ１２と同軸的に一体回転
可能に支持し、投光器１６から例えばレーザ光を投光し
、受光器１７にて受光させる。第２図に示すスタートス
イッチ３３からの指令により第３図（ａｔにおいて位置
決めスタート（８０）すると、第２図に示すＲＡＭ２２
のワークエリア（ｗＲｏｏｏ〜ｗＲ３Ｅ８）を０クリア
すると共に、カウンタモジュール６０のアップダウンカ
ウンタ６２を０とし１位置決めモジュール７０を原点と
する（８１）、次にパルスモータＩ２を１回転（１００
０パルス）分回転させる回転指令を位置決めモジュール
７０に出す（８２）と共に、ＣＰＵ２０に記憶指令を出
す（８３）、そしてパルスモータＩ２の１回転終了か（
８４） （第３図（δ）参照）否かの判定を繰返しなが
ら、第３［ｅｌに示す処理を同時に実行する。すなわち
１（１＋ｓｌ’ｉ１期割込スター） （９０）により、
記憶七令有か（９１）の判定を経て、第２図に示すＲＡ
Ｍ２２のワークエリア（圓ＲＯＯＯ−畦３Ｅ８）のカウ
ンタが指示する値と対応するアドレスへＡ／Ｄ入力値を
記憶（９２） Ｌ、割込終了（９３）となる、そしてこ
のルーチンは常時Ｉｏｍｓ周期で実行されている。１回
の処理においてはｌデータを記憶するのみであるが、パ
ルスモータ１２の回転により次回の処理時においてはカ
ウンター値が変化しているため、 １ｌｊＪ転分の全
データが記憶される。その後第３図ｆａｔにおける１回
転終了か（８４）の判定がＹとなり１次の記憶指令を消
す（８５）処理に移ｆ〒する０以上の処理終了後、第２
図に示すパルスモータコントローラ７４を介してパルス
モータ１２を停止（８６）させる０次に第２図に示すＣ
ＰＵ２０により、ＲＡＭ２２内のワークエリア（１１１
？０００−１ｔＲ３Ｅ８）の最大値を示すアドレスを検
索し。
発明の実施例における基準位置測定の処理手順を説明す
る。まず第１図に示すようにマグネットロールｌをエン
コーダ１１およびパルスモータ１２と同軸的に一体回転
可能に支持し、投光器１６から例えばレーザ光を投光し
、受光器１７にて受光させる。第２図に示すスタートス
イッチ３３からの指令により第３図（ａｔにおいて位置
決めスタート（８０）すると、第２図に示すＲＡＭ２２
のワークエリア（ｗＲｏｏｏ〜ｗＲ３Ｅ８）を０クリア
すると共に、カウンタモジュール６０のアップダウンカ
ウンタ６２を０とし１位置決めモジュール７０を原点と
する（８１）、次にパルスモータＩ２を１回転（１００
０パルス）分回転させる回転指令を位置決めモジュール
７０に出す（８２）と共に、ＣＰＵ２０に記憶指令を出
す（８３）、そしてパルスモータＩ２の１回転終了か（
８４） （第３図（δ）参照）否かの判定を繰返しなが
ら、第３［ｅｌに示す処理を同時に実行する。すなわち
１（１＋ｓｌ’ｉ１期割込スター） （９０）により、
記憶七令有か（９１）の判定を経て、第２図に示すＲＡ
Ｍ２２のワークエリア（圓ＲＯＯＯ−畦３Ｅ８）のカウ
ンタが指示する値と対応するアドレスへＡ／Ｄ入力値を
記憶（９２） Ｌ、割込終了（９３）となる、そしてこ
のルーチンは常時Ｉｏｍｓ周期で実行されている。１回
の処理においてはｌデータを記憶するのみであるが、パ
ルスモータ１２の回転により次回の処理時においてはカ
ウンター値が変化しているため、 １ｌｊＪ転分の全
データが記憶される。その後第３図ｆａｔにおける１回
転終了か（８４）の判定がＹとなり１次の記憶指令を消
す（８５）処理に移ｆ〒する０以上の処理終了後、第２
図に示すパルスモータコントローラ７４を介してパルス
モータ１２を停止（８６）させる０次に第２図に示すＣ
ＰＵ２０により、ＲＡＭ２２内のワークエリア（１１１
？０００−１ｔＲ３Ｅ８）の最大値を示すアドレスを検
索し。
対応する位置を算出（８７）する、この演算結果により
１位置決めモジュール７０からパルスモータコントロー
ラ７４を介して前記最大値を示す位置までパルスモータ
１２を回転（８８）（第３図（司参照）させて５位置決
め終了（８９）とするのである。
１位置決めモジュール７０からパルスモータコントロー
ラ７４を介して前記最大値を示す位置までパルスモータ
１２を回転（８８）（第３図（司参照）させて５位置決
め終了（８９）とするのである。
次に第４図＜ａｌは本発明の第１実施例における基準部
近傍の状態を示す要部側面図、第４図（ｂｌは受光器１
７における受光量と回転角との関係を示す図であり、同
一部分は前記第１図と同一の参照符号で示す、第４図（
ａｌにおいて軸３に設けた基準面４は、中心角において
２αの範囲に存在する。そして基準面４が水平状態にあ
るときの位置若しくは回転角を０′とし、軸を反時計方
向および時計方向に十〇および一部だけ回転したときの
受光量りはθの関数として表わされる。すなわち。
近傍の状態を示す要部側面図、第４図（ｂｌは受光器１
７における受光量と回転角との関係を示す図であり、同
一部分は前記第１図と同一の参照符号で示す、第４図（
ａｌにおいて軸３に設けた基準面４は、中心角において
２αの範囲に存在する。そして基準面４が水平状態にあ
るときの位置若しくは回転角を０′とし、軸を反時計方
向および時計方向に十〇および一部だけ回転したときの
受光量りはθの関数として表わされる。すなわち。
Ｌ ＝ Ｌｏ 十Ｋ ｒｃｏｓ（ａ−θ） （０≦θ≦
α）または。
α）または。
Ｌ ＝ Ｌｏ ＋ Ｋ ｒ ［ｃｏｓ（α−θ）−［ｃ
ｏｓ（α−θ）−ｃｏｓα１ ｃｏｓ２θ］ （
−α≦θ≦Ｏ）但し、Ｌｏ ニーα〉θ〉αの位置にお
ける受光量Ｔ ：軸３の半径 で表わされ、第４図（ｂｌに示すように回転角θ−〇＠
の位置において最大受光量Ｌｍａｘを記録する。従って
この位置若しくは回転角を前記のようにして測定すれば
、基準位置を６１定することができる。
ｏｓ（α−θ）−ｃｏｓα１ ｃｏｓ２θ］ （
−α≦θ≦Ｏ）但し、Ｌｏ ニーα〉θ〉αの位置にお
ける受光量Ｔ ：軸３の半径 で表わされ、第４図（ｂｌに示すように回転角θ−〇＠
の位置において最大受光量Ｌｍａｘを記録する。従って
この位置若しくは回転角を前記のようにして測定すれば
、基準位置を６１定することができる。
第７図１ａｌは基準部の形状の変形例を示す要部側面図
であり、前記第４図Ｔ８）と対応する。第５図（ａｌに
おいて、４ａは基準輪郭線であり、軸３の軸線と直交す
る円孔の一部である。前記と同様にして軸３を回転させ
て、投光器Ｉ６からの光線を受光器１７によって受光し
、その受光量を連続的に測定すると、第５図中）に示す
ような図が得られる。
であり、前記第４図Ｔ８）と対応する。第５図（ａｌに
おいて、４ａは基準輪郭線であり、軸３の軸線と直交す
る円孔の一部である。前記と同様にして軸３を回転させ
て、投光器Ｉ６からの光線を受光器１７によって受光し
、その受光量を連続的に測定すると、第５図中）に示す
ような図が得られる。
第５図Ｃｂ＋においては１回転角が００の近傍において
受光量の変化が緩慢に現われていることが認められる。
受光量の変化が緩慢に現われていることが認められる。
これは投光器１６からの直接光の他に。
基準輪郭線４ａからの反射光が受光器Ｉ７に到達するた
めと推定される。しかもこの反射光は回転角がＯ＠近傍
において最も顕著に影響するため測定精度を低下させる
ので好ましくない。
めと推定される。しかもこの反射光は回転角がＯ＠近傍
において最も顕著に影響するため測定精度を低下させる
ので好ましくない。
第７図１ａｌは反射光の影響を除去する手段の一例を示
す要部側面図であり、第５図（δ）と対応する。
す要部側面図であり、第５図（δ）と対応する。
第７図１ａｌにおいて、遮光板１８の上端縁を軸３の軸
線の位置まで上昇させて配設する。このような手段によ
り、受光器１７による受光量は、第６図中）に示すよう
に（−）側において極めてシャープな形状となり、測定
精度を大幅に向上させ得る。
線の位置まで上昇させて配設する。このような手段によ
り、受光器１７による受光量は、第６図中）に示すよう
に（−）側において極めてシャープな形状となり、測定
精度を大幅に向上させ得る。
第７図１ａｌは反射光の影響を除去する手段の他の例を
示す要部側面図であり、前記第４図（ａｌと対応する。
示す要部側面図であり、前記第４図（ａｌと対応する。
第７図１ａｌにおいて、４ｂは凹部であり、基準面４Ｃ
ｔ−狭小な面積に形成する。この結果第７図中）に示す
ように８回転角０°近傍において（＋）側のみならず（
＝）側においても受光量の変化を大にすることができる
。
ｔ−狭小な面積に形成する。この結果第７図中）に示す
ように８回転角０°近傍において（＋）側のみならず（
＝）側においても受光量の変化を大にすることができる
。
第８図（ａ）（ｂ）は各々基準面の変形例を示す要部斜
視図である。第８図（ａ）は角柱状に形成した軸３に基
準面４を設けたもの、第８図軸）は円柱状の軸３に軸線
を含む平面と平行な面を有する溝４ｄによって基準面４
を形成したものであり、何れも前記のような投光器１６
および受光器１７により、基準面４の位置を測定するこ
とができる。
視図である。第８図（ａ）は角柱状に形成した軸３に基
準面４を設けたもの、第８図軸）は円柱状の軸３に軸線
を含む平面と平行な面を有する溝４ｄによって基準面４
を形成したものであり、何れも前記のような投光器１６
および受光器１７により、基準面４の位置を測定するこ
とができる。
第９図は本発明の第２実施例を示す要部斜視図であり、
同一部分は前記第１図と同一の参照符号にて示す、第９
図において、１００はマグネットであり、短円柱体の表
面に軸方向に延びる複数個のＮＳ磁極を着磁して形成し
たものである。１０１は軸であり、エンコーダ１１およ
びパルスモータ１２と同軸的かつ一体回転可能に固着さ
れており。
同一部分は前記第１図と同一の参照符号にて示す、第９
図において、１００はマグネットであり、短円柱体の表
面に軸方向に延びる複数個のＮＳ磁極を着磁して形成し
たものである。１０１は軸であり、エンコーダ１１およ
びパルスモータ１２と同軸的かつ一体回転可能に固着さ
れており。
軸線を含む平面と平行な基準面４を設けである。
なお投光器１６および受光器１７は上記基準面４を挟ん
で対向して配設する０次に１００ａは印篭凸部であり、
マグネｙ ト１００と同軸的にかつ一体に設ける。 ｔ
ｏｏｂは基準ピンであり１表面に設けたＮＳ磁極と所定
中心角の位置に設ける。一方軸１０１には前記印吐凸部
１００ａ、基準ビン１ｏｏｂと対応する寸法および位置
に印籠凹部Ｉｏｔａおよび基準穴１０１ｂを設ける。ホ
ール素子１３はマグネット１００を軸１０１に嵌着した
際にＮＳ磁極と対向し、かつその磁力値を測定可能の位
置に設ける。
で対向して配設する０次に１００ａは印篭凸部であり、
マグネｙ ト１００と同軸的にかつ一体に設ける。 ｔ
ｏｏｂは基準ピンであり１表面に設けたＮＳ磁極と所定
中心角の位置に設ける。一方軸１０１には前記印吐凸部
１００ａ、基準ビン１ｏｏｂと対応する寸法および位置
に印籠凹部Ｉｏｔａおよび基準穴１０１ｂを設ける。ホ
ール素子１３はマグネット１００を軸１０１に嵌着した
際にＮＳ磁極と対向し、かつその磁力値を測定可能の位
置に設ける。
以上の構成により、第９図矢印にて示すようにマグネソ
） １００を軸１０１に嵌着し１両者が同軸的かつ一体
回転可能の状態として、前記第１実施例におけると同様
にして基準面４の回転角１例えばθ、を測定する。同時
にホール素子１３によって磁力値の最大値に対応する回
転角９例えばθ、を測定すれば、１θｆ−θ、１により
、 Ｍ１ｆ４ｉと基準面４との相対回転角１例えばθ（
第１１図参照）を測定することができる。一方基準ビン
１００ｂと磁極との間の中心角は予め定められた値であ
るから。
） １００を軸１０１に嵌着し１両者が同軸的かつ一体
回転可能の状態として、前記第１実施例におけると同様
にして基準面４の回転角１例えばθ、を測定する。同時
にホール素子１３によって磁力値の最大値に対応する回
転角９例えばθ、を測定すれば、１θｆ−θ、１により
、 Ｍ１ｆ４ｉと基準面４との相対回転角１例えばθ（
第１１図参照）を測定することができる。一方基準ビン
１００ｂと磁極との間の中心角は予め定められた値であ
るから。
上記相対回転角の測定により、基準ピンｔｏｏｂと磁極
との間の中心角のずれを測定することができ。
との間の中心角のずれを測定することができ。
所謂着磁後の検査作業に応用できるのである。
本発明の第１実施例においては基準部の位置を測定する
場合の例について記述したが、磁力値を検出する手段を
併用して、第２実施例におけるように基準部と磁極との
相対中心角若しくは相対回転角を測定することができる
。また長柱体若しくは短柱体の表面に着磁する前に基準
部の位置を測定、確認後１着磁装置にそのまま挿入し、
所定の位置にＮＳ磁極を着磁するように構成してもよい
。
場合の例について記述したが、磁力値を検出する手段を
併用して、第２実施例におけるように基準部と磁極との
相対中心角若しくは相対回転角を測定することができる
。また長柱体若しくは短柱体の表面に着磁する前に基準
部の位置を測定、確認後１着磁装置にそのまま挿入し、
所定の位置にＮＳ磁極を着磁するように構成してもよい
。
なお長柱体若しくは短柱体の横断面輪郭形状は円形のみ
ならず、角形、楕円形等の他の幾何学的形状を選定する
ことができる。更に長柱体若しくは短柱体に存在する物
理量は磁力値のみでなく、他の物理量であってもよいこ
とが勿論である。
ならず、角形、楕円形等の他の幾何学的形状を選定する
ことができる。更に長柱体若しくは短柱体に存在する物
理量は磁力値のみでなく、他の物理量であってもよいこ
とが勿論である。
本発明は以上記述のような構成および作用であるから１
通用範囲が広く、高精変の測定ができると共に、マイコ
ン等のデータ処理装置を併用したものであるため測定作
業の高能率化および自動化を図ることができるという効
果がある。
通用範囲が広く、高精変の測定ができると共に、マイコ
ン等のデータ処理装置を併用したものであるため測定作
業の高能率化および自動化を図ることができるという効
果がある。
第１図は本発明の第１実施例を示す要部斜視図。
第２図は本発明の第１実施例における制御システムを示
すブロック図、第３図（ａｌ （ｂ）は各々本発明の第
１実施例における基準位置測定の処理手順を示すフロー
チャート、第４図１８１は本発明の第１実施例における
基準部近傍の状態を示す要部側面図。 第４図中）、第５開山）、第６開山）および第７開山）
は夫々受光量と回転角との関係を示す図、第５図ｔａ＋
は基準部の形状の変形例を示す要部側面図、第６図（ａ
）および第７図＋ａ＋は各々反射光の影響を除去する手
段の例を示す要部側面図、第８図（ａｌ （ｂｌは各々
基準面の変形例を示す要部斜視図、第９図は本発明の第
２実施例を示す要部斜視図、第１０図は改良測定装置を
示す要部斜視図、第１１図は磁力値および距離値と角度
値との関係を示す図、第１２図は従来のマグネットロー
ルの着磁位置を測定する装置を示す要部斜視図である。 ｌ：マグネットロール、３：軸、４．４Ｃ：基準面、ｉ
ｔ：エンコーダ、１２：バルスモータ１３：ホール素子
、１６：投光器、１７：受光器。 １００ ：マグネット。
すブロック図、第３図（ａｌ （ｂ）は各々本発明の第
１実施例における基準位置測定の処理手順を示すフロー
チャート、第４図１８１は本発明の第１実施例における
基準部近傍の状態を示す要部側面図。 第４図中）、第５開山）、第６開山）および第７開山）
は夫々受光量と回転角との関係を示す図、第５図ｔａ＋
は基準部の形状の変形例を示す要部側面図、第６図（ａ
）および第７図＋ａ＋は各々反射光の影響を除去する手
段の例を示す要部側面図、第８図（ａｌ （ｂｌは各々
基準面の変形例を示す要部斜視図、第９図は本発明の第
２実施例を示す要部斜視図、第１０図は改良測定装置を
示す要部斜視図、第１１図は磁力値および距離値と角度
値との関係を示す図、第１２図は従来のマグネットロー
ルの着磁位置を測定する装置を示す要部斜視図である。 ｌ：マグネットロール、３：軸、４．４Ｃ：基準面、ｉ
ｔ：エンコーダ、１２：バルスモータ１３：ホール素子
、１６：投光器、１７：受光器。 １００ ：マグネット。
Claims (2)
- （１）長柱体を構成する軸若しくは短柱体と同軸的に一
体回転可能かつ着脱自在に係合した軸の一部に、軸線を
含む平面と平行な基準面若しくは基準輪郭線を有する基
準部の中心角度位置を測定する基準位置測定装置におい
て、長柱体若しくは短柱体を回転する手段と、基準部に
おいて軸と交差するように対向して設けた１対の投光手
段および受光手段と、測定開始位置からの回転角に相当
するパルス数を記憶する手段と、前記受光手段における
受光量を記憶する手段とからなり、最大受光量により測
定開始位置からの基準部の位置を測定するように構成し
たことを特徴とする基準位置測定装置。 - （２）長柱体を構成する軸若しくは短柱体と同軸的に一
体回転可能かつ着脱自在に係合した軸の一部に、軸線を
含む平面と平行な基準面若しくは基準輪郭線を有する基
準部の中心角度位置を測定する基準位置測定装置におい
て、長柱体若しくは短柱体を回転する手段と、基準部に
おいて軸と交差するように対向して設けた１対の投光手
段および受光手段と、測定開始位置からの回転角に相当
するパルス数を記憶する手段と、前記受光手段における
受光量を記憶する手段と、長柱体若しくは短柱体に存在
する物理量およびその中心角度位置を測定する手段およ
び記憶手段とからなり、最大受光量により測定した基準
部の位置と、前記物理量の位置との相対回転角を測定す
るように構成したことを特徴とする基準位置測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16816389A JPH0331708A (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 基準位置測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16816389A JPH0331708A (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 基準位置測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0331708A true JPH0331708A (ja) | 1991-02-12 |
Family
ID=15862976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16816389A Pending JPH0331708A (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 基準位置測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0331708A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6965037B2 (en) | 1998-12-07 | 2005-11-15 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Method for producing aminocarbazoles |
| JP2007092438A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Ps Mitsubishi Construction Co Ltd | 床版据付方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5681405A (en) * | 1979-10-18 | 1981-07-03 | Shinkawa Ltd | Detecting mechanism for starting-point position of rotary body controlling system |
| JPS6330705A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | Nippei Toyama Corp | 角度変位センサ− |
| JPS6338109A (ja) * | 1986-08-01 | 1988-02-18 | Hitachi Metals Ltd | フライス面方向測定装置 |
-
1989
- 1989-06-29 JP JP16816389A patent/JPH0331708A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5681405A (en) * | 1979-10-18 | 1981-07-03 | Shinkawa Ltd | Detecting mechanism for starting-point position of rotary body controlling system |
| JPS6330705A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | Nippei Toyama Corp | 角度変位センサ− |
| JPS6338109A (ja) * | 1986-08-01 | 1988-02-18 | Hitachi Metals Ltd | フライス面方向測定装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6965037B2 (en) | 1998-12-07 | 2005-11-15 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Method for producing aminocarbazoles |
| JP2007092438A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Ps Mitsubishi Construction Co Ltd | 床版据付方法 |
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