JPH0331781A - 半導体テスト方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野］ この発明はメモリＩＣのテストモードの構成に関するも
のである。

［従来の技術］ 第１表はメモリー・ＩＣのテストモード時のＤｉｎと出
力値を示す表である。

第　　１　　表 第１表もて示すようにｎｉｎからデータ“０”を入ｊｑ
Ｄｏｕｔ：からは“１パが出るとバス゛°Ｏ”が出ると
フェイル、Ｄｉｎからデータ“１”を入れＤｏｕｔ、か
ら“１”が出るとバス、“０”が出るとフェイルという
ように“１”が出るとバス“０”か出るとフェイルにな
っている。

［発明が解決しようとする課１］ 従来のテストモード時の出力方法は以」二のように構成
されていたので、データ“１”か出るとバス、データ“
Ｏ”が出るとフェイルといったようにテストと出力方法
が異なっているので従来通りのテストプログラムでは判
定できないという問題点があった。

この考案は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、従来のテストプログラムを使ってテストがで
きる半導体テスト方法を得ることを目的とする。

［課題を解決するための１段］ この考案に係る半導体テスト方法はＤｉｎと出力値のＥ
ＸＮＯＲを取ることによって行うようにしたものである
。

［作用］ この発明におけるテストモードはＤｉｎと出力値のＨＸ
ＮＯＲをボード上に設けることにより従来通りのテスト
プログラムで測定が間違がいなく出来る。

し実施例］ （１）以下この発明の一実施例を図について説明する。

図はＤｉｎと出力値のＥＸＮＯＲを示すブロック図であ
る。図において、（１）は出力値、（２）はＤｉｎ　、
　（３）はＥＸＮＯＨノ出力値、（４）はＥＸＮＯＲテ
ある。

次に動作について説明する。Ｄｉｎ　（２）からＤｉｎ
のデータ信号がＥＸＮＯＲ（４）に入ってきてＤｏｕ　
Ｌ　（＋）からは出力信号が入ってきて第２表に示すよ
うにＤｉｎ　（２）とＤｏｕｔ（１）が同じであればバ
スか異なっているとフェイルといったように従来のテス
トブロク”ラムで判定が出来る。

第　　２ 表 なおＥＸＮＯＲ（４）はチップ内に設けても良いしまた
テスタ内に設けても良い。

［発明の効果］ 以上のようにこの発明によれば、従来のテストプログラ
ムとの互換性を保つことが可能となり、テストプログラ
ムの作成が容易に行えるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例によるボード上に設けるブ
ロック図である。図において、（１）はＤｏｕｔ、、（
２）はＤｉｎ　、　（３）はＥＸＮＯＲでの出力値、（
４）　ＬｔＥＸＮＯＲテある。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. テストモード使用時のテストの判定を容易にすることを
   特徴とする半導体テスト方法。