JPH0332725B2 - - Google Patents

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JPH0332725B2
JPH0332725B2 JP57074200A JP7420082A JPH0332725B2 JP H0332725 B2 JPH0332725 B2 JP H0332725B2 JP 57074200 A JP57074200 A JP 57074200A JP 7420082 A JP7420082 A JP 7420082A JP H0332725 B2 JPH0332725 B2 JP H0332725B2
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JP
Japan
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color
sample
measurement data
memories
display
Prior art date
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JP57074200A
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English (en)
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JPS58190716A (ja
Inventor
Fukuo Zenitani
Masao Kawai
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPH0332725B2 publication Critical patent/JPH0332725B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D7/00Indicating measured values

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Indicating Measured Values (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、電子線マイクロアナライザ等による
試料分析用測定データを使用して表示画面上に分
析結果をマツピング表示する装置に係り、詳しく
はマイクロコンピユータを使用して試料の分析結
果を表示する試料分析装置用カラーマツピング装
置に関する。
電子線マイクロアナライザは一般に、試料内に
いかなる元素がいかなる含有割合で存在するのか
等についての分析を行うために用いられるもの
で、あつて、その分析においては試料に電子線を
照射して試料内の元素の種類や元素の含有濃度に
対応する波長や強度を有するX線を発生させ、発
生したX線に基づき目的とする試料分析用測定デ
ータを得るものである。ところで、このよう電子
線マイクロアナライザにあつては、近年マイクロ
コンピユータを組込み、このマイクロコンピユー
タにおけるシステムプログラムにしたがつて、試
料を試料ステージにセツテイングする動作から試
料分析用測定データを用いて分析結果を表示画面
上にマツピング表示する動作までを行うようにし
たものがある。
ところが、従来では上記マイクロコピユータに
より、試料をのせた試料ステージを測定位置に移
動すること、試料を測定すること、測定による試
料分析用測定データをメモリに格納すること、表
示画面上に分析結果をカラーでマツピング表示す
るために、前記メモリに格納された測定データを
カラー表示用のコードデータに変換するデータ加
工等の一連の分析のための動作を時間的に直列的
に行うようにしている。このため、試料分析のた
めの測定を開始し、最終的に表示画面上に目的と
する試料分析結果をマツピング表示するのに非常
に長時間を要している。
一方、従来では上記試料分析用測定データによ
る分析結果を白黒でマツピング表示しており、分
析結果を即座に視覚で判断することが比較的困難
である。しかるに、視覚性を向上させるため分析
内容に応じて分析結果を赤や緑や黄等で色分けし
て表示させるためには上記マイクロコンピユータ
に余分なプログラムを組込まなければならなくな
り、したがつて分析開始から分析結果の表示まで
の時間が更に長くなるという大きな問題点があ
る。
本発明の目的は、上述に鑑み、試料分析用測定
データをその分析内容に個別的に対応して色付け
して分析結果を表示画面上にマツピング表示する
ことができる一方、試料分析用測定データを順
次、カラーモニターに送つて分析結果を表示画面
上に実時間で表示することができるようにするこ
とにより、視覚性に優れ、かつ極めて短時間で分
析結果を表示することができる試料分析装置用マ
ツピング装置を提供することである。
本発明の試料分析装置用カラーマツピング装置
は、上記目的を達成するため、試料に含まれる各
元素の含有量に応じた検出強度をもつた測定デー
タを各元素ごとに個別的に対応して格納する複数
のメモリを有するビデオ用メモリと、試料が所定
の分析箇所に位置するように試料ステージを駆動
する駆動回路に対して駆動指令信号を与える一
方、前記試料ステージの駆動に同期した格納タイ
ミングで前記複数のメモリに測定データが格納さ
れるよう当該複数のメモリに格納指令信号を与え
るプログラムが組み込まれるマイクロコンピユー
タと、前記複数のメモリの内、指示された表示チ
ヤンネルに対応するメモリから測定データを読出
し、読出した測定データを指示された表示条件に
したがつて色分けするカラーコントローラと、こ
のカラーコントローラで色分けされた測定データ
を当該色分けに対応する色信号に変換して前記試
料に含まれる元素の二次元分布像をマツピング表
示するカラーモニタとを備えている。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。
第1図は本発明の一実施例の構成図である。こ
の実施例の試料分析装置としての電子線マイクロ
アナライザからの電子線1により試料ステージ2
上の試料が照射される。この照射により、試料か
らは、試料に含まれている元素の種類に対応した
波長を有しかつ元素の濃度に比例した強さを有す
るX線3が発生し、そのX線(3)は分光結晶4で反
射され、更に図示しない検出器やパルス波高分析
回路を介して、周波数をカウントするスケーラ5
に入力される。そこで、上記のごとき分光結晶
を、試料表面から元素の種類に対応して散乱する
X線の各散乱位置に複数個配置するか、あるいは
分光結晶を各散乱位置に対応して移動させること
により複数種類の元素についての分析ができる。
試料ステージ2は、2次元直交座標系に関しX方
向についてはX方向試料ステージ駆動回路6によ
り、Y方向についてはY方向試料ステージ駆動回
路7により駆動される。この駆動により、試料ス
テージ2におかれた試料は所定の分析のための測
定位置にセツトされる。
ビデオ用メモリ8は第2図に示すように複数の
メモリ例えば第1〜第5メモリ81〜85を有し
ている。これらの各メモリ81〜85には、スケ
ーラ5で得られた試料に含まれる各元素の含有量
に応じた検出強度をもつ測定データが各元素ごと
に個別的に対応して格納される。マイクロコンピ
ユータ9には、専用操作パネル10に設けられた
各種操作部から操作信号線11を介して操作信号
が入力される。マイクロコンピユータ9はその操
作信号に応答して試料ステージ駆動回路6,7が
所定の測定位置(或る一定の測定領域)に試料ス
テージを駆動するような当該試料ステージ駆動回
路6,7に指令信号線12,13を介して駆動指
令信号を与える。試料ステージ駆動回路6,7は
前記駆動指令信号に応答してその駆動気候14,
15により試料ステージ2を所定の測定位置に移
動させる。マイクロコンピユータ9はまた、スケ
ーラ5の動作を制御する制御信号を制御信号線1
6を介して当該スケーラ5に与える。マイクロコ
ンピユータ9はさらにまた、ビデオ用メモリ8内
の複数のメモリ81〜85に各元素ごとに個別的
に対応して試料分析用測定データが第1データ線
17を介して格納されるよう、当該複数のメモリ
81〜85、指令信号線18を介して格納指令信
号を与える。このように、マイクロコンピユータ
9は、専用操作パネル10の操作部からの操作信
号により上述の動作を行うプログラムを有してい
る。
カラーコントローラ19は、ビデオ用メモリ8
内の複数のメモリ81〜85の内、指示された表
示チヤンネル(全部で例えば5チヤンネル)に対
応するメモリから試料分析用測定データを第2デ
ータ線20を介して読出し、読出した試料分析用
測定データを、指示された表示条件にしたがつて
色分けする。カラーモニタ21は、第3データ線
22を介して入力されてくるカラーコントローラ
19からの試料分析用測定データを当該カラーコ
ントローラ19での色分けに対応する色信号に変
換することにより分析結果を表示する。
次に、ビデオ用メモリ8とカラーコントローラ
19とカラーモニタ21とによる試料分析用測定
データの色分け動作とそれに対応した分析結果の
色表示を、第2図を参照しながら説明する。
第2図は、ビデオ用メモリ8とカラーコントロ
ーラ19とカラーモニタ21の内部回路の詳細図
である。第2図において、ビデオ用メモリ8内の
第1〜第5メモリ81〜85の各々のデータ入力
端子T1〜T5に試料ステージ2の駆動に同期した
格納タイミングで試料分析用測定データが入力さ
れる。一方、マイクロコンピユータ9からの格納
指令信号が、第1〜第5メモリ81〜85の各々
の指令信号入力端子C1〜C5に入力される。これ
により、各メモリ81〜85については、格納指
令信号が入力されたメモリのみがアクテイブとな
り、当該メモリ上の試料の分析箇所に対応する記
憶番地に検出元素の強度値をもつ測定データが格
納される。したがつて、第1〜第5メモリ81〜
85に各々、第1〜第5表示チヤンネルに対応し
て試料分析用測定データが入力されるようにすれ
ば、例えば第1メモリ81にはスズSnについて
の測定データを第1表示チヤンネルとして格納さ
れることができ、また第2メモリ82にはマンガ
ンMnについての測定データを第2表示チヤンネ
ルとして格納させることができる。
カラーコントローラ19は、ビデオ用メモリ8
からの試料分析用測定データをラツチする測定デ
ータラツチ回路191を有している。この測定デ
ータクラツチ回路191には、図示しない表示チ
ヤンネル指示スイツチにより指示された表示チヤ
ンネルに対応する試料分析用測定データを格納し
ているメモリからの当該試料分析用測定データが
入力される。
カラーコントローラ19はまた、試料分析用測
定データを各元素の検出強度に対応して色分けす
るため第1色表示選択回路192−1、第2色表
示選択回路192−2、…、第n色表示選択回路
192−nと、第1基準データラツチ回路193
−1、第2基準データラツチ回路193−2、
…、第n基準データラツチ回路193−nと、第
1デイジタルコンパレータ194−1、第2デイ
ジタルコンパレータ194−2、…、第nデイジ
タルコンパレータ194−nと、テンキー操作/
基準データ表示回路195とを有している。これ
らの回路において、第1色表示選択回路192−
1と、第1基準データラツチ回路193−1と、
第1デイジタルコンパレータ194−1と、分析
データラツチ回路191と、テンキー操作/基準
データ表示回路195との組合わせを中心に説明
する。なお、各測定データはカラーモニタの表示
画面上の各表示画素点(例えば100点×100点)に
表示される表示単位のデータである。
先ず、測定データラツチ回路191には例えば
第1表示チヤンネルとして第1メモリ81に格納
されている測定データとしては例えば検出強度が
「1050」の値をもつならば、そのデータが入力さ
れる。一方、第1色表示選択回路192−1が例
えば試料分析用測定データを例えば赤色に色分け
するための回路であるとし、その測定値が
「1000」を越えたときにカラーモニタの表示画面
上のその測定データに対応する画素点を赤色で色
付けしたときは、第1色表示選択回路192−1
を動作させる一方、ネンキー操作/基準データ表
示回路195で「1」「0」「0」「0」のように
テンキーを操作する。そうすると、テンキー操
作/基準データ表示回路195には「1000」が表
示される一方、第1基準データラツチ回路193
−1に「1000」が入力される。ところで、第1デ
イジタルコンパレータ194−1は、測定データ
ラツチ回路191からの「1050」の測定データ値
と、第1基準データラツチ回路193−1からの
「1000」の基準データ値とを比較し、これにより
測定データ値が1000以上であるとする第1比較信
号を第1の出力端子O11から出力する。即ち、こ
の比較信号はメモリから読出された測定データは
1000以上であるとして測定データを表示画素上の
1点において赤色に色付けする信号となる。次
に、測定データラツチ回路191に測定値が例え
ば「950」の測定データが入力されると、当然、
第1デイジタルコンパレータ194−1からは測
定データの方が1000以下であるとする第2比較信
号が第1出力端子O12から出力される。即ち、第
2比較信号は、メモリから読出された測定データ
は1000以下であるとして赤色に色分けしない信号
となる。一方、第2基準データラツチ回路193
−2に、「900」の基準データが第2色表示選択回
路192−2を介して、テンキー操作/基準デー
タ表示回路195から入力されているとき、上記
「950」の測定データと「900」の基準データが第
2デイジタルコンパレータ194−2で比較され
る。その結果、第2デイジタルコンパレータ19
4−2の第1出力端子O21からは、メモリから読
出された測定データの値が「900」以上であると
する第3比較信号が出力される。したがつて、第
2色表示選択回路192−2を、例えば白色を選
択する回路であるとすれば、第3比較信号は、メ
モリから読出された測定データが「900」以上で
あるとして白色で色分けする信号となる。
このようにして、測定データラツチ回路191
に、対応するメモリ内の所定のアドレスに格納さ
れている測定データを順次読出して入力させてい
くことにより第1〜第nデイジタルコンパレータ
194−1〜194−nからは、順次測定データ
に対応する比較信号が出力される。カラーモニタ
ー21は、カラーエンコーダ211を有してい
る。カラーコントローラ19の第1〜第nデイジ
タルコンパレータ194−1〜194−nからの
各比較信号をそのカラーエンコーダ211の入力
端子T′1〜T′nに選択的に入力させると、その比
較信号はカラーエンコーダ211内で色信号に変
換されるとともに、出力端子O′1〜O′3から、色信
号として出力される。カラーモニター21では、
内部のカラーエンコーダ211からの色信号によ
り、メモリ内の各アドレスに個別的に対応する表
示画面上の個々の表示画素点に測定データが順次
色表示されていき、全体として見れば、その表示
チヤンネルにおける特製元素の検出強度に応じて
色分けされた二次元分布像がマツピング表示され
ることになる。
このようにして、この実施例では、試料ステー
ジ2を移動させ〔電子線1の方を移動させてもよ
い〕ながら試料から順次発生するX線を測定し、
その測定に基づくデータにより試料に含まれる元
素の二次元分布像を、その含有量に応じて色分け
してカラーモニタ21に色表示することができ
る。
以上説明したように本発明によれば上述の構成
を有するので、試料分析用測定データをその分析
内容に個別的に対応する色にて表示画面上にマツ
ピング表示することができる一方、試料分析用測
定データを表示画面上に実時間表示することがで
き、したがつて視覚による分析結果の認識性に優
れ、かつ分析を非常に短時間で行うことができる
等の効果を発揮することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は
ビデオ用メモリとカラーコントローラと、カラー
モニタとの詳細図である。 2……試料ステージ、8……ビデオ用メモリ、
9……マイクロコンピユータ、19……カラーコ
ントローラ、21……カラーモニタ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試料に含まれる各元素の含有量に応じた検出
    強度をもつ測定データを各元素ごとに個別的に対
    応して格納する複数のメモリを有するビデオ用メ
    モリと、 前記試料が所定の分析箇所に位置するように試
    料ステージを駆動する駆動回路に対して駆動指令
    信号を与える一方、前記試料ステージの駆動に同
    期した格納タイミングで前記複数のメモリに測定
    データが格納されるよう当該複数のメモリに格納
    指令信号を与えるプログラムが組み込まれるマイ
    クロコンピユータと、 前記複数のメモリの内、指示された表示チヤン
    ネルに対応するメモリから前記測定データを読出
    し、読出した測定データを指示された表示条件に
    したがつて色分けするカラーコントローラと、 このカラーコントローラで色分けされた測定デ
    ータを当該色分けに対応する色信号に変換して前
    記試料に含まれる元素の二次元分布像をマツピン
    グ表示するカラーモニタと、 を含むことを特徴とする試料分析装置用カラーマ
    ツピング装置。
JP57074200A 1982-04-30 1982-04-30 試料分析装置用カラ−マツピング装置 Granted JPS58190716A (ja)

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JPS58190716A JPS58190716A (ja) 1983-11-07
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2524256Y2 (ja) * 1986-12-29 1997-01-29 株式会社島津製作所 電子線マイクロアナライザ
JPS6445047A (en) * 1987-08-14 1989-02-17 Nippon Telegraph & Telephone Measuring device for cathode luminesence
JPH0749415Y2 (ja) * 1988-12-07 1995-11-13 セイコー電子工業株式会社 マッピングアナライザ装置
GB201102614D0 (en) * 2011-02-15 2011-03-30 Oxford Instr Nanotechnology Tools Ltd Material identification using multiple images

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JPS58190716A (ja) 1983-11-07

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