JPH0335571A - トンネル素子 - Google Patents
トンネル素子Info
- Publication number
- JPH0335571A JPH0335571A JP1171431A JP17143189A JPH0335571A JP H0335571 A JPH0335571 A JP H0335571A JP 1171431 A JP1171431 A JP 1171431A JP 17143189 A JP17143189 A JP 17143189A JP H0335571 A JPH0335571 A JP H0335571A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- superconducting
- film
- film formation
- tunnel
- tunnel element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明はジョセフソン素子、超伝導ベーストランジスタ
、準粒子トンネル効果素子、などトンネルバリアを必要
とする超伝導デバイスをこ関する。
、準粒子トンネル効果素子、などトンネルバリアを必要
とする超伝導デバイスをこ関する。
[従来の技術]
ジョセフソン素子で説明する0周知の様をこジョセフソ
ン素子は点接触型、結晶粒界型、サンドイッチ型の3種
類あるが集積化を図るをこ◆よりンドイッチ型、即ちト
ンネルバリアを形成するタイプ番こする必要がある。こ
のサンドイッチ型には超伝導材料にコヒーレンス長さの
長いNbを、トンネルバリアに酸化アルミなどを用いて
いた。またトンネルバリアは蒸着法やスパッタ法により
形成していた。
ン素子は点接触型、結晶粒界型、サンドイッチ型の3種
類あるが集積化を図るをこ◆よりンドイッチ型、即ちト
ンネルバリアを形成するタイプ番こする必要がある。こ
のサンドイッチ型には超伝導材料にコヒーレンス長さの
長いNbを、トンネルバリアに酸化アルミなどを用いて
いた。またトンネルバリアは蒸着法やスパッタ法により
形成していた。
[発明が解決しようとする課題]
しかし臨界温度が液体窒素を大幅に越え使い易くなると
共にエネルギーギャップが大きく半導体との融合や高速
スイッチ化が図れると考えられている酸化物超伝導材料
のサンドイッチ型デバイスはまだ完成していない。その
原因は酸化物超伝導材料のコヒーレンス長さがNbに比
べ1/10以下と極端に短いためである。コヒーレンス
長さが短いためトンネルバリアの厚みも薄くする必要が
あり蒸着法やスパッタ法などにより絶縁膜等を形成して
トンネルバリアとする方法はNb系でも高度な成膜技術
を必要としたのに更に薄くするため膜厚の制御やピンホ
ールの抑制が非常に困難となる。
共にエネルギーギャップが大きく半導体との融合や高速
スイッチ化が図れると考えられている酸化物超伝導材料
のサンドイッチ型デバイスはまだ完成していない。その
原因は酸化物超伝導材料のコヒーレンス長さがNbに比
べ1/10以下と極端に短いためである。コヒーレンス
長さが短いためトンネルバリアの厚みも薄くする必要が
あり蒸着法やスパッタ法などにより絶縁膜等を形成して
トンネルバリアとする方法はNb系でも高度な成膜技術
を必要としたのに更に薄くするため膜厚の制御やピンホ
ールの抑制が非常に困難となる。
今後超伝導材料の臨界温度はより高くなるものと思われ
るが臨界温度が高くなるに従いコヒーレンス長さはより
短くなるため更に上記点は大きな問題となる。
るが臨界温度が高くなるに従いコヒーレンス長さはより
短くなるため更に上記点は大きな問題となる。
本発明はこの様な問題を解決するものであり、高臨界温
度で使い安く高速スイッチ化が図れ且半導体との融合が
可能等、超伝導材料の持つ特性を引き出したトンネル素
子を容易に得んとするものである。
度で使い安く高速スイッチ化が図れ且半導体との融合が
可能等、超伝導材料の持つ特性を引き出したトンネル素
子を容易に得んとするものである。
[課題を解決するための手段]
上記の問題を解決するため本発明のトンネル素子は1)
超伝導電極の表面部を不活性ガス雰囲気中でプラズマ処
理し、その表面部を絶縁層または半導体層に変えた後そ
の上にもう一方の超伝導または金属電極を形成して成る
ことを特徴とする。
超伝導電極の表面部を不活性ガス雰囲気中でプラズマ処
理し、その表面部を絶縁層または半導体層に変えた後そ
の上にもう一方の超伝導または金属電極を形成して成る
ことを特徴とする。
[実施例]
以下実施例に従い本発明を説明する。
先ず最初に第1図に示すように単結晶SrTiO3基板
1上に反応蒸着法によりHo1Ba2Cu30Y膜(以
後下部電極2とする〉を250nm形成する。
1上に反応蒸着法によりHo1Ba2Cu30Y膜(以
後下部電極2とする〉を250nm形成する。
成膜は蒸発原料にそれぞれHo、Ba、Cuの金属を用
い、蒸発はBaのみ電子ビーム、他の金属はKnuds
enセルにより行なった。条件は初期真空度2*10−
’Torr、成膜中真空度3〜9*10−’Torr、
基板温度560〜650℃、成膜速度20〜35nm/
minであり、酸素の供給はマイクロ* (ECR)で
活性化した酸素プラズマを基板部に成膜中に照射して行
う。この工程で得られた下部電極2はX線回折、RHE
ED分析、4端子法抵抗測定によるとエピタキシャル成
長した89〜91にの超伝導膜であった。
い、蒸発はBaのみ電子ビーム、他の金属はKnuds
enセルにより行なった。条件は初期真空度2*10−
’Torr、成膜中真空度3〜9*10−’Torr、
基板温度560〜650℃、成膜速度20〜35nm/
minであり、酸素の供給はマイクロ* (ECR)で
活性化した酸素プラズマを基板部に成膜中に照射して行
う。この工程で得られた下部電極2はX線回折、RHE
ED分析、4端子法抵抗測定によるとエピタキシャル成
長した89〜91にの超伝導膜であった。
次に下部電極2の一部をレジストによりマスキングした
後プラズマリアクターを用い下部電極2の表面をプラズ
マ処理する。プラズマ処理によりプラズマに晒された部
分は還元されるとともに構造を一部破壊され半導体層か
絶縁層3になる。この層の厚さはプラズマ処理の出力を
抑えた状態では処理時間の設定で自由に精度良く変えら
れる。
後プラズマリアクターを用い下部電極2の表面をプラズ
マ処理する。プラズマ処理によりプラズマに晒された部
分は還元されるとともに構造を一部破壊され半導体層か
絶縁層3になる。この層の厚さはプラズマ処理の出力を
抑えた状態では処理時間の設定で自由に精度良く変えら
れる。
尚使用するガスはヘリウムやアルゴン等不活性ガスある
。塩素ガスやフッ素系ガス等エツチング力の強いガスは
超伝導部の還元や構造破壊を高精度に制御出来ないため
好ましくない。
。塩素ガスやフッ素系ガス等エツチング力の強いガスは
超伝導部の還元や構造破壊を高精度に制御出来ないため
好ましくない。
次にメタルマスクをした後絶縁層3上にAuを電子ビー
ム蒸着により厚さ、成膜速度それぞれ6nm、6nm/
minで成膜し中間層4を形成する。この中間層4は後
に形成するHo1Ba2Cu30Y膜を成膜する過程で
絶縁層3が酸化し超伝導体に戻らないよう防止する為の
ものである。後工程に於て可逆変化を起こさない超伝導
材料を用いる場合はこの中間層4は必要ない。
ム蒸着により厚さ、成膜速度それぞれ6nm、6nm/
minで成膜し中間層4を形成する。この中間層4は後
に形成するHo1Ba2Cu30Y膜を成膜する過程で
絶縁層3が酸化し超伝導体に戻らないよう防止する為の
ものである。後工程に於て可逆変化を起こさない超伝導
材料を用いる場合はこの中間層4は必要ない。
次に下部電極2と同様に反応蒸着法によりHo1Ba2
Cu30Y膜(以後上部電極5とする)を1100n形
成する。
Cu30Y膜(以後上部電極5とする)を1100n形
成する。
条件は初期真空度2*10−”Torr、成膜中真空度
7〜9110−’Torr、 基板温度560℃、成
膜速度20〜25nm/minであり、酸素の供給はマ
イクロ波(ECR)で活性化した酸素プラズマを成膜中
に照射して行う、また成膜後はチャンバー内に酸素を圧
力2Torrまで導入し560℃で30分ホールドした
後徐冷した。
7〜9110−’Torr、 基板温度560℃、成
膜速度20〜25nm/minであり、酸素の供給はマ
イクロ波(ECR)で活性化した酸素プラズマを成膜中
に照射して行う、また成膜後はチャンバー内に酸素を圧
力2Torrまで導入し560℃で30分ホールドした
後徐冷した。
この様にして得られた素子のI −V、特性とマイクロ
波照射特性を調べた。
波照射特性を調べた。
その結果I−V特性では超伝導ジョセフソン電流がマイ
クロ波照射特性ではシャピロステップ(VSTEP=
n−f −h/ 2 eを満足していた。ここでfはマ
イクロ波周波数、n=o、 ±1.±2゜±3・・・
hはブランク定数、eは電気素量である。)が見られ
ジョセフソン素子となっていることが確認された。
クロ波照射特性ではシャピロステップ(VSTEP=
n−f −h/ 2 eを満足していた。ここでfはマ
イクロ波周波数、n=o、 ±1.±2゜±3・・・
hはブランク定数、eは電気素量である。)が見られ
ジョセフソン素子となっていることが確認された。
尚ここではジョセフソン素子で説明したが超伝導ベース
トランジスタ、準粒子トンネル効果素子等トンネルバリ
アを形成するものであれば効果は同じであり何等差し支
えない。
トランジスタ、準粒子トンネル効果素子等トンネルバリ
アを形成するものであれば効果は同じであり何等差し支
えない。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば精度良くトンネルバリ
アを形成できるためコヒーレンス長さの短い超伝導材料
を用いても容易にトンネル素子を得られる。そのため超
伝導材料の持つ高臨界温度で使い安く、高速スイッチ化
が図れ且半導体との融合が可能等の有効な特性を引き出
すことが出来
アを形成できるためコヒーレンス長さの短い超伝導材料
を用いても容易にトンネル素子を得られる。そのため超
伝導材料の持つ高臨界温度で使い安く、高速スイッチ化
が図れ且半導体との融合が可能等の有効な特性を引き出
すことが出来
第1図は絶縁層形成までの膜の断面図。
第2図はトンネル素子の断面図。
1・・・基板
2・・・下部電極
3・・・絶縁層
4・・・中間層
5・・・上部電極
以上
Claims (1)
- (1)超伝導電極の表面部を不活性ガス雰囲気中でプラ
ズマ処理し、その表面部を絶縁層または半導体層に変え
た後その上にもう一方の超伝導または金属電極を形成し
て成ることを特徴とするトンネル素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1171431A JPH0335571A (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | トンネル素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1171431A JPH0335571A (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | トンネル素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0335571A true JPH0335571A (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=15923000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1171431A Pending JPH0335571A (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | トンネル素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0335571A (ja) |
-
1989
- 1989-07-03 JP JP1171431A patent/JPH0335571A/ja active Pending
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