JPH0335932A - 加工状態報知装置 - Google Patents
加工状態報知装置Info
- Publication number
- JPH0335932A JPH0335932A JP16960589A JP16960589A JPH0335932A JP H0335932 A JPH0335932 A JP H0335932A JP 16960589 A JP16960589 A JP 16960589A JP 16960589 A JP16960589 A JP 16960589A JP H0335932 A JPH0335932 A JP H0335932A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- machining
- discharge
- state
- signal
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、加工状態に応じて表示などを行う加工状態報
知装置に関する。
知装置に関する。
(従来の技術)
放電加工にはワイヤ放電加工や形彫り放電加工などがあ
るが、このうち例えばワイヤ放電加工について説明する
と、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間隔おい
て配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工槽の中
に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との間に直
流電圧を印加する。そして、例えばワイヤ電極を被加工
物に接近させてそのギャップ量が所定量になるとワイヤ
電極と被加工物との間に放電が発生する。しかるに、こ
の放電エネルギーによって被加工物は加工される。
るが、このうち例えばワイヤ放電加工について説明する
と、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間隔おい
て配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工槽の中
に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との間に直
流電圧を印加する。そして、例えばワイヤ電極を被加工
物に接近させてそのギャップ量が所定量になるとワイヤ
電極と被加工物との間に放電が発生する。しかるに、こ
の放電エネルギーによって被加工物は加工される。
このようなワイヤak 71i加工では加工状態の良否
が判断されるが、この判断は放電状態の良否から判断し
ており、この良否の判断は次のような方法によって行わ
れている。すなわち、 ■作業員が放電柱を目視し、この放電柱の輝度から経験
や勘によって放電状態の良好を判断する。
が判断されるが、この判断は放電状態の良否から判断し
ており、この良否の判断は次のような方法によって行わ
れている。すなわち、 ■作業員が放電柱を目視し、この放電柱の輝度から経験
や勘によって放電状態の良好を判断する。
■作業員が放電の片を聞き、この放電の片から経験や勘
によって放電状態の良好を判断する。
によって放電状態の良好を判断する。
■ワイヤ放電用り装置にオンロスコープが61えられC
いれば、このオンロスコープに例えばワイヤ電極と彼加
[物との間の印加電圧及び放電電流の波1じを表示させ
、これら印加電圧及び放電電流から放電状態を判断する
。
いれば、このオンロスコープに例えばワイヤ電極と彼加
[物との間の印加電圧及び放電電流の波1じを表示させ
、これら印加電圧及び放電電流から放電状態を判断する
。
■・ノイヤ放電加工装置に予め放電状、態の良否の払準
か設定されていれば、この誌準に従って放電状ずきをt
ll Iliする。
か設定されていれば、この誌準に従って放電状ずきをt
ll Iliする。
しかしながら、上記各方法では放電の正常及び1/、j
常状態は判別できるものの、現在行なわれている放電加
工が荒加工なのか、或いは仕上げ加工なのかtri別で
きない。さらに、これら荒加工、仕上げ加工に応じて放
電加工状態、例えば未放電パルスの発生割合などを表示
することは不可能であ−〕た。なお、このことはワイヤ
放電加工に限らず放電用」ニー酸に言えることである。
常状態は判別できるものの、現在行なわれている放電加
工が荒加工なのか、或いは仕上げ加工なのかtri別で
きない。さらに、これら荒加工、仕上げ加工に応じて放
電加工状態、例えば未放電パルスの発生割合などを表示
することは不可能であ−〕た。なお、このことはワイヤ
放電加工に限らず放電用」ニー酸に言えることである。
(発明が解決しようとする課題)
以上のように現在行なわれている放電加工が荒加工なの
か、或いは仕上げ加工なのかの放電加工状態の判別でき
ず、これら荒加工、仕上げ加圧に応した放電加工状態の
表示が困難であった。
か、或いは仕上げ加工なのかの放電加工状態の判別でき
ず、これら荒加工、仕上げ加圧に応した放電加工状態の
表示が困難であった。
そこで本発明は、放電加工状態が判別できてこの放電加
工状態に応じた放電加工状態の表示ができる加工状態報
知装置を堤供することを1−1的とする。
工状態に応じた放電加工状態の表示ができる加工状態報
知装置を堤供することを1−1的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、放電加工機器・\の族71S?8圧及び放電
電流を検出する検出器と、この検出器からの検出信号を
一定間隔毎の信号採取期間において所定のサンプリング
周期で同時にディジタル変換して取込む信号採取手段と
、この信号採取手段で採取されたディジタル検出信号の
ピーク値を求めてこのピーク値とPめ設定されたしきい
値とを比較して加工[、状態を判定する加工状態判定手
段と、信号採取手段で採取されたディジタル検出信号の
ピーク値を求め゛にのピーク値に応じて測定レンジを設
定変更するとともに信号採取手段におけるサンプリング
周期を変更設定するレンジ変更手段と、このレンジ責更
″[段で変更設定されたサンプリング周期で採取された
ディジタル検出信号から放電用[機器での放電状態を解
析するとともにこの解扛1結果をレンジ変更手段で変更
設定された測定レンジでかつ加工状態判定手段で判定さ
れた加工状態とともに報知する加工状B報知手段とを備
えて上記目的を達成しようとする加工状態報知装置であ
る。
電流を検出する検出器と、この検出器からの検出信号を
一定間隔毎の信号採取期間において所定のサンプリング
周期で同時にディジタル変換して取込む信号採取手段と
、この信号採取手段で採取されたディジタル検出信号の
ピーク値を求めてこのピーク値とPめ設定されたしきい
値とを比較して加工[、状態を判定する加工状態判定手
段と、信号採取手段で採取されたディジタル検出信号の
ピーク値を求め゛にのピーク値に応じて測定レンジを設
定変更するとともに信号採取手段におけるサンプリング
周期を変更設定するレンジ変更手段と、このレンジ責更
″[段で変更設定されたサンプリング周期で採取された
ディジタル検出信号から放電用[機器での放電状態を解
析するとともにこの解扛1結果をレンジ変更手段で変更
設定された測定レンジでかつ加工状態判定手段で判定さ
れた加工状態とともに報知する加工状B報知手段とを備
えて上記目的を達成しようとする加工状態報知装置であ
る。
(作 用)
このような手段を備λたことにより、放電側1、機器・
\の放電電圧及び放電電流が検出されて信号採取1段に
よりディジタル変換されて取り込まれ、加工状態判定手
段によりディジタル検出信号のピーク値としきい値とが
比較されて加J二状聾が111定されるとともに、レン
ジ変更手段により電流ピーク値に応じて測定レンジ及び
信号採取手段におけるサンプリング周期が変更設定され
る。そして、変更設定されたサンプリング周期で採取さ
れたディジタル検出信号から加工状!r3報知手段はh
k電JJI工機器での放電状態を解析するとともにこの
解析結果をレンジ変更手段で変更設定された測定レンジ
でかつ加工状態判定手段で判定された加工状態とともに
報知する。
\の放電電圧及び放電電流が検出されて信号採取1段に
よりディジタル変換されて取り込まれ、加工状態判定手
段によりディジタル検出信号のピーク値としきい値とが
比較されて加J二状聾が111定されるとともに、レン
ジ変更手段により電流ピーク値に応じて測定レンジ及び
信号採取手段におけるサンプリング周期が変更設定され
る。そして、変更設定されたサンプリング周期で採取さ
れたディジタル検出信号から加工状!r3報知手段はh
k電JJI工機器での放電状態を解析するとともにこの
解析結果をレンジ変更手段で変更設定された測定レンジ
でかつ加工状態判定手段で判定された加工状態とともに
報知する。
(実施例)
以下、本発明の一実施例について図面をe !!jtし
て説明する。
て説明する。
第1図はワイヤ加工機器に適用した加工状態報知装置の
全体構成図である。加工槽1の内部には被加工物2が浸
透され、この被加工物2には所定間隔をおいてワイヤ電
極3が配置されている。なお、このワイヤ電極3は上部
ワイヤガイド体4及び図示しない下部ワイヤガイド体に
より支持されている。これら被加工物2とワイヤ電極3
との間には放電制御回路5を介して直流電源6が接続さ
れて放電回路を形成している。この場合、直流電源6は
正極を被加工物2に接続している。かかる放電回路には
電圧検出器7が直流電源6に対して並列接続されるとと
もに電流検出器8が直流電源6に対して直列接続されて
いる。
全体構成図である。加工槽1の内部には被加工物2が浸
透され、この被加工物2には所定間隔をおいてワイヤ電
極3が配置されている。なお、このワイヤ電極3は上部
ワイヤガイド体4及び図示しない下部ワイヤガイド体に
より支持されている。これら被加工物2とワイヤ電極3
との間には放電制御回路5を介して直流電源6が接続さ
れて放電回路を形成している。この場合、直流電源6は
正極を被加工物2に接続している。かかる放電回路には
電圧検出器7が直流電源6に対して並列接続されるとと
もに電流検出器8が直流電源6に対して直列接続されて
いる。
一方、10は報知装置本体であって、この報知装置本体
10にはアッテネータ(ATT)11゜12が備えられ
て一方のアッテネータ11に電圧検出器7が接続され、
他方のアッテネータ12に電流検出器8が接続されてい
る。これらアッテネータ11..12にはそれぞれメモ
リが内蔵された&A/D (アナログ/ディジタル)変
換器13゜14が接続され、これらA/D変換器13.
14はバス15を介してCPU (中央処理装置)16
に接続されている。このCPU16にはバス15を介し
てタイミングコントローラ17、RAM(ランダム・ア
クセス・メモリ)18、ROM(リード・オンリ・メモ
リ)19及び表示駆動部20が接続されている。タイミ
ングコントローラ17はA/D変換器13.14におけ
る信号取込みタイミングを制御するものである。又、表
示駆動部20には表示器21が接続されている。
10にはアッテネータ(ATT)11゜12が備えられ
て一方のアッテネータ11に電圧検出器7が接続され、
他方のアッテネータ12に電流検出器8が接続されてい
る。これらアッテネータ11..12にはそれぞれメモ
リが内蔵された&A/D (アナログ/ディジタル)変
換器13゜14が接続され、これらA/D変換器13.
14はバス15を介してCPU (中央処理装置)16
に接続されている。このCPU16にはバス15を介し
てタイミングコントローラ17、RAM(ランダム・ア
クセス・メモリ)18、ROM(リード・オンリ・メモ
リ)19及び表示駆動部20が接続されている。タイミ
ングコントローラ17はA/D変換器13.14におけ
る信号取込みタイミングを制御するものである。又、表
示駆動部20には表示器21が接続されている。
ROM19には、取込んだ放電電圧及び放電電流から放
電開始時刻や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔
など放電データを求め、この放電データから放電の良否
を判断する内容の放電解析プログラムが記憶されている
。又、ROM19には、タイミングコントローラ17で
のA/D変換器13.14に対する信号採取タイミング
プログラムが記憶されている。しかるに、この信号採取
タイミングプログラムにより&A/D変換器13゜14
は例えばxns又はyns毎に同時に電圧検出信号、電
流検出信号をそれぞれ8ビツトにディジタル変換して取
り込んで1回の信号採取期間で例えば1024〜655
36 Bのデータを採取するものとなる。
電開始時刻や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔
など放電データを求め、この放電データから放電の良否
を判断する内容の放電解析プログラムが記憶されている
。又、ROM19には、タイミングコントローラ17で
のA/D変換器13.14に対する信号採取タイミング
プログラムが記憶されている。しかるに、この信号採取
タイミングプログラムにより&A/D変換器13゜14
は例えばxns又はyns毎に同時に電圧検出信号、電
流検出信号をそれぞれ8ビツトにディジタル変換して取
り込んで1回の信号採取期間で例えば1024〜655
36 Bのデータを採取するものとなる。
そうして、この信号採取期間の間隔は一定期間ΔH毎に
設定されている。これにより、各A/D変換器13,1
4、CPU16、タイミングコントローラ17及びRO
M19により信号採取手段が構成されている。
設定されている。これにより、各A/D変換器13,1
4、CPU16、タイミングコントローラ17及びRO
M19により信号採取手段が構成されている。
さらに、ROM19には、採取したディジタル電圧検出
信号及びディジタル電流検出信号のピーク値を求め、こ
のピーク値と予め設定されたしきい値とを比較してピー
ク値がしきい値よりも大きければ荒加工と判定し、ピー
ク値がしきい値よりも小さければ仕上げ加工と判定する
加工状態判定プログラムと、採取したディジタル電圧検
出器7叉はディジタル電流検出13号から放電電圧又は
放電電流の各ピーク値を求め、これらピーク値が各A/
D変換器13.14で取り込む際の測定レンジのフルス
ケールに対して所定の割合例えば40%以上となる各測
定レンジに設定変更するとともに、上記判定された加工
状態が荒加工であればA/D変換器13.14でのサン
プリング周期をxnsに設定変更し、又仕上げ加工であ
ればA/D変換器13.14でのサンプリング周期をy
nsに設定変更するレンジ変更プログラムとが記憶され
ている。
信号及びディジタル電流検出信号のピーク値を求め、こ
のピーク値と予め設定されたしきい値とを比較してピー
ク値がしきい値よりも大きければ荒加工と判定し、ピー
ク値がしきい値よりも小さければ仕上げ加工と判定する
加工状態判定プログラムと、採取したディジタル電圧検
出器7叉はディジタル電流検出13号から放電電圧又は
放電電流の各ピーク値を求め、これらピーク値が各A/
D変換器13.14で取り込む際の測定レンジのフルス
ケールに対して所定の割合例えば40%以上となる各測
定レンジに設定変更するとともに、上記判定された加工
状態が荒加工であればA/D変換器13.14でのサン
プリング周期をxnsに設定変更し、又仕上げ加工であ
ればA/D変換器13.14でのサンプリング周期をy
nsに設定変更するレンジ変更プログラムとが記憶され
ている。
さらに、ROM19には変更設定されたサンプリング周
期で採取されたディジタル電圧検出信号又はディジタル
電流検出信号からワイヤ放電加工での放電状態を解析す
るとともにこの解析結果を変更設定された測定レンゲで
かつ判定された加工状態とともに表示器21に表示させ
る加工状態報知プログラムが記憶されている。
期で採取されたディジタル電圧検出信号又はディジタル
電流検出信号からワイヤ放電加工での放電状態を解析す
るとともにこの解析結果を変更設定された測定レンゲで
かつ判定された加工状態とともに表示器21に表示させ
る加工状態報知プログラムが記憶されている。
次に上記の如く構成された装置の作用について第2図に
示す放電状態表示流れ図を参照して説明する。
示す放電状態表示流れ図を参照して説明する。
CPU16はステップslにおいて′Ap+定範囲が最
大の測定レンジ、例えば電流の測定範囲が0〜1000
Aで電圧の測定範囲が0〜100OVの測定レンジに設
定する。これにより、各A/D変換器13゜14は例え
ば電流検出信号を測定範囲0−1000Aにおいて8ビ
ツトでディジタル変換することになる。
大の測定レンジ、例えば電流の測定範囲が0〜1000
Aで電圧の測定範囲が0〜100OVの測定レンジに設
定する。これにより、各A/D変換器13゜14は例え
ば電流検出信号を測定範囲0−1000Aにおいて8ビ
ツトでディジタル変換することになる。
次にCPU16はステップs2に移って電圧検出信号及
び電流検出信号を採取する。すなわち、被加工物2とワ
イヤ電極3との間に直流電源6から放電制御回路5を通
してパルス直流電圧が印加され、この状態に被加工物2
とワイヤ電極3とのギャップ量が所定量となると、被加
工物2とワイヤ電極3 極3との間にパルス放電が発生
ずる。このパルス放電のエネ/l、ギにより被加工物2
は加工される。
び電流検出信号を採取する。すなわち、被加工物2とワ
イヤ電極3との間に直流電源6から放電制御回路5を通
してパルス直流電圧が印加され、この状態に被加工物2
とワイヤ電極3とのギャップ量が所定量となると、被加
工物2とワイヤ電極3 極3との間にパルス放電が発生
ずる。このパルス放電のエネ/l、ギにより被加工物2
は加工される。
この状態に電圧検出器7は被加工物2とワイヤ71it
!IA3との間に印加されたパルス直流電圧を検出して
その電圧検出信号を出力し、又電流検出器8は被加工物
2からワイヤ電極3に流れたパルス放電電流を検出して
その電流検出信号を出力する。
!IA3との間に印加されたパルス直流電圧を検出して
その電圧検出信号を出力し、又電流検出器8は被加工物
2からワイヤ電極3に流れたパルス放電電流を検出して
その電流検出信号を出力する。
これら電圧検出信号及び電流検出信号はそれぞれアッテ
ネータ11,1.2で処理しやすいレベルに減衰されて
A 、/ D変換器13.14に人力する。
ネータ11,1.2で処理しやすいレベルに減衰されて
A 、/ D変換器13.14に人力する。
このとき、各A / D を換u13.14は共にタイ
ミングコントローラ17により制御されて第3図に示す
各信号採取期間H,,H2・・においてそれぞれ例えば
50ns毎に同時に電圧検出信号、電流検出信(lをそ
れぞれ上記電圧範囲0〜1ooov、電流範l!lI0
〜ll100AのA)J定しンジで8ビツトにディジタ
ル変換して取込む。これにより、1回の信号採取期間例
えば信号採取期間Hlにおいて例えば1024〜055
38 Bのデータが取込まれる。そして、この信号採取
期間H,,H2・・・が−発明間ごとに到来する。この
ようにして1回の信号1″A取JOj間例えばHlで取
込んだディジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号
はそれぞれ各A/D変換器13.14内のメモリに一時
記憶され、信号採取期間Hlの経過の後にCPU16に
よってRA M2Sに移されて記憶される。そうして、
次の信号採取期間H2になって各A/D変換器13.1
4にディジタル電圧検出信号及びディジタル電流l3号
が一時:i2憶されると、CPU16は上記ll11様
に信号採取期間H2の経過の後にディジタル7じ圧検出
信号及びディジタル電流信月をRAM18に移して記憶
する。
ミングコントローラ17により制御されて第3図に示す
各信号採取期間H,,H2・・においてそれぞれ例えば
50ns毎に同時に電圧検出信号、電流検出信(lをそ
れぞれ上記電圧範囲0〜1ooov、電流範l!lI0
〜ll100AのA)J定しンジで8ビツトにディジタ
ル変換して取込む。これにより、1回の信号採取期間例
えば信号採取期間Hlにおいて例えば1024〜055
38 Bのデータが取込まれる。そして、この信号採取
期間H,,H2・・・が−発明間ごとに到来する。この
ようにして1回の信号1″A取JOj間例えばHlで取
込んだディジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号
はそれぞれ各A/D変換器13.14内のメモリに一時
記憶され、信号採取期間Hlの経過の後にCPU16に
よってRA M2Sに移されて記憶される。そうして、
次の信号採取期間H2になって各A/D変換器13.1
4にディジタル電圧検出信号及びディジタル電流l3号
が一時:i2憶されると、CPU16は上記ll11様
に信号採取期間H2の経過の後にディジタル7じ圧検出
信号及びディジタル電流信月をRAM18に移して記憶
する。
このようにディジタル電圧検出信号及びディジタル電流
信号が取込まれてRA M 18に記憶され、数「(j
lの信号採取期間が終了すると、cptz6はステップ
m3に移って加工状態を判定する。すなわち、CP U
1.6は第4図に示す加工状態判定流れ図に従ってそ
のステップ「1においてRAM18に記憶されたディジ
タル電流検出信号から電流ビク値を求め、次のステップ
m3においてこの電流ピーク値としきい値とを比較する
。この比較により、電流ビーク値がしきい値よりも大き
ければ、CPU16はステップ1″3に移って現在行な
われていS R’l電加主加工加工と判断し、又電流ピ
ーク値がしきい値よりも大きければ、CPU16はステ
ップm3に移って放電加工は仕上げ加工と11断する。
信号が取込まれてRA M 18に記憶され、数「(j
lの信号採取期間が終了すると、cptz6はステップ
m3に移って加工状態を判定する。すなわち、CP U
1.6は第4図に示す加工状態判定流れ図に従ってそ
のステップ「1においてRAM18に記憶されたディジ
タル電流検出信号から電流ビク値を求め、次のステップ
m3においてこの電流ピーク値としきい値とを比較する
。この比較により、電流ビーク値がしきい値よりも大き
ければ、CPU16はステップ1″3に移って現在行な
われていS R’l電加主加工加工と判断し、又電流ピ
ーク値がしきい値よりも大きければ、CPU16はステ
ップm3に移って放電加工は仕上げ加工と11断する。
次にCP U ]、 6はステップm4において測定レ
ノ2′を設定する。すなわち、CPU16は第5図に、
六すレンジ変更流れ図に従ってそのステップm3におい
てRAM18に記憶された各ディジタル電圧検出信号及
びディジタル電流信号から電流ピーク及び電圧ピークを
求める。次にCPU16はステップ1i2において電流
ピーク値が、1P1定レンジの電流範囲0〜100OA
に対して所定割合例えば40%以上であるかを判断する
。ここで、電流ピーク値が第6図に示すように150A
であると、この電流ピーク値は電流範囲0〜100OA
に対して40%以下であるので、CPU16はステップ
m3に移ってM1定レンジを1レンジダウンさせて第7
図に示すような電流範囲O〜400 AのlP1定レン
ジに変更する。FirびCPU16はステップ112に
おいてtS電流ピーク値測定レンジの電流範囲0〜40
0Aに対して40%以上であるかを判断する。この場合
も電流ピーク値は電流範囲O〜400 Aに対して40
96以下であるので、CPU16は再びステップm3に
移ってAl1j定レンジをさらに1レンジダウンさせて
第8図に示すような電流範囲O〜20OAのApl定レ
アレンジ更する。かくして、電流ピーク値は電流範囲0
〜20OAに対して40%以上となり、電流範囲の1%
1定レンジは0〜200Aに設定される。次にCPU1
6はステップm4及び−5において電流範囲のAPI定
レアレンジ定したのと同様に電圧に対する測定レンジを
設定する。
ノ2′を設定する。すなわち、CPU16は第5図に、
六すレンジ変更流れ図に従ってそのステップm3におい
てRAM18に記憶された各ディジタル電圧検出信号及
びディジタル電流信号から電流ピーク及び電圧ピークを
求める。次にCPU16はステップ1i2において電流
ピーク値が、1P1定レンジの電流範囲0〜100OA
に対して所定割合例えば40%以上であるかを判断する
。ここで、電流ピーク値が第6図に示すように150A
であると、この電流ピーク値は電流範囲0〜100OA
に対して40%以下であるので、CPU16はステップ
m3に移ってM1定レンジを1レンジダウンさせて第7
図に示すような電流範囲O〜400 AのlP1定レン
ジに変更する。FirびCPU16はステップ112に
おいてtS電流ピーク値測定レンジの電流範囲0〜40
0Aに対して40%以上であるかを判断する。この場合
も電流ピーク値は電流範囲O〜400 Aに対して40
96以下であるので、CPU16は再びステップm3に
移ってAl1j定レンジをさらに1レンジダウンさせて
第8図に示すような電流範囲O〜20OAのApl定レ
アレンジ更する。かくして、電流ピーク値は電流範囲0
〜20OAに対して40%以上となり、電流範囲の1%
1定レンジは0〜200Aに設定される。次にCPU1
6はステップm4及び−5において電流範囲のAPI定
レアレンジ定したのと同様に電圧に対する測定レンジを
設定する。
次にCPU16はステップm6に移って上記判断された
放電加工状態が荒加工であるが仕上げ加11であるかを
判断し、荒加工であればステップm7に移って各A/D
変換器13.14でのサンプリング周期をxnsに設定
し、仕上げ加圧であればステラフ1Bに移って各A/D
変換器13.14でのすンプリング周期をynsに設定
する。第9図はかかるサンプリング周期xns、yns
での例えば放電電流のサンプリングタイミングを示して
いる。
放電加工状態が荒加工であるが仕上げ加11であるかを
判断し、荒加工であればステップm7に移って各A/D
変換器13.14でのサンプリング周期をxnsに設定
し、仕上げ加圧であればステラフ1Bに移って各A/D
変換器13.14でのすンプリング周期をynsに設定
する。第9図はかかるサンプリング周期xns、yns
での例えば放電電流のサンプリングタイミングを示して
いる。
この後、CPU16はステップS5に移って放電加工状
態が荒加工であれば、各信号採取期間HH2・・・にお
いてx、ns毎に電流検出信号を電流範囲O〜20OA
のAPI定レンジで8ビツトにディジタル変換して取込
むとともに電圧検出信号を変更設定されたip+定レア
レンジり込む。そうして信号採取期間が数回例えば10
回到来すると、CPU16はステップS6に移って各デ
ィジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号から放電
発生数、放電開始時刻、放電終了時刻、放電電圧、電流
ピーク、電流パルス幅、放電エネルギ及びパルス間隔な
どの放電データを求め、さらにこの放電データから効率
や安定度などを算出する。そして、CPU16はステッ
プS7において放電加工状態例えば荒加工を表示駆動部
20に送って表示器21に表示させるとともに、放電デ
ータ及び効率などを表示駆動部20に送って表示器21
に表示させる。第1O図はかかる表示例であって、〈荒
加工〉が表示されるとともに放電発生数、発生した放電
のうち正常(有効)放電の割合が放電の良否として表示
されている。ここで、放電発生数は荒加工と仕上げ加工
とでは電流及び電圧検出信号のサンプリング周期が異な
っているので、加工に応じたサンプリング周期も表示さ
れる。
態が荒加工であれば、各信号採取期間HH2・・・にお
いてx、ns毎に電流検出信号を電流範囲O〜20OA
のAPI定レンジで8ビツトにディジタル変換して取込
むとともに電圧検出信号を変更設定されたip+定レア
レンジり込む。そうして信号採取期間が数回例えば10
回到来すると、CPU16はステップS6に移って各デ
ィジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号から放電
発生数、放電開始時刻、放電終了時刻、放電電圧、電流
ピーク、電流パルス幅、放電エネルギ及びパルス間隔な
どの放電データを求め、さらにこの放電データから効率
や安定度などを算出する。そして、CPU16はステッ
プS7において放電加工状態例えば荒加工を表示駆動部
20に送って表示器21に表示させるとともに、放電デ
ータ及び効率などを表示駆動部20に送って表示器21
に表示させる。第1O図はかかる表示例であって、〈荒
加工〉が表示されるとともに放電発生数、発生した放電
のうち正常(有効)放電の割合が放電の良否として表示
されている。ここで、放電発生数は荒加工と仕上げ加工
とでは電流及び電圧検出信号のサンプリング周期が異な
っているので、加工に応じたサンプリング周期も表示さ
れる。
このように上記一実施例においては、放電電圧及び放電
電流を検出してこれら放電電圧及び放電電流のピーク値
としきい値とから荒加工か仕上げ加工かを判定し、かつ
ピーク値に応じて測定レンジ及びサンプリング周期を変
更設定し、さらに変更設定されたサンプリング周期で採
取されたディジタル検出信号から放電状態を解析すると
ともにこの解析結果を変更設定されたlpj定レアレン
ジ示するとともに荒加工か仕上げ加工かを表示するよう
にしたので、現在層なわれている放電加工が荒加工であ
るか仕上げ加工であるか容易に確認でき、そのうえ放電
加工の状態が放電発生数や電流ピーク値、効率などから
正確に分かる。従って、荒加工と仕上げ加工とで各検出
信号のサンプリング周期が異なっていても、これら荒加
工及び仕上げ加J二別に放電加工状態を判定できる。
電流を検出してこれら放電電圧及び放電電流のピーク値
としきい値とから荒加工か仕上げ加工かを判定し、かつ
ピーク値に応じて測定レンジ及びサンプリング周期を変
更設定し、さらに変更設定されたサンプリング周期で採
取されたディジタル検出信号から放電状態を解析すると
ともにこの解析結果を変更設定されたlpj定レアレン
ジ示するとともに荒加工か仕上げ加工かを表示するよう
にしたので、現在層なわれている放電加工が荒加工であ
るか仕上げ加工であるか容易に確認でき、そのうえ放電
加工の状態が放電発生数や電流ピーク値、効率などから
正確に分かる。従って、荒加工と仕上げ加工とで各検出
信号のサンプリング周期が異なっていても、これら荒加
工及び仕上げ加J二別に放電加工状態を判定できる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。則えば、信
号採取期間II、H2・・・及びこれら期間H1,H2
・・・におけるサンプリング周期は114に設定して良
い。又、荒加工又は仕上げ加工の加工状態や放電加工の
状態は表示器21に表示するばかりでなくプリンタを設
けてプリントアウトしても良い。さらに、本装置はワイ
ヤ放電加工装置に限らず、形彫り放電加工や電解加工、
さらには電圧信号及び電流信号のサンプリングのレンジ
変更により溶接機やレーザ応用機器、照明機器、スパッ
タリング装置、PVD?CVDのプラズマ加工装置など
の放電応用機器にも適用できる。このうちスパッタリン
グ装置では放電状態を検出することで放電媒体の流量5
!整ができる。
の主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。則えば、信
号採取期間II、H2・・・及びこれら期間H1,H2
・・・におけるサンプリング周期は114に設定して良
い。又、荒加工又は仕上げ加工の加工状態や放電加工の
状態は表示器21に表示するばかりでなくプリンタを設
けてプリントアウトしても良い。さらに、本装置はワイ
ヤ放電加工装置に限らず、形彫り放電加工や電解加工、
さらには電圧信号及び電流信号のサンプリングのレンジ
変更により溶接機やレーザ応用機器、照明機器、スパッ
タリング装置、PVD?CVDのプラズマ加工装置など
の放電応用機器にも適用できる。このうちスパッタリン
グ装置では放電状態を検出することで放電媒体の流量5
!整ができる。
[発明の効果コ
以上詳記したように本発明によれば、放電加工状態が判
別できてこの放電加工状態に応じた放電加工状態の表示
ができる加工状態報知装置を提131−できる。
別できてこの放電加工状態に応じた放電加工状態の表示
ができる加工状態報知装置を提131−できる。
4、図面のffTltitな説明
第1図乃至第10図は本発明に係イつる加工状態報知装
置の一実施例を説明するための図であって、第1図は全
体構成図、第2図は加工状態報知流れ図、第3図は信号
採取期間を示す模式図、第4図は加工状態判定流れ図、
第5図は1(III定レンし変更流れ図、第6図乃至第
8図はilP+定レンジの変更設定を説明するための図
、第9図はサンプリング周期を示す模式図、第1O図は
表示例を示す図である。
置の一実施例を説明するための図であって、第1図は全
体構成図、第2図は加工状態報知流れ図、第3図は信号
採取期間を示す模式図、第4図は加工状態判定流れ図、
第5図は1(III定レンし変更流れ図、第6図乃至第
8図はilP+定レンジの変更設定を説明するための図
、第9図はサンプリング周期を示す模式図、第1O図は
表示例を示す図である。
1・・・加工槽、2・・・被加工物、3・・・ワイヤ電
極、4・・・上部ワイヤガイド体、5・・・放電111
回路、6・・・直流電源、7・・・電圧検出器、8・・
・7tS流検出器、10・・・報知装置本体、11.1
2・・・アッテネータ、13.14・・・A/D変換器
、15・・・バス、16・・・CPU、17・・・タイ
ミングコントローラ、18・・・RAM、19・・・R
OM、20・・・表示駆動部、21・・・表示器。
極、4・・・上部ワイヤガイド体、5・・・放電111
回路、6・・・直流電源、7・・・電圧検出器、8・・
・7tS流検出器、10・・・報知装置本体、11.1
2・・・アッテネータ、13.14・・・A/D変換器
、15・・・バス、16・・・CPU、17・・・タイ
ミングコントローラ、18・・・RAM、19・・・R
OM、20・・・表示駆動部、21・・・表示器。
第
2
ンシ
第
図
第
閃
1
第
図
時間
第
図
時間
第
図
第
図
Claims (1)
- 放電加工機器への放電電圧及び放電電流を検出する検出
器と、この検出器からの検出信号を一定間隔毎の信号採
取期間において所定のサンプリング周期で同時にディジ
タル変換して取込む信号採取手段と、この信号採取手段
で採取されたディジタル検出信号のピーク値を求めてこ
のピーク値と予め設定されたしきい値とを比較して加工
状態を判定する加工状態判定手段と、前記信号採取手段
で採取されたディジタル検出信号のピーク値を求めてこ
のピーク値に応じて測定レンジを設定変更するとともに
前記信号採取手段におけるサンプリング周期を変更設定
するレンジ変更手段と、このレンジ変更手段で変更設定
されたサンプリング周期で採取されたディジタル検出信
号から前記放電加工機器での放電状態を解析するととも
にこの解析結果を前記レンジ変更手段で変更設定された
測定レンジでかつ前記加工状態判定手段で判定された加
工状態とともに報知する加工状態報知手段とを具備した
ことを特徴とする加工状態報知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169605A JP2539044B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 加工状態報知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169605A JP2539044B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 加工状態報知装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0335932A true JPH0335932A (ja) | 1991-02-15 |
| JP2539044B2 JP2539044B2 (ja) | 1996-10-02 |
Family
ID=15889596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1169605A Expired - Lifetime JP2539044B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 加工状態報知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2539044B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6610956B1 (en) | 1998-12-02 | 2003-08-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Device for quality decision of a machining state of an electric spark machine |
| EP2327353A1 (en) | 2009-11-30 | 2011-06-01 | Tyco Healthcare Group LP | Endoscope cover fixing device and fixing system |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6336155A (ja) * | 1986-07-30 | 1988-02-16 | Hioki Denki Kk | 交流測定器のオ−トレンジ装置 |
| JPS645724A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Toshiba Corp | Electric discharge processing machine |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1169605A patent/JP2539044B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6336155A (ja) * | 1986-07-30 | 1988-02-16 | Hioki Denki Kk | 交流測定器のオ−トレンジ装置 |
| JPS645724A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Toshiba Corp | Electric discharge processing machine |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6610956B1 (en) | 1998-12-02 | 2003-08-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Device for quality decision of a machining state of an electric spark machine |
| EP2327353A1 (en) | 2009-11-30 | 2011-06-01 | Tyco Healthcare Group LP | Endoscope cover fixing device and fixing system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2539044B2 (ja) | 1996-10-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101323047B (zh) | 基于电极位移的电阻点焊质量控制装置与方法 | |
| KR101966573B1 (ko) | 축전 장치의 제조 방법, 구조체의 검사 장치 | |
| US6172888B1 (en) | Resistance welding power supply apparatus | |
| CN110441648A (zh) | 一种电信号异常检测方法、装置、设备 | |
| CN101229599B (zh) | 一种数字脉冲电源 | |
| JP2565906B2 (ja) | 放電加工装置 | |
| US8519295B2 (en) | Controller of electrical discharge machine | |
| JPH0335932A (ja) | 加工状態報知装置 | |
| CN113311262B (zh) | 电弧炉三相整流器可控硅触发脉冲的在线检测方法 | |
| JP2509701B2 (ja) | 放電状態表示装置 | |
| JP2597714B2 (ja) | 信号採取装置 | |
| JPH0947883A (ja) | インバータ式抵抗溶接制御装置 | |
| JP3116708B2 (ja) | 放電位置検出方法と放電加工方法 | |
| JPH0335936A (ja) | 放電状態解析装置 | |
| CN213423443U (zh) | 一种星接变压器绕组变形的三相同步频响检测装置 | |
| JP2557929B2 (ja) | 放電加工装置 | |
| JP2645145B2 (ja) | 表面あらさ測定装置 | |
| JPH0335929A (ja) | 信号採取装置 | |
| JPH0757447B2 (ja) | 断線予測装置 | |
| JP2558897B2 (ja) | 自動放電加工装置 | |
| CN112731084A (zh) | 一种变压器测试装置和测试方法 | |
| JPH0716820B2 (ja) | 放電パルスパラメータ検出方法 | |
| JPH0335931A (ja) | 放電解析装置 | |
| JP2588199B2 (ja) | 放電加工装置 | |
| CN119270007B (zh) | 一种负荷串联电弧检测方法、系统及装置 |