JPH0335931A - 放電解析装置 - Google Patents
放電解析装置Info
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- JPH0335931A JPH0335931A JP16960389A JP16960389A JPH0335931A JP H0335931 A JPH0335931 A JP H0335931A JP 16960389 A JP16960389 A JP 16960389A JP 16960389 A JP16960389 A JP 16960389A JP H0335931 A JPH0335931 A JP H0335931A
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- JP
- Japan
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- discharge
- machining
- workpiece
- energy range
- electrode
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、放電加工のギャップなどの状態を表示する放
電解析装置に関する。
電解析装置に関する。
(従来の技術)
例えば放電加工にはワイヤ放電加工や形彫り放電加工な
どがあるが、このうち例えばワイヤ放電加工について説
明すると、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間
隔おいて配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工
槽の中に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との
間に直流電属を印加する。そして、例えばワイヤ電極を
被加工物に接近させてそのギャップ量が所定量になると
ワイヤ電極と被加工物との間に放電が発生する。
どがあるが、このうち例えばワイヤ放電加工について説
明すると、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間
隔おいて配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工
槽の中に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との
間に直流電属を印加する。そして、例えばワイヤ電極を
被加工物に接近させてそのギャップ量が所定量になると
ワイヤ電極と被加工物との間に放電が発生する。
しかるに、この放電エネルギーによって被加工物は加工
される。
される。
このようなワイヤ放電加工では加工状態の良否が判断さ
れるが、この判断は放電状態が正常であるか異常である
かにより判断しており、この判断は次のような方性によ
って行われている。すな4つち、 ■作’fELkが放電柱を[j視し、この放電柱の輝度
から経験や肋によって放電状態を判断する。
れるが、この判断は放電状態が正常であるか異常である
かにより判断しており、この判断は次のような方性によ
って行われている。すな4つち、 ■作’fELkが放電柱を[j視し、この放電柱の輝度
から経験や肋によって放電状態を判断する。
■作業員が放電の音を開き、この放電の音から経験や勘
によって放電状態を判断する。
によって放電状態を判断する。
■ワイヤ枚電加f装置にオシロスコープか備えられてい
れば、このオンロスコープに例えばワイヤ電極と披JJ
II E物との間の放電電圧及びh交電電流の波形を表
2」にさせ、これら放電電圧及び放電電流から放電状態
をt−11断する。
れば、このオンロスコープに例えばワイヤ電極と披JJ
II E物との間の放電電圧及びh交電電流の波形を表
2」にさせ、これら放電電圧及び放電電流から放電状態
をt−11断する。
■ワイヤ族電加二[装置にtめ放電状態の良否のL’;
準か設定されていれば、この基準に従って放電状態をi
11断する。
準か設定されていれば、この基準に従って放電状態をi
11断する。
しかしなから、上記各方法では異常放電は検知できるも
ののそのは頼性は低く、ましてワイヤ電極と彼加1..
物とのギャップ量は全く検出することができない。この
ため、ギャップ量が大きいのか小さいのか判らず、かつ
そのときの放電エネルギら大きいのか小さいのか全く判
らない。従って、これらギャップ量及び放電エネルギを
最適に制御することは困難となっている。
ののそのは頼性は低く、ましてワイヤ電極と彼加1..
物とのギャップ量は全く検出することができない。この
ため、ギャップ量が大きいのか小さいのか判らず、かつ
そのときの放電エネルギら大きいのか小さいのか全く判
らない。従って、これらギャップ量及び放電エネルギを
最適に制御することは困難となっている。
(発明が解決しようとする課題)
以上のようにワイヤ電極と被加工物とのギャップ量及び
放電エネルギを検出することかできず、これらギャップ
量及びIll電電エネルギ最適に制御することが困難と
なっCいる。
放電エネルギを検出することかできず、これらギャップ
量及びIll電電エネルギ最適に制御することが困難と
なっCいる。
そこで本発明は、放電電極と被加工物とのギャップ量及
び放電エネルギをグラフィック化]〜で表示できる放電
解析装置をIに供することを1−1的とする。
び放電エネルギをグラフィック化]〜で表示できる放電
解析装置をIに供することを1−1的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、放′IJS電極と披加に物との間に力l目)
る枚?tS電圧又は放電電極と被加圧物との間に流れる
放電[流のいずれか一方又は両方を検出する検出器と、
この検出器からの検出信号を一定間隔毎の信号採取期間
ごとに所定のサンプリング周期でディジタル変換して取
り込む信号採取手段と、この信号採取手段で採取された
各検出信号から各放電における放?m?IK圧などの放
電データを作成する放電データ作成手段と、この放電デ
ータ作成手段で作成された放電データから放電電極と被
加工物との位置関係を求めるとともにこれら放電11!
極と被加工物との間の加工屑の排出状況に応した加工エ
ネルギ範囲を求めかつこれら位置関係及び加工エネルギ
範囲をグラフィック化して表示する加工状態表示手段と
を備えて上記目的を達成しようとする放電%置である。
る枚?tS電圧又は放電電極と被加圧物との間に流れる
放電[流のいずれか一方又は両方を検出する検出器と、
この検出器からの検出信号を一定間隔毎の信号採取期間
ごとに所定のサンプリング周期でディジタル変換して取
り込む信号採取手段と、この信号採取手段で採取された
各検出信号から各放電における放?m?IK圧などの放
電データを作成する放電データ作成手段と、この放電デ
ータ作成手段で作成された放電データから放電電極と被
加工物との位置関係を求めるとともにこれら放電11!
極と被加工物との間の加工屑の排出状況に応した加工エ
ネルギ範囲を求めかつこれら位置関係及び加工エネルギ
範囲をグラフィック化して表示する加工状態表示手段と
を備えて上記目的を達成しようとする放電%置である。
(作 用)
このような手段を備えたことにより、放電電圧又は11
1電電流のいずれか一方又は両方か検出器されると、こ
の検出信号は信号採取手段によって一定間隔毎の信号採
取期間ごとに所定のサンプリング周期でディジタル変換
して取り込まれ、放電データ作成手段によってこれら採
取された各検出信号から各放電における放電電圧などの
放電データが作成される。そして、この放電データ作成
手段で作成された放電データから加工状態表示手段は放
電電極と被加工物との位置関係を求めるとともにこれら
放電電極と1皮加工物との間の加工屑の排出状況に応し
た加Eエネルギ範囲を求めてグラフィック化して表示す
る。
1電電流のいずれか一方又は両方か検出器されると、こ
の検出信号は信号採取手段によって一定間隔毎の信号採
取期間ごとに所定のサンプリング周期でディジタル変換
して取り込まれ、放電データ作成手段によってこれら採
取された各検出信号から各放電における放電電圧などの
放電データが作成される。そして、この放電データ作成
手段で作成された放電データから加工状態表示手段は放
電電極と被加工物との位置関係を求めるとともにこれら
放電電極と1皮加工物との間の加工屑の排出状況に応し
た加Eエネルギ範囲を求めてグラフィック化して表示す
る。
(実施例)
以下、本発明の一実施例について図面を参N<(して説
明する。
明する。
第1図は放電解析装置の全体横戊図である。加圧搏1の
内部には被加圧物2か浸透されている。
内部には被加圧物2か浸透されている。
この被加工物2には所定間隔をおいてワイヤ電極3が配
置されている。なお、このワイヤ電極3は上部ワイヤガ
イド体4及び図示しないF部ワイヤガイド体により支持
されている。これら被加工物2とワイヤ電極3との間に
は放電制御回路5を介して直流電源6が接続されて放電
回路を形成している。この場合、直流電源6は正極を被
加工物2に接続している。かかる放電回路には電圧検出
器7が直流ISSb2対して並列接続されるとともに電
流検出器8が直流電源6にχ・1して直列接続されてい
る。
置されている。なお、このワイヤ電極3は上部ワイヤガ
イド体4及び図示しないF部ワイヤガイド体により支持
されている。これら被加工物2とワイヤ電極3との間に
は放電制御回路5を介して直流電源6が接続されて放電
回路を形成している。この場合、直流電源6は正極を被
加工物2に接続している。かかる放電回路には電圧検出
器7が直流ISSb2対して並列接続されるとともに電
流検出器8が直流電源6にχ・1して直列接続されてい
る。
一方、10は解析装置本体であって、この解析装置本体
10にはアッテネータ(ATT)11゜12が備えられ
、一方のアッテネータ11に電圧検出器7が接続される
とともに他方のアッテネータ12に電流検出器8が接続
されている。これらアッテネータ11.12にはそれぞ
れメモリが内蔵された各A/D (アナログ/ディジタ
ル)変換器13.14が接続され、これらA/D変換器
13.14はバス15を介してCPU (中央処理装置
)16に接続されている。このCPUI 6にはバス1
5を介してタイミングコントローラ17、RAM (ラ
ンダム・アクセス・メモリ)18、ROM(リード・オ
ンリ・メモリ)1つ及び表示駆動部20が接続されてい
る。タイミングコントローラ17はA/D変換器13.
14における信号取込みタイミングを制御するものであ
る。又、表示駆動部20には表示器21が接続されて表
示器21を表示駆動するものとなっている。ROM1つ
には、取込んだ放電電圧及び放電電流から放電開始時刻
や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔など放電デ
ータを求め、この放電データから放電の良否を判断する
放電解析プログラムが記憶されている。又、ROM19
には、タイミングコントローラ17でのA/D変換器1
3,1.4に対する信号採取タイミングプログラムが記
憶されている。しかるに、この信号採取タイミングプロ
検出(3号、7Mm検出信号をそれぞれ8ビツトにディ
ジタル変換して1回の信号採取肋間で例えば1024〜
[1553G Bのデータを採取するものとなる。
10にはアッテネータ(ATT)11゜12が備えられ
、一方のアッテネータ11に電圧検出器7が接続される
とともに他方のアッテネータ12に電流検出器8が接続
されている。これらアッテネータ11.12にはそれぞ
れメモリが内蔵された各A/D (アナログ/ディジタ
ル)変換器13.14が接続され、これらA/D変換器
13.14はバス15を介してCPU (中央処理装置
)16に接続されている。このCPUI 6にはバス1
5を介してタイミングコントローラ17、RAM (ラ
ンダム・アクセス・メモリ)18、ROM(リード・オ
ンリ・メモリ)1つ及び表示駆動部20が接続されてい
る。タイミングコントローラ17はA/D変換器13.
14における信号取込みタイミングを制御するものであ
る。又、表示駆動部20には表示器21が接続されて表
示器21を表示駆動するものとなっている。ROM1つ
には、取込んだ放電電圧及び放電電流から放電開始時刻
や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔など放電デ
ータを求め、この放電データから放電の良否を判断する
放電解析プログラムが記憶されている。又、ROM19
には、タイミングコントローラ17でのA/D変換器1
3,1.4に対する信号採取タイミングプログラムが記
憶されている。しかるに、この信号採取タイミングプロ
検出(3号、7Mm検出信号をそれぞれ8ビツトにディ
ジタル変換して1回の信号採取肋間で例えば1024〜
[1553G Bのデータを採取するものとなる。
なお、各信号採取期間の間隔は一定間隔ΔH毎に到来す
る。しかるに、各A/D変換器13,1.4、CPU1
6、タイミングコントローラ17及びROM19により
信号採取手段が構成されている。
る。しかるに、各A/D変換器13,1.4、CPU1
6、タイミングコントローラ17及びROM19により
信号採取手段が構成されている。
又、ROM19には放電データ作成プログラム及び加工
状態表示プログラムが記憶されている。これにより、上
記CPU16は第2図に示すように信号採取手段16〜
1、放電データ作成手段16−2及び加工状態表示手段
16−3の各機能を有するものとなる。なお、信号採取
手段16−1は上記の如く信号採取手段の一部の機能を
有したものとなっている。放電データ作成手段16−2
は、信号採取手段で採取されたディジタル電圧検出信号
及びディジタル電流検出信号から各放電における放電電
圧や放電電流などのパラメータから成る放電データを作
成する機能を有するものである。
状態表示プログラムが記憶されている。これにより、上
記CPU16は第2図に示すように信号採取手段16〜
1、放電データ作成手段16−2及び加工状態表示手段
16−3の各機能を有するものとなる。なお、信号採取
手段16−1は上記の如く信号採取手段の一部の機能を
有したものとなっている。放電データ作成手段16−2
は、信号採取手段で採取されたディジタル電圧検出信号
及びディジタル電流検出信号から各放電における放電電
圧や放電電流などのパラメータから成る放電データを作
成する機能を有するものである。
又、加工状態表示手段16−3は放電データ作成手段1
6−2で作成された放電データからワイヤ電極3と被加
工物2との位置関係を求めるとともにこれらワイヤ電極
3と被加工物3との間の加工屑の排出状況に応じたワイ
ヤ電極3からの加工エネルギ範囲を求め、これらワイヤ
電極3と被加工物2との位置関係及び加工エネルギ範囲
をグラフィック化して表示器21に表示する機能を有す
るものである。具体的には位置算出手段16−4と加工
エネルギ算出手段16−5とから構成されている。位置
算出手段16−4はワイヤ電極3と被加工物2とのギャ
ップHFを正常放電の発生数から求めるものである。具
体的には、例えば10回の信号採取期間における正常放
電の電流パルス幅の合計期間Etを求めるとともに同信
号採取期間の合計期間H8を求め、これら合計期間の比
、つまり正常放電のパルス発生間隔Q Q−Ho/E t −(1)を算出
し、続いてギャップHF F−a−W−f (E、 V、発生数)/Q・(2) を算出するものとなっている。ここで、Eは放電エネル
ギであり、f (E)は放電エネルギ中の関数である。
6−2で作成された放電データからワイヤ電極3と被加
工物2との位置関係を求めるとともにこれらワイヤ電極
3と被加工物3との間の加工屑の排出状況に応じたワイ
ヤ電極3からの加工エネルギ範囲を求め、これらワイヤ
電極3と被加工物2との位置関係及び加工エネルギ範囲
をグラフィック化して表示器21に表示する機能を有す
るものである。具体的には位置算出手段16−4と加工
エネルギ算出手段16−5とから構成されている。位置
算出手段16−4はワイヤ電極3と被加工物2とのギャ
ップHFを正常放電の発生数から求めるものである。具
体的には、例えば10回の信号採取期間における正常放
電の電流パルス幅の合計期間Etを求めるとともに同信
号採取期間の合計期間H8を求め、これら合計期間の比
、つまり正常放電のパルス発生間隔Q Q−Ho/E t −(1)を算出
し、続いてギャップHF F−a−W−f (E、 V、発生数)/Q・(2) を算出するものとなっている。ここで、Eは放電エネル
ギであり、f (E)は放電エネルギ中の関数である。
又、川下エネルギ算出手段16−5はワイヤ電極3と被
加工物3との間の加工屑の排出状況に応じた加工エネル
ギ範囲を求めるものである。ところで、実際には加工エ
ネルギとギャップとの間のバランスが加工屑の排出状況
に影響するので、加工の安定性を加工エネルギ範囲とし
て求めている。
加工物3との間の加工屑の排出状況に応じた加工エネル
ギ範囲を求めるものである。ところで、実際には加工エ
ネルギとギャップとの間のバランスが加工屑の排出状況
に影響するので、加工の安定性を加工エネルギ範囲とし
て求めている。
すなわち、加工エネルギ範囲Deは加工屑の量が多けれ
ば小さくなり、少なくなれば大きくなるもので、次式で
表される。
ば小さくなり、少なくなれば大きくなるもので、次式で
表される。
De−F+f (Xs) −(3)し、
かるに、加−tXエネルギ範囲Deに応して範囲指示枠
Kが移動するようになっている。
かるに、加−tXエネルギ範囲Deに応して範囲指示枠
Kが移動するようになっている。
次に」二記の如く構成された装置の作用について参jj
j(シて説明する。
j(シて説明する。
汲加丁物2とワイヤ電極3との間に直流電源6から放電
制御回路5を通して直流電圧が印加され、この状態に彼
加圧物2とワイヤ電極3とのギヤ・ノブ瓜か所定瓜とな
ると、披加圧物2とワイヤ電極3との間にパルス放電が
発生ずる。このパルス放電のLネルギにより披加■物2
は棚!ニされる。
制御回路5を通して直流電圧が印加され、この状態に彼
加圧物2とワイヤ電極3とのギヤ・ノブ瓜か所定瓜とな
ると、披加圧物2とワイヤ電極3との間にパルス放電が
発生ずる。このパルス放電のLネルギにより披加■物2
は棚!ニされる。
この状態に電1i tλ出蒸器7)成用に物2とワイヤ
電極3と(0間の・くルスの8Q ?1i電圧を演出L
5てその電流検出信号を出力し5、叉7G流検出器8は
肢加工物2かJ、ワイヤ7践極3に流れたパルスの放電
電流を検出してその電流検出信号を出力する。これらi
i +r検出信号及び電流検出信号はそれぞれアッテネ
ータ11,1.2で処理しやすいレベルに減衰されて、
A 、/ D変換器13.14に人力する。このとき、
& A % D変換器1′3.14は共にタイミングコ
ントロー−う17により制御されてそれぞれ電圧検出1
3号、電流検出15号をデイシタルナ悦して取込む。つ
まり、各A/D変換器13.14は第3図に示すように
一定間陥ΔH毎の各15号保取明間H,,H2・・・に
おいてそれぞれ例えばxns毎に同時に重圧検出信号、
電流検出信)をそれぞれ8ビットにディジタル変換して
取込む。これにより、1回の信号採取期間例えばf3号
保取明間H、において飼えば1024〜65536 B
のデータか取込まれる。
電極3と(0間の・くルスの8Q ?1i電圧を演出L
5てその電流検出信号を出力し5、叉7G流検出器8は
肢加工物2かJ、ワイヤ7践極3に流れたパルスの放電
電流を検出してその電流検出信号を出力する。これらi
i +r検出信号及び電流検出信号はそれぞれアッテネ
ータ11,1.2で処理しやすいレベルに減衰されて、
A 、/ D変換器13.14に人力する。このとき、
& A % D変換器1′3.14は共にタイミングコ
ントロー−う17により制御されてそれぞれ電圧検出1
3号、電流検出15号をデイシタルナ悦して取込む。つ
まり、各A/D変換器13.14は第3図に示すように
一定間陥ΔH毎の各15号保取明間H,,H2・・・に
おいてそれぞれ例えばxns毎に同時に重圧検出信号、
電流検出信)をそれぞれ8ビットにディジタル変換して
取込む。これにより、1回の信号採取期間例えばf3号
保取明間H、において飼えば1024〜65536 B
のデータか取込まれる。
このように1同の(1竺号採取期間H,,H,・て取込
んたディジタル電圧検出信号及びデイ、rタルtli流
15号はそれぞれ各A/D女換器1’3,141)jの
メモリに一時記憶され、各醒号保取101間■I。
んたディジタル電圧検出信号及びデイ、rタルtli流
15号はそれぞれ各A/D女換器1’3,141)jの
メモリに一時記憶され、各醒号保取101間■I。
H2・の経過の後にCPU16によってRAM18に移
されて記憶される。
されて記憶される。
このようにディジタル電圧検出信号及びディジタル電流
信号が取込まれてRA M 1.8に記憶され、例えば
10回の信号採取期間が終了すると、CPU16の放電
データ作成手段16−2は各ディジタル電圧検出信号及
びディジタル電流信号からそれぞれ放電電圧及び放電電
流の各波形を求め、これら波形からパルスlll114
発生の順番に発生番号rlJ C2J・・ rNJを
付す。そして、CPU】6はこiiら波形から各パルス
放電における放電開始al、 C2−inや枚電終了旧
、 b2・・bn、放電電圧cl、 C2−cn、電流
ピーク旧、 d2・・・dn、本流パルス帖ip1.
C2・・cn、、を電エネルギf’1. C2−1’n
、パルスlUI19Ag1. g2・goなどの各パラ
メータから成る放電データD5求めてテーブル化してR
A〜118に記憶する。
信号が取込まれてRA M 1.8に記憶され、例えば
10回の信号採取期間が終了すると、CPU16の放電
データ作成手段16−2は各ディジタル電圧検出信号及
びディジタル電流信号からそれぞれ放電電圧及び放電電
流の各波形を求め、これら波形からパルスlll114
発生の順番に発生番号rlJ C2J・・ rNJを
付す。そして、CPU】6はこiiら波形から各パルス
放電における放電開始al、 C2−inや枚電終了旧
、 b2・・bn、放電電圧cl、 C2−cn、電流
ピーク旧、 d2・・・dn、本流パルス帖ip1.
C2・・cn、、を電エネルギf’1. C2−1’n
、パルスlUI19Ag1. g2・goなどの各パラ
メータから成る放電データD5求めてテーブル化してR
A〜118に記憶する。
次にCPU16の位置算出手段16−4は予め設定され
た放電限界電圧と12同の信号採取期間における各放電
電圧cl、 C2・・・cnとを比較して放電限界電圧
よりもレベルが低い校本電圧例えばC2を異常放電であ
るアーク放電パルス及び短絡として検出し、放電データ
Dから異清族屯のデータを削除1.てiE常放電の発生
番号のデータのみとする。
た放電限界電圧と12同の信号採取期間における各放電
電圧cl、 C2・・・cnとを比較して放電限界電圧
よりもレベルが低い校本電圧例えばC2を異常放電であ
るアーク放電パルス及び短絡として検出し、放電データ
Dから異清族屯のデータを削除1.てiE常放電の発生
番号のデータのみとする。
次に位置算出手段16−4は正常族7Gの電流パルス躯
cl、 C3,C4・・enの合計期間Etを求めると
ともに12同の信号採取期間H,,H,,・・Hl、の
合31゛期間H1を求め、これら合11期間Et、H,
。
cl、 C3,C4・・enの合計期間Etを求めると
ともに12同の信号採取期間H,,H,,・・Hl、の
合31゛期間H1を求め、これら合11期間Et、H,
。
から1記第(1)式に従−)てパルス発生間隔Qをη出
し、続いて上記第(2)式に従ってワイヤ電+!i3と
披加−L物2とのギYツブm Fを算出する。なお、こ
のギャップmFは表示器21の両面」二の位置となる。
し、続いて上記第(2)式に従ってワイヤ電+!i3と
披加−L物2とのギYツブm Fを算出する。なお、こ
のギャップmFは表示器21の両面」二の位置となる。
次にCPU16の加Lエネルギ見出f1段165は放電
データDから異常放電の発生数を求め、1(〕回の信号
採取期間における全数7B数に対する正営放電の発生数
の比Xsを求める。この賜金、異常放電は次のように分
類されたちのとする。すなわち、上記異常放電が削除さ
れた放電データDから放電電圧を抽出して第4図に示す
ヒストグラムを作成する。このヒストグラムには2つの
正規分布Q1.Q2が現われ、このうち正規分布QIは
ワイヤ電極3と被加工物2との間に加工屑が存在しない
真に正常な放電であり、Q2はワイヤ電極3と被加工物
2との間に加工屑が存在する過渡的な放電となって−い
る。しかるに、異常放電は、先に検出した異常放電(ア
ーク放電パルス及び短絡)に正規分布Q2で分類された
過渡的な放電を加えたものとなる。そして、加工エネル
ギ算出手段16−5は上記第(3)式に従って加工エネ
ルギ範囲Deを算出する。しかして、CPU16はこれ
らギャップJliltF及び加工エネルギ範囲Deを表
示器21にグラフィック化して表示する。すなわち、第
5図乃至第7図はかかる表示例を示し、第5図はワイヤ
電極3が被加工物2の加工面から離れ過ぎている状態で
あって、この場合加工にはまだ放電エネルギについて余
裕がある。又、第6図は範囲指示枠にと被加工物2の面
との各位置がほぼ一致して最良の加工状態となっている
ことを示す。さらに第7図はワイヤ電極3が被加工物2
に接触していたり、又加工に無理がかかっている状態を
示している。
データDから異常放電の発生数を求め、1(〕回の信号
採取期間における全数7B数に対する正営放電の発生数
の比Xsを求める。この賜金、異常放電は次のように分
類されたちのとする。すなわち、上記異常放電が削除さ
れた放電データDから放電電圧を抽出して第4図に示す
ヒストグラムを作成する。このヒストグラムには2つの
正規分布Q1.Q2が現われ、このうち正規分布QIは
ワイヤ電極3と被加工物2との間に加工屑が存在しない
真に正常な放電であり、Q2はワイヤ電極3と被加工物
2との間に加工屑が存在する過渡的な放電となって−い
る。しかるに、異常放電は、先に検出した異常放電(ア
ーク放電パルス及び短絡)に正規分布Q2で分類された
過渡的な放電を加えたものとなる。そして、加工エネル
ギ算出手段16−5は上記第(3)式に従って加工エネ
ルギ範囲Deを算出する。しかして、CPU16はこれ
らギャップJliltF及び加工エネルギ範囲Deを表
示器21にグラフィック化して表示する。すなわち、第
5図乃至第7図はかかる表示例を示し、第5図はワイヤ
電極3が被加工物2の加工面から離れ過ぎている状態で
あって、この場合加工にはまだ放電エネルギについて余
裕がある。又、第6図は範囲指示枠にと被加工物2の面
との各位置がほぼ一致して最良の加工状態となっている
ことを示す。さらに第7図はワイヤ電極3が被加工物2
に接触していたり、又加工に無理がかかっている状態を
示している。
このように上記一実施例においては、放電電圧及び放電
電流を取り込んで放電データを作成し、この放電データ
からワイヤ電極3と被加工物2との位置関係を求めると
ともにこれらワイヤ電極3と被加工物2との間の加工屑
の排出状況に応じた加工エネルギ範TJpDeを求めて
グラフィック化して表示するようにしたので、放電加工
中に現在のワイヤ電極3と被加工物2との進行方向のギ
ャップQFが大きいのか小さいのかが視覚的に判り、か
つそのときの加工エネルギ範囲Deも大きいのか小さい
のかが視覚的にfllる。これにより、正規の加工エネ
ルギ範囲に対する加工屑の排出状態の良否の割合をもっ
てイメージ化できる。このうち加工エネルギ範囲Deか
らはワイヤ電極3と被加工物2との間における加工屑の
量が分かる。すなわち、加工エネルギ範囲Deが広けれ
ば加工屑量は少なく、狭ければ加工屑量は多いことを示
している。しかるに、これらギャップff1F及び加工
エネルギ範囲Deの表示結果からギャップflF及び加
工エネルギを最適に制御することが可能となる。
電流を取り込んで放電データを作成し、この放電データ
からワイヤ電極3と被加工物2との位置関係を求めると
ともにこれらワイヤ電極3と被加工物2との間の加工屑
の排出状況に応じた加工エネルギ範TJpDeを求めて
グラフィック化して表示するようにしたので、放電加工
中に現在のワイヤ電極3と被加工物2との進行方向のギ
ャップQFが大きいのか小さいのかが視覚的に判り、か
つそのときの加工エネルギ範囲Deも大きいのか小さい
のかが視覚的にfllる。これにより、正規の加工エネ
ルギ範囲に対する加工屑の排出状態の良否の割合をもっ
てイメージ化できる。このうち加工エネルギ範囲Deか
らはワイヤ電極3と被加工物2との間における加工屑の
量が分かる。すなわち、加工エネルギ範囲Deが広けれ
ば加工屑量は少なく、狭ければ加工屑量は多いことを示
している。しかるに、これらギャップff1F及び加工
エネルギ範囲Deの表示結果からギャップflF及び加
工エネルギを最適に制御することが可能となる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、上
記一実施例において異常放電の分類は放電電圧によって
行なっているが、放電ピークや放電エネルギN、 f2
・・・fnのヒストグラムを作成してその正規分布から
分類してもよい。さらに、効率の表示はバー表示に限ら
れるものではない。
の主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、上
記一実施例において異常放電の分類は放電電圧によって
行なっているが、放電ピークや放電エネルギN、 f2
・・・fnのヒストグラムを作成してその正規分布から
分類してもよい。さらに、効率の表示はバー表示に限ら
れるものではない。
又、本装置はワイヤ放電加工装置に限らず、形彫り放電
加工や電解加工、さらには電圧信号及び電流信号のサン
プリングのレンジ変更により溶接機やレーザ応用機器、
照明機器、スパッタリング装置、PVDやCVDのプラ
ズマ加工装置などの放電応用機器にも適用できる。この
うちスパッタリング装置では放電状態を検出することで
放電媒体の流ffi調整ができる。
加工や電解加工、さらには電圧信号及び電流信号のサン
プリングのレンジ変更により溶接機やレーザ応用機器、
照明機器、スパッタリング装置、PVDやCVDのプラ
ズマ加工装置などの放電応用機器にも適用できる。この
うちスパッタリング装置では放電状態を検出することで
放電媒体の流ffi調整ができる。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、放71!電極と被
加工物とのギャップ量及び放電エネルギをグラフィック
化して表示できる放電解析装置を提供できる。
加工物とのギャップ量及び放電エネルギをグラフィック
化して表示できる放電解析装置を提供できる。
第1図乃至第9図は本発明に係わる放電解析装置の一実
施例を説明するための図であって、第1図は構成図、第
2図は機能ブロック図、第3図は放電加工状態の表示内
容を示す図、第4図は異常放電の分類の作用を説明する
ための図、第5図乃至第7図は放電加工状態の表示例を
示す図である。 1・・・加工槽、2・・・被加工物、3・・・ワイヤ電
極、4・・・上部ワイヤガイド体、5・・・放電1i1
J iH回路、6・・・直流電源、7・・・電圧検出器
、8・・・電流検出器、10・・・解析装置本体、11
.12・・・アソテネータ、13.14・・・A/D変
換器、15・・・バス、16・・・CPU、16−1・
・・信号採取手段、162・・・放電データ作成手段、
16−3・・・加工状態表示手段、16−4・・・位置
算出手段、16−5・・・加工エネルギ算出手段、17
・・・タイミングコントローラ、18−RAM、19・
ROM、20−・・表示駆動部、 つ ・・表示器。 出師ノ
施例を説明するための図であって、第1図は構成図、第
2図は機能ブロック図、第3図は放電加工状態の表示内
容を示す図、第4図は異常放電の分類の作用を説明する
ための図、第5図乃至第7図は放電加工状態の表示例を
示す図である。 1・・・加工槽、2・・・被加工物、3・・・ワイヤ電
極、4・・・上部ワイヤガイド体、5・・・放電1i1
J iH回路、6・・・直流電源、7・・・電圧検出器
、8・・・電流検出器、10・・・解析装置本体、11
.12・・・アソテネータ、13.14・・・A/D変
換器、15・・・バス、16・・・CPU、16−1・
・・信号採取手段、162・・・放電データ作成手段、
16−3・・・加工状態表示手段、16−4・・・位置
算出手段、16−5・・・加工エネルギ算出手段、17
・・・タイミングコントローラ、18−RAM、19・
ROM、20−・・表示駆動部、 つ ・・表示器。 出師ノ
Claims (1)
- 放電電極と被加工物との間に加わる放電電圧又は前記放
電電極と前記被加工物との間に流れる放電電流のいずれ
か一方又は両方を検出する検出器と、この検出器からの
検出信号を一定間隔毎の信号採取期間ごとに所定のサン
プリング周期でディジタル変換して取り込む信号採取手
段と、この信号採取手段で採取された各検出信号から各
放電における放電電圧などの放電データを作成する放電
データ作成手段と、この放電データ作成手段で作成され
た放電データから前記放電電極と前記被加工物との位置
関係を求めるとともにこれら放電電極と被加工物との間
の加工屑の排出状況に応じた加工エネルギ範囲を求めか
つこれら位置関係及び加工エネルギ範囲をグラフィック
化して表示する加工状態表示手段を具備したことを特徴
とする放電解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169603A JPH0757445B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 放電解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169603A JPH0757445B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 放電解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0335931A true JPH0335931A (ja) | 1991-02-15 |
| JPH0757445B2 JPH0757445B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=15889558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1169603A Expired - Lifetime JPH0757445B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 放電解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0757445B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6610956B1 (en) | 1998-12-02 | 2003-08-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Device for quality decision of a machining state of an electric spark machine |
| CN113219308A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-08-06 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种确定复杂间隙结构操作冲击放电电压的方法及系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63200918A (ja) * | 1987-02-16 | 1988-08-19 | Hitachi Seiko Ltd | 放電加工装置 |
| JPS645724A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Toshiba Corp | Electric discharge processing machine |
| JPH0197522A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Fanuc Ltd | 放電加工機における放電パターン検出装置 |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1169603A patent/JPH0757445B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63200918A (ja) * | 1987-02-16 | 1988-08-19 | Hitachi Seiko Ltd | 放電加工装置 |
| JPS645724A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-10 | Toshiba Corp | Electric discharge processing machine |
| JPH0197522A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Fanuc Ltd | 放電加工機における放電パターン検出装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6610956B1 (en) | 1998-12-02 | 2003-08-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Device for quality decision of a machining state of an electric spark machine |
| CN113219308A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-08-06 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种确定复杂间隙结构操作冲击放电电压的方法及系统 |
| CN113219308B (zh) * | 2021-02-05 | 2024-01-26 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种确定复杂间隙结构操作冲击放电电压的方法及系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0757445B2 (ja) | 1995-06-21 |
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