JPH0336729A - 乾燥方法及びその乾燥装置 - Google Patents
乾燥方法及びその乾燥装置Info
- Publication number
- JPH0336729A JPH0336729A JP17163389A JP17163389A JPH0336729A JP H0336729 A JPH0336729 A JP H0336729A JP 17163389 A JP17163389 A JP 17163389A JP 17163389 A JP17163389 A JP 17163389A JP H0336729 A JPH0336729 A JP H0336729A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing tank
- treated
- valve
- drying
- processed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Drying Of Solid Materials (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、例えば、洗浄されたICチップの如き被処理
物を、確実且つ迅速に乾燥せしめるための乾燥方法及び
その乾燥装置に関する。
物を、確実且つ迅速に乾燥せしめるための乾燥方法及び
その乾燥装置に関する。
(従来の技術)
従来、半導体等の製造時に於いて、ICチップ等の被処
理物を超純水等で洗浄して、チップの回路パターン上の
汚れ等を洗浄した後、フロンガス等を使用してこれを乾
燥せしめている。
理物を超純水等で洗浄して、チップの回路パターン上の
汚れ等を洗浄した後、フロンガス等を使用してこれを乾
燥せしめている。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、最近では、フロンガス等の使用による大気汚
染(オゾン層の破壊)が世界的な問題となっており、フ
ロンガス等の使用が全面的に禁止される傾向にある。
染(オゾン層の破壊)が世界的な問題となっており、フ
ロンガス等の使用が全面的に禁止される傾向にある。
このため、例えば、ICチップ等の被処理物の洗浄後の
乾燥処理を、フロンガス等を使用することなく、これと
同程度以上の処理が行えるようにし、しかも、乾燥処理
にかかるコスト等も十分に抑制できるような手段の開発
が急務となっている。
乾燥処理を、フロンガス等を使用することなく、これと
同程度以上の処理が行えるようにし、しかも、乾燥処理
にかかるコスト等も十分に抑制できるような手段の開発
が急務となっている。
(課題を解決するための手段)
そこで、本発明の乾燥方法にあっては、適宜被処理物H
の洗浄後に、この被処理物Hを処理槽S内に密閉する。
の洗浄後に、この被処理物Hを処理槽S内に密閉する。
そして、この処理槽S内を略真空状態とする。次に、処
理槽S内に除湿空気を循環せしめて、被処理物Hを強制
的に乾燥せしめる手段を採用することによって、洗浄さ
れたICチップの如き被処理物Hの乾燥処理を、確実且
つ迅速に行えるようにし、被処理物Hの乾燥状態も良好
で、しかも、乾燥処理にかかるコスト等も十分抑制でき
るようにし、前述の如き課題が解決できるようにした。
理槽S内に除湿空気を循環せしめて、被処理物Hを強制
的に乾燥せしめる手段を採用することによって、洗浄さ
れたICチップの如き被処理物Hの乾燥処理を、確実且
つ迅速に行えるようにし、被処理物Hの乾燥状態も良好
で、しかも、乾燥処理にかかるコスト等も十分抑制でき
るようにし、前述の如き課題が解決できるようにした。
また、本発明の乾燥装置にあっては、適宜被処理物Hを
密閉状に収納可能な処理槽Sを形成する。
密閉状に収納可能な処理槽Sを形成する。
そして、この処理槽SにバルブV1を介して真空ポンプ
1を接続して、処理槽S内を略真空可能に形成する。更
に、処理槽SにパルプV2.V3を介して除湿機3及び
ファン4を接続せしめて、処理槽S内に除湿空気を循環
せしめられるよう構成する手段を採用することによって
、前述の如き乾燥方法の実施に際して最適となる装置の
提供が図れるようにした。
1を接続して、処理槽S内を略真空可能に形成する。更
に、処理槽SにパルプV2.V3を介して除湿機3及び
ファン4を接続せしめて、処理槽S内に除湿空気を循環
せしめられるよう構成する手段を採用することによって
、前述の如き乾燥方法の実施に際して最適となる装置の
提供が図れるようにした。
(作用)
しかして、乾燥方法にあっては、被処理物Hは処理槽S
内に密閉状態に内装され、真空ポンプ1、タンク2によ
り、この処理槽S内を略真空状態にすると、被処理物H
の狭隙部分等に付着している水滴等も被処理物8表面に
集り、これら水滴等は、除湿機3、ファン4によって処
理槽S内を循環している除湿空気中に蒸発し、被処理物
Hに付着した水滴等が確実に無くなって乾燥状態となる
。
内に密閉状態に内装され、真空ポンプ1、タンク2によ
り、この処理槽S内を略真空状態にすると、被処理物H
の狭隙部分等に付着している水滴等も被処理物8表面に
集り、これら水滴等は、除湿機3、ファン4によって処
理槽S内を循環している除湿空気中に蒸発し、被処理物
Hに付着した水滴等が確実に無くなって乾燥状態となる
。
また、乾燥装置にあっては、処理槽Sには真空ポンプ1
が接続され、バルブv1及び真空ポンプ1の作動により
処理槽S内は略真空状態となる。
が接続され、バルブv1及び真空ポンプ1の作動により
処理槽S内は略真空状態となる。
そして、処理槽Sには除湿機3及びファン4が接続され
、パルプV2.V3、除湿機3及びファン4の作動によ
り処理Is内には除湿空気が強制的に循環するようにな
る。
、パルプV2.V3、除湿機3及びファン4の作動によ
り処理Is内には除湿空気が強制的に循環するようにな
る。
(実施例)
以下、本発明を図示例について説明する。
先ず、本発明の乾燥装置は、例えば、ICチップやその
他の適宜被処理物Hを密閉状に収納可能に形成される処
理槽Sと、この処理槽Sに接続される真空ポンプ1と、
処理槽Sに接続される除湿機3と、処理槽Sに接続され
るエアー抜き5とを備えた構成となっている。
他の適宜被処理物Hを密閉状に収納可能に形成される処
理槽Sと、この処理槽Sに接続される真空ポンプ1と、
処理槽Sに接続される除湿機3と、処理槽Sに接続され
るエアー抜き5とを備えた構成となっている。
そして、処理槽Sは、適宜被処理物Hを出入れ自在に収
納でき、しかも、収納時にあっては、密閉状態を維持で
きるよう構成されている。尚、図示例にあっては、処理
槽Sは、上部が開放された略箱状の処理槽基体と、この
処理槽基体の上部開口部を施蓋可能な蓋体とによって構
成されているが、これに限定されることなく適宜自由に
設定できる。
納でき、しかも、収納時にあっては、密閉状態を維持で
きるよう構成されている。尚、図示例にあっては、処理
槽Sは、上部が開放された略箱状の処理槽基体と、この
処理槽基体の上部開口部を施蓋可能な蓋体とによって構
成されているが、これに限定されることなく適宜自由に
設定できる。
真空ポンプ1は、前記処理槽Sにバルブv1及びタンク
2を介して接続され、その作動により処理槽S内を略真
空状態にできるよう構成されている。
2を介して接続され、その作動により処理槽S内を略真
空状態にできるよう構成されている。
除湿機3は、処理槽Sにファン4及びバルブV2、v3
を介して接続され、バルブV2.V3の開閉操作によっ
て処理槽S内の湿った空気を除湿するよう構成されてい
る。
を介して接続され、バルブV2.V3の開閉操作によっ
て処理槽S内の湿った空気を除湿するよう構成されてい
る。
ファン4は、除湿機3によって除湿された空気を処理槽
S内に強制的に送給すると・共に、処理槽S内の湿った
空気を除湿機3まで強制的に送給し、しかも、これらを
連続的に循環して行えるよう構成されている。
S内に強制的に送給すると・共に、処理槽S内の湿った
空気を除湿機3まで強制的に送給し、しかも、これらを
連続的に循環して行えるよう構成されている。
エアー抜き5は、処理槽S上部にバルブv4を介して接
続され、バルブV4の開閉操作によって処理槽S内に空
気を導入できるよう構成されている。
続され、バルブV4の開閉操作によって処理槽S内に空
気を導入できるよう構成されている。
ところで、処理檜Sの具体的構成、形状、寸法、材質、
真空ポンプ1及びタンク2の具体的構成、形状、寸法、
配設状態、除湿機3及びファン4の具体的構成、処理槽
Sへの取付は位置、エアー抜き5の具体的構成、処理槽
Sへの取付は位置、バルブVl、V2.V3.V4の具
体的構成、取付は位置等は図示例のもの等に限定される
ことなく適宜自由に設定できる。
真空ポンプ1及びタンク2の具体的構成、形状、寸法、
配設状態、除湿機3及びファン4の具体的構成、処理槽
Sへの取付は位置、エアー抜き5の具体的構成、処理槽
Sへの取付は位置、バルブVl、V2.V3.V4の具
体的構成、取付は位置等は図示例のもの等に限定される
ことなく適宜自由に設定できる。
また、本発明の乾燥方法は、適宜被処理物Hの洗浄後に
、この被処理物Hを処理槽S内に密閉状態で収納する。
、この被処理物Hを処理槽S内に密閉状態で収納する。
そして、真空ポンプ1を作動すると共にバルブv1を開
いて、処理Fe3内を略真空状態とする。次に、除湿機
3及びファン4を作動すると共にバルブV2.V3を開
いて、処理槽S内に除湿空気を循環せしめて、被処理物
Hを強制的に乾燥せしめる。被処理物Hの乾燥後は、バ
ルブV4を開いてエアー抜き5から処理槽S内に外の空
気を導入して、被処理物Hを取出す。
いて、処理Fe3内を略真空状態とする。次に、除湿機
3及びファン4を作動すると共にバルブV2.V3を開
いて、処理槽S内に除湿空気を循環せしめて、被処理物
Hを強制的に乾燥せしめる。被処理物Hの乾燥後は、バ
ルブV4を開いてエアー抜き5から処理槽S内に外の空
気を導入して、被処理物Hを取出す。
尚、処理槽Sに、バルブを介して適宜洗浄液用のタンク
を接続すると共に、バルブを介してドレンを接続して、
処理槽S内で被処理物Hの洗浄作業が行えるよう構成し
ても良い(図示せず)。すなわち、処理槽S内を真空ポ
ンプ1によって略真空状態としてパルプV1を閉じ、前
記バルブを開いてタンク内の適宜洗浄液を処理槽S内に
入れ、この洗浄液内に被処理物Hを浸漬させて洗浄する
。
を接続すると共に、バルブを介してドレンを接続して、
処理槽S内で被処理物Hの洗浄作業が行えるよう構成し
ても良い(図示せず)。すなわち、処理槽S内を真空ポ
ンプ1によって略真空状態としてパルプV1を閉じ、前
記バルブを開いてタンク内の適宜洗浄液を処理槽S内に
入れ、この洗浄液内に被処理物Hを浸漬させて洗浄する
。
それから、バルブを開いて処理槽S内の洗浄液をドレン
から排出する。
から排出する。
ところで、被処理物Hとしては、IC等の超小型チップ
等の他に、適宜合成樹脂材でできているものや、適宜ゴ
ム材でできているものや、適宜金属材でできたもの等が
利用できる。
等の他に、適宜合成樹脂材でできているものや、適宜ゴ
ム材でできているものや、適宜金属材でできたもの等が
利用できる。
(発明の効果)
従って、本発明の乾燥方法は、適宜被処理物Hの洗浄後
に、被処理物Hを処理槽S内に密閉し、この処理槽S内
を略真空状態とし、次に、処理槽S内に除湿空気を循環
せしめて、被処理物Hを強制的に乾燥せしめるので、洗
浄されたICチップの如き被処理物Hの乾燥処理が、確
実且つ迅速に行え、被処理物Hの乾燥状態も良好で、し
かも、乾燥処理のコスト等も十分抑制できるようになる
。
に、被処理物Hを処理槽S内に密閉し、この処理槽S内
を略真空状態とし、次に、処理槽S内に除湿空気を循環
せしめて、被処理物Hを強制的に乾燥せしめるので、洗
浄されたICチップの如き被処理物Hの乾燥処理が、確
実且つ迅速に行え、被処理物Hの乾燥状態も良好で、し
かも、乾燥処理のコスト等も十分抑制できるようになる
。
すなわち、フロンガス等を使用することなく、これと同
程度以上の乾燥処理が可能となり、更に、種々の被処理
物Hの乾燥処理に適し、汎用性の優れた乾燥方法となる
。
程度以上の乾燥処理が可能となり、更に、種々の被処理
物Hの乾燥処理に適し、汎用性の優れた乾燥方法となる
。
特に、処理槽S内を略真空状態とし、処理槽S内に除湿
空気を循環せしめて乾燥させるので、被処理物Hを低温
状態のまま乾燥処理することができ、加熱による乾燥方
法の如く被処理物Hを変質させたり、変形させたりする
虞れが全くなく、被処理物Hにとって最良の状態で、こ
れを確実に乾燥せしめることができるようになる。
空気を循環せしめて乾燥させるので、被処理物Hを低温
状態のまま乾燥処理することができ、加熱による乾燥方
法の如く被処理物Hを変質させたり、変形させたりする
虞れが全くなく、被処理物Hにとって最良の状態で、こ
れを確実に乾燥せしめることができるようになる。
更に、処理槽S内を略真空状態とするので、例えば、被
処理物Hの狭隙空間部分にある洗浄用水滴等を、狭隙空
間部分から確実に除去して乾燥させることができるよう
になると共に、処理時間の短縮化に役立つようになる。
処理物Hの狭隙空間部分にある洗浄用水滴等を、狭隙空
間部分から確実に除去して乾燥させることができるよう
になると共に、処理時間の短縮化に役立つようになる。
すなわち、極小孔や幅の狭い溝等の狭隙空間部分に残り
易い洗浄用水滴等を確実に排除できるようになると共に
、この狭隙空間部分を確実に乾燥できるようになり、例
えば、IC等の製造時の乾燥工程に於いて不良品の発生
率を大幅に低減できるようになる。しかも、乾燥作業の
作業能率向上も大幅に図れるようになる。
易い洗浄用水滴等を確実に排除できるようになると共に
、この狭隙空間部分を確実に乾燥できるようになり、例
えば、IC等の製造時の乾燥工程に於いて不良品の発生
率を大幅に低減できるようになる。しかも、乾燥作業の
作業能率向上も大幅に図れるようになる。
また、本発明の乾燥装置は、被処理物Hを密閉状に収納
可能な処理槽Sを形成し、この処理槽Sにパルプv1を
介して真空ポンプ1を接続して、処理槽S内を略真空可
能に形成し、処理槽SにパルプV2.V3を介して除湿
機3及びファン4を接続せしめて、処理槽S内に除湿空
気を循環せしめられるよう構成したので、処理槽S内に
被処理物Hを密閉状に収納でき、パルプv1及び真空ポ
ンプ1の作動により処理槽S内を略真空状態にでき、パ
ルプV2.V3、除湿機3及びファン4の作動により処
理槽S内に除湿空気を容易且つ確実に連続送給でき、狭
隙空間部分等を備えた被処理物Hの乾燥処理に最適な装
置となる。しかも、装置自体の構成が簡素で、製造し易
く、故障し難く、耐久性に優れ、安価に提供できるよう
になるー。すなわち、前述の如き乾燥方法の実施に際し
て最適な乾燥装置となる。
可能な処理槽Sを形成し、この処理槽Sにパルプv1を
介して真空ポンプ1を接続して、処理槽S内を略真空可
能に形成し、処理槽SにパルプV2.V3を介して除湿
機3及びファン4を接続せしめて、処理槽S内に除湿空
気を循環せしめられるよう構成したので、処理槽S内に
被処理物Hを密閉状に収納でき、パルプv1及び真空ポ
ンプ1の作動により処理槽S内を略真空状態にでき、パ
ルプV2.V3、除湿機3及びファン4の作動により処
理槽S内に除湿空気を容易且つ確実に連続送給でき、狭
隙空間部分等を備えた被処理物Hの乾燥処理に最適な装
置となる。しかも、装置自体の構成が簡素で、製造し易
く、故障し難く、耐久性に優れ、安価に提供できるよう
になるー。すなわち、前述の如き乾燥方法の実施に際し
て最適な乾燥装置となる。
図面は本発明の装置の概略図である。
S・・・処理槽、1・・・真空ポンプ、2・・・タンク
、3・・・除湿機、4・・・ファン、5・・・エアー抜
き、Vl・・・バルブ、v2・・・バルブ、v3・・・
バルブ、v4・・・バルブ、 H・・・被処理物。
、3・・・除湿機、4・・・ファン、5・・・エアー抜
き、Vl・・・バルブ、v2・・・バルブ、v3・・・
バルブ、v4・・・バルブ、 H・・・被処理物。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、適宜被処理物の洗浄後に、被処理物を処理槽内に密
閉し、この処理槽内を略真空状態とし、次に、処理槽内
に除湿空気を循環せしめて、被処理物を強制的に乾燥せ
しめることを特徴とした乾燥方法。 2、被処理物を密閉状に収納可能な処理槽を形成し、こ
の処理槽にバルブを介して真空ポンプを接続して、処理
槽内を略真空可能に形成し、処理槽にバルブ を介して除湿機及びファンを接続せしめ て、処理槽内に除湿空気を循環せしめられるよう構成し
たことを特徴とする乾燥装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17163389A JPH0336729A (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 乾燥方法及びその乾燥装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17163389A JPH0336729A (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 乾燥方法及びその乾燥装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0336729A true JPH0336729A (ja) | 1991-02-18 |
Family
ID=15926809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17163389A Pending JPH0336729A (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 乾燥方法及びその乾燥装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0336729A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0650660A (ja) * | 1992-06-11 | 1994-02-25 | Nakamura Seisakusho:Yugen | 温風減圧乾燥方法 |
| JP2008161951A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Nsk Ltd | 主軸装置及びそれを備えた複合加工工作機械並びに主軸装置の組付方法 |
| JP2009074717A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Shin Ootsuka Kk | 被処理物乾燥装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63302521A (ja) * | 1987-06-02 | 1988-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体基板の乾燥装置 |
-
1989
- 1989-07-03 JP JP17163389A patent/JPH0336729A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63302521A (ja) * | 1987-06-02 | 1988-12-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体基板の乾燥装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0650660A (ja) * | 1992-06-11 | 1994-02-25 | Nakamura Seisakusho:Yugen | 温風減圧乾燥方法 |
| JP2008161951A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Nsk Ltd | 主軸装置及びそれを備えた複合加工工作機械並びに主軸装置の組付方法 |
| JP2009074717A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Shin Ootsuka Kk | 被処理物乾燥装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102003128B1 (ko) | 기판습식 처리장치 | |
| US5143103A (en) | Apparatus for cleaning and drying workpieces | |
| KR100934450B1 (ko) | 기판을 처리하는 방법 | |
| US4015615A (en) | Fluid application system | |
| KR20040032121A (ko) | 세정 시스템, 초음파 세정 장치, 진공 건조 장치, 세정장치, 세정조, 건조조 및 생산 시스템 | |
| JP3378543B2 (ja) | ウェーハ・キャリア洗浄方法 | |
| KR20200091607A (ko) | 터널식 건조방식을 이용한 초음파 세척 장치 | |
| JPH0336729A (ja) | 乾燥方法及びその乾燥装置 | |
| JPS62173720A (ja) | ウエハ洗浄装置 | |
| JPH06252115A (ja) | 被洗浄物の洗浄方法 | |
| JPH06224174A (ja) | ワークの処理方法及び装置 | |
| JPH06296940A (ja) | 圧力スイング洗浄方法および装置 | |
| JPH0745574A (ja) | ワークの洗浄及び乾燥方法とその装置 | |
| JP2000308859A (ja) | 処理装置及び処理方法 | |
| JP3009006B2 (ja) | 半導体基板の乾燥装置 | |
| US6361614B1 (en) | Dark spin rinse/dry | |
| JP4011176B2 (ja) | 完全密閉型気液洗浄装置及び洗浄方法 | |
| JPH04354128A (ja) | 基板の薬液処理方法及びその装置並びに基板の薬液処理、洗浄及び乾燥方法及びその装置 | |
| KR100825965B1 (ko) | 기판 세정 방법 | |
| JP3364272B2 (ja) | 半導体ウェーハの洗浄乾燥方法および洗浄乾燥装置 | |
| KR20060059785A (ko) | 3베쓰 1배치식 웨이퍼 자동세정장치 | |
| JP2006212563A (ja) | 被洗浄物の洗浄方法、洗浄システム、及び乾燥装置 | |
| JPH0529295A (ja) | 薬液浸漬式処理装置 | |
| KR0124838Y1 (ko) | 반도체장치의 건조장치 | |
| KR20250159592A (ko) | 원스톱 반도체 캐리어 세척 방법 및 시스템 |