JPH0337681B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、測長装置の改良に関し、詳しくは目
視したスケールの値と、マークを計数して演算表
示される表示値とを記述スケール値において最小
マーク間距離内の誤差に納めるような修正機能を
有する測長装置に関する。

すでに、測長値をスケールによつて目視できる
とともにマークを計数して演算された演算値の双
方でもつて測長値を確認できるようになした測長
装置がある。

この種の測長装置においては、テープ状基材に
スケールを印字する工程と、マークを形成する工
程とは別工程で行われる。従つて、スケールとマ
ークとの間に相対的な誤差が生じ易い。

従来の測長装置は、この種の誤差のために、目
視したスケール値とマークを検出して表示される
表示値との間にずれが生じる。例えばスケールの
指示が100cmであるのに表示値が101cmになるがご
ときである。

本発明はかかる点に鑑み、目視したスケールの
値と、マークを計数して演算表示される表示値と
を基準スケール値において最小マーク間距離内の
誤差に納めるような修正機能を有する修正機能付
測長装置を提供することを目的とする。

本発明の修正機能付測長装置は、第１図で示す
ように構成されている。

テープ状物体ａに設けられたマークが検出手段
ｂによつて検出されると、該マークの検出数に対
応するパルス信号がパルス信号発生手段ｃによつ
て発せられ、該パルス信号は計数手段ｄによつて
計数される。一方、修正マーク間距離演算手段ｅ
では、テープ状物体ａをあらかじめ決められた基
準スケール値まで引出した時に表示手段ｆによつ
て表示される表示値と当該基準スケール値との誤
差相当量が外部入力手段ｇによつて入力され、そ
のようにして入力された誤差相当量と前記計数手
段ｄによつて計数されたパルス数とから修正され
たマーク間距離を演算し、外部出力手段ｈを介し
て修正後のマーク間距離が表示される。

以下、本発明の構成を実施例について図面を参
照して説明する。

第２図は、本発明に係る測長装置の一実施例で
ある電子式巻尺１を示す。

電子式巻尺１は、巻尺本体２の正面パルス３に
キーボード４、デジタル表示器５、ブザー６、と
が設けられ、巻尺テープ７が前記巻尺本体２の一
側面より一定スケール値（例えば５ｍ）まで引出
すことができ、巻尺本体２内への収納も自在にな
されたものである。

テープ状物体である巻尺テープ７は、テープ状
基材で形成されたもので、基端よりその長さ方向
に対してJISで定められた許容誤差内でのスケー
ル８が刻印されている。また、巻尺テープ７の中
央部長手方向に沿つて直径約１mmの開孔９が一定
間隔（例えば２mmピツチ）をおいて穿設されてい
る。

キーボード４は、数値情報を表示するテンキー
４ａの他に、例えば加算キー４ｂ、演算キー４
ｃ、cm−尺換算キー４ｄ等の各種専用キーが設け
られている。

デジタル表示器５は、巻尺テープ７の引出量と
前記キーボード４からの数値情報との一方を適宜
表示するもので、ブザー６は、巻尺テープ７が前
記キーボード４を介して入力された所定の値まで
引出された時を知らせるものである。

そのような構成からなる電子式巻尺１は、キー
ボード４からの入力によつて通常の四則演算が可
能となされ、一方、巻尺テープ７を引出している
時には、前記キーボード４からの入力に優先して
巻尺テープ７の引出量が表示されるようになされ
ている。

次に、本発明の修正機能付測長装置のハードウ
エアを例示する第３図について説明する。

１０は中央演算処理装置（以下CPUと称す）、
１１は各種入力信号をCPU１０へ入力するため
に介在する入力側インターフエースであり、１２
は各種出力装置へCPU１０からの出力信号を送
り出す出力側インターフエースである。１３は
RAM、１４はROMであり、RAM１３の内容は
バツクアツプ用電源（図示省略）によつて電源
OFF時にも保持されている。

巻尺テープ７に穿設された前記開孔９のピツチ
に等しい間隔をあけて、第一投光器１５と第二投
光器１６とが設けられ、それら投光器１５，１６
は巻尺テープ７の下方に設けられる第一受光器１
７と第二受光器１８に対して光を発するものであ
る。

投光器１５，１６から発せられた光が前記開孔
９を通つて受光器１７，１８によつて受光される
と、当該受光器からは位相が90度異なる２種のパ
ルス信号Ｓ１，Ｓ２が出力され、方向判別付カウ
ンタ１９へ入力される。方向判別付カウンタ１９
では、パルス信号Ｓ１，Ｓ２を受けて、巻尺テー
プ７が引出し方向に移動しているのか、収納方向
に移動しているのかを判別するとともに、検出し
た開孔数に対応した逓倍パルス信号Ｓ３を出力
し、該逓倍パルス信号Ｓ３を前記入力側インター
フエース１１へ入力する。

なお、逓倍パルス信号Ｓ３は方向判別付カウン
タ１９によつて出力される割込み信号Ｓ４によつ
て、前記キーボード４からの入力信号に優先して
読み込まれる。

入力側インターフエース１１には、前記信号Ｓ
３，Ｓ４の他に、RAM１３に記憶されているマ
ーク間距離を修正するデジタルスイツチ２０から
の信号も入力されている。

次に、上述したハードウエアの動作を規制する
ソフトウエアのうち、スケール値と前記表示器５
で表示されるデジタル値との間の修正をなす手順
について、第４図Ａ，Ｂの流れ図を参照して説明
する。

今、巻尺テープ７を基準スケール値（例えば５
ｍ）まで引出し、そのときの修正しないデジタル
表示と基準スケール値との差に相当する値（α）
が前記デジタルスイツチ２０に設定されている。

主プログラム〔第４図Ａ〕において、ステツプ
でα値を読み込み、ステツプでその値に相当
する誤差量（β）を算出する。一方、割込みプロ
グラム〔第４図Ｂ〕においては、ステツプでパ
ルス信号が読み込まれ、ステツプで該パルス信
号を計数している。そして、前記主プログラムの
ステツプでは、割込みプログラムによつて計数
されたパルス数を被除数とし、誤差量（β）に相
当する数を除数として計算される修正マーク間距
離を求め、そのようにして修正された値をステツ
プで表示させる。

すなわち、具体的数字をもつて例示すると、巻
尺テープ７を５ｍ引き出したとき（１mmで１パル
スとする）、この場合5000パルスで誤差０である
が、5001パルスであつても5000と表示し、あたか
も5001パルスが5000パルスと表示せしめ、スケー
ルとデジタル表示の差を最小限になされる。

なお、上記実施例では、基準スケール値を１点
に設定した場合について説明したが、これはスケ
ールの値と開孔数との間の誤差が単純な線型の関
係にあると想定したもので、そのような誤差の推
定がなされない場合には、複数の基準スケール値
を設定し、各基準スケール値間の修正マーク間距
離を求めればよい。

また、上述した実施例においては、マークは巻
尺テープ７に穿設された開孔９であつたが、これ
に限定されず例えば磁気マークとすることもで
き、さらにバーコードのような記号にすることも
できる。そのようなマークの種類に応じてマーク
検出手段も磁気ヘツドなどがもちいられる。

以上述べたように本発明の測長装置は、目視し
たスケールの値と、マークを計数して演算表示さ
れる表示値とを基準スケール値において最小マー
ク間距離内の誤差に納められるので、スケールを
印字するスケール印字工程とマークを形成する工
程とが別工程で行われることによつて生じるスケ
ールとマークとの間の相対的な誤差を最小限に吸
収することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の修正機能付測長装置の構成を
明示するブロツク図、第２図Ａ，Ｂは実施例の電
子式巻尺を示し、第２図Ａは同斜視図、第２図Ｂ
は同巻尺テープの基端部を拡大して示す拡大図、
第３図はハードウエアを例示するブロツク図、第
４図Ａ，Ｂは修正機能に係るソフトウエアを例示
するフローチヤートである。 ａ……テープ状物体、ｂ……検出手段、ｃ……
パルス信号発生手段、ｄ……計数手段、ｅ……修
正マーク間距離演算手段、ｆ……表示手段、ｇ…
…外部入力手段、ｈ……外部出力手段、１……電
子式巻尺、５……デジタル表示器、７……巻尺テ
ープ、８……スケール、２０……デジタルスイツ
チ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 間隔をあけて設けられるスケールおよびマー
   クを有するテープ状物体と、 該マークを検出する検出手段と、 マークの検出数に対応するパルス信号を発生す
   るパルス信号発生手段と、 前記パルス信号を計数するパルス計数手段と、 前記テープ状物体の引出相当量を表示する表示
   手段と、 あらかじめ決められた基準スケール値まで前記
   テープ状物体を引出したときに前記表示手段によ
   つて表示される表示値と当該基準スケール値との
   誤差相当値を外部から入力する外部入力手段と、 該外部入力手段からの出力と前記計数手段から
   の出力とで修正マーク間距離を演算する修正マー
   ク間距離演算手段と、 該修正マーク間距離演算手段で演算された演算
   結果を前記表示手段に出力させる外部出力手段と
   を備えたことを特徴とする修正機能付測長装置。