JPH0339633B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0339633B2 JPH0339633B2 JP59177428A JP17742884A JPH0339633B2 JP H0339633 B2 JPH0339633 B2 JP H0339633B2 JP 59177428 A JP59177428 A JP 59177428A JP 17742884 A JP17742884 A JP 17742884A JP H0339633 B2 JPH0339633 B2 JP H0339633B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- semiconductor elements
- semiconductor
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術的分野〕
本発明は半導体素子と非線形抵抗体を並列に接
続した回路を複数個直列に構成した電圧調整回路
の半導体素子あるいは非線形抵抗体の故障検出装
置に関する。
続した回路を複数個直列に構成した電圧調整回路
の半導体素子あるいは非線形抵抗体の故障検出装
置に関する。
半導体素子と非線形抵抗体を並列に接続した回
路を複数個直列に構成し、半導体素子のオン・オ
フ制御により回路の電圧降下を利用して電圧調整
を行なうことが出来る。第３図はその様な電圧調
整回路のブロツク図であり、第４図はタイミング
チヤートである。
路を複数個直列に構成し、半導体素子のオン・オ
フ制御により回路の電圧降下を利用して電圧調整
を行なうことが出来る。第３図はその様な電圧調
整回路のブロツク図であり、第４図はタイミング
チヤートである。
図において１は電圧調整回路、２１〜２４は半
導体素子、３１〜３４はスナバ抵抗、４１〜４４
はスナバコンデンサ、５１〜５４は非線形抵抗、
６１，６２は分圧用抵抗、７は電圧検出回路、８
は直流電源、９は負荷抵抗であり１０は半導体制
御回路、１１はタイムデイレイ回路、１２はイン
バータ、１３はアンド回路である。ａは運転信
号、ｂは故障検出信号であり、a′はタイムデイレ
イ回路１１の出力でである。
導体素子、３１〜３４はスナバ抵抗、４１〜４４
はスナバコンデンサ、５１〜５４は非線形抵抗、
６１，６２は分圧用抵抗、７は電圧検出回路、８
は直流電源、９は負荷抵抗であり１０は半導体制
御回路、１１はタイムデイレイ回路、１２はイン
バータ、１３はアンド回路である。ａは運転信
号、ｂは故障検出信号であり、a′はタイムデイレ
イ回路１１の出力でである。
第３図で半導体素子２１〜２４はオフしている
とすると直流電源８の電流は、非線形抵抗３１〜
３４を介して負荷抵抗９に流入する。この時負荷
抵抗９に流入する電流ILは、直流電源８の電圧を
Ｅ、非線形抵抗５１〜５４の制限電圧を各々ｖ、
負荷抵抗９の抵抗値をRLとすれば、IL（Ｅ−
4v）／RLとなる。ここで半導体素子２１をオン
すると負荷電流ILはIL＝（Ｅ−3v）／RLとなる。
この様に負荷電流ILを増加する時は半導体素子を
順次オンし、また、負荷電流ILを減少する時には
オンしている半導体素子をオフすることにより負
荷電流ILの制御が可能となる。この制御を行なう
のが半導体制御回路１０である。
とすると直流電源８の電流は、非線形抵抗３１〜
３４を介して負荷抵抗９に流入する。この時負荷
抵抗９に流入する電流ILは、直流電源８の電圧を
Ｅ、非線形抵抗５１〜５４の制限電圧を各々ｖ、
負荷抵抗９の抵抗値をRLとすれば、IL（Ｅ−
4v）／RLとなる。ここで半導体素子２１をオン
すると負荷電流ILはIL＝（Ｅ−3v）／RLとなる。
この様に負荷電流ILを増加する時は半導体素子を
順次オンし、また、負荷電流ILを減少する時には
オンしている半導体素子をオフすることにより負
荷電流ILの制御が可能となる。この制御を行なう
のが半導体制御回路１０である。
また半導体素子２１〜２４、あるいは非線形抵
抗体５１〜５４の故障を検出するために、直列接
続された分圧用抵抗６１，６２を電圧調整回路に
並列に接続して、ブリツジを構成し、電圧調整回
路及び分圧回路の各々の中間点からブリツジ回路
の出力電圧を得て、この電圧を電圧検出回路７で
検出し、半導体素子２１〜２４の故障を検出して
いる。
抗体５１〜５４の故障を検出するために、直列接
続された分圧用抵抗６１，６２を電圧調整回路に
並列に接続して、ブリツジを構成し、電圧調整回
路及び分圧回路の各々の中間点からブリツジ回路
の出力電圧を得て、この電圧を電圧検出回路７で
検出し、半導体素子２１〜２４の故障を検出して
いる。
即ち、非線形抵抗５１〜５４はそれぞれほぼ同
一の値であり、又、分圧用抵抗６１と６２はほぼ
同一の値、スナバ抵抗３１〜３４も同一の値、ス
ナバコンデンサ４１〜４４も同一の値であるの
で、半導体素子と、非線形抵抗が正常であれば、
ブリツジ回路の出力電圧はほぼ零であるが、半導
体素子２１、あるいは非線形抵抗５１が故障し、
短絡状態となると、ブリツジ回路の平衡が失なわ
れ、電圧検出回路７で検出できる。なお、当然の
ことながら故障検出は半導体素子２１〜２４がオ
フ状態の時に行なわなければならない。
一の値であり、又、分圧用抵抗６１と６２はほぼ
同一の値、スナバ抵抗３１〜３４も同一の値、ス
ナバコンデンサ４１〜４４も同一の値であるの
で、半導体素子と、非線形抵抗が正常であれば、
ブリツジ回路の出力電圧はほぼ零であるが、半導
体素子２１、あるいは非線形抵抗５１が故障し、
短絡状態となると、ブリツジ回路の平衡が失なわ
れ、電圧検出回路７で検出できる。なお、当然の
ことながら故障検出は半導体素子２１〜２４がオ
フ状態の時に行なわなければならない。
しかし、今、第４図に示す様に本電圧調整回路
をT0からT1までの期間運転し時刻T1ですべての
半導体素子をオフ状態とし運転を停止したとして
も、運転中である時刻T1の直前は電圧調整のた
めすべての半導体素子がオン状態、あるいはオフ
状態にあるとはかぎらず、各々の半導体素子の電
圧分坦が異なつている。従つてすべての半導体素
子２１〜２４あるいは非線形抵抗体５１〜５４が
正常であつても、運転停止時刻T1直後は、スナ
バコンデンサ４１〜４４にたくわえられている電
荷量の相異からブリツジ回路の平衡が失なわれ、
ブリツジ回路の出力電圧が零とならず、故障であ
ると判定する可能性がある。スナバコンデンサ４
１〜４４の電荷の放電はスナバ回路と並列に接続
されているエレメントのインピーダンスが大き
く、放電時定数が大きくなるので誤まりのない故
障検出を行なうためにはタイムデイレイ回路１１
の遅延時間を数分以上にしなければならないとい
う欠点があつた。
をT0からT1までの期間運転し時刻T1ですべての
半導体素子をオフ状態とし運転を停止したとして
も、運転中である時刻T1の直前は電圧調整のた
めすべての半導体素子がオン状態、あるいはオフ
状態にあるとはかぎらず、各々の半導体素子の電
圧分坦が異なつている。従つてすべての半導体素
子２１〜２４あるいは非線形抵抗体５１〜５４が
正常であつても、運転停止時刻T1直後は、スナ
バコンデンサ４１〜４４にたくわえられている電
荷量の相異からブリツジ回路の平衡が失なわれ、
ブリツジ回路の出力電圧が零とならず、故障であ
ると判定する可能性がある。スナバコンデンサ４
１〜４４の電荷の放電はスナバ回路と並列に接続
されているエレメントのインピーダンスが大き
く、放電時定数が大きくなるので誤まりのない故
障検出を行なうためにはタイムデイレイ回路１１
の遅延時間を数分以上にしなければならないとい
う欠点があつた。
従つて本発明の目的は、前述の点に鑑みなされ
たものであつて、運転中の半導体素子の状態がい
かなる状態であつても、運転停止後短時間のうち
に誤動作のない半導体素子あるいは非線形抵抗体
の故障を検出出来る故障検出装置を提供すること
にある。
たものであつて、運転中の半導体素子の状態がい
かなる状態であつても、運転停止後短時間のうち
に誤動作のない半導体素子あるいは非線形抵抗体
の故障を検出出来る故障検出装置を提供すること
にある。
本発明はこの目的を達成するために、電圧調整
回路の運転停止後、休止期間中にただちに電圧調
整回路の全半導体素子を所定の期間オンし、スナ
バコンデンサにたくわえられた電荷量を短時間の
うちに等しくし、運転停止後短時間で誤動作する
ことなく半導体素子あるいは非線形抵抗の故障を
判別できる様にしたことを特徴とするものであ
る。
回路の運転停止後、休止期間中にただちに電圧調
整回路の全半導体素子を所定の期間オンし、スナ
バコンデンサにたくわえられた電荷量を短時間の
うちに等しくし、運転停止後短時間で誤動作する
ことなく半導体素子あるいは非線形抵抗の故障を
判別できる様にしたことを特徴とするものであ
る。
本発明の一実施例を第１図に示す。第１図にお
いて第３図と同一機能を有するものは同一番号と
し説明は省略する。
いて第３図と同一機能を有するものは同一番号と
し説明は省略する。
第１図において１５はダウンエツジでトリガさ
れるワンシヨツト回路であり、１４，１６はOR
回路である。
れるワンシヨツト回路であり、１４，１６はOR
回路である。
第２図は本発明の動作を表すタイミングチヤー
トである。
トである。
以下、第１図、第２図により本発明の作用を説
明する。
明する。
今、第１図の電圧調整回路１を運転信号ａによ
り第２図に示される様にT0からT1までの時刻・
動作させたとする。T0〜T1までの期間は電圧調
整を行なつているので、半導体素子２１〜２４は
どの素子がONでどの素子がOFFであるか、はわ
からず、運転停止時刻T1の直後は各々の半導体
素子の分坦電圧は異なつていると考えられる。そ
こで時刻T1の直後時刻T2からT3までの所定の期
間ダウンエツジでトリガされるワンシヨツト回路
１５によりパルスを出し、電圧調整回路１のすべ
ての半導体素子２１〜２４をオン状態とする。時
刻T2で半導体素子２１〜２４がオン状態となる
と、スナバ抵抗３１〜３４を介してスナバコンデ
ンサ４１〜４４の電荷が放電され百μS程度でス
ナバコンデンサ４１〜４４の分担電圧は等しく零
となる。そこで時刻T3で、半導体素子２１〜２
４を一斉にオフすれば、半導体素子２１〜２４と
非線形抵抗５１〜５４がすべて健全であればブリ
ツジ回路は平衡を保ち、電圧検出回路７は出力零
であり、もし、半導体素子２１〜２４あるいは非
線形抵抗５１〜５４に異常が存在するならば、ブ
リツジ回路の平衡がくずれ、電圧検出回路７は、
故障を検出することができる。従つて、電圧検出
回路７の出力を時刻T3以降とりこむことにすれ
ば誤まりのない故障検出信号ｂを得ることができ
る。T2〜T5までの期間はスナバ抵抗とスナバコ
ンデンサによる時定数から、スナバコンデンサが
十分に放電できる時間をとる様にすればよい。
り第２図に示される様にT0からT1までの時刻・
動作させたとする。T0〜T1までの期間は電圧調
整を行なつているので、半導体素子２１〜２４は
どの素子がONでどの素子がOFFであるか、はわ
からず、運転停止時刻T1の直後は各々の半導体
素子の分坦電圧は異なつていると考えられる。そ
こで時刻T1の直後時刻T2からT3までの所定の期
間ダウンエツジでトリガされるワンシヨツト回路
１５によりパルスを出し、電圧調整回路１のすべ
ての半導体素子２１〜２４をオン状態とする。時
刻T2で半導体素子２１〜２４がオン状態となる
と、スナバ抵抗３１〜３４を介してスナバコンデ
ンサ４１〜４４の電荷が放電され百μS程度でス
ナバコンデンサ４１〜４４の分担電圧は等しく零
となる。そこで時刻T3で、半導体素子２１〜２
４を一斉にオフすれば、半導体素子２１〜２４と
非線形抵抗５１〜５４がすべて健全であればブリ
ツジ回路は平衡を保ち、電圧検出回路７は出力零
であり、もし、半導体素子２１〜２４あるいは非
線形抵抗５１〜５４に異常が存在するならば、ブ
リツジ回路の平衡がくずれ、電圧検出回路７は、
故障を検出することができる。従つて、電圧検出
回路７の出力を時刻T3以降とりこむことにすれ
ば誤まりのない故障検出信号ｂを得ることができ
る。T2〜T5までの期間はスナバ抵抗とスナバコ
ンデンサによる時定数から、スナバコンデンサが
十分に放電できる時間をとる様にすればよい。
第１図においてタイムデイレイ回路１１をはぶ
き、T1とT2の期間は零とおいてもよい。また、
電圧調整回路と、負荷抵抗の間にスイツチを設け
半導体素子２１〜２４をすべてオンするT2〜T3
の期間のみ、回路電流をバイパスするか、あるい
は高抵抗を電圧調整回路と負荷の間に設けること
により、停止期間中に負荷に大電流を流すことを
さけることができる。
き、T1とT2の期間は零とおいてもよい。また、
電圧調整回路と、負荷抵抗の間にスイツチを設け
半導体素子２１〜２４をすべてオンするT2〜T3
の期間のみ、回路電流をバイパスするか、あるい
は高抵抗を電圧調整回路と負荷の間に設けること
により、停止期間中に負荷に大電流を流すことを
さけることができる。
以上の説明の様に本発明によれば、電圧調整回
路を運転停止後、ただちに所定の期間全半導体素
子をオンした後にブリツジ回路の電圧を検出する
ことにより、運転停止後短時間のうちに誤動作の
ない半導体素子、あるいは非線形抵抗の故障検出
を行なうことができる。
路を運転停止後、ただちに所定の期間全半導体素
子をオンした後にブリツジ回路の電圧を検出する
ことにより、運転停止後短時間のうちに誤動作の
ない半導体素子、あるいは非線形抵抗の故障検出
を行なうことができる。
第１図は本発明による電圧調整回路の故障検出
回路の一実施例を示すブロツク図、第２図はその
タイミングチヤート、第３図は半導体素子と非線
形抵抗体を並列に接続した従来の電圧調整回路の
故障検出回路の一実施例を示すブロツク図、第４
図は第３図の動作を説明するためのタイムチヤー
トである。 １……電圧調整回路、２１〜２４……半導体素
子、３１〜３４……スナバ抵抗、４１〜４４……
スナバコンデンサ、５１〜５４……非線形抵抗
体、６１〜６２……分圧用抵抗、７……電圧検出
回路、８……直流電源、９……負荷抵抗、１０…
…半導体制御回路、１１……タイムデイレイ回
路、１２……インバータ、１４……OR回路、１
５……ワンシヨツト回路、１６……OR回路。
回路の一実施例を示すブロツク図、第２図はその
タイミングチヤート、第３図は半導体素子と非線
形抵抗体を並列に接続した従来の電圧調整回路の
故障検出回路の一実施例を示すブロツク図、第４
図は第３図の動作を説明するためのタイムチヤー
トである。 １……電圧調整回路、２１〜２４……半導体素
子、３１〜３４……スナバ抵抗、４１〜４４……
スナバコンデンサ、５１〜５４……非線形抵抗
体、６１〜６２……分圧用抵抗、７……電圧検出
回路、８……直流電源、９……負荷抵抗、１０…
…半導体制御回路、１１……タイムデイレイ回
路、１２……インバータ、１４……OR回路、１
５……ワンシヨツト回路、１６……OR回路。
Claims (1)
- １ 半導体素子とスナバー回路及び非線形抵抗素
子を並列に接続した回路を複数個直列に構成した
電圧調整回路と該電圧調整回路に並列に接続され
る一対の分圧用抵抗から成る直列回路とでブリツ
ジ回路を構成し、前記電圧調整回路と直列回路の
中間点からブリツジ回路の出力電圧を得て、前記
半導体素子あるいは非線形抵抗体の故障を検出す
るようにした故障検出装置において、前記電圧調
整回路の運転停止後又は運転期間の最後に所定期
間前記電圧調整回路の全半導体素子を導通状態に
する手段を具備した故障検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59177428A JPS6156977A (ja) | 1984-08-28 | 1984-08-28 | 故障検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59177428A JPS6156977A (ja) | 1984-08-28 | 1984-08-28 | 故障検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6156977A JPS6156977A (ja) | 1986-03-22 |
| JPH0339633B2 true JPH0339633B2 (ja) | 1991-06-14 |
Family
ID=16030760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59177428A Granted JPS6156977A (ja) | 1984-08-28 | 1984-08-28 | 故障検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6156977A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6467171A (en) * | 1987-09-05 | 1989-03-13 | Ekushimu Shokai Kk | Apparatus for applying twist pleat to bun or such |
| JP3635028B2 (ja) * | 2000-11-24 | 2005-03-30 | レオン自動機株式会社 | 食品素材に対する襞成形装置 |
-
1984
- 1984-08-28 JP JP59177428A patent/JPS6156977A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6156977A (ja) | 1986-03-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4074182A (en) | Power supply system with parallel regulators and keep-alive circuitry | |
| US10569800B2 (en) | Monitoring system for electric power assisted steering | |
| JPH0525065B2 (ja) | ||
| US5466976A (en) | Time constant detecting circuit and time constant adjusting circuit | |
| JPH0339633B2 (ja) | ||
| JP3939924B2 (ja) | バッファ回路及びバッファ回路付きメモリ集積回路 | |
| JP2974104B2 (ja) | インテリジェントパワスイッチ用回路 | |
| US5453677A (en) | Battery charger with high sensitivity | |
| JP3124321B2 (ja) | 電流測定レンジ自動切換回路 | |
| JPH035929Y2 (ja) | ||
| JPH0312023Y2 (ja) | ||
| JPH0524222Y2 (ja) | ||
| JPS6049417A (ja) | 過電流検出回路 | |
| JP3541099B2 (ja) | 電圧検出回路 | |
| JP2581038B2 (ja) | タイマ回路 | |
| JPH02137008A (ja) | 安定化電源回路 | |
| JP2603103Y2 (ja) | コンデンサ充電電圧調整装置 | |
| JP2602415Y2 (ja) | 半導体スイッチ装置用故障検出装置 | |
| JPH0827664B2 (ja) | 給電検出回路 | |
| JP2723688B2 (ja) | 半導体集積回路の周波数特性測定装置 | |
| JPS62228173A (ja) | 電池電圧検出回路 | |
| JP2601860B2 (ja) | 電力変換装置 | |
| JPH01303054A (ja) | 電源装置 | |
| JP2000287373A (ja) | コンデンサ蓄電装置 | |
| JP2848651B2 (ja) | 半導体集積装置 |