JPH034191A - 放射能汚染密度の測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は放射能汚染密度の測定方法に係り、特に原子力
発電所に於ける放射性物質取り扱い設備、例えば圧力タ
ンク、配管、壁、床等の表面の放射能密度を測定する放
射能汚染密度の測定方法に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種の放射能汚染密度の測定方法は、ＧＭ管等
のサーベイメータで汚染表面を直接測定したり、放射能
汚染表面を切り出し、その切り出したサンプルを低バツ
クグランド（以下Ｂ−Ｇと示す）の雰囲気内で測定した
りしている。また、他の方法としてスミャ法があり、こ
のスミャ法は、汚染表面の一定面積を口紙又は０布で拭
き取り、放射性物質の移行した前記口紙又は０布をサン
プルチェンジャー等の専用測定器で放射能量を計測し、
計測した放射能量を前記表面積で除算する。

これによって、汚染表面の放射能汚染密度を求めること
ができる。

〔発明が解決しようする課題〕

しかしながら、ＧＭ管等のサーベイメータを用いる方法
では、放射能汚染表面の汚染レベルがＢ・Ｇの雰囲気と
比較して低い場合、測定精度が低下するので、放射能汚
染密度を正確に測定することができないという欠点があ
る。

また、切り出したサンプルを測定する方法では、汚染表
面が装置の構成部品であったり、設置そのものであった
りした場合、切り出すことができない場合が多い。

一方、スミャ法では、放射能の拭き取り効率が１０％か
ら５０％であり、また拭き取り方に個人差があるので、
正確に測定することができない。

また、前記スミャ方法は、汚染表面の汚染が強固である
場合及び放射能が内部に浸透している場合には拭き取る
ことができず、表面の汚染がルーズである場合でしか測
定することができないという欠点がある。

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、放射
能汚染表面を切り出すことなく、正確に放射能密度を測
定することができる放射能汚染密度の測定方法を提供す
ることを目的とする。

〔課題を解決する為の手段〕

本発明は、前記目的を達成する為に、放射能に汚染され
たタンク、壁、床等の表面の放射能汚染密度を求める放
射能汚染密度の測定方法に於いて、前記放射能汚染表面
をプラスト法によって研削し、研削した被研削物を容器
に回収し、該容器中の放射能量を放射能検出手段によっ
て測定し、測定した値を研削した汚染表面の表面積で除
算して放射能汚染密度を求めることを特徴とする。

〔作用〕

本発明によれば、プラスト法によって、放射能汚染表面
（１８ａ）の測定面（２ｏ）を研削し、ブラスト材（１
４）で研削された汚染表面（１８ａ）の被研削物（２４
）とを容器（１０）に回収し、放射能検出手段（２８）
でこの容器（１ｏ）中の放射能量を測定する。この測定
した測定値を前記汚染表面（１８ａ）の表面積で除算す
る。これによって、正確に汚染表面（１８ａ）の放射能
密度を求めることができる。

〔実施例〕

以下添付図面に従って本発明に係る放射能汚染密度の測
定方法の好ましい実施例を詳説する。

第１図は本発明に係る放射能汚染密度の測定装萱の実施
例を示す断面図が示されている。

第１図に於いて、容器ｌＯは上部側面を開口してフィル
タ１２．１２が取付けられ、容器ｌＯ内には粒状のブラ
スト材１４が貯留さ−れている。また、前記容器１０の
上部開口部１０ａには密閉ダクト１６が連通されている
。この密閉ダク）１６の端部開口部１６ａは、壁１８の
放射能汚染壁面１８ａに密閉して取付けられ、壁面１８
ａに前記開口部１６ａの開口表面積と等しい測定面２０
が第２図に示すように円形に画成されている。更に、前
記容器ｌＯ内及び密閉ダク）１６内には、略丁字形状の
噴射ノズル２２が設置されている。噴射ノズル２２の下
端の吸引口２２ａは、前記容器ｌＯ内のブラスト材１４
中に埋設されている。また、右端の人口２２ｂは密閉ダ
クト１６の外に設置され、図示しないエアー源から加圧
したエアーが送り込まれる。左端の噴射口２２ｃは、テ
ーパ形状に形成されて前記密閉ダク）１６内に設けられ
、測定面２０から若干能して設置されている。これによ
って、容器１０内のブラスト材１４は、噴射ノズル２２
の人口２２ｂから送り込まれた加圧エアーによって、吸
引口２２ａから噴射ノズル２２に沿って矢印入方向に吸
引される。吸引されたブラスト材１４は、矢印Ｂ方向に
エアー搬送されて噴射口２２Ｃから測定面２０に向けて
噴射される。

また、前記噴射口２２Ｃから噴射したブラスト材１４は
、測定面２０全域に衝突して測定面２０を研削する。従
って、ブラスト材１４は研削された放射性物質を含む被
研削物２４とともに、密閉ダク）１６内を矢印Ｃ方向に
エアー搬送されて容器ｌＯ内に送り込まれる。容器ｌＯ
内に送り込まれたエアーは、フィルタ１２．１２を介し
て容器１０外に放出される。また、ブラスト材１４及び
被研削物２４は、フィルタ１２．１２によって前記エア
ーと分離されて容器ＩＯに回収される。従って、放射能
に汚染された測定面２００表層は、ブラスト材によって
研削されて容器ｌＯ内に回収することができる。

次に、前記放射能汚染密度の測定襞間によって回収され
た被研削物の放射能汚染密度の測定方法について説明す
る。

先ず、ブラスト材１４及び被研削物２４の混合物を回収
した容器ＩＯを、密閉ダク）１６から取り外し、容器ｌ
Ｏの開口部１０ａを第３図に示すように蓋２６で閉じる
。次に、前記容器ｌＯをγ線検出器２８の上部のγ線検
出面２８ａ上に載置する。次いで、遮蔽箱３０で容器１
０の全域を囲み、遮蔽箱３０内の雰囲気のＢ−Ｇを低く
する。

この状態で、前記Ｂ−Ｇが低下したことを確認後、γ線
検出器を作動させ、容器１０内から放出するγ線をｒ線
検出面２８ａで導入し、容器ＩＯ内のブラスト材１４及
び被研削物２４に含まれる放射能量を測定する。この際
、前記Ｔ″Ｉ検出器２８の放射能量測定効率η（％）は
、容器ｌＯ内に於けるブラスト材１４の層高１とブラス
ト材１４の種類等によって異なるが、予め粉末状の標準
試料をブラスト材１４に混合して測定することで求めて
おくことができる。

ところで、前記測定効率ηは、次式によって表すことが
できる。

η＝η、Ｘη２ η１　はγ線検出器２８の固有効率（％）を示し、その
値は一定である。また、η２は幾何学的効率（％）を示
し、ブラスト材１４の前記層高ｌによって異なる値であ
る。第３図は、前記層高ｌと前記η、との関係を示す説
明図である。これによって、η２は層高！を測定するこ
とで求めることができるので、このη鵞と一定値である
η１を乗算することによって、ηを求めることができる
。

次に、壁面１８ａの放射能汚染密度Ａ（μＣｉ／ｃ＋／
）は、前記η（％）、ｒｌｉＭ検出器２８で計測された
全計数率Ｎ　（ｃｐｓ　）　、ｆＭ定面２０の表面積Ｓ
（ｃ＋ｊ）から、次式によって表すことができる。

従って、前記放射能汚染密度Ａは、容器１０に回収され
たブラスト材１４と被研削物の層高１１γ線検出器２８
による全計数ｆ！Ｎ及び測定面２０の表面積Ｓを測定す
ることによって求めることができるので、汚染表面を切
り出すことな（正確に壁面１８ａの放射能汚染密度を測
定することができる。

尚、本実施例で説明したブラスト材にはプラスチック、
アルミナ、鉄系等のブラスト材を用いるようにすればよ
い。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明に係る放射能汚染密度の測定
方法によれば、ブラスト法によって、放射能汚染表面を
局所的に研削し、研削した被研削物とブラスト材とを容
器に回収し、この容器をγ線検出器で容器中の放射能量
を測定し、この測定値を研削した前記汚染表面の表面積
で除算して放射能汚染密度を求めるようにしたので、汚
染表面を切り出すことなく正確に汚染表面の放射能密度
を求めることができる。

【図面の簡単な説明】

’Ｍ１図は本発明に係る放射能汚染密度の測定装置の実
施例を示す断面図、第２図は放射能汚染密度の測定装置
による汚染測定面の形状を示す説明図、第３図はγ線検
出器によるＴ線検出状況を示す説明図、第４図は層高と
幾何学的効率の関係を示す説明図である。 １０・・・容器、　　１２・・・フィルタ、　　１４・
・・ブラスト材、　　１６・・・密閉ダクト、　２２・
・・噴射ノズル。 出顆人　日豆プラント建設株式会社 第 ３ 図 第 図 濁 電 （ｃｍ）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 放射能に汚染されたタンク、壁、床等の表面の放射能汚
   染密度を求める放射能汚染密度の測定方法に於いて、 前記放射能汚染表面をブラスト法によって研削し、研削
   した被研削物を容器に回収し、該容器中の放射能量を放
   射能検出手段によって測定し、測定した値を研削した汚
   染表面の表面積で除算して放射能汚染密度を求めること
   を特徴とする放射能汚染密度の測定方法。