JPH0341952B2 - - Google Patents

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JPH0341952B2
JPH0341952B2 JP20819584A JP20819584A JPH0341952B2 JP H0341952 B2 JPH0341952 B2 JP H0341952B2 JP 20819584 A JP20819584 A JP 20819584A JP 20819584 A JP20819584 A JP 20819584A JP H0341952 B2 JPH0341952 B2 JP H0341952B2
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JP
Japan
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gas
heating
soldering
temperature distribution
locally
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JP20819584A
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JPS6188480A (ja
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  • Control Of Resistance Heating (AREA)
  • Furnace Details (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、特に被加熱物上面を所望の温度分布
に設定できる局所ガス加熱方法及び装置に関す
る。
〔発明の背景〕
配線基板上に電子部品をはんだ接続する方法に
おいては、耐熱性が低い部品を有するモジユール
はモジユール全体をはんだ溶融温度まで加熱する
ことができないため、はんだ付けする部品のみを
局所的に加熱し、その近傍の低耐熱性部品への影
響を極力小さくする加熱方法が必要である。この
場合、接続歩留り及び接続の信頼性の面から、は
んだ接続部が均一に加熱されることが重要であ
る。
従来の局所加熱方法及び装置として、IBM
Technical Disclosure Bulletinにおける“HOT
GAS GUN”(Vol.15 No.3 August 1972)に
示されているものがある。これは石英管の内部に
ヒータを組み込み、このヒータに通電すると同時
に石英管の一端からガスを送入し、他端から加熱
されたガスを送出するガス加熱装置であり、この
装置によつて生成した加熱ガスをはんだ付される
チツプの背面に吹き付けてはんだ付けする方法も
同時に示されている。
ところがこの方法においては、ガス吹出し口で
のガス温度分布は、ノズル先端形状によつて決ま
つてしまうため、はんだ付けされる部品の形状、
寸法、熱容量、基板の材質が異なるとはんだ付け
部の温度分布が不均一になり、接続不良の増加、
接続信頼性の低下及び基板の破損をまねく等の懸
念があつた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記の問題点をなくし、被加
熱面の温度分布を所望の値に設定できる加熱方法
及び装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は配線基板に電子部品をはんだ接続する
ためにはんだ付け部に局所的に加熱する局所加熱
方法及び装置であつて、各々独立して加熱量を制
御し得る複数の発熱体をガス通風方向に設けた管
体によつて所定の温度分布に加熱されたガスをは
んだ付け部に吹き付けて局所的に加熱することを
特徴とする。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図乃至第11図
により詳細に説明する。
第1図は本発明によるガス加熱装置の正面図、
第2図は平面図である。第1図及び第2図におい
て、例えば石英管2の内部には、複数個の発熱体
4a,4b,4c,4d,4e,4f,4gが配
置されており、それぞれの発熱体は、電力供給端
子6a,6b,6c,6d,6e,6f,6g
(6f,6gは図示せず)に接続されている。ガ
ス送入口8は、電力供給端子盤10の上部に配置
され、石英管2の下部はガス送出口11となつて
いる。第3図〜第5図は、第1図及び第2図に示
すガス加熱装置により加熱されたガスの、ガス送
出口11の領域における温度分布を等温線図で示
したものである。
以上の構成において、ガス送入口8からガスを
送り込み、各電力供給端子6a〜6gにあらかじ
め実験によつて求めた値の電力を供給することに
より、発熱体4a〜4gが加熱され、この発熱体
によつて加熱されたガスがガス送出口11から送
り出される。
ここで、各発熱体4a〜4gに独立して所望の
電力を供給することにより、ガス送出口11の位
置でのガス温度分布を所望の値に設定することが
できる。第3図は、外周部の6個の発熱体4a,
4b,4c,4d,4e,4f,4gに同じ電力
を供給し、中心部の発熱体4dに外周部の発熱体
より若干少ない電力を供給した場合のガス温度分
布である。また第4図は、発熱体4c,4d,4
eを高温にし、発熱体4a,4b,4f,4gを
低温にした場合の例、さらに第5図は発熱体4
a,4b,4d,4f,4gを高温にし、発熱体
4c,4eを低温にした場合のガス温度分布図で
ある。
このように、発熱体への電力供給量を個々に制
御することにより、ガス温度分布の形状を種々変
化させることができる。このため形状、大きさ、
熱容量が異なる被加熱物に対し、あらかじめ最適
な温度分布形状を求めておけば、異なつた部品に
対し常に最適の条件で加熱処理を再現性よく行な
うことができる。
第6図及び第7図は、石英管2の断面形状を短
形及び長円形にした他の実施例であるが、この場
合においても、第1図及び第2図に示した第1の
実施例と同様の効果が得られる。
第8図乃至第11図にさらに別の実施例を示
す。第8図は本発明による加熱方法によつて配線
基板上にLSIチツプをはんだリフロ接続する方法
を示す正面図、第9図は側面図、第10図は平面
図である。また第11図は加熱時の配線基板上の
温度分布図である。各図において同一符号は同一
構成要素を示す。
第8図乃至第10図において、配線パターンが
形成されたガラスを用いた基板12の上面には、
はんだバンプ13を有するLSIチツプ14が位置
合わせされ載置されている。基板12の下面及び
上面には、チツプ取り付けエリア15及び基板端
部16を開放形にした下部遮蔽板17と上部遮蔽
板18が設置されている。下部遮蔽板17は基板
保持具(図示せず)に設置固定されている。基板
12の内部には耐熱性が例えば130℃の樹脂19
が固着されており、上記遮蔽板18はこの樹脂1
9の上面を履つて保護している。
基板12の上方には、ガス加熱装置20が配置
されている。このガス加熱装置20は、長円形を
した石英管21内に、それぞれ独立に電力が供給
できる構成にした4個の発熱体22a,22b,
22c,22dを有しており、第8図において左
右方向、上下方向及び紙面に垂直方向にスライド
できる機構(図示せず)を有している。
第11図において、基板12上に二点鎖線で表
示した部分はチツプ取り付けエリア15で、その
周辺の曲線は等温線23である。
このような構成において、まず下部遮蔽板17
の開放部中央にチツプ取り付けエリア15が位置
するように、チツプ14を載置した基板12を設
置する。次いで、基板12の上面に上部遮蔽板1
8を設置する。次に、加熱されたガスを吹き出す
ガス加熱装置20をチツプ取り付けエリア15の
上方に位置するように設置する。ガス加熱装置2
0内の各発熱体は、チツプ取り付け部の温度分布
が第11図に示すように、チツプ取り付けエリア
15と基板端部16が等温になるようにあらかじ
め設定されている。このような状態で一定時間加
熱することにより、はんだバンプ13は溶融し、
基板12とチツプ14ははんだ接合される。はん
だ溶融後、一定時間経過後にガス加熱装置20を
ボンデイング部から移動させ、ボンデイング部を
自然冷却することにより、接続部のはんだが凝固
し、ボンデイングが完了する。
本実施例では、基板にガラスを用いているた
め、基板端部に引張り応力が作用すると容易に基
板破断を起こして致命的な不良となる。このよう
な不良に発生させない温度分布形状として第11
図に示す如くチツプ取り付けエリア15と基板端
部16を等温とする温度分布で加熱することが有
効である。ところが、チツプ取り付けエリア15
には形状及び寸法が異なるLSIチツプが取り付け
られることがあり、その都度チツプ取り付けエリ
ア15での熱容量が異なり、一定条件の加熱では
チツプの種類によつて異なる温度分布形状が生じ
上述した不良の原因となるが、本発明ではガス加
熱装置20内の発熱体22a,22b,22c,
22dの電力供給量をそれぞれのチツプ形状に適
合した値に設定することができ、チツプの種類が
違つても常に最適な温度分布形状を確保すること
ができる。
〔発明の効果〕
以上述べた如く本発明によれば、チツプ取り付
けエリアと基板端部を常に等温に保持することが
できるため、基板端部においてガラス破断の原因
となる引張り熱応力の発生をなくすることがで
き、ボンデイング処理時のガラス破断不良を皆無
にすることが可能である。また、加熱ガス吹出し
口でのガス温度分布を所望の値に選定できるた
め、寸法及び熱容量の異なる種々のチツプに対し
ても、常に最適なボンデイング条件を容易に選定
することが可能となり、作業効率の向上及び接続
歩留り、接続信頼性の大巾向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるガス加熱装置の正面図、
第2図は第1図の平面図、第3図乃至第5図はガ
スの温度分布等温線図、第6図及び第7図は本発
明による他のガス加熱装置の平面図、第8乃至第
10図は本発明によるガス加熱装置を用いたチツ
プボンデイング加熱方法のそれぞれ正面図、側面
図及び平面図、第11図は、チツプボンデイング
時の基板上面の温度分布等温線図である。 2,21…石英管、4,22…発熱体、12…
基板、14…チツプ、15…チツプ取り付けエリ
ア、16…基板端部、20…ガス加熱装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 配線基板に電子部品をはんだ接続するために
    はんだ付け部を局所的に加熱する局所加熱方法で
    あつて、各々独立して発熱量を制御し得る複数の
    発熱体を通風方向に内蔵した管体にガスを送入
    し、前記発熱体により前記通風方向と垂直な面に
    おいて所定の温度分布に加熱されたガスを前記管
    体から送出して前記はんだ付け部を局所的に加熱
    することを特徴とする局所加熱方法。 2 配線基板に電子部品をはんだ接続するために
    はんだ付け部を局所的に加熱する局所加熱装置で
    あつて、内部にガスを通風させる管体と、該管体
    の内部にかつ通風方向に設けられ各々独立して発
    熱量を制御し得る複数の発熱体と、該発熱体の発
    熱量を各々独立に制御する手段とを備え、前記管
    体を通過させることにより前記通風方向と垂直な
    面において所定の温度分布に加熱されたガスを前
    記はんだ付け部に吹き付けて局所的に加熱するこ
    とを特徴とする局所加熱装置。
JP20819584A 1984-10-05 1984-10-05 局所加熱方法及び装置 Granted JPS6188480A (ja)

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JP20819584A JPS6188480A (ja) 1984-10-05 1984-10-05 局所加熱方法及び装置

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JP20819584A JPS6188480A (ja) 1984-10-05 1984-10-05 局所加熱方法及び装置

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JPS6188480A JPS6188480A (ja) 1986-05-06
JPH0341952B2 true JPH0341952B2 (ja) 1991-06-25

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JP2012146842A (ja) * 2011-01-13 2012-08-02 Sensbey Co Ltd 選択はんだ付け装置および選択はんだ付け方法
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DE202019105035U1 (de) 2019-09-12 2019-10-11 Ebm-Papst St. Georgen Gmbh & Co. Kg Außenläuferrotorvorrichtung mit integrierter Sensorik sowie Verwendung

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