JPH0342324Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0342324Y2 JPH0342324Y2 JP7340283U JP7340283U JPH0342324Y2 JP H0342324 Y2 JPH0342324 Y2 JP H0342324Y2 JP 7340283 U JP7340283 U JP 7340283U JP 7340283 U JP7340283 U JP 7340283U JP H0342324 Y2 JPH0342324 Y2 JP H0342324Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- contact
- contacts
- position detection
- patterns
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〈技術分野〉
本考案は回転体の位置検知するためのセンサー
（検出装置）に関し、例えばタイプライターにお
いてカム円板の回転によつてリボンシフトさせる
機構があり、そのカム円板の回転位置を検知する
センサーに用いられる。
（検出装置）に関し、例えばタイプライターにお
いてカム円板の回転によつてリボンシフトさせる
機構があり、そのカム円板の回転位置を検知する
センサーに用いられる。
〈従来技術〉
従来、回転体の位置検知を行うためのセンサー
は第１図に示す構成となつている。
は第１図に示す構成となつている。
即ち、回転体に連結された導体パターン１１を
有するパターン円板１０と、前記導体パターン１
１に接触される接点群２０から構成されている。
有するパターン円板１０と、前記導体パターン１
１に接触される接点群２０から構成されている。
前記パターン円板１０の導体パターン１１は円
板の中心部に設けられた円形状のパターン１１Ａ
と径方向及び円周方向に位置をづらして設けられ
たパターン１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄを有すると共
に各パターン１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄはパターン
１１Ａから順次接続された構成となつている。
板の中心部に設けられた円形状のパターン１１Ａ
と径方向及び円周方向に位置をづらして設けられ
たパターン１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄを有すると共
に各パターン１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄはパターン
１１Ａから順次接続された構成となつている。
接点群２０は前記円板１０上に適宜間隔をもつ
て並設されており、接点２０Ａはパターン１１Ｄ
とまた接点２０Ｂはパターン１１Ｃと、接点２０
Ｃはパターン１１Ｂと夫々対向するように構成さ
れている。
て並設されており、接点２０Ａはパターン１１Ｄ
とまた接点２０Ｂはパターン１１Ｃと、接点２０
Ｃはパターン１１Ｂと夫々対向するように構成さ
れている。
また、接点２０Ａ〜２０Ｃは＋Ｖなる電源によ
つてクランプされると共にこの接点２０Ａ，２０
Ｂ，２０Ｃからの出力信号は夫々Ａ、Ｂ、Ｃの端
子より出力される。他方、今一つの接点２０Ｇが
設けられており、これはパターン１１Ａをグラン
ドに接続させるためのものである。
つてクランプされると共にこの接点２０Ａ，２０
Ｂ，２０Ｃからの出力信号は夫々Ａ、Ｂ、Ｃの端
子より出力される。他方、今一つの接点２０Ｇが
設けられており、これはパターン１１Ａをグラン
ドに接続させるためのものである。
このセンサー構成において、パターン円板１０
が回転体とともに回転され、X1位置が接点群２
０と対応すると、接点２０Ｃはグランドレベルに
なりまた接点２０Ａ，２０Ｂはクランプレベルと
なる。
が回転体とともに回転され、X1位置が接点群２
０と対応すると、接点２０Ｃはグランドレベルに
なりまた接点２０Ａ，２０Ｂはクランプレベルと
なる。
また、円板１０のX2位置が接点群２０と対応
すると接点２０Ｂがグランドレベルになり、接点
２０Ａ，２０Ｃはクランプレベルとなる。
すると接点２０Ｂがグランドレベルになり、接点
２０Ａ，２０Ｃはクランプレベルとなる。
更に円板１０のX3位置が接点群２０と対応す
ると、接点２０Ａがグランドレベルになり、接点
２０Ｂ，２０Ｃはクランプレベルとなる。
ると、接点２０Ａがグランドレベルになり、接点
２０Ｂ，２０Ｃはクランプレベルとなる。
第２図は第１図のパターン円板１０のパターン
を直線的に展開した図であり、接点群２０との位
置関係を示している。
を直線的に展開した図であり、接点群２０との位
置関係を示している。
接点群２０（接点２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ，２
０Ｇ）は支持体３０によりモールド等で支持さ
れ、この支持体３０は両端部の長溝３１，３１を
介してビス３２，３３により取付けられる。この
支持体３０はその長溝３１，３１の範囲で矢印方
向に調整ができるようになつている。
０Ｇ）は支持体３０によりモールド等で支持さ
れ、この支持体３０は両端部の長溝３１，３１を
介してビス３２，３３により取付けられる。この
支持体３０はその長溝３１，３１の範囲で矢印方
向に調整ができるようになつている。
所で、前記第２図に示すように接点と対応する
パターンの関係はｄ＝ｅつまりパターンの中央を
接点が通過することである。
パターンの関係はｄ＝ｅつまりパターンの中央を
接点が通過することである。
しかし製作上の誤差や組立時の誤差等によつて
前記関係がｄ≠ｅとなり、時にはｅ又はｄが殆ん
ど“０”又はマイナス（隣のパターンと接触）と
なることがある。
前記関係がｄ≠ｅとなり、時にはｅ又はｄが殆ん
ど“０”又はマイナス（隣のパターンと接触）と
なることがある。
この内、マイナスの場合は例えばパターン円板
を回転させて各接点の端子Ａ，Ｂ，Ｃからの信号
でチエツクできるが、問題はｅ又はｄが殆んど
“０”の時である。
を回転させて各接点の端子Ａ，Ｂ，Ｃからの信号
でチエツクできるが、問題はｅ又はｄが殆んど
“０”の時である。
この場合、パターン円板を回転させて出力信号
のチエツクを行うと、マージンが殆んど“０”に
もかかわらず、一応正規の信号が出力されること
からこの出力信号でのチエツクはできない。ま
た、この種のセンサーは接点などを埃から保護す
るために、目視出来ない位置に取付けられること
が多く、目視による調整も困難であつた。
のチエツクを行うと、マージンが殆んど“０”に
もかかわらず、一応正規の信号が出力されること
からこの出力信号でのチエツクはできない。ま
た、この種のセンサーは接点などを埃から保護す
るために、目視出来ない位置に取付けられること
が多く、目視による調整も困難であつた。
従つて、前述の如くマージンが殆んど“０”の
状態で組立が行われた場合にはそのチエツクがで
きないままで使用され、使用時において外力、摩
耗、振動、温度変化等の要因により誤動作を招来
することが多いものであつた。
状態で組立が行われた場合にはそのチエツクがで
きないままで使用され、使用時において外力、摩
耗、振動、温度変化等の要因により誤動作を招来
することが多いものであつた。
〈目 的〉
本考案は前記問題を解決するために提案された
ものであり、特に前記したマージンつまりｄ及び
ｅの確保が容易にできるようにしたものである。
ものであり、特に前記したマージンつまりｄ及び
ｅの確保が容易にできるようにしたものである。
〈実施例〉
第３図は本考案にかかわるパターン円板のパタ
ーンを直線的に展開した図であり、接点との位置
関係を示している。
ーンを直線的に展開した図であり、接点との位置
関係を示している。
パターン円板には第１図と同様なパターン１１
Ａ，１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄが設けられまた接点
群２０も第１図と同様な接点２０Ａ，２０Ｂ，２
０Ｃ，２０Ｇを備えており、第３図では便宜上接
点２０Ｂだけを示している。
Ａ，１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄが設けられまた接点
群２０も第１図と同様な接点２０Ａ，２０Ｂ，２
０Ｃ，２０Ｇを備えており、第３図では便宜上接
点２０Ｂだけを示している。
また、パターン円板には前記パターン１１Ａ〜
１１Ｄとは別に通常使用しない回転位置にテスト
用のパターン４０を設けている。
１１Ｄとは別に通常使用しない回転位置にテスト
用のパターン４０を設けている。
このテスト用のパターン４０は接点２０Ｂに対
応するパターン４０Ｃの幅Ｋを、接点２０Ｂが使
用時に実際に接触するパターン１１Ｃの有効幅Ｆ
より狭く設定されまた接点２０Ａに対応するパタ
ーン４０Ｄの幅についても同様にパターン１１Ｄ
の有効幅より狭く設定されている。前記パターン
４０Ｃと４０Ｄとは相互に位相がずれた位置に形
成されている。
応するパターン４０Ｃの幅Ｋを、接点２０Ｂが使
用時に実際に接触するパターン１１Ｃの有効幅Ｆ
より狭く設定されまた接点２０Ａに対応するパタ
ーン４０Ｄの幅についても同様にパターン１１Ｄ
の有効幅より狭く設定されている。前記パターン
４０Ｃと４０Ｄとは相互に位相がずれた位置に形
成されている。
このテスト用のパターン４０は上記接点２０
Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ間の電通を確認するためのも
のであり、テスト時には接点２０Ａ〜２０Ｃの各
端子Ａ，Ｂ，Ｃをテスト回路にコネクターをもつ
て接続する。
Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ間の電通を確認するためのも
のであり、テスト時には接点２０Ａ〜２０Ｃの各
端子Ａ，Ｂ，Ｃをテスト回路にコネクターをもつ
て接続する。
即ち、組立後接点群２０とパターン１１Ａ〜１
１Ｄの関係をチエツクするために、前記テスト用
のパターン４０を使用する。
１Ｄの関係をチエツクするために、前記テスト用
のパターン４０を使用する。
このテスト用のパターン４０でチエツクを行な
う場合、接点２０Ａ〜２０Ｃが適正位置に配置さ
れておれば、接点間の導通がない。
う場合、接点２０Ａ〜２０Ｃが適正位置に配置さ
れておれば、接点間の導通がない。
所が、第３図の接点２０Ｂの位置は多少ずれた
状態を示しており、この状態でテスト用のパター
ン４０でチエツクすると接点２０Ｂがパターン４
０Ｆに接触しまた接点２０Ａがパターン４０Ｄに
接触するタイミングＳにおいて接点２０Ａと２０
Ｂが導通し、不良状態にあることをチエツクでき
る。
状態を示しており、この状態でテスト用のパター
ン４０でチエツクすると接点２０Ｂがパターン４
０Ｆに接触しまた接点２０Ａがパターン４０Ｄに
接触するタイミングＳにおいて接点２０Ａと２０
Ｂが導通し、不良状態にあることをチエツクでき
る。
この場合、接点２０Ｂとパターン４０Ｆのマー
ジンが“０”であつても、本来のパターン１１Ｃ
上では、なお“Ｈ”のマージンを確保できる。逆
に、本来のパターン１１Ｃ上でマージンが“０”
状態にある時にはテスト用パターン４０側で接点
２０Ａと２０Ｂが導通し、不良状態にあることを
チエツクできる。
ジンが“０”であつても、本来のパターン１１Ｃ
上では、なお“Ｈ”のマージンを確保できる。逆
に、本来のパターン１１Ｃ上でマージンが“０”
状態にある時にはテスト用パターン４０側で接点
２０Ａと２０Ｂが導通し、不良状態にあることを
チエツクできる。
またテスト用パターン４０の接点２０Ｂとパタ
ーン４０Ｅとの関係についても上記同様であり、
接点２０Ｂとパターン４０Ｅのマージンが“０”
であつても、本来のパターン１１Ｃ上では、なお
Ｊのマージンを確保できる。
ーン４０Ｅとの関係についても上記同様であり、
接点２０Ｂとパターン４０Ｅのマージンが“０”
であつても、本来のパターン１１Ｃ上では、なお
Ｊのマージンを確保できる。
なお、テスト用パターン４０は通常の使用状態
においては接点２０Ｇに対するパターンを有して
いないので問題はない。
においては接点２０Ｇに対するパターンを有して
いないので問題はない。
〈効 果〉
以上のように、本考案の位置検出装置ではテス
ト用パターンを設けることにより接点のチエツク
が簡単にでき、使用時において外力、摩耗、振
動、温度変化等の要因により誤動作を招来するこ
とがなくまた構成的にも簡単で実用性に富む特徴
を有する。
ト用パターンを設けることにより接点のチエツク
が簡単にでき、使用時において外力、摩耗、振
動、温度変化等の要因により誤動作を招来するこ
とがなくまた構成的にも簡単で実用性に富む特徴
を有する。
第１図は従来の回転体の位置検知を行なうセン
サー構成を示す図、第２図は第１図のパターン円
板のパターンを直線的に展開した図、第３図は本
考案の位置検知を行なうセンサー構成を示す図で
ある。 １０……パターン円板、１１……導体パター
ン、２０Ａ〜２０Ｃ及び２０Ｇ……接点、３０…
…支持体、４０……テスト用パターン。
サー構成を示す図、第２図は第１図のパターン円
板のパターンを直線的に展開した図、第３図は本
考案の位置検知を行なうセンサー構成を示す図で
ある。 １０……パターン円板、１１……導体パター
ン、２０Ａ〜２０Ｃ及び２０Ｇ……接点、３０…
…支持体、４０……テスト用パターン。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 回転体に連結された導体パターン１１を有する
パターン円板１０と、前記導体パターン１１に接
触される接点２０から構成される回転体の位置検
出装置において、 前記導体パターン１１がパターン円板の径方向
及び円周方向に位相をずらした複数の位置検出パ
ターン１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄを備えると共に、
前記接点２０が前記複数の位置検出パターン１１
Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄに夫々対応する複数の接点２
０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃを備え、 前記パターン円板１０に、前記位置検出パター
ン１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄに対応し、且つ前記接
点２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃが接触する有効幅より
狭く設定してなる複数の導体パターン４０Ｃ，４
０Ｄであつて各導体パターン４０Ｃ，４０Ｄ間を
相互にずらせた位置に形成したものと、該導体パ
ターン４０Ｃ，４０Ｄを接続する接続用パターン
４０Ｅ，４０Ｆからなる、前記複数の接点２０
Ａ，２０Ｂ，２０Ｃと前記位置検出パターン１１
Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄとの整合関係をチエツクする
ためのテスト用パターン４０を、前記位置検出パ
ターン１１Ｂ，１１Ｃ，１１Ｄとは別個に設けた
ことを特徴とする回転体の位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7340283U JPS59179309U (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 回転体の位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7340283U JPS59179309U (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 回転体の位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59179309U JPS59179309U (ja) | 1984-11-30 |
| JPH0342324Y2 true JPH0342324Y2 (ja) | 1991-09-05 |
Family
ID=30203525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7340283U Granted JPS59179309U (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 回転体の位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59179309U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105764550B (zh) | 2013-11-21 | 2019-12-24 | 诺和诺德股份有限公司 | 具有轴向开关和冗余特征的旋转传感器组件 |
| JP6534666B2 (ja) * | 2013-11-21 | 2019-06-26 | ノボ・ノルデイスク・エー／エス | 空間効率の良い設計を有する回転センサアセンブリ |
-
1983
- 1983-05-16 JP JP7340283U patent/JPS59179309U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59179309U (ja) | 1984-11-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB1492668A (en) | Apparatus for detecting the direction of a magnetic field | |
| EP0305076B1 (en) | Personality board | |
| GB1588437A (en) | Method of aligning a probe with a contact | |
| US3996514A (en) | Circuit board contact resistance probe | |
| JPH0342324Y2 (ja) | ||
| US4308498A (en) | Kelvin test fixture for electrically contacting miniature, two terminal, leadless, electrical components | |
| JPH0239205Y2 (ja) | ||
| JPS5934155Y2 (ja) | プリント配線基板 | |
| JPS62151772A (ja) | 高周波回路チップの試験装置 | |
| JPH0637337Y2 (ja) | プロ−ブ装置 | |
| JP2982423B2 (ja) | 絞り弁開度検出装置 | |
| JP3116326B2 (ja) | プロ―ブカ―ド | |
| JPS63127502A (ja) | ポテンシヨメ−タ用抵抗体 | |
| JPS5834556Y2 (ja) | 火災感知器 | |
| JPS59113502A (ja) | テ−プガイドドラム装置 | |
| JPH0621025Y2 (ja) | 隣接する２つのチップを同時に測定するプローブカード | |
| JPS6326578A (ja) | 集積回路試験器ソケツト | |
| JPH02300666A (ja) | 半導体測定装置 | |
| JP2563156Y2 (ja) | プローブボード | |
| JPS62217627A (ja) | 半導体素子の探針装置 | |
| JPS58116202U (ja) | グロ−プラグ用電流検出抵抗器 | |
| JP2523870Y2 (ja) | コネクタ | |
| JPS62131387U (ja) | ||
| JPH0523143U (ja) | 信号レベルモニタ治具 | |
| JPS61110982A (ja) | 半導体集積回路装置用ソケツト |