JPH0342497B2 - - Google Patents
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- JPH0342497B2 JPH0342497B2 JP59134788A JP13478884A JPH0342497B2 JP H0342497 B2 JPH0342497 B2 JP H0342497B2 JP 59134788 A JP59134788 A JP 59134788A JP 13478884 A JP13478884 A JP 13478884A JP H0342497 B2 JPH0342497 B2 JP H0342497B2
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Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明はホール素子、磁気抵抗素子等の化合物
半導体装置に関する。
半導体装置に関する。
(ロ) 従来の技術
インジウムアンチモナイド(InSb)、インジウ
ムアーセナイド(InAs)の様にキヤリア移動度
の高い化合物半導体は、磁気を作用させると抵抗
値が変化するという性質を有しており、この種化
合物半導体装置を用いた磁気検出器が実用化され
ている。
ムアーセナイド(InAs)の様にキヤリア移動度
の高い化合物半導体は、磁気を作用させると抵抗
値が変化するという性質を有しており、この種化
合物半導体装置を用いた磁気検出器が実用化され
ている。
第3図は上述した化合物半導体装置を用いた磁
気検出器の一般的な構成を示す正面断面図であ
り、図中21は筐体を示している。筐体21はプ
ラスチツク成形品であつて、上面に形成した開口
部21aはベリリウム−銅製の薄膜よりなる保護
板22にて閉鎖されている。保護板22は筐体2
1に一体にモールドされており、その外面には耐
摩耗性向上のために必要に応じてクロムメツキが
施される。
気検出器の一般的な構成を示す正面断面図であ
り、図中21は筐体を示している。筐体21はプ
ラスチツク成形品であつて、上面に形成した開口
部21aはベリリウム−銅製の薄膜よりなる保護
板22にて閉鎖されている。保護板22は筐体2
1に一体にモールドされており、その外面には耐
摩耗性向上のために必要に応じてクロムメツキが
施される。
第4図に示すように、筐体21内にはこの保護
板22と適当な間隙を隔てて化合物半導体装置か
らなる検出器本体20が配設されている。この検
出器本体20はセンサユニツト23、マウント基
板28及び永久磁石29等にて構成されている。
センサユニツト23はフエライト製の厚肉の磁性
体基板24上に相互に電気的に接続したインジウ
ムアンチモナイド等の化合物半導体素子からなる
磁気抵抗素子26,27を接着用樹脂25を用い
て並設したものであり、この磁性体基板24はこ
れよりも薄肉のプラスチツク製のマウント基板2
8に穿設した穴28aに嵌合させてある。この状
態では磁性体基板24の下面はマウント基板28
下面のリン青銅製の底板28′を隔てて、底板2
8′下面に一磁極端面を固定した円柱状のバイア
ス用永久磁石29に対向し、また両面の両磁気抵
抗素子26,27はマウント基板28の上面より
も所要寸法上方に高く位置した状態となつてい
る。マウント基板28上にはセンサユニツト23
を囲繞し、且つ上面を磁気抵抗素子26,27表
面よりも高くした環状スペース30が設けられて
おり、保護板22の周縁に該スペーサ30の上面
を当接させて保護板22と磁気抵抗素子26,2
7との間隔が所定値になるようにしてある。そし
て各磁気抵抗素子26,27の電極とマウント基
板28上のプリント配線28bの一端部とは金線
製の複数の導線31a,31b(図面には2本の
み表われている)を用いて接続され、またプリン
ト配線28bの他端部はマウント基板28の周縁
部においてリード線32a,32b,32cの一
端に接続されている。これらリード線32a,3
2b,32cの他端はプラスチツク製の蓋部材3
3に貫設したリード板34a,34b,34cに
接続されている。
板22と適当な間隙を隔てて化合物半導体装置か
らなる検出器本体20が配設されている。この検
出器本体20はセンサユニツト23、マウント基
板28及び永久磁石29等にて構成されている。
センサユニツト23はフエライト製の厚肉の磁性
体基板24上に相互に電気的に接続したインジウ
ムアンチモナイド等の化合物半導体素子からなる
磁気抵抗素子26,27を接着用樹脂25を用い
て並設したものであり、この磁性体基板24はこ
れよりも薄肉のプラスチツク製のマウント基板2
8に穿設した穴28aに嵌合させてある。この状
態では磁性体基板24の下面はマウント基板28
下面のリン青銅製の底板28′を隔てて、底板2
8′下面に一磁極端面を固定した円柱状のバイア
ス用永久磁石29に対向し、また両面の両磁気抵
抗素子26,27はマウント基板28の上面より
も所要寸法上方に高く位置した状態となつてい
る。マウント基板28上にはセンサユニツト23
を囲繞し、且つ上面を磁気抵抗素子26,27表
面よりも高くした環状スペース30が設けられて
おり、保護板22の周縁に該スペーサ30の上面
を当接させて保護板22と磁気抵抗素子26,2
7との間隔が所定値になるようにしてある。そし
て各磁気抵抗素子26,27の電極とマウント基
板28上のプリント配線28bの一端部とは金線
製の複数の導線31a,31b(図面には2本の
み表われている)を用いて接続され、またプリン
ト配線28bの他端部はマウント基板28の周縁
部においてリード線32a,32b,32cの一
端に接続されている。これらリード線32a,3
2b,32cの他端はプラスチツク製の蓋部材3
3に貫設したリード板34a,34b,34cに
接続されている。
ところで、従来各種トランジスタ、IC製品に
おけるペレツト、即ち素子側の電極と、ステム、
即ち基板側のリード板との接続には金線を用いて
ペレツト側に対しては金線の端末を溶融して玉状
とし、これを電極に押圧して釘頭形状に接着す
る、所謂ネイルヘツドボンドをし、また基板側の
リード板に対しては金線の端末を加熱しつつ圧着
する、所謂ステイツチボンドをするのが一般的で
あり、磁気検出器においてもリード線はペレツト
側である磁性抵抗素子の電極に対してはネイルヘ
ツドボンドし、また基板側であるプリント配線に
対してはステツチボンドをすることが行なわれて
いる。
おけるペレツト、即ち素子側の電極と、ステム、
即ち基板側のリード板との接続には金線を用いて
ペレツト側に対しては金線の端末を溶融して玉状
とし、これを電極に押圧して釘頭形状に接着す
る、所謂ネイルヘツドボンドをし、また基板側の
リード板に対しては金線の端末を加熱しつつ圧着
する、所謂ステイツチボンドをするのが一般的で
あり、磁気検出器においてもリード線はペレツト
側である磁性抵抗素子の電極に対してはネイルヘ
ツドボンドし、また基板側であるプリント配線に
対してはステツチボンドをすることが行なわれて
いる。
しかし上述した如き磁気検出器にあつてはその
感度は検出器本体20、特にその磁気抵抗素子2
6,27と被検物との離隔寸法と密接な関係があ
り、感度の向上を図るうえではこれを可及的に小
さくするのが望ましく、従つて保護板22の肉厚
は可及的に薄く、また保護板22と磁気抵抗素子
26,27の表面との離隔寸法は可及的に小さく
するのが望まれる。しかし上述の如きネイルヘツ
ドボンデイング方式を採用すると、ネイルヘツド
部分と金線部分とが連らなる部分、即ち首の部分
は弱く折り曲げると破断するおそれがあるため、
ネイルヘツド部分に連らなる金線部分は所要寸法
上方に立ち上らせ金線部分の中間にて曲げる必要
がある。このため導線31a,31bと保護板2
2との接触を避けるには磁気抵抗素子26,27
と保護板22内面との間に所定の間隔を隔てなけ
ればならずその短縮化には限界があり、磁気検出
器の感度向上を図る上での大きな障害となつてい
る。
感度は検出器本体20、特にその磁気抵抗素子2
6,27と被検物との離隔寸法と密接な関係があ
り、感度の向上を図るうえではこれを可及的に小
さくするのが望ましく、従つて保護板22の肉厚
は可及的に薄く、また保護板22と磁気抵抗素子
26,27の表面との離隔寸法は可及的に小さく
するのが望まれる。しかし上述の如きネイルヘツ
ドボンデイング方式を採用すると、ネイルヘツド
部分と金線部分とが連らなる部分、即ち首の部分
は弱く折り曲げると破断するおそれがあるため、
ネイルヘツド部分に連らなる金線部分は所要寸法
上方に立ち上らせ金線部分の中間にて曲げる必要
がある。このため導線31a,31bと保護板2
2との接触を避けるには磁気抵抗素子26,27
と保護板22内面との間に所定の間隔を隔てなけ
ればならずその短縮化には限界があり、磁気検出
器の感度向上を図る上での大きな障害となつてい
る。
そこで、本出願人は、上述した欠点を解消する
ために、第5図に示す如く、複数の磁気抵抗素子
26,27及びこれを固定する基板24を備えた
化合物半導体装置からなる検出器本体20を有す
る磁気検出器において、前記磁気抵抗素子26,
27の電極とマウント基板28上の配線部28b
とを接続する導線31a′,31b′の配線部側端部
を配線部28bに対し、ネイルヘツドボンドする
と共に、導線31a′,31b′を磁気抵抗素子2
6,27上にステイツチボンドすることにより、
従来のネイルヘツドボンド方式とは逆であつて磁
気抵抗素子26,27表面と被検物との間隔を格
段に短縮して、検出感度の大幅な向上を図り得る
ようにした磁気検出器を先に提案した(実願昭57
−166690号に詳しい。) (ハ) 発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記した導線31a′,31b′を
磁気抵抗素子26,27上にステイツチボンドす
る方式では、磁気抵抗素子26,27がもろい化
合物半導体で形成されているという性質上、ステ
イツチボンドの際の熱圧着の応力により、磁気抵
抗素子26,27内部に亀裂が生じ易く、断線に
より不良やノイズ不良などの原因となつていた。
また、接着用樹脂25上に電極を延在して、接着
用樹脂25上でステイツチボンドして磁気抵抗素
子26,27にストレスがかからないようにする
こともできるが、この方式では接着用樹脂25が
軟かいため、充分に加圧することができなく、電
極と導線31a′,31b′との接続が不良になると
いう欠点がある。
ために、第5図に示す如く、複数の磁気抵抗素子
26,27及びこれを固定する基板24を備えた
化合物半導体装置からなる検出器本体20を有す
る磁気検出器において、前記磁気抵抗素子26,
27の電極とマウント基板28上の配線部28b
とを接続する導線31a′,31b′の配線部側端部
を配線部28bに対し、ネイルヘツドボンドする
と共に、導線31a′,31b′を磁気抵抗素子2
6,27上にステイツチボンドすることにより、
従来のネイルヘツドボンド方式とは逆であつて磁
気抵抗素子26,27表面と被検物との間隔を格
段に短縮して、検出感度の大幅な向上を図り得る
ようにした磁気検出器を先に提案した(実願昭57
−166690号に詳しい。) (ハ) 発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記した導線31a′,31b′を
磁気抵抗素子26,27上にステイツチボンドす
る方式では、磁気抵抗素子26,27がもろい化
合物半導体で形成されているという性質上、ステ
イツチボンドの際の熱圧着の応力により、磁気抵
抗素子26,27内部に亀裂が生じ易く、断線に
より不良やノイズ不良などの原因となつていた。
また、接着用樹脂25上に電極を延在して、接着
用樹脂25上でステイツチボンドして磁気抵抗素
子26,27にストレスがかからないようにする
こともできるが、この方式では接着用樹脂25が
軟かいため、充分に加圧することができなく、電
極と導線31a′,31b′との接続が不良になると
いう欠点がある。
(ニ) 問題を解消するための手段
本発明は上述した問題点を解消すべくなされた
もので、化合物半導体素子の引出し電極を、化合
物半導体素子を基板に固着する接着用樹脂まで延
在して設けると共に、少なくとも前記電極と接着
用樹脂との間にシリコン化合物からなる保護膜を
配設したことを特徴とする。
もので、化合物半導体素子の引出し電極を、化合
物半導体素子を基板に固着する接着用樹脂まで延
在して設けると共に、少なくとも前記電極と接着
用樹脂との間にシリコン化合物からなる保護膜を
配設したことを特徴とする。
(ホ) 作用
本発明は、少なくとも電極と接着用樹脂との間
にシリコン化合物ろ配設することにより、接着用
樹脂上に延在した電極と導線との接続が強固に行
うことができる。
にシリコン化合物ろ配設することにより、接着用
樹脂上に延在した電極と導線との接続が強固に行
うことができる。
(ヘ) 実施例
以下、本発明をその爺施例を示す図面に基いて
説明する。
説明する。
第1図は本発明による化合物半導体装置を用い
た磁気検出器の検出器本体部分の拡大断面図であ
る。検出器本体20は化合物半導体装置からなる
センサユニツト23、マウント基板28、永久磁
石29等にて構成されている。センサユニツト2
3はフエライト製の厚肉の磁性体基板24上に相
互に電気的に接続されたインジウムアンチモナイ
ドなどの化合物半導体素子からなる磁気抵抗素子
26,27を接着用樹脂25を用いて並設され
る。また、磁気抵抗素子26,27上には接着用
樹脂25まで延在する引出し電極40,41が設
けられる。そして、本発明は引出し電極40,4
1と接着用樹脂25との間に酸化シリコン窒化な
どのシリコン化合物からなる保護膜42が設けら
れている。
た磁気検出器の検出器本体部分の拡大断面図であ
る。検出器本体20は化合物半導体装置からなる
センサユニツト23、マウント基板28、永久磁
石29等にて構成されている。センサユニツト2
3はフエライト製の厚肉の磁性体基板24上に相
互に電気的に接続されたインジウムアンチモナイ
ドなどの化合物半導体素子からなる磁気抵抗素子
26,27を接着用樹脂25を用いて並設され
る。また、磁気抵抗素子26,27上には接着用
樹脂25まで延在する引出し電極40,41が設
けられる。そして、本発明は引出し電極40,4
1と接着用樹脂25との間に酸化シリコン窒化な
どのシリコン化合物からなる保護膜42が設けら
れている。
このように構成したセンサユニツト23の磁性
体基板24をこれよりも薄肉のプラスチツク製の
マウント基板28に穿設した穴28aに嵌合して
固定する。この状態では磁性体基板24の下面は
マウント基板28下面のリン青銅製の底板28を
介して、バイアス用の永久磁石29に対向し、ま
た上面の磁気抵抗素子26,27はマウント基板
28上面より所要寸法高く位置している。マウン
ト基板28上には穴28aの周りにプリント配線
28bが設けられ、また周縁部にはセンサユニツ
ト23を囲繞し、且つ周縁部上面に磁気抵抗素子
26,27よりも高くした環状スペーサが設けら
れており、保護板22の周縁に該スペーサの上面
を当接させることにより保護板22と磁気抵抗素
子26,27との間隔が所定値になるようにして
ある。
体基板24をこれよりも薄肉のプラスチツク製の
マウント基板28に穿設した穴28aに嵌合して
固定する。この状態では磁性体基板24の下面は
マウント基板28下面のリン青銅製の底板28を
介して、バイアス用の永久磁石29に対向し、ま
た上面の磁気抵抗素子26,27はマウント基板
28上面より所要寸法高く位置している。マウン
ト基板28上には穴28aの周りにプリント配線
28bが設けられ、また周縁部にはセンサユニツ
ト23を囲繞し、且つ周縁部上面に磁気抵抗素子
26,27よりも高くした環状スペーサが設けら
れており、保護板22の周縁に該スペーサの上面
を当接させることにより保護板22と磁気抵抗素
子26,27との間隔が所定値になるようにして
ある。
そして各磁気抵抗素子26,27の電極とマウ
ント基板28上面のプリント配線28bの一端部
とを接続する導線31a′,31b′の一端31c′,
31c′は夫々第3図および第4図に示す従来の場
合とは逆にプリント配線28bの一端部に対して
ネイルヘツドボンドし、また端部31d′,31
d′は磁気抵抗素子26,27の引出し電極40,
41に対してステイツチボンドしてある。
ント基板28上面のプリント配線28bの一端部
とを接続する導線31a′,31b′の一端31c′,
31c′は夫々第3図および第4図に示す従来の場
合とは逆にプリント配線28bの一端部に対して
ネイルヘツドボンドし、また端部31d′,31
d′は磁気抵抗素子26,27の引出し電極40,
41に対してステイツチボンドしてある。
このように、接着用樹脂25と引出し電極4
0,41との間に保護膜42を介在せしめてい
る。従つて、接着用樹脂25上の電極40,41
にステイツチボンドする際に、保護膜42にてボ
ンテイング部分が堅固になつているので、十分な
加圧力を加えることができ、導線31a′,31
b′を電極40,41に十分な接着強度を持たして
接続できる。しかも、磁気抵抗素子26,27に
は、ストレスはかからないので、亀裂など生じれ
おそれはない。
0,41との間に保護膜42を介在せしめてい
る。従つて、接着用樹脂25上の電極40,41
にステイツチボンドする際に、保護膜42にてボ
ンテイング部分が堅固になつているので、十分な
加圧力を加えることができ、導線31a′,31
b′を電極40,41に十分な接着強度を持たして
接続できる。しかも、磁気抵抗素子26,27に
は、ストレスはかからないので、亀裂など生じれ
おそれはない。
つぎに、本発明によるセンサユニツト23の製
造方法の一例を第2図に従い簡単に説明する。
造方法の一例を第2図に従い簡単に説明する。
インジウムアンチモナイドなどの化合物半導体
片50にフオトレジストのパターン51を形成す
る(第2図イ)。半導体片50を一定深さにまで
エツチングして掘り込む(第2図ロ)。そして、
フオトレジストを取り除いて、酸化シリコンある
いは窒化シリコンなどからなる保護膜42を
CVD法などにより形成する(第2図ハ)。接着用
樹脂25で半導体片50を基板24に貼りつける
(第2図ニ)。その後半導体片50の裏面を研摩し
て均一な厚さに形成して、化合物半導体素子から
なる磁気抵抗素子26,27を形成する(第2図
ホ)。然る後に、磁気抵抗素子26,27に接着
用樹脂25まで延在する引出し電極40,41を
設けてセンサユニツト23が形成される。
片50にフオトレジストのパターン51を形成す
る(第2図イ)。半導体片50を一定深さにまで
エツチングして掘り込む(第2図ロ)。そして、
フオトレジストを取り除いて、酸化シリコンある
いは窒化シリコンなどからなる保護膜42を
CVD法などにより形成する(第2図ハ)。接着用
樹脂25で半導体片50を基板24に貼りつける
(第2図ニ)。その後半導体片50の裏面を研摩し
て均一な厚さに形成して、化合物半導体素子から
なる磁気抵抗素子26,27を形成する(第2図
ホ)。然る後に、磁気抵抗素子26,27に接着
用樹脂25まで延在する引出し電極40,41を
設けてセンサユニツト23が形成される。
尚、本実施例では、基板24と磁気抵抗素子2
6,27との間にも保護膜42が設けられている
が、必要に応じて取り除いても良い。
6,27との間にも保護膜42が設けられている
が、必要に応じて取り除いても良い。
(ト) 発明の効果
以上説明したように、本発明は、少なくとも電
極と接着用樹脂との間にシリコン化合物を配設し
たので、接着用樹脂上に延在した電極に導線を接
着するのに充分な加圧力を加えることができ導線
を電極に充分な接着力で接着できると共に、磁気
抵抗素子などの化合物半導体素子には、ストレス
がかからないので、亀裂が発生するおそれもな
い。
極と接着用樹脂との間にシリコン化合物を配設し
たので、接着用樹脂上に延在した電極に導線を接
着するのに充分な加圧力を加えることができ導線
を電極に充分な接着力で接着できると共に、磁気
抵抗素子などの化合物半導体素子には、ストレス
がかからないので、亀裂が発生するおそれもな
い。
第1図は本発明の化合物半導体装置を用いた磁
気検出器の要部拡大断面図、第2図は本発明の化
合物半導体装置の製造方法の一例を示す工程図で
ある。第3図ないし第5図は従来の化合物半導体
装置を用いた磁気検出器を示すもので、第3図は
正面断面図、第4図および第5図は要部拡大断面
図である。 24……基板、25……接着用樹脂、26,2
7……化合物半導体素子からなる磁気抵抗素子、
40,41……引出し電極、42……保護膜。
気検出器の要部拡大断面図、第2図は本発明の化
合物半導体装置の製造方法の一例を示す工程図で
ある。第3図ないし第5図は従来の化合物半導体
装置を用いた磁気検出器を示すもので、第3図は
正面断面図、第4図および第5図は要部拡大断面
図である。 24……基板、25……接着用樹脂、26,2
7……化合物半導体素子からなる磁気抵抗素子、
40,41……引出し電極、42……保護膜。
Claims (1)
- 1 化合物半導体素子を基板に接着用樹脂で固着
した化合物半導体装置において、前記化合物半導
体素子の引出し電極を前記接着用樹脂上まで延在
して設けると共に、少なくとも前記電極と接着用
樹脂表面との間にシリコン化合物からなる保護膜
を配設したことを特徴とする化合物半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59134788A JPS6113637A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 化合物半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59134788A JPS6113637A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 化合物半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113637A JPS6113637A (ja) | 1986-01-21 |
| JPH0342497B2 true JPH0342497B2 (ja) | 1991-06-27 |
Family
ID=15136559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59134788A Granted JPS6113637A (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 化合物半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6113637A (ja) |
-
1984
- 1984-06-28 JP JP59134788A patent/JPS6113637A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6113637A (ja) | 1986-01-21 |
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