JPH0342620B2 - - Google Patents
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- JPH0342620B2 JPH0342620B2 JP3712584A JP3712584A JPH0342620B2 JP H0342620 B2 JPH0342620 B2 JP H0342620B2 JP 3712584 A JP3712584 A JP 3712584A JP 3712584 A JP3712584 A JP 3712584A JP H0342620 B2 JPH0342620 B2 JP H0342620B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は、粘弾性材料試験方法に関し、特
に、ゴム等の粘弾性材料のはくり、引裂等の試験
の検出データについてはくり力又は引裂力等の適
切な解析ができるような粘弾性材料試験方法に関
する。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field to which the Invention Pertains] This invention relates to a method for testing viscoelastic materials, and in particular, detecting data on tests such as peeling and tearing of viscoelastic materials such as rubber. This paper relates to a viscoelastic material testing method that allows for appropriate analysis of forces, etc.
ゴム等やこの材料と繊維コード又は金属コード
複合材等で代表される粘弾性材料の引裂試験やは
くり試験等は、一般に、引張試験機等を用いて行
われる。そして、このような材料の引裂力やはく
り力は、かくり力又は引裂力としての荷重を試験
片にかけて、その荷重をロードセル等を用いて電
気信号に変換して検出し、これを荷重−時間特性
として得て、連続的に記録して、そのデータを解
析することにより得るものである。
Tear tests and peel tests of viscoelastic materials, such as rubber, and composite materials of this material and fiber cords or metal cords, are generally performed using a tensile tester or the like. The tearing force or peeling force of such a material is detected by applying a load as a tearing force or tearing force to a test piece, converting the load into an electrical signal using a load cell, etc., and converting this load into an electric signal. It is obtained by obtaining time characteristics, continuously recording them, and analyzing the data.
すなわち、これらの試験については、JISです
でに決められた規格があり、引裂力又ははくり力
の変化の記録から解析して試験結果を得るように
定められている。その記録結果の一例を示すと、
第1図乃至第2図に示すような鋸歯状の複雑な波
形となり、例えば、第1図の上限ピーク値(符号
×参照)を読取り、ISO6133では、これら各波形
から得た中央値を引裂力とし、ISOR36、
JISK6301では、上限ピーク値の平均値をはくり
力として解析することが規定されている。 In other words, there are standards already established by JIS for these tests, and the test results are determined by analyzing records of changes in tearing force or peeling force. An example of the recorded results is as follows:
The waveform has a sawtooth-like complex shape as shown in Figures 1 and 2. For example, by reading the upper limit peak value (see symbol x) in Figure 1, ISO6133 requires that the median value obtained from each of these waveforms be used as the tear force. and ISOR36,
JISK6301 stipulates that the average value of the upper limit peak values be analyzed as the peeling force.
このような規格に従い引裂試験やはくり試験を
行う場合に、従来は、ピーク値(検出波形の山又
は谷の値)を人手により読み取つているので、誤
差が多く、適正な試験結果を解析できないという
欠点がある。 Conventionally, when performing tear tests and peel tests in accordance with these standards, the peak value (the value of the peak or valley of the detected waveform) is read manually, which has many errors and makes it impossible to analyze the test results properly. There is a drawback.
このように適正な解析ができない場合、再試験
をすることにもなるが、材料によつては、同様な
試料が得られない場合も多く、問題である。 If proper analysis cannot be performed in this way, retesting may be required, but depending on the material, similar samples may not be obtained in many cases, which is a problem.
このような点を解決するために、マイクロプロ
セツサ等を備えた処理装置を用いて自動的にピー
クを読み取る装置が提案されているが、粘弾性材
料についての瞬間的な引裂力又ははくり力の変化
の内容は、材料によつて多種多様であり、非常に
複雑なものが多く、ノイズと各波形のピークとが
見分け難いのが現状である。しかも、ピークの間
隔がなくなるという状態のものもあり、このよう
な場にどこを本来のピークとすべきか、測り難
く、自動的にピークを読み取るものでは、このよ
うな状態に対応できないという欠点を持つてい
る。 In order to solve this problem, a device has been proposed that automatically reads the peak using a processing device equipped with a microprocessor, etc. The contents of the changes vary depending on the material, and are often extremely complex, so that it is currently difficult to distinguish between noise and the peak of each waveform. Moreover, there are cases where the interval between peaks disappears, and it is difficult to determine where the original peak should be in such a field, and devices that automatically read peaks have the disadvantage of not being able to handle such situations. I have it.
〔発明の目的)
この発明は、このような従来技術の欠点乃至問
題にかんがみてなされたものであつて、このよう
な欠点又は問題を解消するとともに、引裂試験や
はくり試験等における検出した荷重特性の波形か
らノイズがあつても正確にピークを読み取り、正
しい引裂力やはくり力が解析できるような粘弾性
材料試験方法を提供することを目的とする。[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the drawbacks and problems of the prior art. The purpose of the present invention is to provide a viscoelastic material testing method that can accurately read the peak from the characteristic waveform even when there is noise and analyze the correct tearing force and peeling force.
このような目的を達成するためのこの発明の特
徴は、検出したピークから時間計測を行い、この
間のピークをノイズとして抑圧することにより、
ノイズ成分を除去するというものであつて、ある
ピークを基準にして、必要な一定の時間差をおい
てから次のピークの検出をし、この時間差の間の
ピークについては、検出することなく、粘弾性材
料の試験片にかかる荷重が増加傾向にあるとき
に、一定時間後の値がピーク値より増加状態にあ
るときには次のピークを検出してそのピーク値を
保持し、その上限のピーク値を求めて本来の上限
のピークを検出する。さらに、必要に応じて、試
験片にかかる荷重が減少傾向にあるときに、一定
時間後の値がピーク値より減少状態にあるときに
は次のピークを検出してそのピーク値を保持し、
その下限ピーク値を求めて本来の下限のピークを
検出するものである。
A feature of the present invention to achieve such an objective is to measure time from the detected peak and suppress the peaks during this time as noise.
This method removes noise components, and uses a certain peak as a reference to detect the next peak after a certain time difference.The peaks between this time difference are not detected, and the viscosity is removed. When the load applied to the elastic material test piece is increasing and the value after a certain period of time is higher than the peak value, the next peak is detected, the peak value is held, and the upper peak value is and detect the original upper peak. Furthermore, if necessary, when the load applied to the test piece is decreasing and the value after a certain period of time is in a state of decreasing from the peak value, the next peak is detected and the peak value is held;
The lower limit peak value is determined and the original lower limit peak is detected.
しかして、その構成は、粘弾性材料のはくり、
引裂等の試験において、はくり力又は引裂力等と
して負荷される粘弾性材料の荷重を検出する検出
器と処理装置とを備えていて、処理装置は、検出
器により検出された荷重のピークを検出するピー
ク検出手段と、検出したピークの荷重値を保持す
る第1の保持手段と、ピークを検出してから一定
時間後に検出された荷重値を保持する第2の保持
手段と、第1の保持手段に保持されているピーク
値が第2の保持手段に保持されている値より大き
いか否かを判定する判定手段とを有し、この判定
手段の判定の結果、大きくないと判定されたとき
に、次に検出したピークについて同様な判定を
し、大きいと判定されたときに、第1の保持手段
に保持されたピーク値をはくり力又は引裂力等に
ついての上限のピーク値と決定しして、検出デー
タを解析するというものである。 However, its composition consists of peeling of viscoelastic material,
In tests such as tearing, the device is equipped with a detector and a processing device that detect the load applied to the viscoelastic material as peeling force or tearing force, and the processing device detects the peak of the load detected by the detector. A peak detecting means for detecting, a first holding means for holding a load value of the detected peak, a second holding means for holding a load value detected after a certain period of time after detecting the peak, and a first holding means for holding a load value detected after a certain period of time after detecting the peak. and determining means for determining whether or not the peak value held in the holding means is larger than the value held in the second holding means, and as a result of the judgment by the judging means, it is determined that the peak value is not larger. Sometimes, a similar judgment is made for the next detected peak, and when it is judged to be large, the peak value held in the first holding means is determined as the upper limit peak value for peeling force or tearing force, etc. Then, the detected data is analyzed.
このようにすることにより、検出したピークを
基準にしてノイズ成分を時間計測により除去する
ことができ、正しい上限のピーク値が解析できる
ものである。 By doing so, the noise component can be removed by time measurement using the detected peak as a reference, and the correct upper limit peak value can be analyzed.
以下、この発明の一実施例について図面を用い
て詳細に説明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail using the drawings.
第3図は、この発明を適用した引裂試験又はは
くり試験等の粘弾性材料試験システムの機能を中
心としたブロツク図である。 FIG. 3 is a block diagram mainly showing the functions of a viscoelastic material testing system for tear testing, peeling testing, etc. to which the present invention is applied.
図中、10は、粘弾性材料試験システムであつ
て、ゴム等の粘弾性材料の試験片1がセツトされ
た試験機2と、A/D変換器3、処理装置4、デ
イスプレイ5、そして、キーボード6とを備えて
いる。 In the figure, 10 is a viscoelastic material testing system, which includes a testing machine 2 in which a test piece 1 of a viscoelastic material such as rubber is set, an A/D converter 3, a processing device 4, a display 5, and It is equipped with a keyboard 6.
ここで、試験機2には、ロードセル11が設け
られていて、試験片1に負荷される荷重値を電気
信号として検出するものであつて、その検出信号
をA/D変換器3へと送出する。A/D変換器3
は、検出された荷重値をデイジタル信号に変換し
て処理装置4へと入力する。 Here, the testing machine 2 is provided with a load cell 11 that detects the load value applied to the test piece 1 as an electrical signal, and sends the detection signal to the A/D converter 3. do. A/D converter 3
converts the detected load value into a digital signal and inputs it to the processing device 4.
処理装置4は、山側/谷側ピーク検出手段21
と第1の保持手段22(ピーク値保持手段)、時
間計測手段23、現在値保持手段24、大/小判
定手段25、ピーク値記憶手段26、そして、は
くり力等の演算手段27とを備えていて、試験片
1に対する検出された荷重値をデイジタル信号の
形で受けて所定の処理をする。なお、現在値保持
手段24と時間計測手段23とは、この発明にお
ける第2の保持手段の具体例の1つを構成してい
る。 The processing device 4 includes a mountain side/valley side peak detection means 21
and first holding means 22 (peak value holding means), time measuring means 23, current value holding means 24, large/small judgment means 25, peak value storage means 26, and calculation means 27 for peeling force etc. It receives the detected load value for the test piece 1 in the form of a digital signal and performs predetermined processing. Note that the current value holding means 24 and the time measuring means 23 constitute one specific example of the second holding means in the present invention.
一方、試験機2は、試験片1に荷重を加えるな
どの制御をする制御盤12と、その荷重−時間特
性を記録する記録計13とを備えている。 On the other hand, the testing machine 2 includes a control panel 12 that controls the application of a load to the test piece 1, and a recorder 13 that records the load-time characteristics.
さて、処理装置4は、入力された荷重値のデイ
ジタル信号を山側/谷側ピーク検出手段21と第
1の保持手段22と現在値保持手段24とに供給
する。 Now, the processing device 4 supplies the digital signal of the input load value to the peak side/valley side peak detection means 21, the first holding means 22, and the current value holding means 24.
山側/谷側ピーク検出手段21は、例えば、キ
ーボード6から入力された初期状態での起動信号
又は後述する大/小判定手段25の起動信号に応
じて、A/D変換器3から供給された荷重値の信
号を一定の周期でサンプリングして、1つ前のサ
ンプリングデータと比較して、その増減状態によ
り、サンプリングデータが山側のピークか谷側の
ピークかを判定する。そして、これによりピーク
か否かを検出して、山側、谷側に応じたそれぞれ
のピーク検出信号を第1の保持手段22に送出
し、時間計測手段23を起動する。 The peak side/valley side peak detection means 21 is supplied from the A/D converter 3 in response to, for example, an activation signal in an initial state inputted from the keyboard 6 or a activation signal of a large/small determination means 25 to be described later. The signal of the load value is sampled at a constant cycle and compared with the previous sampling data to determine whether the sampled data is a peak on the mountain side or a peak on the valley side based on the increase/decrease state. Then, it is detected whether or not it is a peak, and the respective peak detection signals corresponding to the mountain side and the valley side are sent to the first holding means 22, and the time measuring means 23 is activated.
第1の保持手段22は、ピーク検出信号に応じ
て、ピーク検出信号が山側のときには、山側のピ
ーク値として、荷重値の検出信号を取込み、これ
を記憶する。また、ピーク検出信号が谷側のとき
には、谷側のピーク値として、荷重値の検出信号
を取込む。 When the peak detection signal is on the mountain side, the first holding means 22 takes in the detection signal of the load value as the peak value on the mountain side and stores it. Furthermore, when the peak detection signal is on the valley side, the detection signal of the load value is taken in as the peak value on the valley side.
一方、時間計測手段23は、山側/谷側ピーク
検出信号21から起動信号を受けて、あらかじめ
設定された所定の時間、これをカウントして、所
定の時間が経過したときに、現在値保持手段24
と大/小判定手段25に制御信号を送出する。 On the other hand, the time measuring means 23 receives the activation signal from the peak side/valley side peak detection signal 21, counts this for a predetermined time set in advance, and when the predetermined time has elapsed, the current value holding means 24
and sends a control signal to the large/small determining means 25.
この制御信号を受けた現在値保持手段24は、
入力された荷重値の検出信号を取込んで、これを
保持する。 The current value holding means 24 which received this control signal,
The input load value detection signal is captured and held.
さて、大/小判定手段25は、時間計測手段2
3からの制御信号に応じて、現在値保持手段24
及び第1の保持手段22からそれぞれのデータを
読出し、これらの大/小を比較する。ここで、第
1の保持手段22に現在保持されているデータが
山側のピーク値のときには、大/小判定手段25
は、第1の保持手段22のピーク値が現在値より
大きいか否かを判定して、大きいときに、ピーク
値保持手段22に記憶されている値を、上限のピ
ーク値(最大ピーク値)としてピーク値記憶手段
26の所定の領域に転送して、これを記憶する制
御をする。 Now, the large/small determination means 25 is the time measuring means 2.
3, the current value holding means 24
and the respective data are read from the first holding means 22 and compared in size. Here, when the data currently held in the first holding means 22 is the peak value on the mountain side, the large/small determining means 25
determines whether the peak value of the first holding means 22 is larger than the current value, and when it is larger, the value stored in the peak value holding means 22 is set as the upper limit peak value (maximum peak value). The data is transferred to a predetermined area of the peak value storage means 26 and stored therein.
一方、第1の保持手段22に現在保持されてい
るデータが谷側のピーク値のときには、大/小判
定手段25は、第1の保持手段22のピーク値が
現在値より小さいか否かを判定して、小さいとき
に、ピーク値保持手段22に記憶されている値
を、下限のピーク値(最小ピーク値)としてピー
ク値記憶手段26の所定の領域に転送して、これ
を記憶する制御をする。 On the other hand, when the data currently held in the first holding means 22 is a peak value on the valley side, the large/small determination means 25 determines whether the peak value of the first holding means 22 is smaller than the current value. control to transfer the value stored in the peak value holding means 22 as a lower limit peak value (minimum peak value) to a predetermined area of the peak value storage means 26 and store it when the value is determined to be small; do.
そして、この処理が終了すると、山側/谷側ピ
ーク検出手段21を起動して、次のピークを検出
する制御をする。その結果、上限ピーク及び下限
ピークが検出されるごとに、これらのピーク値が
ピーク値記憶手段26の所定の領域に順次記憶さ
れることになる。 When this process is completed, the mountain side/valley side peak detection means 21 is activated to perform control to detect the next peak. As a result, each time an upper limit peak and a lower limit peak are detected, these peak values are sequentially stored in a predetermined area of the peak value storage means 26.
このようにして、山側のときには、現在値に対
して大きいと判定されたピーク値のみ求める上限
ピーク値として保持し、大きいと判定されない場
合には、山側/谷側ピーク検出手段21を再び起
動して次のピーク値が第1の保持手段22に保持
されて、同様な判定を受けることになる。また、
谷側のときには、現在値に対して小さいと判定さ
れたピーク値のみ求める下限ピーク値として保持
し、小さいと判定されない場合には、山側/谷側
ピーク検出手段21を再び起動して次のピーク値
が第1の保持手段22に保持されて、同様な判定
を受けることになる。 In this way, when the peak is on the mountain side, only the peak value determined to be larger than the current value is held as the upper limit peak value to be obtained, and when it is not determined to be larger, the mountain side/valley side peak detection means 21 is activated again. Then, the next peak value is held in the first holding means 22 and subjected to the same judgment. Also,
When it is on the valley side, only the peak value that is determined to be smaller than the current value is held as the lower limit peak value to be obtained, and when it is not determined to be smaller than the current value, the mountain side/valley side peak detection means 21 is restarted to detect the next peak. The value is held in the first holding means 22 and subjected to a similar determination.
以上の結果として、試験片1の上限ピーク値と
下限ピーク値とが順次ピーク値記憶手段26の所
定の領域に記憶されて行く。そして、これらの上
限ピーク若しくは下限ピークの一方又は双方が設
定された所定の数となつたとき、或いはキーボー
ド6から所定のキーが入力されて、試験終了とさ
れたときに、この処理が終わる。 As a result of the above, the upper limit peak value and lower limit peak value of the test piece 1 are sequentially stored in a predetermined area of the peak value storage means 26. This process ends when one or both of these upper limit peaks and lower limit peaks reaches a predetermined number, or when a predetermined key is input from the keyboard 6 to end the test.
ここで、はくり力等の演算手段27は、ピーク
値記憶手段26の上限ピーク又は下限ピークのい
ずれか、若しくは双方をカウントしている。そし
て、このカウント値が所定値になつたときに、そ
の処理を終了すると終了信号を発生する。 Here, the peeling force calculation means 27 counts either the upper limit peak or the lower limit peak of the peak value storage means 26, or both. Then, when this count value reaches a predetermined value and the process is completed, a termination signal is generated.
ここに、この終了信号を発生し、又はキーボー
ド6からの処理終了の信号を受けたはくり力等の
演算手段27は、ピーク値記憶手段26に記憶さ
れた上限ピーク値と下限ピーク値とを読出して、
はくり力の場合には、例えば、上限ピーク値及び
下限ピーク値のそれぞれの数をカウントして、上
限、下限の平均値、そして、これらの平均値を算
出する。また、引裂力の場合には、上限ピーク値
の中央値を算出する。 Here, the peeling force calculation means 27 that generates this end signal or receives the processing end signal from the keyboard 6 calculates the upper limit peak value and lower limit peak value stored in the peak value storage means 26. Read out,
In the case of peeling force, for example, the numbers of the upper limit peak value and the lower limit peak value are counted, and the average value of the upper limit and the lower limit, and the average value thereof are calculated. Furthermore, in the case of tear force, the median value of the upper limit peak values is calculated.
そして、これらの結果は、はくり力等演算手段
27からデイスプレイ5に送出されて表示される
ことになる。 These results are sent from the peeling force calculation means 27 to the display 5 and displayed thereon.
また、ISO法、JIS法等に従つて、山側ピーク
のみを検出して、その上限ピーク値を記憶し、そ
の中央値を算出するようにできることもちろんで
あり、このような場合には、山側/谷側ピーク検
出手段21は、山側ピークのみ検出できればよ
い。また、大/小判定手段25も大だけの判定を
すればよいものである。 In addition, it is of course possible to detect only the peak on the mountain side, store its upper limit peak value, and calculate the median value according to the ISO method, JIS method, etc.; The valley side peak detection means 21 only needs to be able to detect the mountain side peaks. Further, the large/small determining means 25 only needs to determine large.
次に、処理装置としてマイクロコンピユータに
より処理した場合のこの発明の実施例について具
体的に説明する。 Next, an embodiment of the present invention in which processing is performed using a microcomputer as a processing device will be specifically described.
第4図は、粘弾性材料試験システムをマイクロ
コンピユータを用いて実現した一実施例のブロツ
ク図、第5図は、ロードセル11の荷重−時間特
性の検出波形図、そして、第6図は、マイクロコ
ンピユータのピーク解析の処理の流れ図である。
なお、第4図において、第3図と同一の符号は、
同一のものを示す。 FIG. 4 is a block diagram of an example of a viscoelastic material testing system realized using a microcomputer, FIG. 5 is a detection waveform diagram of the load-time characteristic of the load cell 11, and FIG. It is a flowchart of the process of peak analysis of a computer.
In addition, in FIG. 4, the same symbols as in FIG.
Indicates the same thing.
第4図に見る30は、粘弾性材料試験システム
の主要ブロツクであつて、31は、マイクロコン
ピユータであり、インタフエース32と共通バス
33と演算処理装置34(マイクロプロセツサ;
MPU)とメモリ35とを備えている。 30 shown in FIG. 4 is the main block of the viscoelastic material testing system, and 31 is a microcomputer, which includes an interface 32, a common bus 33, and an arithmetic processing unit 34 (microprocessor;
MPU) and memory 35.
ここで、ロードセル11により検出される信号
は、第5図の符号36に見るようなものであり、
これがA/D変換器3に入力されて、デイジタル
値に変換され、インタフエース32に入力され
る。そして、インタフエース32から共通バス3
3を経て、演算処理装置34に転送され、所定の
処理を受ける。 Here, the signal detected by the load cell 11 is as shown at 36 in FIG.
This is input to the A/D converter 3, converted into a digital value, and input to the interface 32. Then, from the interface 32 to the common bus 3
3, the data is transferred to the arithmetic processing unit 34 and subjected to predetermined processing.
一方、キーボード6からは、所定のタイミング
で、マイクロコンピユータ31の第6図に示すピ
ーク解析プログラムの起動信号、解析終了信号等
が入力され、インタフエース32を介して演算処
理装置34に転送される。一方、所定のプログラ
ムに従つて処理した結果は、演算処理装置34か
ら共通バス33を介してインタフエース32に送
出され、このインタフエース32を介して、デイ
スプレイ5に転送されて、所定のデータが表示さ
れるものである。 On the other hand, from the keyboard 6, at predetermined timing, a start signal, an analysis end signal, etc. for the peak analysis program shown in FIG. . On the other hand, the results of processing according to a predetermined program are sent from the arithmetic processing unit 34 to the interface 32 via the common bus 33, and transferred to the display 5 via the interface 32, where predetermined data is displayed. This is what is displayed.
さて、演算処理装置34のピーク解析の処理に
ついて、第4図,第5図,第6図に従つて説明す
ると、まず、第6図のピーク解析プログラムがプ
ログラム35aとして、はくり力等演算プログラ
ムがプログラム35bとしてそれぞれメモリ35
の所定領域に記憶されているとする。そして、キ
ーボード6の所定の機能キーが入力されると、こ
のプログラム35aが起動されて、次のようなス
テツプに従つてピーク解析処理が実行されること
になる。 Now, the peak analysis process of the arithmetic processing unit 34 will be explained according to FIGS. 4, 5, and 6. First, the peak analysis program in FIG. are respectively stored in the memory 35 as the program 35b.
It is assumed that the data is stored in a predetermined area of . When a predetermined function key on the keyboard 6 is input, this program 35a is activated and peak analysis processing is executed according to the following steps.
すなわち、第6図に見るそのステツプは、初
期設定ステツプであつて、変数P1,P2,i,M,
N,Vを“0”クリアする。ここに、変数P1は、
ロードセル11により検出された現在の荷重サン
プリングデータをセツトするもので、変数P2は、
1つ前のサンプリングデータがセツトされるもの
である。また、変数iは、メモリ35上における
上限ピーク値及び下限ピーク値の記憶アドレス位
置を示すものであり、変数Mは、増加状態を示す
フラグを記憶し、変数Nは、減少状態を示すフラ
グを記憶するものである。一方、変数Vは、谷側
の検出状態を示すフラグを記憶する。 That is, the step shown in FIG. 6 is an initial setting step, in which variables P 1 , P 2 , i, M,
Clear N and V to “0”. Here, the variable P 1 is
It sets the current load sampling data detected by the load cell 11, and the variable P2 is
The previous sampling data is set. Further, the variable i indicates the storage address position of the upper limit peak value and the lower limit peak value on the memory 35, the variable M stores a flag indicating an increasing state, and the variable N stores a flag indicating a decreasing state. It is something to remember. On the other hand, the variable V stores a flag indicating the detection state on the valley side.
これらの各変数は、メモリ35上において1つ
のデータ記憶領域として設定されるものであつ
て、これら変数の代わりにレジスタを用いてもよ
いことはもちろんである。 Each of these variables is set as one data storage area on the memory 35, and it goes without saying that registers may be used instead of these variables.
次のステツプでは、変数P1の値を変数P2に
転送し、ステツプで、所定のサンプリングタイ
ミングに従つて、検出データを取込み、これをス
テツプで変数P1にセツトする。なお、このサ
ンプリングタイミングは、第5図に見る波形36
に対して、符号37で示すタイミングに従つてな
される。 In the next step, the value of the variable P1 is transferred to the variable P2 , and in the step, detected data is taken in according to a predetermined sampling timing, and this is set in the variable P1 in the step. Note that this sampling timing corresponds to the waveform 36 shown in FIG.
This is done in accordance with the timing indicated by reference numeral 37.
そして、次のステツプで、現在の荷重サンプ
リングデータを示す変数P1と一つ前の荷重サン
プリングデータを示す変数P2とを比較し、P1>
P2の判定をする。 Then, in the next step, the variable P 1 indicating the current load sampling data is compared with the variable P 2 indicating the previous load sampling data, and P 1 >
Make a P 2 judgment.
この判定の結果、YESとなると、増加状態と
見られ、ステツプで増加フラグとして、“1”
を変数Mにセツトする。そして、ステツプで減
少フラグを示す変数Nが先にセツトされているか
を、N=1かにより判定する。 If the result of this judgment is YES, it is considered to be in an increasing state, and the increase flag is set to “1” in the step.
is set to variable M. Then, in the step, it is determined whether the variable N indicating the decrease flag has been set first, based on whether N=1.
第5図の領域で示す増加状態にあるときに
は、ここで、その初期に減少状態がないので、ス
テツプの判定でNOとなり、ステツプへと戻
る、いわゆる、循環ループの処理となる。そし
て、前記と同様に、ステツプで、変数P1の値
を変数P2に転送し、ステツプで、所定のサン
プリングタイミミングに従つて、ロードセル11
の荷重値を検出データとして取込み、これをステ
ツプで変数P1にセツトする。そして、再び、
ステツプで、P1>P2の判定をする。ここで、
サンプリングが最初のピーク38を越えたところ
に来ていると仮定すると、現在のサンプリングデ
ータP1が1つ前のサンプリングデータP2に対し
て減少する。その結果として、ステツプaへと
移り、P1=P2の判定に入り、万一、YES(P1=P2
のとき)となると、ステツプとへ戻り、同様な
処理を経て、ここで、再び判定されて、NOとな
る。 When it is in the increasing state shown in the region of FIG. 5, there is no decreasing state at the beginning, so the determination at the step is NO and the process returns to the step, which is what is called a circular loop process. Then, in the same way as above, in step, the value of variable P 1 is transferred to variable P 2, and in step, the value of variable P 1 is transferred to variable P 2 , and in accordance with the predetermined sampling timing, load cell 11 is
The load value of is taken in as detection data, and this is set to variable P1 in step. And again,
In step, determine P 1 > P 2 . here,
Assuming that the sampling is beyond the first peak 38, the current sampled data P 1 is decreased relative to the previous sampled data P 2 . As a result, we move to step a and enter the judgment of P 1 = P 2 , and in the unlikely event that YES (P 1 = P 2
), the process returns to step 3, and the same process is performed, where the determination is made again and the result is NO.
この判定で減少状態と見られると、ステツプ
aで減少フラグとして、“1”を変数Nにセツト
する。そして、ステツプaで増加状態を示すフ
ラグがセツトされているかが判定される。ここ
に、ピーク38では、増加から減少に変化するの
で、YESとなり、1つ前のサンプリングデータ
P2をピークとして検出し、ピークaで、メモ
リ35上のMAXでラベルされた領域のアドレス
iで示される個所MAXiに変数P2の値(山側の
ピーク値)を転送して記憶する。 If it is determined that the number is in a decreasing state, "1" is set in the variable N as a decreasing flag in step a. Then, in step a, it is determined whether a flag indicating an increasing state is set. Here, at peak 38, it changes from increase to decrease, so it becomes YES and the previous sampling data is
P 2 is detected as a peak, and at peak a, the value of variable P 2 (the peak value on the mountain side) is transferred and stored at a location MAXi indicated by address i in the area labeled MAX on the memory 35.
ところで、ステツプaの判定で、NO条件と
なる場合は、第5図の領域で示すような場合
で、最初から減少状態にあるときである。このよ
うな減少状態は谷側のピーク検出の場合であつ
て、この谷側のピーク検出は、減少から増加に移
ることにより検出される。したがつて、ステツプ
aでNOとなつたときには、ステツプbへと
移り、ここで、谷側フラグとして、“1”を変数
Vにセツトして、ステツプへと戻る。そして、
先と同様な循環処理がなされて、例えば、第5図
に見るピーク40のような谷側のピークを越えた
ところにおいて、ステツプでYESとなり、ス
テツプで減少フラグNの判定を行つたときに、
YESとなり、1つ前のサンプリングデータP2を
下限ピークとして検出し、同様に、メモリ35上
のMINでラベルされた領域のアドレスiで示さ
れる個所MINiに変数P2の値(谷側のピーク値)
を転送して記憶する。 By the way, if the NO condition is reached in the determination at step a, this is the case as shown in the area of FIG. 5, where the condition is in a decreasing state from the beginning. Such a decreasing state is a case of peak detection on the valley side, and this peak detection on the valley side is detected by shifting from a decrease to an increase. Therefore, when the answer is NO at step a, the process moves to step b, where "1" is set in the variable V as the valley side flag, and the process returns to the step. and,
When the same circulation process as before is carried out and, for example, the peak on the valley side such as peak 40 shown in FIG.
YES, the previous sampling data P 2 is detected as the lower limit peak, and similarly, the value of variable P 2 (the peak on the valley side value)
Transfer and store.
このようにして、ステツプからステツプ及
びステツプからステツプaの処理により山側
及び谷側のピークの検出がなされる。したがつ
て、ここまでの処理は、第3図の山側/谷側ピー
ク検出手段21の具体例の1つである。さらに、
ステツプ及びステツプaの処理は、それぞれ
第1の保持手段22(ピーク値保持手段)の具体
例でもあると同時に、ピーク値記憶手段2の具体
例ともなつている。 In this way, the peaks on the mountain side and the peaks on the valley side are detected by the process from step to step and from step to step a. Therefore, the processing up to this point is one specific example of the mountain side/valley side peak detection means 21 shown in FIG. moreover,
The processes in step and step a are specific examples of the first holding means 22 (peak value holding means) and also serve as specific examples of the peak value storage means 2, respectively.
こうしてピークを検出した後に、ステツプへ
と移り、タイマがT1にセツトされて、ステツプ
で時間計測をして、それが終了するまで待つ、
いわゆる、時間待ちループに入る。このステツプ
及びは、前記第3図の時間計測手段の具体例
の1つである。 After detecting the peak in this way, the process moves to the step, the timer is set to T1 , the time is measured in the step, and the process waits until the time is finished.
It enters a so-called time waiting loop. These steps are one specific example of the time measuring means shown in FIG. 3 above.
そして、ステツプで、所定のサンプリングタ
イミングに従つて、ロードセル11の荷重値を検
出データとして取込み、これをステツプで変数
P1にセツトする。次のステツプで、変数Vが
V=1か否かを判定して、NOのときには、ステ
ツプへと移り、先に検出しているピーク値であ
るMAXiがタイマで設定された一定時間T1後の
現在サンプリングデータP1より大きいか否かを
判定する。その結果、大きくないときには、ステ
ツプaへと移り、ピーク検出のときにセツトし
た減少フラグNを無効とするために、これをリセ
ツト(N=0)して、ステツプへと戻り、同様
な、処理をして、ステツプで、再び、ピーク値
であるMAXiがタイマで設定された一定時間T1
後の現在サンプリングデータP1より大きいか否
かを判定する。このような循環の過程で、上限ピ
ーク39(第5図参照)がピークとして検出され
て、そのピーク値がMAXiにセツトされたときに
は、サンプリングデータP1は、これより、小さ
くなる。その結果、ステツプの判定でYESと
なつて、ステツプで、i=i+1として、この
ピーク値をMAXiに上限ピーク値として保持した
まま、メモリ35のアドレスを更新して、次の
MAXi+1の個所に次の上限ピーク値を保持する準
備をして、ステツプへと移る。 Then, in a step, the load value of the load cell 11 is taken in as detection data according to a predetermined sampling timing, and this is converted into a variable in a step.
Set to P 1 . In the next step, it is determined whether the variable V is V=1 or not, and if it is NO, the process moves to the step and the previously detected peak value MAXi is set after a certain time T1 set by the timer. It is determined whether the current sampling data P is larger than 1 . As a result, if it is not large, the process moves to step a, resets the decrease flag N set at the time of peak detection to invalidate it (N=0), returns to step A, and performs similar processing. Then, in the step, the peak value MAXi is again set for a certain time T 1 set by the timer.
It is determined whether the current sampling data P1 is greater than the subsequent current sampling data P1. In the process of such circulation, when the upper limit peak 39 (see FIG. 5) is detected as a peak and the peak value is set to MAXi, the sampling data P1 becomes smaller than this. As a result, the judgment in the step is YES, and in the step, i=i+1, this peak value is held as the upper limit peak value in MAXi, the address of the memory 35 is updated, and the next step is performed.
Prepare to hold the next upper limit peak value at MAXi +1 and move on to step.
ステツプでは、メモリ35に記憶されている
MAXiの個数及び/又はMINiの個数をカウント
して所定の数になつたか否か、或いは、キーボー
ド6から終了のキーが入力されていないかを判定
して、処理終了の判定をし、NOのときには、ス
テツプへと移る。ステツプで、すでに減少状
態の判定を受けているので、このステツプで
は、増加状態のフラグのみリセツト(M=0)し
て、ステツプへと戻り、次の谷側のピークの検
出処理に入る。 In the step, the information stored in the memory 35 is
It is determined whether the number of MAXi and/or MINi has reached a predetermined number, or whether the end key has not been input from the keyboard 6, and the end of the process is determined. Sometimes it moves to steps. Since the decreasing state has already been determined in the step, only the increasing state flag is reset (M=0) in this step, and the process returns to the step to start the process of detecting the next peak on the valley side.
さて、谷側の検出処理に入り、谷側のピークが
ステツプで検出された場合には、そのピーク値
は、メモリ35の領域MINiに記憶されることに
なる。 Now, when the valley side detection process is started and a valley side peak is detected in the step, the peak value will be stored in the area MINI of the memory 35.
この場合には、ステツプDの判定で、谷側フ
ラグを示す、変数VがV=1と判定されて、
YESとなり、ステツプaへと移る。 In this case, in the determination at step D, the variable V indicating the valley side flag is determined to be V=1,
The result is YES, and the process moves to step a.
ステツプaでは、先に検出しているMINiの
ピーク値がタイマで設定された一定時間T1後の
現在サンプリングデータP1より小さいか否かを
判定する。その結果、小さくないときには、ステ
ツプへと移り、ピーク検出のときにセツトした
増加フラグMを無効とするために、これをリセツ
トして、ステツプへと戻り、同様な、処理をし
て、ステツプaで、再び、ピーク値MINiがタ
イマで設定された一定時間T1後の現在サンプリ
ングデータP1より小さいか否かを判定する。こ
のような循環の過程で、下限ピーク41(第5図
参照)がピークとして検出されて、そのピーク値
がMINiにセツトされたときには、サンプリング
データP1は、これより、大きくなる。その結果、
ステツプaの判定でYESとなつてステツプ
aで、i=i+1とし、谷側フラグ“V”をリセ
ツト(V=0)して、このピーク値をMINiに下
限ピーク値として保持したまま、メモリ35のア
ドレスを更新して、次のMINi+1の個所に次の下
限ピーク値を保持する準備をして、ステツプa
へと移る。 In step a, it is determined whether the previously detected peak value of MINI is smaller than the current sampling data P1 after a certain time T1 set by the timer. As a result, if it is not small, the process moves to step, resets the increase flag M set at the time of peak detection to invalidate it, returns to step, performs similar processing, and returns to step a. Then, it is determined again whether the peak value MIni is smaller than the current sampling data P1 after a certain time T1 set by the timer. In the process of such circulation, when the lower limit peak 41 (see FIG. 5) is detected as a peak and the peak value is set to MIni, the sampling data P1 becomes larger than this. the result,
If the judgment in step a is YES, in step a, i=i+1, the valley side flag "V" is reset (V=0), and this peak value is stored in the memory 35 while being held as the lower limit peak value in MINI. Update the address of MINi+1 to prepare to hold the next lower peak value at the next MINi +1 , and then proceed to step a.
Move to.
ステツプaでは、ステツプと同様に処理終
了の判定をし、NOのときには、ステツプaへ
と移る。ステツプaで、すでに増加状態の判定
を受けているので、このステツプ〓aでは、減少
状態のフラグのみリセツトして、ステツプへと
戻り、次の山側のピークの検出処理に入る。 At step a, it is determined whether the process has ended in the same way as in step a, and if the determination is NO, the process moves to step a. Since the increasing state has already been determined in step a, only the decreasing state flag is reset in step a, and the process returns to step A to begin the process of detecting the next mountain side peak.
ここで、ステツプの変数P1に検出データを
セツトする処理は、第3図における現在値保持手
段の具体例の1つであり、ステツプ又はステツ
プaの判定処理は大/小判定手段25の具体例
の1つである。また、ステツプ又はステツプ
aの処理とメモリ35の領域MAX,MINは第3
図のピーク値記憶手段26の具体例の1つであ
る。 Here, the process of setting the detection data to the variable P1 of the step is one of the specific examples of the current value holding means in FIG. This is one example. In addition, the processing of step or step a and the areas MAX and MIN of the memory 35 are
This is one specific example of the peak value storage means 26 shown in the figure.
このようにして、各上段ピー及び下限ピークを
検出して、順次メモリ35のMAX1からMAXo
にその上限ピーク値を記憶し、順次MIN1から
MINoにその下限ピーク値を記憶する。ただし、
nは、検査終了までの上限、下限それぞれのピー
クの検出個数である。 In this way, each upper peak and lower limit peak are detected and sequentially stored in the memory 35 from MAX 1 to MAX o
Store the upper peak value in , and sequentially start from MIN 1 .
Store the lower limit peak value in MIN o . however,
n is the number of peaks detected at each of the upper and lower limits until the end of the test.
以上のようにして、ロードセル11から検出さ
れた荷重値のうち上限値及び下限値を順次検出し
て、これらに対応してそれぞれの上限ピーク値及
び下限ピーク値を保持することにより解析するこ
とができる。 As described above, analysis can be performed by sequentially detecting the upper limit value and lower limit value among the load values detected from the load cell 11, and holding the respective upper limit peak value and lower limit peak value corresponding to these. can.
ところで、前記ステツプでは、P1>P2の判
定をし、ステツプaでP1=P2の判定をして、
検出荷重値の増加減少の判定をしているが、ノイ
ズとの関係から、1つ前のサンプリングデータ
P2に対して、一定の%以上増加又は減少したも
ののみ本来の増減とみて、各ピーク検出の対象と
してもよい。 By the way, in the above step, it is determined that P 1 > P 2 , and in step a, it is determined that P 1 = P 2 ,
We are determining whether the detected load value increases or decreases, but due to noise, the previous sampling data is
Only those that have increased or decreased by more than a certain percentage with respect to P 2 may be considered as the original increase or decrease, and may be subject to each peak detection.
このような場合には、ステツプは、例えば、
(P1−P2)/P2>0.05の判定をし、NOのときに、
ステツプaにおいて、−0.05≦(P1−P2)/P2≦
0.05の判定をして、YESのときにステツプへ戻
るようにすることができる。このようにすること
により、5%以上の増減のときにピークの検出が
行われることになる。その結果ノイズを十分に除
去することができ、その解析処理が一層確実とな
る。 In such a case, the steps may be e.g.
Determine (P 1 − P 2 )/P 2 > 0.05, and if NO,
At step a, −0.05≦(P 1 −P 2 )/P 2 ≦
You can make a determination of 0.05 and return to the step when it is YES. By doing this, peak detection will be performed when there is an increase or decrease of 5% or more. As a result, noise can be sufficiently removed, making the analysis process more reliable.
また、ピーク検出にあたつては、上限ピークの
間に下限ピークが存在すること、そして、下限の
ピークの間に上限ピークが存在することを条件に
加えて、各ピークを検出してもよい。 Furthermore, when detecting peaks, each peak may be detected on the condition that a lower limit peak exists between the upper limit peaks, and that an upper limit peak exists between the lower limit peaks. .
このような場合には、山側、谷側交互にピーク
を検出するものとして、山側のときには、ステツ
プのYES条件のときにステツプからステツ
プへ戻るようにし、ステツプa、ステツプ
aを省略して、ステツプaに移るようにすれば
よく、一方、谷側のときには、ステツプのNO
条件のときにステツプからステツプへ戻るよ
うにし、ステツプ、ステツプを省略して、ス
テツプに移るようにすればよい。さらに、この
ような場合にも、ステツプaを設けて、ステツ
プ、ステツプaの判定を前記で示した所定値
以上の増減のときにピークの検出が行われるよう
な条件を加えることができるものである。 In such a case, the peaks are detected alternately on the mountain side and the valley side, and when the peak is on the mountain side, the step returns from step to step when the YES condition of the step is set, and step a and step a are omitted, and the process returns to step A. All you have to do is move to step a.On the other hand, if you are on the valley side, move to step NO.
It is sufficient to return from step to step when the condition is met, omit steps, and move to step. Furthermore, even in such a case, it is possible to provide a step a and add a condition such that a peak is detected when the increase or decrease exceeds the predetermined value shown above in the judgment of step a. be.
さて、ステツプにおいて設定される一定時間
T1は、試験内容に外じて経験的に設定するもの
であるが、この設定時間T1を可変にして適宜設
定するようにしてもよく、第5図に示すような波
形にあつては、複数のピークの間隔の平均値の
2/3又は2/3+α程度に設定するとよい。こ
れは、ピークが検出される時点は、現実には、ピ
ーク点から過ぎた次のサンプリング時点であり、
この時点で実際の時間計測がなされるから、平均
値の2/3又は2/3+α程度に設定すれば、ノ
イズにより谷又は山が現れても、平均値の2/3
又は2/3+αの時間経過後のサンプリング時点
では、それが上限又は下限値でない限り、ほぼ確
実に、1つ前のピーク値より増減する値を採り得
るからである。その結果、ピークの間にあるノイ
ズをこの間、確実に抑圧することができる。 Now, the fixed time set in the step
T 1 is set empirically depending on the test content, but this setting time T 1 may be made variable and set as appropriate. For the waveform shown in Figure 5, , it is preferable to set it to about 2/3 or 2/3+α of the average value of the intervals between a plurality of peaks. This means that the point at which the peak is detected is actually the next sampling point past the peak point;
Actual time measurement is done at this point, so if you set it to about 2/3 of the average value or 2/3 + α, even if valleys or peaks appear due to noise, it will still be 2/3 of the average value.
This is because at a sampling point after a time period of 2/3+α has elapsed, unless it is an upper limit or a lower limit value, it can almost certainly take a value that increases or decreases from the previous peak value. As a result, the noise between the peaks can be reliably suppressed during this period.
さて、前記ステツプ又はステツプaの判定
処理で終了となつた場合、演算処理装置35は、
次に、メモリ35からはくり力等を算出するプロ
グラム35bを起動して、はくり力等を算出する
処理に入る。 Now, when the determination process in step or step a is completed, the arithmetic processing unit 35 performs the following steps.
Next, the program 35b for calculating the peeling force and the like is activated from the memory 35, and processing for calculating the peeling force and the like is started.
ここで、メモリ35に記憶された上限ピーク値
と下限ピーク値は、次に、演算処理装置34によ
りそれぞれカウントされ、その数が記憶される。
なお、このとき、最初のm個のピーク値と最後の
n個のピーク値とを除外して演算処理するように
する(ただし、m,nは、任意の整数)。 Here, the upper limit peak value and lower limit peak value stored in the memory 35 are each counted by the arithmetic processing unit 34, and the numbers are stored.
At this time, the first m peak values and the last n peak values are excluded from the calculation process (where m and n are arbitrary integers).
そして、公知のピーク点法、面積法、JIS法等
によりはくり力や引裂力が算出される。 Then, the peeling force and tearing force are calculated by the known peak point method, area method, JIS method, etc.
なお、算出されたはくり力や引裂力の情報は、
インタフエース32を介してデイスプレイ5送出
され、表示され、さらに、必要に応じて、プリン
タに出力されることになる。 In addition, the information on the calculated peeling force and tearing force is
The data will be sent to the display 5 via the interface 32 and displayed, and further output to a printer if necessary.
ところで、この場合の演算処理装置34の処理
が第3図のはくり力等の演算手段27の具体例の
1つであり、また、この発明は、ピークを解析す
るものであるので、このような演算処理装置、演
算手段の処理の内容には限定されるものではな
い。 By the way, the processing of the arithmetic processing device 34 in this case is one of the specific examples of the calculation means 27 for peeling force etc. shown in FIG. The present invention is not limited to the processing content of the processing unit and processing means.
以上、詳述してきたが、この実施例に示した処
理は、1例であつて、この発明は、これに限定さ
れるものではなく、ピーク検出は、このように演
算処理装置側でプログラム処理によらなくとも、
一般のピーク検出回路を用いてそれぞれの各ピー
ク点を検出して、その後、A/D変換をして、検
出データを演算処理装置側で処理するようにして
もよい。このように場合には、ピーク検出のプロ
グラム処理は不要となり、検出したピークを基準
にして、時間計測を行うものである。なお、この
ような場合の時間計測もワンシヨツトマルチによ
りハードで実現して、ピーク検出回路と一体的な
ものとしてもよい。 Although the above has been described in detail, the processing shown in this embodiment is just one example, and the present invention is not limited to this. Peak detection is performed by program processing on the arithmetic processing device side in this way. Even if it doesn't depend on
Each peak point may be detected using a general peak detection circuit, and then A/D conversion may be performed, and the detected data may be processed on the arithmetic processing device side. In this case, the program processing for peak detection becomes unnecessary, and time is measured based on the detected peak. Note that time measurement in such a case may also be realized by hardware using a one-shot multi-channel system, and may be integrated with the peak detection circuit.
また、実施例では、サンプリング処理により、
検出した荷重データをその都度検出データとして
取り込むようにし、ピーク検出をしているが、ピ
ーク値の有無に関係なく、ロードセルからの荷重
データを先にすべてサンプリング処理して、サン
プリング処理だけ独立して行い、メモリに記憶し
た後に、ピーク検出処理をして、上限ピーク値と
下限ピーク値を演算処理にて抽出してもよい。こ
のような処理をする場合には、ステツプ、ステ
ツプの時間計測処理は、所定個数のサンプリン
グデータを排除することによりなされる。しか
し、これは、実質的に時間計測によるデータの抑
圧と等価である。したがつて、このようなものも
この発明における時間計測に含まれるものであ
る。なお、サンプリング処理を独立させて、デー
タを採ることにより、処理速度の比較的遅いプロ
セツサでも処理が可能となる利点がある。 In addition, in the example, by sampling processing,
Peak detection is performed by importing the detected load data as detection data each time, but regardless of whether there is a peak value, all load data from the load cell is sampled first, and only the sampling process is performed independently. After performing the calculation and storing it in the memory, a peak detection process may be performed to extract the upper limit peak value and the lower limit peak value by arithmetic processing. When performing such processing, the time measurement processing for each step is performed by excluding a predetermined number of sampling data. However, this is essentially equivalent to suppressing data by time measurement. Therefore, such things are also included in the time measurement in this invention. Note that by performing sampling processing independently and collecting data, there is an advantage that processing can be performed even by a processor with a relatively slow processing speed.
さらに、時間計測後に各ピークとそのピーク値
のみを検出して、後から、これら検出したピーク
値を比較して上限のピーク値又は下限のピーク値
を抽出してもよい。 Furthermore, only each peak and its peak value may be detected after time measurement, and the detected peak values may be compared later to extract the upper limit peak value or the lower limit peak value.
ところで、実施例では、上限ピーク値と下限ピ
ーク値とをともに検出しているが、これは、上限
のピーク値のみでよいことは、もちろんである。 Incidentally, in the embodiment, both the upper limit peak value and the lower limit peak value are detected, but it goes without saying that only the upper limit peak value may be detected.
また、実施例では、粘弾性材料に対するはくり
力又は引裂力を解析するために、ピーク検出する
例を挙げているが、この発明は、このような場合
の解析処理に限定されるものではなく、粘弾性材
料についてのノイズの多いピーク検出の解析に適
用できることはもちろんであり、いわゆる、はく
り力又は引裂力等に対して適用できるものであ
る。 Further, in the examples, an example is given in which peak detection is performed in order to analyze peeling force or tearing force on a viscoelastic material, but the present invention is not limited to analysis processing in such cases. It goes without saying that this method can be applied to the analysis of noisy peak detection for viscoelastic materials, and can also be applied to so-called peeling force or tearing force.
以上の説明から理解できるように、この発明に
あつては、あるピークを基準にして、必要な一定
の時間差をおいてから次のピークの検出をし、こ
の時間差の間のピークについては、検出すること
なく、粘弾性材料の試験片にかかる荷重が増加傾
向にあるときに、一定時間後の値がピーク値より
増加状態にあるときには次のピークを検出してそ
のピーク値を保持し、その上限のピーク値を求め
て本来の上限のピークを検出するものである。さ
らに、必要があるときには、試験片にかかる荷重
が減少傾向にあるときは、一定時間後の値がピー
ク値より減少状態にあるときには次のピークを検
出してそのピーク値を保持し、その下限ピーク値
を求めて本来の下限のピークを検出するようにで
きる。そこで、検出したピークを基準にしてノイ
ズ成分を時間計測により除去することができ、正
しい上限又は下限のピークを選択できる。
As can be understood from the above explanation, in the present invention, the next peak is detected after a certain necessary time difference with respect to a certain peak, and the peaks between this time difference are detected. When the load applied to a viscoelastic material test piece tends to increase and the value after a certain period of time increases more than the peak value, the next peak is detected and the peak value is held. The upper limit peak value is determined to detect the original upper limit peak. Furthermore, when necessary, when the load applied to the test piece is decreasing, if the value after a certain period of time is in a state of decreasing from the peak value, the next peak is detected and the peak value is held, and its lower limit is By calculating the peak value, the original lower limit peak can be detected. Therefore, the noise component can be removed by time measurement based on the detected peak, and the correct upper or lower limit peak can be selected.
その結果、粘弾性材料についてのはくり試験や
引裂試験の結果のデータに対してそのピーク値を
人手により読み取る必要がなく、適正な試験結果
を得ての解析でき、再試験もほとんどする必要が
なくなる。しかも、ノイズと各波形のピークとを
明確に分離できるものであり、ノイズの影響を除
去できるものである。 As a result, there is no need to manually read the peak value of the peel test or tear test result data for viscoelastic materials, and it is possible to obtain and analyze appropriate test results, with almost no need for retesting. It disappears. Furthermore, it is possible to clearly separate noise from the peaks of each waveform, and the influence of noise can be removed.
第1図及び第2図は、それぞれ粘弾性材料の試
験片に対する従来のはくり試験又は引裂試験にお
ける荷重−時間特性の波形の説明図、第3図は、
この発明を適用した引裂試験又ははくり試験等の
粘弾性材料試験システムの機能を中心としたブロ
ツク図、第4図は、この発明の粘弾性材料試験シ
ステムをマイクロコンピユータを用いて実現した
実施例のブロツク図、第5図は、ロードセルによ
る荷重−時間特性の検出波形図、そして、第6図
は、マイクロコンピユータのピーク値解析の処理
の流れ図である。
1…試験片、2…試験機、3…A/D変換器、
4…処理装置、5…デイスプレイ、6…キーボー
ド、10…粘弾性材料試験システム、11…ロー
ドセル、21…山側/谷側ピーク検出手段、22
…ピーク値保持手段、23…時間計測手段、24
…現在値保持手段、25…大/小判定手段、26
…ピーク値記憶手段、27…はくり力等演算手
段。
FIGS. 1 and 2 are explanatory diagrams of waveforms of load-time characteristics in conventional peeling tests and tear tests on test pieces of viscoelastic materials, respectively, and FIG.
A block diagram focusing on the functions of a viscoelastic material testing system such as a tear test or a peeling test to which this invention is applied, FIG. 4 is an embodiment in which the viscoelastic material testing system of this invention is realized using a microcomputer. FIG. 5 is a waveform diagram of the load-time characteristic detected by the load cell, and FIG. 6 is a flowchart of the peak value analysis process performed by the microcomputer. 1... Test piece, 2... Testing machine, 3... A/D converter,
4... Processing device, 5... Display, 6... Keyboard, 10... Viscoelastic material testing system, 11... Load cell, 21... Mountain side/valley side peak detection means, 22
...Peak value holding means, 23...Time measuring means, 24
...Current value holding means, 25...Large/small determination means, 26
...Peak value storage means, 27...Peeling force etc. calculation means.
Claims (1)
て、はくり力又は引裂力等として負荷される粘弾
性材料の荷重を検出する検出器と処理装置とを備
え、前記処理装置は、前記検出器により検出され
た荷重のピークを検出するピーク検出手段と、検
出したピークの荷重値を保持する第1の保持手段
と、ピークを検出してから一定時間後に検出され
た荷重値を保持する第2の保持手段と、前記第1
の保持手段に保持されているピーク値が前記第2
の保持手段に保持されている値より大きいか否か
を判定する判定手段とを有し、この判定手段の判
定の結果、大きくないと判定されたときに、次に
検出したピークについて同様な判定をし、大きい
と判定されたときに、前記第1の保持手段に保持
されたピーク値をはくり力又は引裂力等について
の上限のピーク値と決定して、検出データを解析
することを特徴とする粘弾性材料試験方法。 2 判定手段は、第1の保持手段に保持されてい
るピーク値が第2の保持手段に保持されている値
より大きいか否か及び小さいか否かを判定するも
のであり、この判定手段が大きいか否かを判定す
る場合には、その判定の結果、大きくないと判定
されたときに、次に検出したピークについて同様
な判定をし、大きいと判定されたときに、前記第
1の保持手段に保持されたピーク値をはくり力又
は引裂力等についての上限のピーク値と決定し
て、検出データを解析し、この判定手段が小さい
か否かを判定する場合には、その判定の結果、小
さくないと判定されたときに、次に検出したピー
クについて同様な判定をし、小さいと判定された
ときに、前記第1の保持手段に保持されたピーク
値をはくり力又は引裂力等についての下限のピー
ク値と決定して、検出データを解析することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の粘弾性材料
試験方法。 3 処理装置は、演算処理装置とメモリとを備え
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第
2項記載の粘弾性材料試験方法。[Scope of Claims] 1. In a test for peeling, tearing, etc. of a viscoelastic material, a detector for detecting a load applied to the viscoelastic material as a peeling force or a tearing force, etc., and a processing device, The device includes a peak detecting means for detecting the peak of the load detected by the detector, a first holding means for holding the load value of the detected peak, and a peak detecting means for detecting the peak of the load detected by the detector, a first holding means for holding the load value of the detected peak, and a peak detecting means for detecting the peak of the load detected by the detector, and a first holding means for holding the load value of the detected peak, a second holding means for holding a value; and a second holding means for holding a value;
The peak value held in the holding means of the second
and determining means for determining whether or not the value is larger than the value held in the holding means, and when it is determined that the value is not larger as a result of the determination by the determining means, a similar determination is made for the next detected peak. is determined to be large, the peak value held in the first holding means is determined as the upper limit peak value for peeling force, tearing force, etc., and the detected data is analyzed. Test method for viscoelastic materials. 2. The determining means determines whether the peak value held in the first holding means is larger than or smaller than the value held in the second holding means; When determining whether the peak is large or not, if it is determined that the peak is not large as a result of the judgment, a similar judgment is made for the next detected peak, and when it is judged that the peak is large, the first retention If the peak value held by the means is determined as the upper limit peak value for peeling force or tearing force, etc., and the detected data is analyzed to determine whether or not this determination means is small, the As a result, when it is determined that the peak is not small, a similar determination is made for the next detected peak, and when it is determined that the peak is small, the peak value held by the first holding means is peeled off or tearing force is applied. The viscoelastic material testing method according to claim 1, characterized in that the detected data is analyzed by determining the lower limit peak value for . 3. The viscoelastic material testing method according to claim 1 or 2, wherein the processing device includes an arithmetic processing device and a memory.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3712584A JPS60179627A (en) | 1984-02-28 | 1984-02-28 | Test system of visco-flastic material |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3712584A JPS60179627A (en) | 1984-02-28 | 1984-02-28 | Test system of visco-flastic material |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60179627A JPS60179627A (en) | 1985-09-13 |
| JPH0342620B2 true JPH0342620B2 (en) | 1991-06-27 |
Family
ID=12488881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3712584A Granted JPS60179627A (en) | 1984-02-28 | 1984-02-28 | Test system of visco-flastic material |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60179627A (en) |
-
1984
- 1984-02-28 JP JP3712584A patent/JPS60179627A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60179627A (en) | 1985-09-13 |
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