JPH0342620B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 この発明は、粘弾性材料試験方法に関し、特
に、ゴム等の粘弾性材料のはくり、引裂等の試験
の検出データについてはくり力又は引裂力等の適
切な解析ができるような粘弾性材料試験方法に関
する。

〔従来技術とその問題点〕

ゴム等やこの材料と繊維コード又は金属コード
複合材等で代表される粘弾性材料の引裂試験やは
くり試験等は、一般に、引張試験機等を用いて行
われる。そして、このような材料の引裂力やはく
り力は、かくり力又は引裂力としての荷重を試験
片にかけて、その荷重をロードセル等を用いて電
気信号に変換して検出し、これを荷重−時間特性
として得て、連続的に記録して、そのデータを解
析することにより得るものである。

すなわち、これらの試験については、JISです
でに決められた規格があり、引裂力又ははくり力
の変化の記録から解析して試験結果を得るように
定められている。その記録結果の一例を示すと、
第１図乃至第２図に示すような鋸歯状の複雑な波
形となり、例えば、第１図の上限ピーク値（符号
×参照）を読取り、ISO6133では、これら各波形
から得た中央値を引裂力とし、ISOR36、
JISK6301では、上限ピーク値の平均値をはくり
力として解析することが規定されている。

このような規格に従い引裂試験やはくり試験を
行う場合に、従来は、ピーク値（検出波形の山又
は谷の値）を人手により読み取つているので、誤
差が多く、適正な試験結果を解析できないという
欠点がある。

このように適正な解析ができない場合、再試験
をすることにもなるが、材料によつては、同様な
試料が得られない場合も多く、問題である。

このような点を解決するために、マイクロプロ
セツサ等を備えた処理装置を用いて自動的にピー
クを読み取る装置が提案されているが、粘弾性材
料についての瞬間的な引裂力又ははくり力の変化
の内容は、材料によつて多種多様であり、非常に
複雑なものが多く、ノイズと各波形のピークとが
見分け難いのが現状である。しかも、ピークの間
隔がなくなるという状態のものもあり、このよう
な場にどこを本来のピークとすべきか、測り難
く、自動的にピークを読み取るものでは、このよ
うな状態に対応できないという欠点を持つてい
る。

〔発明の目的） この発明は、このような従来技術の欠点乃至問
題にかんがみてなされたものであつて、このよう
な欠点又は問題を解消するとともに、引裂試験や
はくり試験等における検出した荷重特性の波形か
らノイズがあつても正確にピークを読み取り、正
しい引裂力やはくり力が解析できるような粘弾性
材料試験方法を提供することを目的とする。

〔発明の要点〕

このような目的を達成するためのこの発明の特
徴は、検出したピークから時間計測を行い、この
間のピークをノイズとして抑圧することにより、
ノイズ成分を除去するというものであつて、ある
ピークを基準にして、必要な一定の時間差をおい
てから次のピークの検出をし、この時間差の間の
ピークについては、検出することなく、粘弾性材
料の試験片にかかる荷重が増加傾向にあるとき
に、一定時間後の値がピーク値より増加状態にあ
るときには次のピークを検出してそのピーク値を
保持し、その上限のピーク値を求めて本来の上限
のピークを検出する。さらに、必要に応じて、試
験片にかかる荷重が減少傾向にあるときに、一定
時間後の値がピーク値より減少状態にあるときに
は次のピークを検出してそのピーク値を保持し、
その下限ピーク値を求めて本来の下限のピークを
検出するものである。

しかして、その構成は、粘弾性材料のはくり、
引裂等の試験において、はくり力又は引裂力等と
して負荷される粘弾性材料の荷重を検出する検出
器と処理装置とを備えていて、処理装置は、検出
器により検出された荷重のピークを検出するピー
ク検出手段と、検出したピークの荷重値を保持す
る第１の保持手段と、ピークを検出してから一定
時間後に検出された荷重値を保持する第２の保持
手段と、第１の保持手段に保持されているピーク
値が第２の保持手段に保持されている値より大き
いか否かを判定する判定手段とを有し、この判定
手段の判定の結果、大きくないと判定されたとき
に、次に検出したピークについて同様な判定を
し、大きいと判定されたときに、第１の保持手段
に保持されたピーク値をはくり力又は引裂力等に
ついての上限のピーク値と決定しして、検出デー
タを解析するというものである。

このようにすることにより、検出したピークを
基準にしてノイズ成分を時間計測により除去する
ことができ、正しい上限のピーク値が解析できる
ものである。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の一実施例について図面を用い
て詳細に説明する。

第３図は、この発明を適用した引裂試験又はは
くり試験等の粘弾性材料試験システムの機能を中
心としたブロツク図である。

図中、１０は、粘弾性材料試験システムであつ
て、ゴム等の粘弾性材料の試験片１がセツトされ
た試験機２と、Ａ／Ｄ変換器３、処理装置４、デ
イスプレイ５、そして、キーボード６とを備えて
いる。

ここで、試験機２には、ロードセル１１が設け
られていて、試験片１に負荷される荷重値を電気
信号として検出するものであつて、その検出信号
をＡ／Ｄ変換器３へと送出する。Ａ／Ｄ変換器３
は、検出された荷重値をデイジタル信号に変換し
て処理装置４へと入力する。

処理装置４は、山側／谷側ピーク検出手段２１
と第１の保持手段２２（ピーク値保持手段）、時
間計測手段２３、現在値保持手段２４、大／小判
定手段２５、ピーク値記憶手段２６、そして、は
くり力等の演算手段２７とを備えていて、試験片
１に対する検出された荷重値をデイジタル信号の
形で受けて所定の処理をする。なお、現在値保持
手段２４と時間計測手段２３とは、この発明にお
ける第２の保持手段の具体例の１つを構成してい
る。

一方、試験機２は、試験片１に荷重を加えるな
どの制御をする制御盤１２と、その荷重−時間特
性を記録する記録計１３とを備えている。

さて、処理装置４は、入力された荷重値のデイ
ジタル信号を山側／谷側ピーク検出手段２１と第
１の保持手段２２と現在値保持手段２４とに供給
する。

山側／谷側ピーク検出手段２１は、例えば、キ
ーボード６から入力された初期状態での起動信号
又は後述する大／小判定手段２５の起動信号に応
じて、Ａ／Ｄ変換器３から供給された荷重値の信
号を一定の周期でサンプリングして、１つ前のサ
ンプリングデータと比較して、その増減状態によ
り、サンプリングデータが山側のピークか谷側の
ピークかを判定する。そして、これによりピーク
か否かを検出して、山側、谷側に応じたそれぞれ
のピーク検出信号を第１の保持手段２２に送出
し、時間計測手段２３を起動する。

第１の保持手段２２は、ピーク検出信号に応じ
て、ピーク検出信号が山側のときには、山側のピ
ーク値として、荷重値の検出信号を取込み、これ
を記憶する。また、ピーク検出信号が谷側のとき
には、谷側のピーク値として、荷重値の検出信号
を取込む。

一方、時間計測手段２３は、山側／谷側ピーク
検出信号２１から起動信号を受けて、あらかじめ
設定された所定の時間、これをカウントして、所
定の時間が経過したときに、現在値保持手段２４
と大／小判定手段２５に制御信号を送出する。

この制御信号を受けた現在値保持手段２４は、
入力された荷重値の検出信号を取込んで、これを
保持する。

さて、大／小判定手段２５は、時間計測手段２
３からの制御信号に応じて、現在値保持手段２４
及び第１の保持手段２２からそれぞれのデータを
読出し、これらの大／小を比較する。ここで、第
１の保持手段２２に現在保持されているデータが
山側のピーク値のときには、大／小判定手段２５
は、第１の保持手段２２のピーク値が現在値より
大きいか否かを判定して、大きいときに、ピーク
値保持手段２２に記憶されている値を、上限のピ
ーク値（最大ピーク値）としてピーク値記憶手段
２６の所定の領域に転送して、これを記憶する制
御をする。

一方、第１の保持手段２２に現在保持されてい
るデータが谷側のピーク値のときには、大／小判
定手段２５は、第１の保持手段２２のピーク値が
現在値より小さいか否かを判定して、小さいとき
に、ピーク値保持手段２２に記憶されている値
を、下限のピーク値（最小ピーク値）としてピー
ク値記憶手段２６の所定の領域に転送して、これ
を記憶する制御をする。

そして、この処理が終了すると、山側／谷側ピ
ーク検出手段２１を起動して、次のピークを検出
する制御をする。その結果、上限ピーク及び下限
ピークが検出されるごとに、これらのピーク値が
ピーク値記憶手段２６の所定の領域に順次記憶さ
れることになる。

このようにして、山側のときには、現在値に対
して大きいと判定されたピーク値のみ求める上限
ピーク値として保持し、大きいと判定されない場
合には、山側／谷側ピーク検出手段２１を再び起
動して次のピーク値が第１の保持手段２２に保持
されて、同様な判定を受けることになる。また、
谷側のときには、現在値に対して小さいと判定さ
れたピーク値のみ求める下限ピーク値として保持
し、小さいと判定されない場合には、山側／谷側
ピーク検出手段２１を再び起動して次のピーク値
が第１の保持手段２２に保持されて、同様な判定
を受けることになる。

以上の結果として、試験片１の上限ピーク値と
下限ピーク値とが順次ピーク値記憶手段２６の所
定の領域に記憶されて行く。そして、これらの上
限ピーク若しくは下限ピークの一方又は双方が設
定された所定の数となつたとき、或いはキーボー
ド６から所定のキーが入力されて、試験終了とさ
れたときに、この処理が終わる。

ここで、はくり力等の演算手段２７は、ピーク
値記憶手段２６の上限ピーク又は下限ピークのい
ずれか、若しくは双方をカウントしている。そし
て、このカウント値が所定値になつたときに、そ
の処理を終了すると終了信号を発生する。

ここに、この終了信号を発生し、又はキーボー
ド６からの処理終了の信号を受けたはくり力等の
演算手段２７は、ピーク値記憶手段２６に記憶さ
れた上限ピーク値と下限ピーク値とを読出して、
はくり力の場合には、例えば、上限ピーク値及び
下限ピーク値のそれぞれの数をカウントして、上
限、下限の平均値、そして、これらの平均値を算
出する。また、引裂力の場合には、上限ピーク値
の中央値を算出する。

そして、これらの結果は、はくり力等演算手段
２７からデイスプレイ５に送出されて表示される
ことになる。

また、ISO法、JIS法等に従つて、山側ピーク
のみを検出して、その上限ピーク値を記憶し、そ
の中央値を算出するようにできることもちろんで
あり、このような場合には、山側／谷側ピーク検
出手段２１は、山側ピークのみ検出できればよ
い。また、大／小判定手段２５も大だけの判定を
すればよいものである。

次に、処理装置としてマイクロコンピユータに
より処理した場合のこの発明の実施例について具
体的に説明する。

第４図は、粘弾性材料試験システムをマイクロ
コンピユータを用いて実現した一実施例のブロツ
ク図、第５図は、ロードセル１１の荷重−時間特
性の検出波形図、そして、第６図は、マイクロコ
ンピユータのピーク解析の処理の流れ図である。
なお、第４図において、第３図と同一の符号は、
同一のものを示す。

第４図に見る３０は、粘弾性材料試験システム
の主要ブロツクであつて、３１は、マイクロコン
ピユータであり、インタフエース３２と共通バス
３３と演算処理装置３４（マイクロプロセツサ；
MPU）とメモリ３５とを備えている。

ここで、ロードセル１１により検出される信号
は、第５図の符号３６に見るようなものであり、
これがＡ／Ｄ変換器３に入力されて、デイジタル
値に変換され、インタフエース３２に入力され
る。そして、インタフエース３２から共通バス３
３を経て、演算処理装置３４に転送され、所定の
処理を受ける。

一方、キーボード６からは、所定のタイミング
で、マイクロコンピユータ３１の第６図に示すピ
ーク解析プログラムの起動信号、解析終了信号等
が入力され、インタフエース３２を介して演算処
理装置３４に転送される。一方、所定のプログラ
ムに従つて処理した結果は、演算処理装置３４か
ら共通バス３３を介してインタフエース３２に送
出され、このインタフエース３２を介して、デイ
スプレイ５に転送されて、所定のデータが表示さ
れるものである。

さて、演算処理装置３４のピーク解析の処理に
ついて、第４図，第５図，第６図に従つて説明す
ると、まず、第６図のピーク解析プログラムがプ
ログラム３５ａとして、はくり力等演算プログラ
ムがプログラム３５ｂとしてそれぞれメモリ３５
の所定領域に記憶されているとする。そして、キ
ーボード６の所定の機能キーが入力されると、こ
のプログラム３５ａが起動されて、次のようなス
テツプに従つてピーク解析処理が実行されること
になる。

すなわち、第６図に見るそのステツプは、初
期設定ステツプであつて、変数P₁，P₂，ｉ，Ｍ，
Ｎ，Ｖを“０”クリアする。ここに、変数P₁は、
ロードセル１１により検出された現在の荷重サン
プリングデータをセツトするもので、変数P₂は、
１つ前のサンプリングデータがセツトされるもの
である。また、変数ｉは、メモリ３５上における
上限ピーク値及び下限ピーク値の記憶アドレス位
置を示すものであり、変数Ｍは、増加状態を示す
フラグを記憶し、変数Ｎは、減少状態を示すフラ
グを記憶するものである。一方、変数Ｖは、谷側
の検出状態を示すフラグを記憶する。

これらの各変数は、メモリ３５上において１つ
のデータ記憶領域として設定されるものであつ
て、これら変数の代わりにレジスタを用いてもよ
いことはもちろんである。

次のステツプでは、変数P₁の値を変数P₂に
転送し、ステツプで、所定のサンプリングタイ
ミングに従つて、検出データを取込み、これをス
テツプで変数P₁にセツトする。なお、このサ
ンプリングタイミングは、第５図に見る波形３６
に対して、符号３７で示すタイミングに従つてな
される。

そして、次のステツプで、現在の荷重サンプ
リングデータを示す変数P₁と一つ前の荷重サン
プリングデータを示す変数P₂とを比較し、P₁＞
P₂の判定をする。

この判定の結果、YESとなると、増加状態と
見られ、ステツプで増加フラグとして、“１”
を変数Ｍにセツトする。そして、ステツプで減
少フラグを示す変数Ｎが先にセツトされているか
を、Ｎ＝１かにより判定する。

第５図の領域で示す増加状態にあるときに
は、ここで、その初期に減少状態がないので、ス
テツプの判定でNOとなり、ステツプへと戻
る、いわゆる、循環ループの処理となる。そし
て、前記と同様に、ステツプで、変数P₁の値
を変数P₂に転送し、ステツプで、所定のサン
プリングタイミミングに従つて、ロードセル１１
の荷重値を検出データとして取込み、これをステ
ツプで変数P₁にセツトする。そして、再び、
ステツプで、P₁＞P₂の判定をする。ここで、
サンプリングが最初のピーク３８を越えたところ
に来ていると仮定すると、現在のサンプリングデ
ータP₁が１つ前のサンプリングデータP₂に対し
て減少する。その結果として、ステツプａへと
移り、P₁＝P₂の判定に入り、万一、YES（P₁＝P₂
のとき）となると、ステツプとへ戻り、同様な
処理を経て、ここで、再び判定されて、NOとな
る。

この判定で減少状態と見られると、ステツプ
ａで減少フラグとして、“１”を変数Ｎにセツト
する。そして、ステツプａで増加状態を示すフ
ラグがセツトされているかが判定される。ここ
に、ピーク３８では、増加から減少に変化するの
で、YESとなり、１つ前のサンプリングデータ
P₂をピークとして検出し、ピークａで、メモ
リ３５上のMAXでラベルされた領域のアドレス
ｉで示される個所MAXiに変数P₂の値（山側の
ピーク値）を転送して記憶する。

ところで、ステツプａの判定で、NO条件と
なる場合は、第５図の領域で示すような場合
で、最初から減少状態にあるときである。このよ
うな減少状態は谷側のピーク検出の場合であつ
て、この谷側のピーク検出は、減少から増加に移
ることにより検出される。したがつて、ステツプ
ａでNOとなつたときには、ステツプｂへと
移り、ここで、谷側フラグとして、“１”を変数
Ｖにセツトして、ステツプへと戻る。そして、
先と同様な循環処理がなされて、例えば、第５図
に見るピーク４０のような谷側のピークを越えた
ところにおいて、ステツプでYESとなり、ス
テツプで減少フラグＮの判定を行つたときに、
YESとなり、１つ前のサンプリングデータP₂を
下限ピークとして検出し、同様に、メモリ３５上
のMINでラベルされた領域のアドレスｉで示さ
れる個所MINiに変数P₂の値（谷側のピーク値）
を転送して記憶する。

このようにして、ステツプからステツプ及
びステツプからステツプａの処理により山側
及び谷側のピークの検出がなされる。したがつ
て、ここまでの処理は、第３図の山側／谷側ピー
ク検出手段２１の具体例の１つである。さらに、
ステツプ及びステツプａの処理は、それぞれ
第１の保持手段２２（ピーク値保持手段）の具体
例でもあると同時に、ピーク値記憶手段２の具体
例ともなつている。

こうしてピークを検出した後に、ステツプへ
と移り、タイマがT₁にセツトされて、ステツプ
で時間計測をして、それが終了するまで待つ、
いわゆる、時間待ちループに入る。このステツプ
及びは、前記第３図の時間計測手段の具体例
の１つである。

そして、ステツプで、所定のサンプリングタ
イミングに従つて、ロードセル１１の荷重値を検
出データとして取込み、これをステツプで変数
P₁にセツトする。次のステツプで、変数Ｖが
Ｖ＝１か否かを判定して、NOのときには、ステ
ツプへと移り、先に検出しているピーク値であ
るMAXiがタイマで設定された一定時間T₁後の
現在サンプリングデータP₁より大きいか否かを
判定する。その結果、大きくないときには、ステ
ツプａへと移り、ピーク検出のときにセツトし
た減少フラグＮを無効とするために、これをリセ
ツト（Ｎ＝０）して、ステツプへと戻り、同様
な、処理をして、ステツプで、再び、ピーク値
であるMAXiがタイマで設定された一定時間T₁
後の現在サンプリングデータP₁より大きいか否
かを判定する。このような循環の過程で、上限ピ
ーク３９（第５図参照）がピークとして検出され
て、そのピーク値がMAXiにセツトされたときに
は、サンプリングデータP₁は、これより、小さ
くなる。その結果、ステツプの判定でYESと
なつて、ステツプで、ｉ＝ｉ＋１として、この
ピーク値をMAXiに上限ピーク値として保持した
まま、メモリ３５のアドレスを更新して、次の
MAXi₊₁の個所に次の上限ピーク値を保持する準
備をして、ステツプへと移る。

ステツプでは、メモリ３５に記憶されている
MAXiの個数及び／又はMINiの個数をカウント
して所定の数になつたか否か、或いは、キーボー
ド６から終了のキーが入力されていないかを判定
して、処理終了の判定をし、NOのときには、ス
テツプへと移る。ステツプで、すでに減少状
態の判定を受けているので、このステツプで
は、増加状態のフラグのみリセツト（Ｍ＝０）し
て、ステツプへと戻り、次の谷側のピークの検
出処理に入る。

さて、谷側の検出処理に入り、谷側のピークが
ステツプで検出された場合には、そのピーク値
は、メモリ３５の領域MINiに記憶されることに
なる。

この場合には、ステツプＤの判定で、谷側フ
ラグを示す、変数ＶがＶ＝１と判定されて、
YESとなり、ステツプａへと移る。

ステツプａでは、先に検出しているMINiの
ピーク値がタイマで設定された一定時間T₁後の
現在サンプリングデータP₁より小さいか否かを
判定する。その結果、小さくないときには、ステ
ツプへと移り、ピーク検出のときにセツトした
増加フラグＭを無効とするために、これをリセツ
トして、ステツプへと戻り、同様な、処理をし
て、ステツプａで、再び、ピーク値MINiがタ
イマで設定された一定時間T₁後の現在サンプリ
ングデータP₁より小さいか否かを判定する。こ
のような循環の過程で、下限ピーク４１（第５図
参照）がピークとして検出されて、そのピーク値
がMINiにセツトされたときには、サンプリング
データP₁は、これより、大きくなる。その結果、
ステツプａの判定でYESとなつてステツプ
ａで、ｉ＝ｉ＋１とし、谷側フラグ“Ｖ”をリセ
ツト（Ｖ＝０）して、このピーク値をMINiに下
限ピーク値として保持したまま、メモリ３５のア
ドレスを更新して、次のMINi₊₁の個所に次の下
限ピーク値を保持する準備をして、ステツプａ
へと移る。

ステツプａでは、ステツプと同様に処理終
了の判定をし、NOのときには、ステツプａへ
と移る。ステツプａで、すでに増加状態の判定
を受けているので、このステツプ〓ａでは、減少
状態のフラグのみリセツトして、ステツプへと
戻り、次の山側のピークの検出処理に入る。

ここで、ステツプの変数P₁に検出データを
セツトする処理は、第３図における現在値保持手
段の具体例の１つであり、ステツプ又はステツ
プａの判定処理は大／小判定手段２５の具体例
の１つである。また、ステツプ又はステツプ
ａの処理とメモリ３５の領域MAX，MINは第３
図のピーク値記憶手段２６の具体例の１つであ
る。

このようにして、各上段ピー及び下限ピークを
検出して、順次メモリ３５のMAX₁からMAX_o
にその上限ピーク値を記憶し、順次MIN₁から
MIN_oにその下限ピーク値を記憶する。ただし、
ｎは、検査終了までの上限、下限それぞれのピー
クの検出個数である。

以上のようにして、ロードセル１１から検出さ
れた荷重値のうち上限値及び下限値を順次検出し
て、これらに対応してそれぞれの上限ピーク値及
び下限ピーク値を保持することにより解析するこ
とができる。

ところで、前記ステツプでは、P₁＞P₂の判
定をし、ステツプａでP₁＝P₂の判定をして、
検出荷重値の増加減少の判定をしているが、ノイ
ズとの関係から、１つ前のサンプリングデータ
P₂に対して、一定の％以上増加又は減少したも
ののみ本来の増減とみて、各ピーク検出の対象と
してもよい。

このような場合には、ステツプは、例えば、
（P₁−P₂）／P₂＞0.05の判定をし、NOのときに、
ステツプａにおいて、−0.05≦（P₁−P₂）／P₂≦
0.05の判定をして、YESのときにステツプへ戻
るようにすることができる。このようにすること
により、５％以上の増減のときにピークの検出が
行われることになる。その結果ノイズを十分に除
去することができ、その解析処理が一層確実とな
る。

また、ピーク検出にあたつては、上限ピークの
間に下限ピークが存在すること、そして、下限の
ピークの間に上限ピークが存在することを条件に
加えて、各ピークを検出してもよい。

このような場合には、山側、谷側交互にピーク
を検出するものとして、山側のときには、ステツ
プのYES条件のときにステツプからステツ
プへ戻るようにし、ステツプａ、ステツプ
ａを省略して、ステツプａに移るようにすれば
よく、一方、谷側のときには、ステツプのNO
条件のときにステツプからステツプへ戻るよ
うにし、ステツプ、ステツプを省略して、ス
テツプに移るようにすればよい。さらに、この
ような場合にも、ステツプａを設けて、ステツ
プ、ステツプａの判定を前記で示した所定値
以上の増減のときにピークの検出が行われるよう
な条件を加えることができるものである。

さて、ステツプにおいて設定される一定時間
T₁は、試験内容に外じて経験的に設定するもの
であるが、この設定時間T₁を可変にして適宜設
定するようにしてもよく、第５図に示すような波
形にあつては、複数のピークの間隔の平均値の
２／３又は２／３＋α程度に設定するとよい。こ
れは、ピークが検出される時点は、現実には、ピ
ーク点から過ぎた次のサンプリング時点であり、
この時点で実際の時間計測がなされるから、平均
値の２／３又は２／３＋α程度に設定すれば、ノ
イズにより谷又は山が現れても、平均値の２／３
又は２／３＋αの時間経過後のサンプリング時点
では、それが上限又は下限値でない限り、ほぼ確
実に、１つ前のピーク値より増減する値を採り得
るからである。その結果、ピークの間にあるノイ
ズをこの間、確実に抑圧することができる。

さて、前記ステツプ又はステツプａの判定
処理で終了となつた場合、演算処理装置３５は、
次に、メモリ３５からはくり力等を算出するプロ
グラム３５ｂを起動して、はくり力等を算出する
処理に入る。

ここで、メモリ３５に記憶された上限ピーク値
と下限ピーク値は、次に、演算処理装置３４によ
りそれぞれカウントされ、その数が記憶される。
なお、このとき、最初のｍ個のピーク値と最後の
ｎ個のピーク値とを除外して演算処理するように
する（ただし、ｍ，ｎは、任意の整数）。

そして、公知のピーク点法、面積法、JIS法等
によりはくり力や引裂力が算出される。

なお、算出されたはくり力や引裂力の情報は、
インタフエース３２を介してデイスプレイ５送出
され、表示され、さらに、必要に応じて、プリン
タに出力されることになる。

ところで、この場合の演算処理装置３４の処理
が第３図のはくり力等の演算手段２７の具体例の
１つであり、また、この発明は、ピークを解析す
るものであるので、このような演算処理装置、演
算手段の処理の内容には限定されるものではな
い。

以上、詳述してきたが、この実施例に示した処
理は、１例であつて、この発明は、これに限定さ
れるものではなく、ピーク検出は、このように演
算処理装置側でプログラム処理によらなくとも、
一般のピーク検出回路を用いてそれぞれの各ピー
ク点を検出して、その後、Ａ／Ｄ変換をして、検
出データを演算処理装置側で処理するようにして
もよい。このように場合には、ピーク検出のプロ
グラム処理は不要となり、検出したピークを基準
にして、時間計測を行うものである。なお、この
ような場合の時間計測もワンシヨツトマルチによ
りハードで実現して、ピーク検出回路と一体的な
ものとしてもよい。

また、実施例では、サンプリング処理により、
検出した荷重データをその都度検出データとして
取り込むようにし、ピーク検出をしているが、ピ
ーク値の有無に関係なく、ロードセルからの荷重
データを先にすべてサンプリング処理して、サン
プリング処理だけ独立して行い、メモリに記憶し
た後に、ピーク検出処理をして、上限ピーク値と
下限ピーク値を演算処理にて抽出してもよい。こ
のような処理をする場合には、ステツプ、ステ
ツプの時間計測処理は、所定個数のサンプリン
グデータを排除することによりなされる。しか
し、これは、実質的に時間計測によるデータの抑
圧と等価である。したがつて、このようなものも
この発明における時間計測に含まれるものであ
る。なお、サンプリング処理を独立させて、デー
タを採ることにより、処理速度の比較的遅いプロ
セツサでも処理が可能となる利点がある。

さらに、時間計測後に各ピークとそのピーク値
のみを検出して、後から、これら検出したピーク
値を比較して上限のピーク値又は下限のピーク値
を抽出してもよい。

ところで、実施例では、上限ピーク値と下限ピ
ーク値とをともに検出しているが、これは、上限
のピーク値のみでよいことは、もちろんである。

また、実施例では、粘弾性材料に対するはくり
力又は引裂力を解析するために、ピーク検出する
例を挙げているが、この発明は、このような場合
の解析処理に限定されるものではなく、粘弾性材
料についてのノイズの多いピーク検出の解析に適
用できることはもちろんであり、いわゆる、はく
り力又は引裂力等に対して適用できるものであ
る。

〔発明の効果〕

以上の説明から理解できるように、この発明に
あつては、あるピークを基準にして、必要な一定
の時間差をおいてから次のピークの検出をし、こ
の時間差の間のピークについては、検出すること
なく、粘弾性材料の試験片にかかる荷重が増加傾
向にあるときに、一定時間後の値がピーク値より
増加状態にあるときには次のピークを検出してそ
のピーク値を保持し、その上限のピーク値を求め
て本来の上限のピークを検出するものである。さ
らに、必要があるときには、試験片にかかる荷重
が減少傾向にあるときは、一定時間後の値がピー
ク値より減少状態にあるときには次のピークを検
出してそのピーク値を保持し、その下限ピーク値
を求めて本来の下限のピークを検出するようにで
きる。そこで、検出したピークを基準にしてノイ
ズ成分を時間計測により除去することができ、正
しい上限又は下限のピークを選択できる。

その結果、粘弾性材料についてのはくり試験や
引裂試験の結果のデータに対してそのピーク値を
人手により読み取る必要がなく、適正な試験結果
を得ての解析でき、再試験もほとんどする必要が
なくなる。しかも、ノイズと各波形のピークとを
明確に分離できるものであり、ノイズの影響を除
去できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は、それぞれ粘弾性材料の試
験片に対する従来のはくり試験又は引裂試験にお
ける荷重−時間特性の波形の説明図、第３図は、
この発明を適用した引裂試験又ははくり試験等の
粘弾性材料試験システムの機能を中心としたブロ
ツク図、第４図は、この発明の粘弾性材料試験シ
ステムをマイクロコンピユータを用いて実現した
実施例のブロツク図、第５図は、ロードセルによ
る荷重−時間特性の検出波形図、そして、第６図
は、マイクロコンピユータのピーク値解析の処理
の流れ図である。 １…試験片、２…試験機、３…Ａ／Ｄ変換器、
４…処理装置、５…デイスプレイ、６…キーボー
ド、１０…粘弾性材料試験システム、１１…ロー
ドセル、２１…山側／谷側ピーク検出手段、２２
…ピーク値保持手段、２３…時間計測手段、２４
…現在値保持手段、２５…大／小判定手段、２６
…ピーク値記憶手段、２７…はくり力等演算手
段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 粘弾性材料のはくり、引裂等の試験におい
   て、はくり力又は引裂力等として負荷される粘弾
   性材料の荷重を検出する検出器と処理装置とを備
   え、前記処理装置は、前記検出器により検出され
   た荷重のピークを検出するピーク検出手段と、検
   出したピークの荷重値を保持する第１の保持手段
   と、ピークを検出してから一定時間後に検出され
   た荷重値を保持する第２の保持手段と、前記第１
   の保持手段に保持されているピーク値が前記第２
   の保持手段に保持されている値より大きいか否か
   を判定する判定手段とを有し、この判定手段の判
   定の結果、大きくないと判定されたときに、次に
   検出したピークについて同様な判定をし、大きい
   と判定されたときに、前記第１の保持手段に保持
   されたピーク値をはくり力又は引裂力等について
   の上限のピーク値と決定して、検出データを解析
   することを特徴とする粘弾性材料試験方法。 ２ 判定手段は、第１の保持手段に保持されてい
   るピーク値が第２の保持手段に保持されている値
   より大きいか否か及び小さいか否かを判定するも
   のであり、この判定手段が大きいか否かを判定す
   る場合には、その判定の結果、大きくないと判定
   されたときに、次に検出したピークについて同様
   な判定をし、大きいと判定されたときに、前記第
   １の保持手段に保持されたピーク値をはくり力又
   は引裂力等についての上限のピーク値と決定し
   て、検出データを解析し、この判定手段が小さい
   か否かを判定する場合には、その判定の結果、小
   さくないと判定されたときに、次に検出したピー
   クについて同様な判定をし、小さいと判定された
   ときに、前記第１の保持手段に保持されたピーク
   値をはくり力又は引裂力等についての下限のピー
   ク値と決定して、検出データを解析することを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載の粘弾性材料
   試験方法。 ３ 処理装置は、演算処理装置とメモリとを備え
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第
   ２項記載の粘弾性材料試験方法。