JPH0344000B2 - - Google Patents
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- JPH0344000B2 JPH0344000B2 JP58135788A JP13578883A JPH0344000B2 JP H0344000 B2 JPH0344000 B2 JP H0344000B2 JP 58135788 A JP58135788 A JP 58135788A JP 13578883 A JP13578883 A JP 13578883A JP H0344000 B2 JPH0344000 B2 JP H0344000B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defective
- memory
- monitoring
- paper surface
- standard
- Prior art date
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、製本の過程で生ずる乱丁を検出する
乱丁の検出方法及び乱丁の検出装置に関するもの
である。
乱丁の検出方法及び乱丁の検出装置に関するもの
である。
従来の技術
従来の乱丁の検出装置は、折り丁の背中部分に
背標等のマークを印刷し、光センサーによりのマ
ークを検出し、正常な折り丁かどうかの識別をす
るものであつた。
背標等のマークを印刷し、光センサーによりのマ
ークを検出し、正常な折り丁かどうかの識別をす
るものであつた。
発明が解決しようとする課題
しかし、この従来の装置では、折り丁に背標を
印刷しなけばならず、また印刷物によつては背標
の位置が違つてくるため扱う印刷物によつて背標
検出器の据え付け位置の調整しなければならなか
つた。
印刷しなけばならず、また印刷物によつては背標
の位置が違つてくるため扱う印刷物によつて背標
検出器の据え付け位置の調整しなければならなか
つた。
また刷紙はすべて機械で折られるため、従来の
手折りの時に比べて、折りむらや折りズレ等を生
じ、背標が折り込まれて消えてしまうこともあ
り、その都度機械が誤動作をしたり、停止したり
した。
手折りの時に比べて、折りむらや折りズレ等を生
じ、背標が折り込まれて消えてしまうこともあ
り、その都度機械が誤動作をしたり、停止したり
した。
発明の目的
本発明の目的は前記の従来技術の欠点を解消し
て印刷物の種類、背標の有無に関係なく乱丁を検
出し排除することができる乱丁の検出方法及び乱
丁の検出装置を提供することにある。
て印刷物の種類、背標の有無に関係なく乱丁を検
出し排除することができる乱丁の検出方法及び乱
丁の検出装置を提供することにある。
課題を解決するための手段
上記目的は監視紙面上及び標準紙面上の複数の
測定点にそれぞれ光を当て、各測定点からの反射
光を各測定点に対応する複数の受光素子で受け、
各測定点ごとに前記監視紙面の反射光量と前記標
準紙面の反射光量との差をとり、さらに隣り合つ
た２つの測定点ごとに監視紙面の反射光量の算術
平均と前記標準紙面の反射光量の算術平均を計算
して前記２つの算術平均の差をとり、前記２種類
の差のうち所定のレベルを越えた差の個数を前記
２種類の差の全個数と比較することにより乱丁を
検出することを特徴とする乱丁の検出方法 及び製本で用いる丁合機の各折り丁積台に設置
され、かつ測定点に対応させて設けた複数の光セ
ンサーで構成されたセンサー部と、前記光センサ
ーからの各出力を増幅する増幅器と、前記増幅器
からの各出力を時分割して順にADコンバーター
に送るためのマルチプレクサーと、前記ADNコ
ンバーターで変換されたデジタル信号を記憶する
標準メモリー及び監視メモリーと、前記各メモリ
ーの内容と所定のレベルを比較するためのレベル
不良検出器と、前記レベル不良検出器からの不良
信号の数と測定点の数を比較する不良率検出器と
を備え、前記各折り丁積台に乗せた標準折り丁の
最下段の紙面を前記センサー部の光センサーで測
定し、その出力をADコンバーターでデジタル信
号に変換して前記標準メモリーに記憶し、さら
に、前記各折り丁積台に乗せた監視折り丁の最下
段の紙面を前記センサー部の光センサーで測定
し、その出力を前記ADコンバーターでデジタル
信号に変換して前記監視メモリーに記憶した後、
各測定点ごとに前記監視メモリーの内容と前記標
準メモリーの内容との差をとり、その差が所定の
レベルを越えた不良信号の数を前記不良率検出器
に記憶し、さらに隣り合つた２つの測定点ごとに
前記監視メモリーの内容の算術平均と前記標準メ
モリーの内容の算術平均を計算し、前記監視メモ
リーの算術平均と前記標準メモリーの算術平均と
の差が所定のレベルを越えた場合に前記監視メモ
リーの算術平均を不良信号としてその数を前記不
良率検出器に記憶し、前記不良信号の合計数と全
測定点の数とを比較することにより乱丁を検出す
る構成にしたことを特徴とする乱丁の検出装置に
よつて達成される。
測定点にそれぞれ光を当て、各測定点からの反射
光を各測定点に対応する複数の受光素子で受け、
各測定点ごとに前記監視紙面の反射光量と前記標
準紙面の反射光量との差をとり、さらに隣り合つ
た２つの測定点ごとに監視紙面の反射光量の算術
平均と前記標準紙面の反射光量の算術平均を計算
して前記２つの算術平均の差をとり、前記２種類
の差のうち所定のレベルを越えた差の個数を前記
２種類の差の全個数と比較することにより乱丁を
検出することを特徴とする乱丁の検出方法 及び製本で用いる丁合機の各折り丁積台に設置
され、かつ測定点に対応させて設けた複数の光セ
ンサーで構成されたセンサー部と、前記光センサ
ーからの各出力を増幅する増幅器と、前記増幅器
からの各出力を時分割して順にADコンバーター
に送るためのマルチプレクサーと、前記ADNコ
ンバーターで変換されたデジタル信号を記憶する
標準メモリー及び監視メモリーと、前記各メモリ
ーの内容と所定のレベルを比較するためのレベル
不良検出器と、前記レベル不良検出器からの不良
信号の数と測定点の数を比較する不良率検出器と
を備え、前記各折り丁積台に乗せた標準折り丁の
最下段の紙面を前記センサー部の光センサーで測
定し、その出力をADコンバーターでデジタル信
号に変換して前記標準メモリーに記憶し、さら
に、前記各折り丁積台に乗せた監視折り丁の最下
段の紙面を前記センサー部の光センサーで測定
し、その出力を前記ADコンバーターでデジタル
信号に変換して前記監視メモリーに記憶した後、
各測定点ごとに前記監視メモリーの内容と前記標
準メモリーの内容との差をとり、その差が所定の
レベルを越えた不良信号の数を前記不良率検出器
に記憶し、さらに隣り合つた２つの測定点ごとに
前記監視メモリーの内容の算術平均と前記標準メ
モリーの内容の算術平均を計算し、前記監視メモ
リーの算術平均と前記標準メモリーの算術平均と
の差が所定のレベルを越えた場合に前記監視メモ
リーの算術平均を不良信号としてその数を前記不
良率検出器に記憶し、前記不良信号の合計数と全
測定点の数とを比較することにより乱丁を検出す
る構成にしたことを特徴とする乱丁の検出装置に
よつて達成される。
本発明の乱丁の検出方法は、紙面に光を当て、
その反射光量の違いにより紙面が同種のものか異
種のものかを判定するものである。
その反射光量の違いにより紙面が同種のものか異
種のものかを判定するものである。
本発明の乱丁の検出方法は、まず標準折り丁の
最下段の紙面の信号をメモリーに記憶し、次に監
視折り丁の最下段の紙面の信号を別のメモリーに
記憶して、両者を比較して紙面の異同を判別す
る。
最下段の紙面の信号をメモリーに記憶し、次に監
視折り丁の最下段の紙面の信号を別のメモリーに
記憶して、両者を比較して紙面の異同を判別す
る。
本発明の乱丁の検出方法は、紙面上の複数の点
を測定点とする。このため、本発明による乱丁の
検出装置のセンサー部は、複数の光センサーを有
している。
を測定点とする。このため、本発明による乱丁の
検出装置のセンサー部は、複数の光センサーを有
している。
しかし、この比較を簡単に
E1−E1′＝０
（E1は１つの光センサーで測定された標準紙面
の信号、E1′は監視紙面の信号を示す。）と行なつ
たのでは紙面のむら、測定の誤差、位置のズレ等
ですべて不良と判定する恐れがある。このため E1−E1′＜±Ｍ とし、Ｍに同一位置における反射光量測定におい
て発生すると思われる不良レベルを入れておき、
これを越えた所で同一信号でないという判定を下
すようにする。
の信号、E1′は監視紙面の信号を示す。）と行なつ
たのでは紙面のむら、測定の誤差、位置のズレ等
ですべて不良と判定する恐れがある。このため E1−E1′＜±Ｍ とし、Ｍに同一位置における反射光量測定におい
て発生すると思われる不良レベルを入れておき、
これを越えた所で同一信号でないという判定を下
すようにする。
しかし、一点だけの汚れとか、小さい範囲の印
刷むらなどによつて同一紙面でもミクロ的に見る
と異なつていることが多い。このため、二つの紙
面を測定して個々の測定点を比較した場合、その
位置によつて同一信号とならない点がいくつか発
生する。そのため、本発明においては、お互いの
同一位置の比較をして不良点となつた点を集計
し、全測定点の数に対する不良点の数の比を予め
設定しておき、不良点がこの比を越えたところ
で、監視紙面は異種紙面であるという判定を下す
のである。
刷むらなどによつて同一紙面でもミクロ的に見る
と異なつていることが多い。このため、二つの紙
面を測定して個々の測定点を比較した場合、その
位置によつて同一信号とならない点がいくつか発
生する。そのため、本発明においては、お互いの
同一位置の比較をして不良点となつた点を集計
し、全測定点の数に対する不良点の数の比を予め
設定しておき、不良点がこの比を越えたところ
で、監視紙面は異種紙面であるという判定を下す
のである。
以上説明した原理を図に示すと、第１図のよう
になる。
になる。
縦軸は、紙面の反射光量を示す。軸Ａが真白の
紙面のレベルを示し、軸Ｂが真黒の紙面のレベル
を示す。また、(イ)、(ロ)、(ハ)、…(ト)は、測定位置
す
なわち光センサーの位置を示している。従つてこ
の例ではセンサー部には７個の光センサーが設け
られていることになる。
紙面のレベルを示し、軸Ｂが真黒の紙面のレベル
を示す。また、(イ)、(ロ)、(ハ)、…(ト)は、測定位置
す
なわち光センサーの位置を示している。従つてこ
の例ではセンサー部には７個の光センサーが設け
られていることになる。
信号１００は標準紙面の信号を示し、E1〜E7
が光センサーによる測定値を示す。信号１００ａ
は信号１００に不良レベルＭを加えた信号であ
り、信号１００ｂは信号１００から不良レベルＭ
を引いた信号である。そして、信号１０１が監視
紙面の信号を示し、E1′〜E7′が光センサーによる
測定値を示す。監視紙面を測定して、信号１００
ａと信号１００ｂの間に所定の数以上の測定点が
入ればその測定紙面は、同種の紙面であると判断
される。
が光センサーによる測定値を示す。信号１００ａ
は信号１００に不良レベルＭを加えた信号であ
り、信号１００ｂは信号１００から不良レベルＭ
を引いた信号である。そして、信号１０１が監視
紙面の信号を示し、E1′〜E7′が光センサーによる
測定値を示す。監視紙面を測定して、信号１００
ａと信号１００ｂの間に所定の数以上の測定点が
入ればその測定紙面は、同種の紙面であると判断
される。
さて、第１図に示した例では、１つの紙面を７
つの測定点で監視している。測定点は多ければ多
いほど正確な判定をすることができる。測定点を
多くするためには、センサー部に多くの光センサ
ーを設けなければならない。
つの測定点で監視している。測定点は多ければ多
いほど正確な判定をすることができる。測定点を
多くするためには、センサー部に多くの光センサ
ーを設けなければならない。
本発明の乱丁の検出方法は、次のようにして光
センサーの個数をふやすことなく、多くの測定点
で測定したのと同様の効果をあげている。
センサーの個数をふやすことなく、多くの測定点
で測定したのと同様の効果をあげている。
すなわち、監視紙面における第１番目の測定点
の信号E1′と第２番目の測定点の信号E2′とによつ
て新たな情報（E1′＋E2′）／２を得ることができ
る。この（E1′＋E2′）／２と、同様にして得られ
る標準紙面の情報（E1＋E2）／２を比較するの
である。
の信号E1′と第２番目の測定点の信号E2′とによつ
て新たな情報（E1′＋E2′）／２を得ることができ
る。この（E1′＋E2′）／２と、同様にして得られ
る標準紙面の情報（E1＋E2）／２を比較するの
である。
以下同様にして（E2′＋E3′）／２と（E2＋
E3）／２、（E3′＋E4′）／２と（E3＋E4）／２、
…をそれぞれ比較するのである。このようにすれ
ば、例えば７個の光センサーによつて13個の情報
を得ることができるのである。
E3）／２、（E3′＋E4′）／２と（E3＋E4）／２、
…をそれぞれ比較するのである。このようにすれ
ば、例えば７個の光センサーによつて13個の情報
を得ることができるのである。
実施例
以下、第２図を参照して本発明の好適な実施例
について説明する。
について説明する。
第２図に本発明の検出装置のブロツクダイアグ
ラムを示す。
ラムを示す。
センサー部１は、丁合機の折り丁積台（以下、
単に枠）に固定されており、丁合機の枠に積まれ
ている折り丁の一番下の紙面を監視する。例え
ば、枠がｎ個あれば、センサー部１もｎ個必要に
なる。No.１…No.ｎは枠の番号を示す。センサー部
１は複数の光センサーにより構成されている。従
つて、本発明の検出装置は複数の点を測定とす
る。センサー部１は光源ランプの光を紙面に反射
させ、その反射光を光センサーにより、アナログ
電気量に変換されるように作られている。センサ
ー部１の出力は、増幅器２で増幅される。増幅器
２はノイズ等の混入を防止するために、インピー
ダンス変換を行うバツフアーアンプが望ましい。
単に枠）に固定されており、丁合機の枠に積まれ
ている折り丁の一番下の紙面を監視する。例え
ば、枠がｎ個あれば、センサー部１もｎ個必要に
なる。No.１…No.ｎは枠の番号を示す。センサー部
１は複数の光センサーにより構成されている。従
つて、本発明の検出装置は複数の点を測定とす
る。センサー部１は光源ランプの光を紙面に反射
させ、その反射光を光センサーにより、アナログ
電気量に変換されるように作られている。センサ
ー部１の出力は、増幅器２で増幅される。増幅器
２はノイズ等の混入を防止するために、インピー
ダンス変換を行うバツフアーアンプが望ましい。
増幅された信号は、マルチプレクサー７９に送
られる。マルチプレクサー７９でアナログ信号は
時分割されて順々にADコンバーター１３に送ら
れる。ADコンバーター１３において、アナログ
信号はデジタル信号に変換される。
られる。マルチプレクサー７９でアナログ信号は
時分割されて順々にADコンバーター１３に送ら
れる。ADコンバーター１３において、アナログ
信号はデジタル信号に変換される。
この動作により、アナログ信号はデジタル信号
として、メモリーコントローラー１４の指示に従
つて、記憶回路７５へ測定点別に記憶される。
として、メモリーコントローラー１４の指示に従
つて、記憶回路７５へ測定点別に記憶される。
以下、枠が１つの場合について説明する。枠が
複数の場合も同様に考えることができる。
複数の場合も同様に考えることができる。
記憶回路７５は、その役割から大きく標準メモ
リー１５と監視メモリー１６に分けることができ
る。標準メモリー１５と監視メモリー１６は機能
的に何ら差はない。メモリー１５には標準紙面の
情報を記憶し、メモリー１６には監視紙面の情報
を記憶する。メモリー１５とメモリー１６の動作
は次の通りである。
リー１５と監視メモリー１６に分けることができ
る。標準メモリー１５と監視メモリー１６は機能
的に何ら差はない。メモリー１５には標準紙面の
情報を記憶し、メモリー１６には監視紙面の情報
を記憶する。メモリー１５とメモリー１６の動作
は次の通りである。
メモリー１６の内容は、レベル不良検出器３１
でメモリー１５の内容と比較されて、所定の不良
レベルＭ以上の差があるものは不良点として検出
される。すなわち、メモリー１５の標準紙面第１
番目の測定点の情報（以下E1）がレベル不良検
出器３１に導き出される。続いてメモリー１６内
の監視紙面の第１番目の測定点の情報（以下E1′）
がレベル不良検出器３１に導きだされる。そし
て、レベル不良検出器３１で、 E1−E1′＜±Ｍ の判定によりE1′が不良点であるかどうかの判定
をする。不良レベルＭは不良レベル設定器３２に
より任意に設定される。
でメモリー１５の内容と比較されて、所定の不良
レベルＭ以上の差があるものは不良点として検出
される。すなわち、メモリー１５の標準紙面第１
番目の測定点の情報（以下E1）がレベル不良検
出器３１に導き出される。続いてメモリー１６内
の監視紙面の第１番目の測定点の情報（以下E1′）
がレベル不良検出器３１に導きだされる。そし
て、レベル不良検出器３１で、 E1−E1′＜±Ｍ の判定によりE1′が不良点であるかどうかの判定
をする。不良レベルＭは不良レベル設定器３２に
より任意に設定される。
E1′が不良信号である場合は、レベル不良検出
器３１から不良率検出器５１へ１個のパルスが送
り出される。不良率検出器５１ではそのパルス数
をカウントする。次に、標準紙面の第２番目の測
定点の情報（E2）と監視紙面の第２番目の測定
点の情報（E2′）が同じように比較されて、E2′が
不良信号かどうか判別される。この動作を全ての
測定点について行なう。
器３１から不良率検出器５１へ１個のパルスが送
り出される。不良率検出器５１ではそのパルス数
をカウントする。次に、標準紙面の第２番目の測
定点の情報（E2）と監視紙面の第２番目の測定
点の情報（E2′）が同じように比較されて、E2′が
不良信号かどうか判別される。この動作を全ての
測定点について行なう。
さらに、レベル不良検出器３１では、次の比較
が行なわれる。
が行なわれる。
すなわち、レベル不良検出器３１ではE1とE2
から新たな情報（E1＋E2）／２が計算され、
E1′とE2′から情報（E1′＋E2′）／２が計算される。
そして、この（E1′＋E2′）／２と（E1＋E2）／２
とが比較されるのである。（E1′＋E2′）／２が不
良信号である場合にはレベル不良検出器３１から
不良率検出器５１へ１個のパルスが送り出され
る。
から新たな情報（E1＋E2）／２が計算され、
E1′とE2′から情報（E1′＋E2′）／２が計算される。
そして、この（E1′＋E2′）／２と（E1＋E2）／２
とが比較されるのである。（E1′＋E2′）／２が不
良信号である場合にはレベル不良検出器３１から
不良率検出器５１へ１個のパルスが送り出され
る。
以下同様にして（E2′＋E3′）／２と（E2＋
E3）／２とが、（E3′＋E4′）／２と（E3＋E4）／
２とが、（E4＋E5）／２と（E4′＋E5′）／２とが、
…、それぞれレベル不良検出器３１で比較され
る。
E3）／２とが、（E3′＋E4′）／２と（E3＋E4）／
２とが、（E4＋E5）／２と（E4′＋E5′）／２とが、
…、それぞれレベル不良検出器３１で比較され
る。
このようにして全測定点について比較し終わつ
たときに、不良率検出器５１には不良信号の数が
記憶されている。折り丁が不良であるかどうかの
判定は不良信号の数が全測定点の数に対してどの
くらいの割合であるかによつて判別される。全測
定点の数には、レベル不良検出器３１で２つの測
定点から作られた新たな情報の個数も含まれてい
る。例えば、実際の測定点の数が７点である場
合、全測定点の数は７＋６＝13点となる。
たときに、不良率検出器５１には不良信号の数が
記憶されている。折り丁が不良であるかどうかの
判定は不良信号の数が全測定点の数に対してどの
くらいの割合であるかによつて判別される。全測
定点の数には、レベル不良検出器３１で２つの測
定点から作られた新たな情報の個数も含まれてい
る。例えば、実際の測定点の数が７点である場
合、全測定点の数は７＋６＝13点となる。
不良率設定器４２によつて、不良信号の全測定
点の数に対する割合を設定する。例えば、不良率
設定器４２を20％に設定した場合、全測定点を10
点とすれば２点が不良信号の数の限界となる。こ
の２点の情報が不良率設定器４２から不良率検出
器５１に送られる。不良率検出器５１には不良信
号の数が記憶されており、この不良信号の数と不
良率設定器４２から送られてきた情報とが比較さ
れ、監視紙面が同種か異種かの信号が連続不良発
生検出器６１に送られる。
点の数に対する割合を設定する。例えば、不良率
設定器４２を20％に設定した場合、全測定点を10
点とすれば２点が不良信号の数の限界となる。こ
の２点の情報が不良率設定器４２から不良率検出
器５１に送られる。不良率検出器５１には不良信
号の数が記憶されており、この不良信号の数と不
良率設定器４２から送られてきた情報とが比較さ
れ、監視紙面が同種か異種かの信号が連続不良発
生検出器６１に送られる。
連続不良発生検出器６１は、不良の判定回数が
連続不良回数設定器６２で設定された回数に連続
してなつたとき、初めて最終的不良として指令回
路（図示せず）に不良指令を出す。連続不良回数
設定器６２は１枚でも不良と判定すれば、不良指
令を出すことができるが、乗せミスによる乱丁の
場合は連続して50枚〜100枚程度の不良が発生す
るので、連続不良回数設定器６２は、例えば３に
設定すれば連続３回不良が発見された時点で始め
て不良指令を出す。連続不良回数設定器６２の設
定は任意にすることができ、この連続不良回数設
定器６２によつて、乗せミスによる乱丁のみを検
出することが可能になる。指令回路に出された最
終的な不良判定は、ブザーを鳴らしたり、あるい
は丁合機を停止させたりして作業者に知らせる。
連続不良回数設定器６２で設定された回数に連続
してなつたとき、初めて最終的不良として指令回
路（図示せず）に不良指令を出す。連続不良回数
設定器６２は１枚でも不良と判定すれば、不良指
令を出すことができるが、乗せミスによる乱丁の
場合は連続して50枚〜100枚程度の不良が発生す
るので、連続不良回数設定器６２は、例えば３に
設定すれば連続３回不良が発見された時点で始め
て不良指令を出す。連続不良回数設定器６２の設
定は任意にすることができ、この連続不良回数設
定器６２によつて、乗せミスによる乱丁のみを検
出することが可能になる。指令回路に出された最
終的な不良判定は、ブザーを鳴らしたり、あるい
は丁合機を停止させたりして作業者に知らせる。
不良レベル設定器３２における不良レベルＭの
設定及び不良率設定器４２における不良率の設定
をマニユアルで行つてもかまわないが、以下に説
明するようにすれば自動的に行うこともできる。
第２図には不良レベルＭ及び不良率を自動的に設
定する実施例が示されている。
設定及び不良率設定器４２における不良率の設定
をマニユアルで行つてもかまわないが、以下に説
明するようにすれば自動的に行うこともできる。
第２図には不良レベルＭ及び不良率を自動的に設
定する実施例が示されている。
折り丁積台上に標準紙面が載せてあるときに判
別レベル自動設定器８６は次のような操作で不良
レベルＭと不良率を設定する。
別レベル自動設定器８６は次のような操作で不良
レベルＭと不良率を設定する。
例えば、No.１からNo.６までの枠がある場合、No.
１の標準紙面とNo.２の標準紙面、No.１の標準紙面
とNo.３の標準紙面、…というふうに15通りの全て
の組合せで標準紙面同士を比較するのである。こ
のとき、不良レベルＭ及び不良率は適当な値に設
定されている。標準紙面同士の比較はメモリーコ
ントローラー１４の指示により行う。標準紙面同
士には同一紙面がないはずであるから、標準紙面
同士の比較で１組でも「同種」という判断がされ
た場合は、不良レベルＭ及び不良率の設定値が大
きいのである。そこで、不良レベルＭあるいは不
良率の値は判別レベル自動設定器８６により自動
的に小さくされる。逆に、全ての標準紙面が「異
種」と判断された場合は、不良レベルＭ及び不良
率の値は十分に小さい。しかし、不良レベルＭ及
び不良率の値が小さ過ぎる場合には、「同種」を
「異種」とする判別ミスが生ずるので、不良レベ
ルＭ及び不良率の値は判別レベル自動設定器８６
によりわずかに大きくされる。
１の標準紙面とNo.２の標準紙面、No.１の標準紙面
とNo.３の標準紙面、…というふうに15通りの全て
の組合せで標準紙面同士を比較するのである。こ
のとき、不良レベルＭ及び不良率は適当な値に設
定されている。標準紙面同士の比較はメモリーコ
ントローラー１４の指示により行う。標準紙面同
士には同一紙面がないはずであるから、標準紙面
同士の比較で１組でも「同種」という判断がされ
た場合は、不良レベルＭ及び不良率の設定値が大
きいのである。そこで、不良レベルＭあるいは不
良率の値は判別レベル自動設定器８６により自動
的に小さくされる。逆に、全ての標準紙面が「異
種」と判断された場合は、不良レベルＭ及び不良
率の値は十分に小さい。しかし、不良レベルＭ及
び不良率の値が小さ過ぎる場合には、「同種」を
「異種」とする判別ミスが生ずるので、不良レベ
ルＭ及び不良率の値は判別レベル自動設定器８６
によりわずかに大きくされる。
判別レベル自動設定器８６は以上の操作を繰り
返して、不良レベル設定器３２及び不良率設定器
４２に、全ての標準紙面同士を区別することがで
きる最も大きな不良レベルＭ及び不良率を設定す
るのである。
返して、不良レベル設定器３２及び不良率設定器
４２に、全ての標準紙面同士を区別することがで
きる最も大きな不良レベルＭ及び不良率を設定す
るのである。
発明の効果
以上のように本発明による乱丁の検出方法は、
光センサーによる実際の測定値（例えば、E1′、
E2′）から新たな情報（（E1′＋E2′）／２）を計算
して、この新たな情報についても比較を行うの
で、実際の測定点よりも多くの測定点で測定した
のと同様の効果を得ることができる。従つて、本
発明の乱丁の検出装置によれば正確に監視紙面を
判定することができる。
光センサーによる実際の測定値（例えば、E1′、
E2′）から新たな情報（（E1′＋E2′）／２）を計算
して、この新たな情報についても比較を行うの
で、実際の測定点よりも多くの測定点で測定した
のと同様の効果を得ることができる。従つて、本
発明の乱丁の検出装置によれば正確に監視紙面を
判定することができる。
第１図は、本発明の乱丁の検出方法の原理を示
す説明図、第２図は本発明の乱丁の検出装置の一
例を示すブロツクダイアグラムである。 １……センサー部、２……増幅器、１３……
ADコンバーター、１４……メモリーコントロー
ラー、１５……標準メモリー、１６……監視メモ
リー、３１……レベル不良検出器、３２……不良
レベル設定器、４２……不良率設定器、５１……
不良率検出器、６１……連続不良発生検出器、６
２……連続不良回数設定器、８６……判別レベル
自動設定器。
す説明図、第２図は本発明の乱丁の検出装置の一
例を示すブロツクダイアグラムである。 １……センサー部、２……増幅器、１３……
ADコンバーター、１４……メモリーコントロー
ラー、１５……標準メモリー、１６……監視メモ
リー、３１……レベル不良検出器、３２……不良
レベル設定器、４２……不良率設定器、５１……
不良率検出器、６１……連続不良発生検出器、６
２……連続不良回数設定器、８６……判別レベル
自動設定器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 監視紙面上及び標準紙面上の複数の測定点に
それぞれ光を当て、各測定点からの反射光を各測
定点に対応する複数の受光素子で受け、各測定点
ごとに前記監視紙面の反射光量と前記標準紙面の
反射光量との差をとり、さらに隣り合つた２つの
測定点ごとに監視紙面の反射光量の算術平均と前
記標準紙面の反射光量の算術平均を計算して前記
２つの算術平均の差をとり、前記２種類の差のう
ち所定のレベルを越えた差の個数を前記２種類の
差の全個数と比較することにより乱丁を検出する
ことを特徴とする乱丁の検出方法。 ２ 製本で用いる丁合機の各折り丁積台に設置さ
れ、かつ測定点に対応させて設けた複数の光セン
サーで構成されたセンサー部と、前記光センサー
からの各出力を増幅する増幅器と、前記増幅器か
らの各出力を時分割して順にADコンバーターに
送るためのマルチプレクサーと、前記ADコンバ
ーターで変換されたデジタル信号を記憶する標準
メモリー及び監視メモリーと、前記各メモリーの
内容と所定のレベルを比較するためのレベル不良
検出器と、前記レベル不良検出器からの不良信号
の数と測定点の数を比較する不良率検出器とを備
え、前記各折り丁積台に乗せた標準折り丁の最下
段の紙面を前記センサー部の光センサーで測定
し、その出力をADコンバーターでデジタル信号
に変換して前記標準メモリーに記憶し、さらに、
前記各折り丁積台に乗せた監視折り丁の最下段の
紙面を前記センサー部の光センサーで測定し、そ
の出力を前記ADコンバーターでデジタル信号に
変換して前記監視メモリーに記憶した後、各測定
点ごとに前記監視メモリーの内容と前記標準メモ
リーの内容との差をとり、その差が所定のレベル
を越えた不良信号の数を前記不良率検出器に記憶
し、さらに隣り合つた２つの測定点ごとに前記監
視メモリーの内容の算術平均と前記標準メモリー
の内容の算術平均を計算し、前記監視メモリーの
算術平均と前記標準メモリーの算術平均との差が
所定のレベルを越えた場合に前記監視メモリーの
算術平均を不良信号としてその数を前記不良率検
出器に記憶し、前記不良信号の合計数と全測定点
の数とを比較することにより乱丁を検出する構成
にしたことを特徴とする乱丁の検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13578883A JPS6027597A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 乱丁の検出方法及び乱丁の検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13578883A JPS6027597A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 乱丁の検出方法及び乱丁の検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6027597A JPS6027597A (ja) | 1985-02-12 |
| JPH0344000B2 true JPH0344000B2 (ja) | 1991-07-04 |
Family
ID=15159848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13578883A Granted JPS6027597A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 乱丁の検出方法及び乱丁の検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6027597A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0167067U (ja) * | 1987-10-26 | 1989-04-28 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5829457B2 (ja) * | 1974-11-22 | 1983-06-22 | 凸版印刷株式会社 | インサツブツノ ケンサソウチ |
| JPS5744839A (en) * | 1980-08-30 | 1982-03-13 | Kobe Steel Ltd | Video display device for material to be checked |
| JPS5841339A (ja) * | 1981-09-07 | 1983-03-10 | Toshiba Corp | 紙葉類の損傷判別方式 |
-
1983
- 1983-07-27 JP JP13578883A patent/JPS6027597A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6027597A (ja) | 1985-02-12 |
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