JPS6027597A - 乱丁の検出方法及び乱丁の検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 水元明番よ、製本の過程で生ずる乱丁を検出する乱丁の
検出方法及び乱丁の検出装置に関するーｂのである。

Ｒ来の乱丁の検出装置は、折り丁の背中部分に背標等の
マークを印刷し、光センサーにＪ、りそのマークを検出
し、正常な折り丁かどうかの識別をするものであった。

しかし、この従来の装置では、折り丁に背標を印刷しな
ければならず、また印刷物によっては背標の位置がｊｕ
つてくるため扱う印刷物によって背標検出器の据え付は
位置を調整しなければならなかった。

また刷紙はすべて機械で折られるため、従来の手折りの
時に比べて、折りむらや折りズレ等を生じ、背標が折り
込まれて消えてしまうこともあり、その都度機械が誤動
作をしたり、停止したりした。

本発明の目的は前記の従来技術の欠点を解消して印刷物
の種類、背標の有無に関係なく乱丁を検出し排除するこ
とができる乱丁の検出方法及び乱丁の検出装置を提供覆
ることにある。

本発明の乱丁の検出方法は、紙面に光を当て、その反射
光量の違いにより紙面が同種のものか異種のものかを判
定づるものである。

本発明の乱丁の検出方法は、まず標準折り丁の最下段の
紙面の信号をメＥリーに記憶し、次に監視折り丁の最下
段の紙面の信号を別のメモリーに記憶して、両者を比較
して紙面の異同を判別する。

本発明の乱丁の検出方法は、紙面上の複数の点を測定点
とづる。このため、本発明にＪ、る乱丁の検出装置のセ
ンリ一部は、複数の光センサーを有している。

しかし、この比較を簡単に Ｅ＋　−Ｅ＋’＝０ （［１は１つの光センサーで測定された標準紙面の信号
、Ｅ＋’は監視紙面の信号を示す。）と行なったのでは
紙面のむら、測定の誤差、位置のズレ等ですべて不良と
判定する恐れがある。このため Ｅｌ−Ｆ１′〈±Ｍ どし、Ｍに同一位置における反射光ｍ測定において発生
すると思われる不良レベルを入れておき、これを越えた
所で同一１８号でないという判定を下づようにする。

しかし、一点だ【ノの汚れとか、小さい範囲の印刷むら
などによつＣ同一紙面でもミクロ的に見ると異なつ（い
ることが多い。このため、二つの紙面を測定して個々の
測定点を比較した場合、その位置によっては同一信号と
ならない点がいくつか発生ずる。そのため、本発明にお
いては、お互いの同一位置の比較をして不良点となった
点を集計し、全測定点の数に対づる不良点の数の比を予
め設定しておき、不良点がこの比を越えたところで、監
視紙面は異種紙面であるという判定を下すのである。

以上説明した原理を図に示すと、第１図のようになる。

縦軸は、紙面の反射光量を示す。軸Ａが真白の紙面のレ
ベルを示し、軸Ｂが真黒の紙面のレベルを示す。また、
（イ）（ロ）（ハ）・・・（ト）は、測定位置すなわち
光センサーの位置を示している。従ってこの例ではｅン
ザ一部には７個の光センサーが設りられていることにな
る。

信号１００は標準紙面の信号を示し、Ｅ１〜Ｅ７が光セ
ンサーににる測定値を示す。信号１００ａは信＠１００
に不良レベルＭを加えた信号であり、信号１００ｂは信
号１００から不良レベルＭを引いた信号である。そして
、信号１０１が監視紙面の１３号を示し、Ｅ１′〜Ｅ７
’が光センサーににる測定値を示す。監視紙面を測定し
−Ｃ，信号１００ａと信号１００ｂの間に所定の数取上
の測定点が入ればその測定紙面は、１０１種の紙面であ
ると判断される。

さて、第１図に示した例では、１つの紙面を７つの測定
点で監視している。測定点は多ければ多いほど正確な判
定をすることができる。測定点を多くするためには、セ
ンサー部に多くの光センサーを段（）なりればならない
。

本発明の乱丁の検出方法は、次のようにして光レンサー
の個数をふヤリことなく、多くの測定点で測定したのと
同様の効果をあげている。

すなわち、Ｂ）１視紙面における第１番目の測定点の信
号Ｅ＋’　と第２番目の測定点の信号Ｅ２’　とによっ
て新たな情報（Ｅｌ’−１−Ｅ２′）／２を１８ること
ができる。この（Ｅ＋　’＋Ｅ２’）／２と、同様にし
て得られる標準紙面の情報（Ｅ、Ｉ　＋Ｅ２　）／２を
比較するのである。

以下同様にして（Ｅ２　’　十Ｅ３　’　）／２と（Ｅ
２　＋Ｅ３　）／２、（Ｅ３　’　＋Ｅａ　’　）／２
と（Ｅ３＋Ｅ４）／２、・・・をそれぞれ比較するので
ある。このようにすれば、例えば７個の光センサーによ
って１３個の情報を（ｑることができるのである。

以下、第２図を参照して本発明の好適な実施例について
説明する。

第２図に本発明の検出装置のブロックダイアグラムを示
す。

センサー部１は、Ｔ合成の折り丁積台（以下、単に枠）
に固定されており、Ｔ合成の枠に積まれている折り丁の
一番下の紙面を監視する。例えば、枠が＋１個あれば、
センサー部１もｎ個必要になる。Ｎ０２１・・・ｌ’Ｊ
　ｏ、　ｎは枠の番号を示ず。センサー部１は複数の光
センサーにより構成されている。従って、本発明の検出
装置は複数の点を測定点とする。センサー部１は光源ラ
ンプの光を紙面に反則さぜ、その反射光を光センサーに
Ｊ、す、アナログ電気量に変換されるＪ、うに作られて
いる。センサー部１の出力は、増幅器２で増幅される。

増幅器２はノイズ等の混入を防止するために、インピー
ダンス変換を行うバッファーアンプか望ましい。

増幅された信号は、マルチプレクザー７９に送られる。

マルチプレクサ−７９でアナログ（Ｈ号は時分割されて
順々にへ〇コンバーター１３に送られる。ΔＤコンバー
ター１３にＪ３いて、アナＬコグ（ｆ号はデジタル信号
に変換される。

この動作により、ノアナログ信号はデジタル信号どして
、メモリーコン１〜ローラー１４の指示に従っ−Ｃ１記
憶回路７５へ測定点別に記憶される。

以１；、枠が１つの場合について説明する。

枠が複数の場合も同様に考えることができる。

記憶回路７５は、その役割から大きく標準メモリー１５
と監視メモリー１６に分けることができる。標準メ［リ
−１５と監視メモリー１６は機能的に何ら差はない。メ
モリー１５には標準紙面の情報を記憶し、メモリー１６
には監視紙面の情報を記憶づる。メモリー１５とメモリ
ー１６の動作は次の通りである。

メモリー１６の内容は、レベル不良検出器３１でメモリ
ー１５の内容と比較されて、所定の不良レベルＭ以上の
差があるものは不良点として検出される。すなわち、メ
モリー１５の標準紙面第１番目の測定点の情報（以下Ｅ
＋　）がレベル不良検出器３′１に導き出される。続い
てメモリー１６内の監視紙面の第１番目の測定点の情報
（以下Ｅ　＋’　）がレベル不良検出器３１に聯きださ
れる。そして、レベル不良検出器３１で、 Ｅ＋　−Ｅ＋’＜±Ｍ の判定によりＥ＋’が不良点であるかどうかの判定をす
る。不良レベルＭは不良レベル設定器３２にＪ、り任意
に設定される。

Ｅ＋’が不良信号である場合は、レベル不良検出器３１
から不良率検出器５１へ１個のパルスが送り出される。

不良率検出器５１ではそのパルス数をカウントづる。次
に、標準紙面の第２番［１の測定点の情報（Ｅ２〉と監
視紙面の第２番目の測定点の情報（Ｆ　２’　）が同じ
にうに比較されて、１日２′が不良信号かどうか判別さ
れる。この動作を全ての測定点につい０行なう。

さらに、レベル不良検出器３１では、次の比較が行なわ
れる。

りなわち、レベル不良検出器３１ではＥｌとＥ２から新
たな情報（Ｅｌ　→−ビ２）／２がＤｉ　ｆ（ｉ　サＴ
ｈ、Ｅｌ　’　とＥ２’　から”ｌ’ｆｉＷｉ　（Ｅｌ
　’＋Ｅ２’）／２が計棹される。そして、この（Ｅｌ
　’→−Ｅ２’）／、２と（Ｅｌ　十Ｅ２　）／２とが
比較されるのである。（Ｅｌ　’　＋Ｅ２′　）／２が
不良信号である場合にはレベル不良検出器３１から不良
率検出器５１へ１個のパルスが送り出される。

以下同様にして（Ｅ２　’　＋２３　’　）／２と（Ｅ
２＋Ｅ３）／２とが、（Ｅ３　’　＋Ｅ４　’　）／２
と（Ｅ３＋Ｅ４＞／２とが、（Ｅ４　十Ｅ５）／２と（
Ｅ’４　’　＋Ｆｓ　’　）／２とが、・・・、それぞ
れレベル不良検出器３１で比較される。

このようにして全測定点について比較し終わったときに
、不良率検出器５１には不良信号の数が記憶されている
。折り丁が不良Ｃあるかどうかの判定は不良信号の数が
全測定点の数に対してどのくらいの割合であるかによっ
て判別される。全測定点の数には、レベル不良検出器３
１で２つの測定点から作られた新たな情報の個数も含ま
れている。例えば、実際の測定点の数が７点である場合
、全測定点の数は７　＋６　＝　１３点となる。

不良率設定器４２によって、不良信号の全測定点の数に
対する割合を設定する。例えば、不良率設定器４２を２
０％に設定１ノだ場合、全測定点を１０点どづれば２点
が不良信号の数の限界となる。この２点の情報が不良率
設定器４２から不良率検出器５１に送られる。

不良率検出器５１には不良信号の数が記憶され一’Ｃｄ
３す、この不良信号の数と不良率設定器４２から送られ
てきた情報とが比較され、監視紙面が同種か冗種かの信
州が連続不良発生検出器６１に送られる。

連続不良発生検出器６１は、不良の判定回数が連続不良
回数設定器６２で設定された回数に連続してなっｌごと
き、初めて最終的不良として指令回路〈図示せず〉に不
良指令を出す。連続不良回数設定器６２は１枚でも不良
と判定すれば、不良指令を出ずことができるが、乗μミ
スによる乱丁の場合（Ｊ、連続して５０枚〜１００枚程
度の不良が発生するので、連続不良回数設定器６２を、
例えば３に設定すれば連続３回不良が発見された時点で
始めて不良指令を出す。連続不良回数設定器６２の設定
は任意にづ“ることができ、この連続不良回数設定器６
２にＪこって、乗せミスによる乱丁のみを検出づ゛るこ
とが可能になる。指令回路に出された７１的な不良判定
は、ブザーを鳴らしたり、あるいは丁合機を停止させた
りして作業者に知らせる。

不良レベル設定器３２にお【）る不良レベルＭの設定及
び不良率設定器４２における不良率の設定をマニコアル
で行ってもかまわないが、以下に説明づるＪ：うにりれ
ば自動的に行うこともできる。第２図には不良レベルＭ
及び不良率を自動的に設定する実施例が示されている。

折り１積台上に標準紙面が載Ｕであるときに判別レベル
自動設定器８６は次のＪ、うな操作で不良レベルＭと不
良率を設定器る。

例えば、Ｎｏ、１からＮｏ、６までの枠がある場合、Ｎ
ｏ、１の標準紙面とＮｏ、２の標準紙面、へ０．１の標
準紙面とＮｏ、３の標準紙面、・・・というふうに１５
通りの全ての組合Ｕで標準紙面同士を比較するのである
。このとき、不良レベルＭ及び不良率は適当な値に設定
されている。標準紙面同士の比較はメモリーコントロー
ラー７４の指示により行う。４Ｍ準紙面同士には同一紙
面がないはずであるから、標準紙面同士の比較で１組で
もｒ　１８Ｊ種Ｊという判断がされた場合は、不良レベ
ルＭ及び不良率の設定値が大きいのである。そこで、不
良レベルＭあるいは不良率の値は判別レベル自動設定器
８６にＪこり自動的に小さくされる。逆に、全ての標準
紙面が１異種」と判断された場合は、不良レベルＭ及び
不良率の値は十分に小さい。しかし、不良レベルＭ及び
不良率の値が小さ過ぎる場合には、「同種」を「異種」
とする判別ミスが生ずるので、不良レベルＭ及び不良率
の値は判別レベル自動設定器８６によりわずかに大きく
される。

判別レベル自動設定器８６は以上の操作を繰り返して、
不良レベル設定器３２及び不良率設定器／Ｉ２に、全て
の標準紙面同士を区別づることができる最も大きな不良
レベルＭ及び不良率を設定するのである。

以上のように本発明による乱丁の検出方法は、光センサ
ーによる実際の測定値（例えば、Ｅｌ’　、Ｅ２’）か
、ら新たな情報（（Ｅ＋　’＋Ｅ２’）／２）を胴枠し
て、この新たな情報についても比較を行うので、実際の
測定点よりも多くの測定点で測定したのと同様の効果を
得ることができる。従って、本発明の乱丁の検出装置に
Ｊ：れば正確に監？ｆ１紙面を判定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の乱丁の検出方法の原理の説明図、第
２図は本発明の乱丁の検出装置の一例を示４ブロックダ
イアグラムである。 １・・・・センザ一部 ２・・・・増幅器 １３・・・ＡＤコンバーター １４・・・メモリーコントローラー １５・・・標準メモリー １６・・・監視メモリー ３１・・・レベル不良検出器 ３２・・・不良レベル設定器 ４２・・・不良率設定器 ５１・・・不良率検出器 ６１・・・連続不良発生検出器 ６２・・・連続不良回数設定器 ８６・・・判別レベル自動設定器 特許出願人　株式会社　北電子 第１図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）監視紙面上及び標準紙面上の複数の測定点にそれ
   ぞれ光を当て、各測定点ごとに前記監視紙面の反射光量
   と前記標準紙面の反射光量との差をとり、さらに隣り合
   った２つの測定点ごとに監視紙面の反射光ｍの粋術平均
   と前記標１１ｊ紙面の反射光量の算術平均を計算して前
   記２つの算術平均の差をとり、前記２種類の差のうち所
   定のレベルを越えた差の個数を前記２ＰＪ類の差の全個
   数と比較することにより乱丁を検出することを特徴とす
   る乱丁の検出方法。
2. （２）製本で用いるＴ合成の各折り丁槓台に設置され、
   かつ複数の光センサーで構成されたセンサー部と、前記
   光センサーからの各出力を増幅する増幅器と、゛前記増
   幅器からの各出力を時分割して順にＡＤコンバーターに
   送るためのマルチプレクサ−と、前記ΔＤコンバーター
   で変換されたデジタル信号を記憶する標準メモリー及び
   監視メモリーと、前記各メモリーの内容と所定のレベル
   を比較するためのレベル不良検出器と、前記レベル不良
   検出器からの不良信号の数と測定点の数を比較する不良
   率検出器とを備え、前記各折り丁積台に乗せた標準折り
   丁の最下段の紙面を前記センサー部の光センサーで測定
   し、その出ツノをＡＤコンバーターでデジタル信号に変
   換して前記標準メモリーに記憶し、さらに、前記各折り
   丁積台に東ぜた監視折り丁の最下段の紙面を前記センサ
   ー部の光セン１ノーで測定し、その出力を前記ＡＤコン
   バーターでデジタル信号に変換して前記監視メモリーに
   記憶した後、各測定点ごとに前記監視メモリーの内容と
   前記標準メモリーの内容との差をとり、その差が所定の
   レベルを越えた不良信号の数を前記不良率検出器に記憶
   し、さらに隣り合った２つの測定点ごとに前記監視メモ
   リーの内容の算術平均と前記標準メモリーの内容の算術
   平均を計算し、前記監視メモリーの算術平均と前記標準
   メモリーの算術平均との差が所定のレベルを越えた場合
   に前記監視メモリーの算術平均を不良信号としてその数
   を前記不良率検出器に記憶し、前記不良信号の合計数と
   全測定点の数とを比較することににり乱丁を検出する構
   成にしたことを特徴とする乱丁の検出装置。