JPH0344574A - 試験方法 - Google Patents
試験方法Info
- Publication number
- JPH0344574A JPH0344574A JP1179084A JP17908489A JPH0344574A JP H0344574 A JPH0344574 A JP H0344574A JP 1179084 A JP1179084 A JP 1179084A JP 17908489 A JP17908489 A JP 17908489A JP H0344574 A JPH0344574 A JP H0344574A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- test
- circuit board
- printed circuit
- pad
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
試験方法に係り、特にプリント基板に実装された状態で
部品に対して、プローブを接触させて得られる測定値と
その測定値に対応する予測値と比較して、試験する被試
験物の正常性をチエツクするための試験方法に関し、 測定により異常と判定されたプリント基板について、本
当にプリント基板自身の障害による異常なのかいかなる
状態においても見極めて、試験の信頼性を向上させるこ
とをその目的とし、被試験物と、 プローブピンを有するプローブとを有し、該プローブと
接続され、該被試験物の測定値と予め定められた予測値
との比較を行う判定回路にて試験する試験方法において
、 プロービィングパッドと該プロービィングパッドと接続
された基準抵抗器とを有してなる擬似試験物を具備し、 前記被試験物の測定前に、前記判定回路で該擬似試験物
の該プロービィングパッドに前記プローブのプロービィ
ングを接触させ、その測定値と該測定値に対応する予測
値との比較を行うように構成する。
部品に対して、プローブを接触させて得られる測定値と
その測定値に対応する予測値と比較して、試験する被試
験物の正常性をチエツクするための試験方法に関し、 測定により異常と判定されたプリント基板について、本
当にプリント基板自身の障害による異常なのかいかなる
状態においても見極めて、試験の信頼性を向上させるこ
とをその目的とし、被試験物と、 プローブピンを有するプローブとを有し、該プローブと
接続され、該被試験物の測定値と予め定められた予測値
との比較を行う判定回路にて試験する試験方法において
、 プロービィングパッドと該プロービィングパッドと接続
された基準抵抗器とを有してなる擬似試験物を具備し、 前記被試験物の測定前に、前記判定回路で該擬似試験物
の該プロービィングパッドに前記プローブのプロービィ
ングを接触させ、その測定値と該測定値に対応する予測
値との比較を行うように構成する。
本発明は、試験方法に係り、特にプリント基板に実装さ
れた状態で部品に対して、プローブを接触させて得られ
る測定値とその測定値に対応する予測値と比較して、試
験する被試験物の正常性をチエツクするための試験方法
に関するものである。
れた状態で部品に対して、プローブを接触させて得られ
る測定値とその測定値に対応する予測値と比較して、試
験する被試験物の正常性をチエツクするための試験方法
に関するものである。
部品を実装した状態でプリント基板の導通等のチエツク
を行う場合、特定の部分にプローブのプローブピンを接
触させ得られる測定値を、プローブと接続され、予め測
定個所に対応する予測値とを有する判定回路にて双方の
比較を行い、所定の関係となれば（例えば一致）試験し
たプリント基板は正常であると判断していた。
を行う場合、特定の部分にプローブのプローブピンを接
触させ得られる測定値を、プローブと接続され、予め測
定個所に対応する予測値とを有する判定回路にて双方の
比較を行い、所定の関係となれば（例えば一致）試験し
たプリント基板は正常であると判断していた。
しかしプリント基板は正常であるにも関わらず試験装置
の方でエラーと判断することもあった。
の方でエラーと判断することもあった。
その要因としては第１にプローブのプローブピンの接触
不良、第２に判定回路の誤診断が考えられる。この内、
第２の要因については通常、部品に接触させるプローブ
ピンからの信号を処理する判定回路には自己診断機能を
有しているので第２の状態を６１認することは可能であ
ったが、第１の要因については認識することは困難であ
った。
不良、第２に判定回路の誤診断が考えられる。この内、
第２の要因については通常、部品に接触させるプローブ
ピンからの信号を処理する判定回路には自己診断機能を
有しているので第２の状態を６１認することは可能であ
ったが、第１の要因については認識することは困難であ
った。
このため、第１の要因についても確実に認識できること
が要望されている。
が要望されている。
〔従来の技術および発明が解決しようとする課題〕従来
、第１の要因については作業者が目視にて接触不良か否
かの判断を行っていた。
、第１の要因については作業者が目視にて接触不良か否
かの判断を行っていた。
然し、プローブピンの先端に極少のゴミが付着した場合
は、目視ではそのゴミの存在を発見することは非常に困
難であり、またプローブの疲労による接触圧力の低下等
で発生するプローブピンと接触面との接触抵抗の増大に
ついては目視による検査では発見することも困難である
。
は、目視ではそのゴミの存在を発見することは非常に困
難であり、またプローブの疲労による接触圧力の低下等
で発生するプローブピンと接触面との接触抵抗の増大に
ついては目視による検査では発見することも困難である
。
よって、これらの異常が原因となって正常な測定信号が
判定回路に送信されないことが生し、結果的にプリント
基板の良否に関係なくプリント基板が不良と判定される
ことがあった。
判定回路に送信されないことが生し、結果的にプリント
基板の良否に関係なくプリント基板が不良と判定される
ことがあった。
従って、本発明は測定により異常と判定されたプリント
基板について、本当にプリント基板自身の障害による異
常なのかいかなる状態においても見極めて、試験の信頼
性を向上させることをその目的とするものである。
基板について、本当にプリント基板自身の障害による異
常なのかいかなる状態においても見極めて、試験の信頼
性を向上させることをその目的とするものである。
かかる目的は、
被試験物と、
プローブピンを有するプローブとを有し、該プローブと
接続され、該被試験物の測定値と予め定められた予測値
との比較を行う判定回路にて試験する試験方法において
、 プロービィングパッドと該プロービィングパッドと接続
された基準抵抗器とを有してなる擬似試験物を具備し、 前記被試験物の測定前に、前記判定回路で該擬似試験物
の該プロービィングバンドに前記プローブのプロービィ
ングを接触させ、その測定値と該測定値に対応する予測
値との比較を行うことを特徴とする試験方法、により達
成される。
接続され、該被試験物の測定値と予め定められた予測値
との比較を行う判定回路にて試験する試験方法において
、 プロービィングパッドと該プロービィングパッドと接続
された基準抵抗器とを有してなる擬似試験物を具備し、 前記被試験物の測定前に、前記判定回路で該擬似試験物
の該プロービィングバンドに前記プローブのプロービィ
ングを接触させ、その測定値と該測定値に対応する予測
値との比較を行うことを特徴とする試験方法、により達
成される。
本発明は、プロービィングバッドと、そのプロービィン
グパッドと接続された基準抵抗器を有するプロービィン
グチェック用の擬似試験物について、部品が実装されて
なる被試験物の試験（本試験）に先駆けてチエツクする
ようにしている。
グパッドと接続された基準抵抗器を有するプロービィン
グチェック用の擬似試験物について、部品が実装されて
なる被試験物の試験（本試験）に先駆けてチエツクする
ようにしている。
つまり、プロービィングパッドに接続された基準抵抗器
からある値を待つ信号が判定回路に送信され、判定回路
の方でその値と対応する予測値との比較を行うことによ
って、プローブ自身の正常／異常を判定することができ
る。
からある値を待つ信号が判定回路に送信され、判定回路
の方でその値と対応する予測値との比較を行うことによ
って、プローブ自身の正常／異常を判定することができ
る。
以下、本発明の実施例について第１図を用いて説明する
。
。
第１図は本発明の実施例にを示す図である。
同図（ａ）は試験前の状態を示す図、
同図（ｂ）はプローブを試験する状態を示す図、同図（
Ｃ）は被試験プリント基板を試験する状態を示す図をそ
れぞれ示す。
Ｃ）は被試験プリント基板を試験する状態を示す図をそ
れぞれ示す。
同図において、１はＸ−Ｙテーブル、２は判定回路、３
はシリンダ、４はプローブ、５はプローブピン、６は部
品、７はプリント基板、８はブローバチニック用のプリ
ント基板、９はプロービィングパッド、１０は基準抵抗
器をそれぞれ示す。
はシリンダ、４はプローブ、５はプローブピン、６は部
品、７はプリント基板、８はブローバチニック用のプリ
ント基板、９はプロービィングパッド、１０は基準抵抗
器をそれぞれ示す。
尚、本実施例では試験の自動化を図るため、プローブ４
はＸ−Ｙテーブルｌに設置され、被試験プリント基板７
上を移動して測定ポイントに位置決めされ、エアーシリ
ンダ３により被試験プリントＭ板７上の部品６のリード
に押しつけられるようにして試験されるものである。
はＸ−Ｙテーブルｌに設置され、被試験プリント基板７
上を移動して測定ポイントに位置決めされ、エアーシリ
ンダ３により被試験プリントＭ板７上の部品６のリード
に押しつけられるようにして試験されるものである。
部品６を実装した状態で被試験プリント基板７の試験を
行う前に、試験に携わる各機器、例えばプローブ４およ
び判定回路２の正常性を確認する必要がある（この内、
判定回路２については前記したように自己診断機能を有
している説明を行ったので本実施例ではその説明は省略
する）。そのため、第１図に示すように、部品６が実装
されてなるプリント基板７が配置された加工台上に、表
面にプローブ４のプロービィング５と当接するプロービ
ィングパッド９が形成され、且つそのプロービィングパ
ッド９と接続された基準抵抗器ｌＯが実装されてなるブ
ローバチニック用の絶縁体より成るプリント基板８が配
置されている。尚、基準抵抗値１０の一端はプロービィ
ングパッド９に接続されてなり、他端はプリント基板８
の絶縁部分に接続されている。
行う前に、試験に携わる各機器、例えばプローブ４およ
び判定回路２の正常性を確認する必要がある（この内、
判定回路２については前記したように自己診断機能を有
している説明を行ったので本実施例ではその説明は省略
する）。そのため、第１図に示すように、部品６が実装
されてなるプリント基板７が配置された加工台上に、表
面にプローブ４のプロービィング５と当接するプロービ
ィングパッド９が形成され、且つそのプロービィングパ
ッド９と接続された基準抵抗器ｌＯが実装されてなるブ
ローバチニック用の絶縁体より成るプリント基板８が配
置されている。尚、基準抵抗値１０の一端はプロービィ
ングパッド９に接続されてなり、他端はプリント基板８
の絶縁部分に接続されている。
次に部品が実装されてなるプリント基板の試験を行う前
の前試験、つまり、プローブの信頼性試験についてその
動作を説明する。
の前試験、つまり、プローブの信頼性試験についてその
動作を説明する。
プローブ４がｘ−Ｙテーブルｌを移動してプロービィン
グパッド９および基準抵抗器１ｏが実装されてなるプリ
ント基板８上に位置決めされる。
グパッド９および基準抵抗器１ｏが実装されてなるプリ
ント基板８上に位置決めされる。
次にエアーシリンダ３によりプローブ４が下降され、プ
ロービィングパッド９に押圧される。ごのプロービィン
グパッドには基準抵抗器１０が接続されているため、プ
ローブ４から所定の電圧値を有する信号が判定回路２へ
と送信される。判定回路２はその内部にそのプロービィ
ングパッド９からの電圧値というのは予め予測できるの
でその予測値を保持している。そして、このプローブ４
から送信された測定値とを判定回路２にて両者の比較が
行われる。比較一致されると、そのプローブ４のプロー
ブピン５の先端にはゴミ等が付着しておらず、また正常
な接触圧力が得られていることとなり、その後本試験、
つまり部品が実装されているプリント基板の試験が行わ
れている。
ロービィングパッド９に押圧される。ごのプロービィン
グパッドには基準抵抗器１０が接続されているため、プ
ローブ４から所定の電圧値を有する信号が判定回路２へ
と送信される。判定回路２はその内部にそのプロービィ
ングパッド９からの電圧値というのは予め予測できるの
でその予測値を保持している。そして、このプローブ４
から送信された測定値とを判定回路２にて両者の比較が
行われる。比較一致されると、そのプローブ４のプロー
ブピン５の先端にはゴミ等が付着しておらず、また正常
な接触圧力が得られていることとなり、その後本試験、
つまり部品が実装されているプリント基板の試験が行わ
れている。
尚、比較した結果、一致しなければプローブ４の交換を
行って再度その交換したプローブについての信頼性試験
が行われる。
行って再度その交換したプローブについての信頼性試験
が行われる。
以上詳細に説明したように本発明においては、プローブ
からの配線を含んだプローブ機能全体のチエツク機能を
試験装置が保持することになるので、試験時のプローブ
の信頼性が向上し試験精度が向上する。
からの配線を含んだプローブ機能全体のチエツク機能を
試験装置が保持することになるので、試験時のプローブ
の信頼性が向上し試験精度が向上する。
また、プローブの異常が試験前に発見できるので、異常
を知らず試験を行った場合に比べて工数の削減になる。
を知らず試験を行った場合に比べて工数の削減になる。
特に多数のプローブピンを持ったプローブの場合には、
−回の接触で多数のポイントを測定できるのが長所であ
るが、１ピンでも不良のピンがあると、そのピンで測定
した箇所を再測定するために再度プローブを接触させる
必要があり、多数ピンプローブのメリットが半減するが
、本発明においてはそれを防ぐ意味で非常に有効である
。
−回の接触で多数のポイントを測定できるのが長所であ
るが、１ピンでも不良のピンがあると、そのピンで測定
した箇所を再測定するために再度プローブを接触させる
必要があり、多数ピンプローブのメリットが半減するが
、本発明においてはそれを防ぐ意味で非常に有効である
。
第１図は本発明の実施例を示す図であり、同図（ａ）は
試験前の状態を示す図、 同図（ｂ）はプローブを試験する状態を示す図同図（ｃ
）は被試験プリント基板を試験する状態を示す図である
。 図において、 ２は判定回路、 ４はプローブ、 ５はプローブピン、 ６は部品、 ７はプリント基板、 ８はブローバチニック用のプリント基板、９はプロービ
ィングパッド、 １０は基準抵抗器をそれぞれ示す。
試験前の状態を示す図、 同図（ｂ）はプローブを試験する状態を示す図同図（ｃ
）は被試験プリント基板を試験する状態を示す図である
。 図において、 ２は判定回路、 ４はプローブ、 ５はプローブピン、 ６は部品、 ７はプリント基板、 ８はブローバチニック用のプリント基板、９はプロービ
ィングパッド、 １０は基準抵抗器をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被試験物（１）と、 プローブピン（５）を有するプローブ（４）とを有し、 該プローブ（４）と接続され、該被試験物（１）の測定
値と予め定められた予測値との比較を行う判定回路（２
）にて試験する試験方法において、プロービィングパツ
ド（９）と該プロービィングパッド（９）と接続された
基準抵抗器（１０）とを有してなる擬似試験物（８）を
具備し、前記被試験物（１）の測定前に、前記判定回路
（２）で該擬似試験物（８）の該プロービィングパッド
（９）に前記プローブ（４）のプロービィング（５）を
接触させ、その測定値と該測定値に対応する予測値との
比較を行うことを特徴とする試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1179084A JPH0344574A (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1179084A JPH0344574A (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0344574A true JPH0344574A (ja) | 1991-02-26 |
Family
ID=16059803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1179084A Pending JPH0344574A (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0344574A (ja) |
-
1989
- 1989-07-13 JP JP1179084A patent/JPH0344574A/ja active Pending
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