JPH04355378A - コンタクトプローブ接触確認法 - Google Patents
コンタクトプローブ接触確認法Info
- Publication number
- JPH04355378A JPH04355378A JP3155502A JP15550291A JPH04355378A JP H04355378 A JPH04355378 A JP H04355378A JP 3155502 A JP3155502 A JP 3155502A JP 15550291 A JP15550291 A JP 15550291A JP H04355378 A JPH04355378 A JP H04355378A
- Authority
- JP
- Japan
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- contact
- probe
- measuring
- measurement point
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 40
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 title claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 29
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、複数個のコンタクト
プローブを位置制御装置で制御し、プリント回路基板の
所望の部分に当て、該プリント回路基板上の素子の特性
を検査するプリント配線基板検査装置（以下プローブ移
動式基板検査装置と呼ぶ）の測定方法に関し、更に詳し
くはコンタクトプローブの接触状態の確認方法に関する
ものである。
プローブを位置制御装置で制御し、プリント回路基板の
所望の部分に当て、該プリント回路基板上の素子の特性
を検査するプリント配線基板検査装置（以下プローブ移
動式基板検査装置と呼ぶ）の測定方法に関し、更に詳し
くはコンタクトプローブの接触状態の確認方法に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】プローブ移動式基板検査装置では、従来
、コンタクトプローブ（以下プローブと呼ぶ）が、プリ
ント回路基板（以下基板と呼ぶ）に正確に接触している
かどうかを検知する方法はなかった。
、コンタクトプローブ（以下プローブと呼ぶ）が、プリ
ント回路基板（以下基板と呼ぶ）に正確に接触している
かどうかを検知する方法はなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題点】近年、基板実装部品
の小型化に伴い、部品端子間の短絡不良が発生しやすい
ため、プローブを用いて、測定点間が短絡していないこ
とを検査する場合が多い。しかし、プローブの接触不良
が生じている場合は、端子間が短絡していても、短−２
−絡を検出することができず、誤判定をする。本発明は
かかる誤判定を未然に防止するためになされたものであ
る。
の小型化に伴い、部品端子間の短絡不良が発生しやすい
ため、プローブを用いて、測定点間が短絡していないこ
とを検査する場合が多い。しかし、プローブの接触不良
が生じている場合は、端子間が短絡していても、短−２
−絡を検出することができず、誤判定をする。本発明は
かかる誤判定を未然に防止するためになされたものであ
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段・作用】以下、本発明の構
成ならびに作用を図１を用いて説明する。コンタクトプ
ローブ１（１）、２（２）、３（３）はいずれも位置制
御装置に装着された移動式プローブであり、各プローブ
からの測定信号はすべて測定部（９）に入力される。ま
た、測定ポイント１（４）と測定ポイント２（５）の間
の導通及び測定ポイント３（６）と測定ポイント４（７
）の間の導通は、先行する検査で確認済とする。
成ならびに作用を図１を用いて説明する。コンタクトプ
ローブ１（１）、２（２）、３（３）はいずれも位置制
御装置に装着された移動式プローブであり、各プローブ
からの測定信号はすべて測定部（９）に入力される。ま
た、測定ポイント１（４）と測定ポイント２（５）の間
の導通及び測定ポイント３（６）と測定ポイント４（７
）の間の導通は、先行する検査で確認済とする。
【０００５】今、被測定素子（８）の両端子（測定ポイ
ント１および測定ポイント３）間が短絡していないこと
を確認する場合を考える。まず、プローブ１（１）を測
定ポイント１（４）に、プローブ２（２）を測定ポイン
ト２（５）に接触させ、測定部（９）により導通を確認
することにより、プローブ１（１）の接触状態を確認し
、続いてプローブ１（１）はそのままにして、プローブ
３（３）を測定ポイント３（６）にプローブ２（２）を
測定ポイント４（７）に接触させ、導通状態を確認して
、プローブ３（３）の接触を確認する。
ント１および測定ポイント３）間が短絡していないこと
を確認する場合を考える。まず、プローブ１（１）を測
定ポイント１（４）に、プローブ２（２）を測定ポイン
ト２（５）に接触させ、測定部（９）により導通を確認
することにより、プローブ１（１）の接触状態を確認し
、続いてプローブ１（１）はそのままにして、プローブ
３（３）を測定ポイント３（６）にプローブ２（２）を
測定ポイント４（７）に接触させ、導通状態を確認して
、プローブ３（３）の接触を確認する。
【０００６】以上の操作により、プローブ１（１）及び
プローブ３（３）は、それぞれ測定ポイント１（４）お
よび測定ポイント３（６）に接触していることが確認で
きており、この状態で両測定ポイント間を測定部（９）
で測定することにより、短絡しているにもかわらず、短
絡していないという誤判定を防止できる。
プローブ３（３）は、それぞれ測定ポイント１（４）お
よび測定ポイント３（６）に接触していることが確認で
きており、この状態で両測定ポイント間を測定部（９）
で測定することにより、短絡しているにもかわらず、短
絡していないという誤判定を防止できる。
【０００７】
【実施例】図１の実施例では、測定ポイント１と測定ポ
イント２および測定ポイント３と−３−測定ポイント４
は、プリントパターンにより接続されている場合を示し
ているが抵抗、ダイオード等の素子で接続されている場
合であっても同様に通用可能である。また、プローブの
本数は３本として説明したが、３本以上であれば同様の
方法が適用できる。
イント２および測定ポイント３と−３−測定ポイント４
は、プリントパターンにより接続されている場合を示し
ているが抵抗、ダイオード等の素子で接続されている場
合であっても同様に通用可能である。また、プローブの
本数は３本として説明したが、３本以上であれば同様の
方法が適用できる。
【０００８】図２は、本発明の他の実施例を示したもの
である。測定ポイント１（４）、測定ポイント２（５）
、測定ポイント３（６）にそれぞれプローブ１（１）、
プローブ２（２）、プローブ３（３）を接触させ、集積
回路（１２）の保護ダイオードを検出することにより、
プローブの接触状態を確認する。その後、測定ポイント
１（４）、測定ポイント３（６）の短絡の有無を検査す
るものである。この場合はプローブを移動させることな
く接触確認を行うことが可能である。
である。測定ポイント１（４）、測定ポイント２（５）
、測定ポイント３（６）にそれぞれプローブ１（１）、
プローブ２（２）、プローブ３（３）を接触させ、集積
回路（１２）の保護ダイオードを検出することにより、
プローブの接触状態を確認する。その後、測定ポイント
１（４）、測定ポイント３（６）の短絡の有無を検査す
るものである。この場合はプローブを移動させることな
く接触確認を行うことが可能である。
【０００９】
【発明の効果】本発明の方法を利用すれば、簡単な方法
でプローブの接触状態を検知することができ、測定点間
の短絡確認試験を確実に実施することができる。
でプローブの接触状態を検知することができ、測定点間
の短絡確認試験を確実に実施することができる。
【図１】本発明の方法を利用した測定方法を示す図であ
る。
る。
【図２】本発明の他の方法を利用した他の測定方法を示
す図である。
す図である。
（１）、（２）、（３）はコンタクトプローブ（４）、
（５）、 （６）、 （７）は測定ポイント（８）は被
測定素子 （９）はプリント回路基板（１０）はプリント回路基板
（１１）はプリントパターン （１２）は集積回路
（５）、 （６）、 （７）は測定ポイント（８）は被
測定素子 （９）はプリント回路基板（１０）はプリント回路基板
（１１）はプリントパターン （１２）は集積回路
Claims (1)
- 【請求項１】複数個のコンタクトプローブを位置制御装
置で制御し、所望の部分の電気的検査を順次行うプリン
ト回路基板検査装置において、被測定点に当てられたコ
ンタクトプローブの接触状態を、接触状態が確定した回
路部分の測定により確認することを特徴とするコンタク
トプローブ接触確認法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3155502A JPH04355378A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | コンタクトプローブ接触確認法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3155502A JPH04355378A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | コンタクトプローブ接触確認法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04355378A true JPH04355378A (ja) | 1992-12-09 |
Family
ID=15607453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3155502A Pending JPH04355378A (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | コンタクトプローブ接触確認法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04355378A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121183A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2009156860A (ja) * | 2007-12-07 | 2009-07-16 | Ricoh Co Ltd | 検査装置 |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP3155502A patent/JPH04355378A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121183A (ja) * | 2005-10-31 | 2007-05-17 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
| JP2009156860A (ja) * | 2007-12-07 | 2009-07-16 | Ricoh Co Ltd | 検査装置 |
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