JPH0345087A - 電荷結合素子の出力検出方法 - Google Patents
電荷結合素子の出力検出方法Info
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- JPH0345087A JPH0345087A JP1181258A JP18125889A JPH0345087A JP H0345087 A JPH0345087 A JP H0345087A JP 1181258 A JP1181258 A JP 1181258A JP 18125889 A JP18125889 A JP 18125889A JP H0345087 A JPH0345087 A JP H0345087A
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- charge
- noise
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- output circuit
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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- H04N1/40—Picture signal circuits
- H04N1/409—Edge or detail enhancement; Noise or error suppression
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/65—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to reset noise, e.g. KTC noise related to CMOS structures by techniques other than CDS
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/71—Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ファクシミリ、イメージスキャナ等の画像読
取り装置ないしは撮像装置において用いられる電荷結合
素子の信号処理方法、特に、ゲート付き電荷積分型出力
回路の雑音を除去し所望の信号成分のみを検出するため
の電荷結合素子の出力検出方法に関する。
取り装置ないしは撮像装置において用いられる電荷結合
素子の信号処理方法、特に、ゲート付き電荷積分型出力
回路の雑音を除去し所望の信号成分のみを検出するため
の電荷結合素子の出力検出方法に関する。
従来の技術
第３図に電荷結合素子（ＣＯＤ）の出力回路の一例を模
式的に示す。ＣＯＤ転送チャネル１の１つの転送電極２
の近傍には、Ｃ０Ｄ３によって転送されてくる信号電荷
を検知し出力電圧に変換するための検知用ダイオード４
が設けられている。
式的に示す。ＣＯＤ転送チャネル１の１つの転送電極２
の近傍には、Ｃ０Ｄ３によって転送されてくる信号電荷
を検知し出力電圧に変換するための検知用ダイオード４
が設けられている。
転送りロック電圧φｌ、φ２が印加された転送電極５に
よって転送されてきた信号電荷は、転送グロックパルス
１周期毎に検知用ダイオード４に流れ込み、その電位を
変化させる。この電位変化をバッファ回路６で受け、出
力ＶＳ を外部に取出す。
よって転送されてきた信号電荷は、転送グロックパルス
１周期毎に検知用ダイオード４に流れ込み、その電位を
変化させる。この電位変化をバッファ回路６で受け、出
力ＶＳ を外部に取出す。
リセットトランジスタ７のゲートには転送パルスと等し
い周期でリセットパルスφｒが印加され、リセットトラ
ンジスタ７をターンオンすることにより検知用ダイオー
ド４の電位を基準電位にリセットする。このような出力
回路はＣ−ＣＤ転送チャネルｌとともに共通の半導体基
板上に形成されてＣＣＤ３を構成するもので、例えば特
開昭６３−２０８３７５号公報中でも記載されているよ
うに、ゲート付き電荷積分型出力回路として周知のもの
である。
い周期でリセットパルスφｒが印加され、リセットトラ
ンジスタ７をターンオンすることにより検知用ダイオー
ド４の電位を基準電位にリセットする。このような出力
回路はＣ−ＣＤ転送チャネルｌとともに共通の半導体基
板上に形成されてＣＣＤ３を構成するもので、例えば特
開昭６３−２０８３７５号公報中でも記載されているよ
うに、ゲート付き電荷積分型出力回路として周知のもの
である。
このようなゲート付き電荷積分型出力回路では、リセッ
トトランジスタ７が以下に述べるような、ある大きさの
リセット雑音を生ずる。第４図に第３図に示すゲート付
き電荷積分型出力回路の波形を示す。まず、時刻ｔ、か
ら時刻ｔ１までの間、リセットパルスφｒが印加されリ
セットトランジスタ７がターンオンすると、検知用ダイ
オード４の電位はリセットトランジスタ７のドレイン電
圧Ｖまで上昇する。次に、時刻ｔ１ でリセットトラン
ジスタ７がターンオフすると、検知用ダイオード４の電
位は、検知用ダイオード４とバッファ回路６のゲート容
量との合計に相当する容量８とリセットトランジスタ７
のゲート・ソース間の容量との２つの容量で決まる一定
の基準電位■、どなる。
トトランジスタ７が以下に述べるような、ある大きさの
リセット雑音を生ずる。第４図に第３図に示すゲート付
き電荷積分型出力回路の波形を示す。まず、時刻ｔ、か
ら時刻ｔ１までの間、リセットパルスφｒが印加されリ
セットトランジスタ７がターンオンすると、検知用ダイ
オード４の電位はリセットトランジスタ７のドレイン電
圧Ｖまで上昇する。次に、時刻ｔ１ でリセットトラン
ジスタ７がターンオフすると、検知用ダイオード４の電
位は、検知用ダイオード４とバッファ回路６のゲート容
量との合計に相当する容量８とリセットトランジスタ７
のゲート・ソース間の容量との２つの容量で決まる一定
の基準電位■、どなる。
次に、時刻［８で検知用ダイオード４に電荷が転送され
て流れ込み、その電位を変化させ出力電圧Ｖｓが得られ
る。
て流れ込み、その電位を変化させ出力電圧Ｖｓが得られ
る。
ところで、時刻ｔ、から時刻ｔ、までのリセットトラン
ジスタ７が導通している間、リセットトランジスタ７は
ある大きさの雑音Ｅｎを発生する。
ジスタ７が導通している間、リセットトランジスタ７は
ある大きさの雑音Ｅｎを発生する。
この雑音Ｅｎにより基準電位Ｖ、が影響を受けて変動す
る。例えば、第４図に示すように、リセットパルスφｒ
が印加される毎に、基準電位Ｖ、は雑音Ｅｎの影響を受
けてＶ、±Ｖｎと変動し、出力のＳ／Ｎが劣化する。こ
のＶｎがリセット雑音となる。
る。例えば、第４図に示すように、リセットパルスφｒ
が印加される毎に、基準電位Ｖ、は雑音Ｅｎの影響を受
けてＶ、±Ｖｎと変動し、出力のＳ／Ｎが劣化する。こ
のＶｎがリセット雑音となる。
さらに、第３図に示す回路の場合、雑音を発生する雑音
源はリセットトランジスタ７だけでなく、バッファ回路
６もランダム雑音を発生する雑音源となっている。この
バッファ回路６が発生するランダム雑音Ｅｒは、その振
幅が周波数ｆの逆数に比例するため、一般に、１／ｆ雑
音と呼ばれている。
源はリセットトランジスタ７だけでなく、バッファ回路
６もランダム雑音を発生する雑音源となっている。この
バッファ回路６が発生するランダム雑音Ｅｒは、その振
幅が周波数ｆの逆数に比例するため、一般に、１／ｆ雑
音と呼ばれている。
このようなリセット雑音Ｖｎや１／ｆ雑音の影響を軽減
し、Ｓ／Ｎを改善する方法の一例として、ある時刻し、
において基準電位Ｖ、を一定電位にクランプし、次に時
刻ｔ、で出力電圧Ｖ８をサンプリングする方法が２重相
関サンプリング法として周知である。
し、Ｓ／Ｎを改善する方法の一例として、ある時刻し、
において基準電位Ｖ、を一定電位にクランプし、次に時
刻ｔ、で出力電圧Ｖ８をサンプリングする方法が２重相
関サンプリング法として周知である。
発明が解決しようとする課題
ところが、このような２重相関サンプリング法により除
去できる雑音は、リセット雑音と１／ｆ雑音中の低周波
成分に限られる。よって、２重相関サンプリング法によ
って雑音を除去しようとした場合、時刻り、及びＬ４で
一定電位にクランプされる基準電位及び出力電圧は互い
に無相関なランダム雑音の影響を受け、出力信号のＳ／
Ｎが劣化してしまう。この場合のランダム雑音は１／ｆ
雑音その他の高周波雑音成分である。
去できる雑音は、リセット雑音と１／ｆ雑音中の低周波
成分に限られる。よって、２重相関サンプリング法によ
って雑音を除去しようとした場合、時刻り、及びＬ４で
一定電位にクランプされる基準電位及び出力電圧は互い
に無相関なランダム雑音の影響を受け、出力信号のＳ／
Ｎが劣化してしまう。この場合のランダム雑音は１／ｆ
雑音その他の高周波雑音成分である。
即ち、２重相関サンプリング法では、リセットトランジ
スタ７が発生するリセット雑音Ｖｎ及び１／ｆ雑音中の
低周波成分の除去は可能であるが、それ以外の成分は除
去できず、Ｓ／Ｎが悪いという欠点を持つ。
スタ７が発生するリセット雑音Ｖｎ及び１／ｆ雑音中の
低周波成分の除去は可能であるが、それ以外の成分は除
去できず、Ｓ／Ｎが悪いという欠点を持つ。
よって、（、ＣＤの出力信号中に含まれるリセット雑音
はもちろん、あらゆるランダム雑音を除去してＳ／Ｎを
改善することが課題となっている。
はもちろん、あらゆるランダム雑音を除去してＳ／Ｎを
改善することが課題となっている。
課題を解決するための手段
転送クロックパルス１周期毎に基準電位と信号電荷とに
対応する振幅を持つ振幅信号を出力するゲート付き電荷
積分型出力回路を有する電荷結合素子から前記振幅信号
を受け、前記信号電荷が表す信号を抽出するようにした
電荷結合素子の出力検出方法において、前記出力回路か
らの信号を転送クロックパルス周期を基本波とするフー
リエ級数に展開して前記出力回路からの信号中から信号
電荷に対応する成分のみを抽出するようにした。
対応する振幅を持つ振幅信号を出力するゲート付き電荷
積分型出力回路を有する電荷結合素子から前記振幅信号
を受け、前記信号電荷が表す信号を抽出するようにした
電荷結合素子の出力検出方法において、前記出力回路か
らの信号を転送クロックパルス周期を基本波とするフー
リエ級数に展開して前記出力回路からの信号中から信号
電荷に対応する成分のみを抽出するようにした。
作用
ゲート付き電荷積分型出力回路からの信号を転送クロッ
クパルス周期を基本波としてフーリエ級数に展開すると
、その高次の項がリセット雑音や１／ｆ雑音等のランダ
ム雑音に起因するものとなる。この段階で、転送クロッ
クパルス周期よりも低い周波数成分の雑音は除去される
。そして、展開されたフーリエ級数において、１次のフ
ーリエ係数を決定することにより、所望の電荷結合素子
の出力信号の振幅、即ち信号電荷に対応する成分のみを
抽出した状態で求めることができる。これは、リセット
雑音はもちろん、１／ｆ雑音等のランダム雑音の影響の
ない高精度のものである。
クパルス周期を基本波としてフーリエ級数に展開すると
、その高次の項がリセット雑音や１／ｆ雑音等のランダ
ム雑音に起因するものとなる。この段階で、転送クロッ
クパルス周期よりも低い周波数成分の雑音は除去される
。そして、展開されたフーリエ級数において、１次のフ
ーリエ係数を決定することにより、所望の電荷結合素子
の出力信号の振幅、即ち信号電荷に対応する成分のみを
抽出した状態で求めることができる。これは、リセット
雑音はもちろん、１／ｆ雑音等のランダム雑音の影響の
ない高精度のものである。
実施例
本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
まず、前述した第３図の回路構成によるＣ０Ｄ３の出力
波形を第４図により検討する。ＣＣＤ ３の各画素（Ｎ
個）に対応する波形区間を区間１〜区間Ｎとする。この
波形の周期は転送クロックパルスの周期（周波数））ｆ
、と一致する。今、第４図に示すＣＣＤ出力電圧電圧ｔ
）のｎ番目の区間内での、ｔに関する周期ｆ、を基本波
とするフーリエ級数の展開Ｖｎ（ｔ ）を、 Ｖｎ（ｔ） ＝ ａｎ、／２＋Σａｌｌｋｃｏｓ２πｋ
ｆ、ｔ＋Σｂｌｌｋｓｉｎ２πｋｆ、ｔ −−−−（
１）とする。（１）式の高次の項は、リセットトランジ
スタ７のリセット雑音及びｌ／ｆ雑音等のランダム雑音
に起因するものである。ｎ番目の画素に対応する所望の
ＣＯＤ信号出力Ｖｎ’（ｔ）は第４図のｎ番目画素にお
けるＣＣＤ出力電圧Ｖｎ（ｔ ）の基本波ｆ、酸成分ｋ
＝１の成分） Ｖｎ’（ｔ） ＝ ａｎｌｃｏｓ２πｆ、Ｌｌ ｂｎ、
５ｉｎ２πｆ、ｔ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・（２）に対応する。その振幅Ｖａｍｐ（ｎ）は
、Ｖａｍｐ（ｎ） ＝ （ａｆｉｌ” ＋ Ｅ）Ｈ”
）”” −−−−−−−−−曲−曲（３）となる。
波形を第４図により検討する。ＣＣＤ ３の各画素（Ｎ
個）に対応する波形区間を区間１〜区間Ｎとする。この
波形の周期は転送クロックパルスの周期（周波数））ｆ
、と一致する。今、第４図に示すＣＣＤ出力電圧電圧ｔ
）のｎ番目の区間内での、ｔに関する周期ｆ、を基本波
とするフーリエ級数の展開Ｖｎ（ｔ ）を、 Ｖｎ（ｔ） ＝ ａｎ、／２＋Σａｌｌｋｃｏｓ２πｋ
ｆ、ｔ＋Σｂｌｌｋｓｉｎ２πｋｆ、ｔ −−−−（
１）とする。（１）式の高次の項は、リセットトランジ
スタ７のリセット雑音及びｌ／ｆ雑音等のランダム雑音
に起因するものである。ｎ番目の画素に対応する所望の
ＣＯＤ信号出力Ｖｎ’（ｔ）は第４図のｎ番目画素にお
けるＣＣＤ出力電圧Ｖｎ（ｔ ）の基本波ｆ、酸成分ｋ
＝１の成分） Ｖｎ’（ｔ） ＝ ａｎｌｃｏｓ２πｆ、Ｌｌ ｂｎ、
５ｉｎ２πｆ、ｔ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・（２）に対応する。その振幅Ｖａｍｐ（ｎ）は
、Ｖａｍｐ（ｎ） ＝ （ａｆｉｌ” ＋ Ｅ）Ｈ”
）”” −−−−−−−−−曲−曲（３）となる。
即ち、所望のＣＯＤ出力信号の振幅Ｖａｍｐ（ｎ）はＣ
ＣＤ出力波形のｎ番目の区間を転送クロックパルスの周
波数ｆ、でフーリエ級数に展開したときの１次のフーリ
エ係数、つまり、（１）式のδ７゜及びす、を決定する
ことにより、（３）式から求めることができる。周波数
ｆ、よりも低い周波数成分（ＤＣ成分も含む）も（１）
式を定義した段階で原理的に除去される。
ＣＤ出力波形のｎ番目の区間を転送クロックパルスの周
波数ｆ、でフーリエ級数に展開したときの１次のフーリ
エ係数、つまり、（１）式のδ７゜及びす、を決定する
ことにより、（３）式から求めることができる。周波数
ｆ、よりも低い周波数成分（ＤＣ成分も含む）も（１）
式を定義した段階で原理的に除去される。
次に、（１）式から基本波ｆ、酸成分みを抽出する方法
を説明する。
を説明する。
（１）式から基本波成分（ｆ、成分）のフーリエ係数を
求めるには、三角関数の直交性、即ち、ｆ ｃｏｓ２
πｍｆｔｃｏｓ２πｎｆｔ−ｄｔ＝ｆ ５ｉｎ２
πｍｆｔ５ｉｎ２ｙｔｎｆｔ、 Ｌｌ ｄｔ。
求めるには、三角関数の直交性、即ち、ｆ ｃｏｓ２
πｍｆｔｃｏｓ２πｎｆｔ−ｄｔ＝ｆ ５ｉｎ２
πｍｆｔ５ｉｎ２ｙｔｎｆｔ、 Ｌｌ ｄｔ。
＝ ２／Ｔ・δ、ｎ
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（４）Ｊ
ｃｏｓ２πｍｆｔ５ｉｎ２πｎｆｔＩｄｔ＝０・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（５）を用い
る。ただし、δ１．、はクロネッカー記号であり、Ｔ＝
１／ｆである。
ｃｏｓ２πｍｆｔ５ｉｎ２πｎｆｔＩｄｔ＝０・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（５）を用い
る。ただし、δ１．、はクロネッカー記号であり、Ｔ＝
１／ｆである。
ここで、区間［ｔ、ｔ＋１７ｆ。］ にわたる積分を考
えると、次式のようになる。
えると、次式のようになる。
Ｃ（ｎ） ＝ ｆ Ｖｎ（ｔ）ｃｏｓ２ πｆ、 ｔ−
ｄ ｔ −−−−曲＝−＜６）Ｓ（ｎ） ＝ ｆ Ｖ
ｎ（ｔ）ｓｉｎ２ πｆ、 ｔ−ｄ ｔ −・・・・
・−（７）（６）（７）式に（１）式を代入すると、（
４）（５）式を考慮して、 Ｃ（ｎ） ＝ ａｎ、 ・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・（８）Ｓ（ｎ）
＝ ｂ、、、 ・・・・・・・・・
・曲・聞・・（９）となる。即ち、所望のＣＣＤ出力信
号振幅振幅ａｍｐ（ｎ）は、 Ｖａｍｐ（ｎ） ＝ （Ｃ（ｎ）’ ＋ ５（ｎ）”
）”’ −−−（１０）となる。（１）式のｔを離散値
列、（６）（７）式の積分をΣに拡張して考えると、 Ｖｎ（ｉΔｔ）＝ ａｎ、／２ ＋Σａｎｈｃｏｓ２
πｋ ｆ、 ｉΔｔ＋Σｂｎｈｓｌｎ２πｋｆ、ｉΔＬ
・・・・・・・・・・・・・・・（１１）Ｃ（ｎ）
＝ΣＶｎ（ｉΔｔ）ｃｏｓ２７Ｃｆ、 ｉΔＬ・・・
・・・・・・・・・・・・（１２）Ｓ（ｎ）＝ΣＶｎ（
ｉΔｔ）ｓｉｎ２ ｙｒ、 ｆ、 ｆΔｔ・・・・・・
・・・・・・・・・（１３）となる。ただし、ＭΔｔ＝
Ｔ＝１／ｆ、である。
ｄ ｔ −−−−曲＝−＜６）Ｓ（ｎ） ＝ ｆ Ｖ
ｎ（ｔ）ｓｉｎ２ πｆ、 ｔ−ｄ ｔ −・・・・
・−（７）（６）（７）式に（１）式を代入すると、（
４）（５）式を考慮して、 Ｃ（ｎ） ＝ ａｎ、 ・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・（８）Ｓ（ｎ）
＝ ｂ、、、 ・・・・・・・・・
・曲・聞・・（９）となる。即ち、所望のＣＣＤ出力信
号振幅振幅ａｍｐ（ｎ）は、 Ｖａｍｐ（ｎ） ＝ （Ｃ（ｎ）’ ＋ ５（ｎ）”
）”’ −−−（１０）となる。（１）式のｔを離散値
列、（６）（７）式の積分をΣに拡張して考えると、 Ｖｎ（ｉΔｔ）＝ ａｎ、／２ ＋Σａｎｈｃｏｓ２
πｋ ｆ、 ｉΔｔ＋Σｂｎｈｓｌｎ２πｋｆ、ｉΔＬ
・・・・・・・・・・・・・・・（１１）Ｃ（ｎ）
＝ΣＶｎ（ｉΔｔ）ｃｏｓ２７Ｃｆ、 ｉΔＬ・・・
・・・・・・・・・・・・（１２）Ｓ（ｎ）＝ΣＶｎ（
ｉΔｔ）ｓｉｎ２ ｙｒ、 ｆ、 ｆΔｔ・・・・・・
・・・・・・・・・（１３）となる。ただし、ＭΔｔ＝
Ｔ＝１／ｆ、である。
以上、まとめると、第４図に示すようなＣＯＤ出力電圧
をＮ個の各画素に対応する区間内において、間隔Δｔで
Ｍ個のデータをサンプリングする。
をＮ個の各画素に対応する区間内において、間隔Δｔで
Ｍ個のデータをサンプリングする。
Ｎ個の各画素に対して独立に（１０）〜（１３）式によ
って、Ｖａｍｐ（ｎ）を求める。このＶａｍｐ（ｎ）が
所望のＣＯＤ出力信号である。（１２） （１３）式の
ｃｏｓ、 ｓｉｎの項は、ｆ、、Δｔ ともに既知であ
るので、Ｖｎ（ｉΔＬ）に対して重み関数として計算で
きる。第１図にこのような処理を行うフローチャートを
示し、第２図にはそのデータサブリングのタイミングの
一例（Ｍ＝４の場合）を示す。
って、Ｖａｍｐ（ｎ）を求める。このＶａｍｐ（ｎ）が
所望のＣＯＤ出力信号である。（１２） （１３）式の
ｃｏｓ、 ｓｉｎの項は、ｆ、、Δｔ ともに既知であ
るので、Ｖｎ（ｉΔＬ）に対して重み関数として計算で
きる。第１図にこのような処理を行うフローチャートを
示し、第２図にはそのデータサブリングのタイミングの
一例（Ｍ＝４の場合）を示す。
発明の効果
本発明は、上述したようにゲート付き電荷積分型出力回
路を持つ電荷結合素子において、ゲート付き電荷積分型
出力回路からの信号を転送クロックパルス周期を基本波
とするフーリエ級数の展開を利用して信号電荷に対応す
る成分のみを抽出するようにしたので、リセット雑音は
もちろん、１／ｆ雑音等のランダム雑音の影響のない高
精度な出力信号の検出を行わせることができる。
路を持つ電荷結合素子において、ゲート付き電荷積分型
出力回路からの信号を転送クロックパルス周期を基本波
とするフーリエ級数の展開を利用して信号電荷に対応す
る成分のみを抽出するようにしたので、リセット雑音は
もちろん、１／ｆ雑音等のランダム雑音の影響のない高
精度な出力信号の検出を行わせることができる。
第１図は本発明の一実施例を示すフローチャート、第２
図はデータサンプリングのタイミングチャート、第３図
は一般的なＣＯＤの出力回路図、第４図はその出力波形
を示すタイミングチャートである。 ３・・・電荷結合素子 」 陸 Ｚ■
図はデータサンプリングのタイミングチャート、第３図
は一般的なＣＯＤの出力回路図、第４図はその出力波形
を示すタイミングチャートである。 ３・・・電荷結合素子 」 陸 Ｚ■
Claims (1)
- 転送クロックパルス１周期毎に基準電位と信号電荷とに
対応する振幅を持つ振幅信号を出力するゲート付き電荷
積分型出力回路を有する電荷結合素子から前記振幅信号
を受け、前記信号電荷が表す信号を抽出するようにした
電荷結合素子の出力検出方法において、前記出力回路か
らの信号を転送りロックパルス周期を基本波とするフー
リエ級数に展開して前記出力回路からの信号中から信号
電荷に対応する成分のみを抽出するようにしたことを特
徴とする電荷結合素子の出力検出方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1181258A JPH0345087A (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 電荷結合素子の出力検出方法 |
| US07/551,005 US5161113A (en) | 1989-07-13 | 1990-07-11 | CCD output signal processing method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1181258A JPH0345087A (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 電荷結合素子の出力検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0345087A true JPH0345087A (ja) | 1991-02-26 |
Family
ID=16097558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1181258A Pending JPH0345087A (ja) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | 電荷結合素子の出力検出方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5161113A (ja) |
| JP (1) | JPH0345087A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8644682B2 (en) | 2005-08-29 | 2014-02-04 | Sony Corporation | Playable content |
Families Citing this family (6)
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|---|---|---|---|---|
| US5465227A (en) * | 1993-10-14 | 1995-11-07 | Simmonds Precision Products, Inc. | Real time auto-correlation filter method and apparatus |
| JP3905670B2 (ja) | 1999-09-10 | 2007-04-18 | 株式会社リコー | 座標入力検出装置、情報記憶媒体及び座標入力検出方法 |
| JP4057200B2 (ja) | 1999-09-10 | 2008-03-05 | 株式会社リコー | 座標入力装置および座標入力装置の記録媒体 |
| JP4261145B2 (ja) * | 2001-09-19 | 2009-04-30 | 株式会社リコー | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、その方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
| EP1298524A1 (en) * | 2001-09-28 | 2003-04-02 | Ricoh Company, Ltd. | Conference support apparatus, information processor, teleconference system and computer product |
| TW201201079A (en) * | 2010-06-23 | 2012-01-01 | Pixart Imaging Inc | Optical touch monitor |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5944664B2 (ja) * | 1977-02-24 | 1984-10-31 | 富士通株式会社 | 半導体信号変換装置 |
| US4330753A (en) * | 1980-06-04 | 1982-05-18 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for recovering a signal from a charge transfer device |
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