JPH0348545Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［考案の目的］ （産業上の利用分野） 本考案は、電子機器の特性を試験する電子機器
の特性試験端子装置に関する。

（従来の技術） この種の装置の一例として例えば電子式電力量
計に適用した場合について第４図に示す構成図を
参照して説明する。この装置にあつては、入力電
力Ｐに比例するパルス周波数信号に変換する電力
−周波数変換回路１の出力部と、このパルス周波
数信号を分周する分周回路２の入力部とにそれぞ
れ特性試験用端子３，４を設け、これら特性試験
用端子３，４に切離自在な接続導体５を接続して
なる構成である。６は分周回路２の分周信号を計
数する計数回路、７は計数回路６で計数した電力
量を表示する表示部である。

而して、以上の装置において特性試験を行なう
場合、試験用端子３，４から接続導体５を取り外
し、端子３に特性試験用機器（図示せず）を接続
して電力−周波数回路１の特性を試験し、また端
子４に試験用信号源（図示せず）を接続し分周回
路２以後の特性を試験している。

しかし、以上のような特性試験端子装置では、
機械的な接続換えのために試験作業が煩雑であ
り、特に各構成部分１と２，２と６，６と７相互
間にそれぞれ特性試験用端子３，４を設けて各構
成部分１，２，６，７の特性試験を行なう場合に
はそれぞれの試験用端子３，４から接続導体５を
切り離し、試験用信号源などの接続、再度接続導
体５の接続を行なう必要から試験作業が益々煩雑
なものとなる。このことは、電子式電力量計に限
らず多くの構成部分を持つ電子機器にあつても同
様の弊害を生ずる。

（考案が解決しようとする課題） 以上のように複数の構成部分から成る電子機器
の特性試験作業は煩雑となつている。

そこで本考案は、構成部分の多少に拘らず容易
に特性試験の作業を行なうことができる電子機器
の特性試験端子装置を提供することを目的とす
る。

［考案の構成］ （課題を解決するための手段） 本考案は、電子機器における直列接続された複
数の構成部分の各間に設けられ前段構成部分と後
段構成部分とを接続・分離するスイツチ，光の受
光に応じてスイツチを開閉する第１受光素子、ス
イツチに対して前段構成部分側に接続されこの前
段構成部分からの特性信号に応じて発光する第１
発光素子及びスイツチに対して後段構成部分側に
接続され後段構成部分に対する特性試験用信号を
光として受光する第２受光素子を有する特性試験
用接続端子部と、スイツチに対するスイツチ開閉
用信号を光として発光する第２発光素子及び特性
試験用信号を光として発光する第３発光素子と特
性信号を光として受光する第３受光素子とを有す
るとともにこれら第２及び第３発光素子と第３受
光素子とに対して接続された各端子を有し、かつ
ブロツク体に第２及び第３発光素子をそれぞれ第
１及び第２受光素子と対峙させる位置に配列する
とともに第３受光素子を第１発光素子と対峙させ
る位置に配置した信号入出力端子部とを備えて上
記目的を達成しようとする電子機器の特性試験端
子装置である。

（作用） このような手段を備えたことにより、特性試験
用接続端子部のスイツチが前段構成部分と後段構
成部分との間に接続されるとともに同部の第１受
光素子、第２受光素子及び第１発光素子に対して
それぞれ信号入出力端子部の第２発光素子、第３
発光素子及び第３受光素子が対峙し、この状態に
第２発光素子にスイツチ開閉用信号が加えられる
とこのスイツチ開閉用信号が光として第１受光素
子に送られてスイツチが開閉し前段構成部分と後
段構成部分とが接続・分離される。又、前段構成
部分からの特性信号は光として第１受光素子から
第３受光素子へ伝えられ、さらに後段構成部分に
供給する特性試験用信号は光として第３発光素子
から第２受光素子へ伝えられて後段構成部分に供
給される。

（実施例） 以下、本考案の一実施例を例えば電子式電力量
計に適用した場合について図面を参照して説明す
る。第１図において１１は入力電力Ｐに比例する
パルス周波数信号に変換する電力−周波数変換回
路、１２は回路１１の出力信号を分周する分周回
路、１３は分周回路１２の分周信号を計数する計
数回路、１４は計数回路１３で計数した電力量を
表示する表示部である。さらに、各構成部分相互
間例えば１１と１２の間、１２と１３の間、１３
と１４の間にそれぞれ特性試験用接続端子部１５
を設けている。

次に、第２図は第１図に示す特性試験用接続端
子部１５および信号入出力端子部１６の具体的構
成例を示す図である。１５−１は各構成部分相互
間に介挿してなるスイツチであつて、これは受光
素子１５−２で光を受光したときオフする機能を
持つている。この受光素子１５−２は、その一端
を接地し、他端出力側をスイツチ１５−１に接続
するとともに、また抵抗を介して電源V_DDに接続
している。１５−３は前段側構成部分例えば電力
−周波数回路１１側に接続してなるトランジスタ
であつて、このトランジスタ１５−３の一端を接
地し、他端側を受光素子１５−４および抵抗の直
列回路を介して前記直流電源V_DDに接続してい
る。１５−５は受光素子であつて、その一端を接
地し、他端側をインバータ１５−６を介して後段
構成部分例えば分周回路１２に接続するととも
に、また抵抗を介して前記直流電源V_DDに接続し
ている。

一方、信号入出力端子部１６にあつては、スイ
ツチ開閉用信号を入力する端子１６−１を入力部
に持つトランジスタ１６−２の出力側に前記受光
素子１５−２に光を入射する受光素子１６−３を
接続した第１の回路、また前記受光素子１５−４
の光を受光する受光素子１６−４、特性試験用信
号を入力する端子１６−５を入力部に持つトラン
ジスタ１６−６の出力側に前記受光素子１５−５
に光を入射する発光素子１６−７を接続した第２
の回路を備えている。

第３図は特性試験用接続端子部１５に信号入出
力端子部１６を実装する一例を示す図である。例
えば接続端子ブロツク２１に長孔部２２を設ける
とともに、この長孔部２２の壁部に所定の配列で
特性試験用接続端子部１５の受光素子１５−２，
１５−５および発行素子１５−３を設け、一方、
信号入出力部１６は発行素子１６−３、受光素子
１６−４、発光素子１６−７を所定の配列とした
ブロツク体２３とし、これを前記長孔部２２に挿
入する構成としたものである。

次に、以上のように構成した装置の作用を説明
する。なお、説明の便宜上、例えば電力−周波数
変換回路１１の特性および分周回路１２以後の特
性試験を行なう場合について述べる。

先ず、ブロツク体２３を接続端子ブロツク２１
の長孔部２２に挿入する。これにより、受光素子
１５−２と発光素子１６−３が対峙し、同様に発
光素子１５−４と受光素子１６−４、受光素子１
５−５と発光素子１６−７がそれぞれ対峙し、こ
れら発光素子と受光素子との対峙によりそれぞれ
ホトカプラが形成される。

而して、以上のような状態に設定した後、端子
１６−１にスイツチ開閉用信号を入力すると、こ
の信号でトランジスタ１６−２がオンし発光素子
１６−３に電流が流れる。この結果、発光素子１
６−３が発光を行なうので、この光を特性試験用
接続端子部１５の受光素子１５−２で受光しこの
受光動作でスイツチ１５−１を開放する。従つ
て、以上の動作によつて電力−周波数変換回路１
１と分周回路１２とが電気的に分離される。

ところで、電力−周波数変換回路１１の出力部
に特性試験用接続端子部１５が接続されているの
で、回路１１に入力電力Ｐ又は特性試験用信号を
入れると、トランジスタ１５−３がオンし発光素
子１５−４に電流が流れる。従つて、発光素子１
５−４が発光し、これが信号入出力部１６の受光
素子１６−４で受光して動作する。そこで、信号
入出力部１６の端子１６−８、１６−９に特性試
験用機器を接続すれば、電力−周波数変換回路１
１の特性を試験することができる。

また、信号入出力部１６の端子１６−５に特性
試験用信号を入力すると、トランジスタ１６−６
のオンによつて発光素子１６−７が発光し、この
光が特性試験用接続端子部１５の受光素子１５−
５で受光する。そして、この素子１５−５の受光
動作信号がインバータ１５−６を介して分周回路
１２の入力部に供給される。これによつて、分周
回路１２以後の構成部分が動作しその結果が表示
部１４に表示される。従つて、この表示結果から
分周回路１２以後の特性を容易に試験することが
できる。

なお、分周回路１２と計数回路１３以後の特
性、その他各構成部分ごとの特性については、そ
れに対応する適宜な特性試験用接続端子部１５を
選択して信号入出力端子部１６を実装すれば容易
に特性試験を行なうことができる。

なお、上記実施例では、電子式電力量計につい
て適用したがこれに限らないことは言うまでもな
い。また、特性試験用接続端子部１５への信号入
出力端子部１６の実装手段は種々考えられる。例
えば、各構成部分１１〜１４の総ての特性試験を
行なう場合には、特性試験用接続端子部１５，…
の総ての受光素子１５−２，…、発光素子１５−
３，…および受光素子１５−５，…を同一の接続
端子ブロツク２１に配列するようにしてもよい。
その他、本考案の要旨を変更しない範囲で種々変
形実施が可能である。

［考案の効果］ 以上詳記したように本考案によれば、電子機器
の各構成部分の間に特性試験用接続端子部を設け
て各構成部分間にスイツチを接続し、かつこの特
性試験用接続端子部の第１受光素子、第２受光素
子及び第１発光素子に対してそれぞれ信号入出力
端子部の第２発光素子、第３発光素子及び第３受
光素子を対峙させ、この状態に第２発光素子にス
イツチ開閉用信号を加えてスイツチを開閉して前
段構成部分と後段構成部分とを接続・分離し、又
前段構成部分からの特性信号を光として第１発光
素子から第３受光素子を通して取出し、かつ後段
構成部分に供給する特性試験用信号を光として第
３発光素子から第２受光素子へ伝て行うようにし
たので、煩雑な試験作業をとることなく簡単にか
つ迅速に特性試験ができ、そのうえ各構成部分ご
とに調整及び特性測定ができるとともにこれら調
整及び特性測定を同時にかつ短時間で行うことが
できる。さらに各発光素子と各受光素子とが対峙
することによりホトカプラが形成されるので、電
気的に絶縁されてノイズ等の影響を受けにくい。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第３図は本考案に係る電子機器の
特性試験端子装置の一実施例を説明するための図
であつて、第１図は電子式電力量計に適用した概
略構成図、第２図は本考案の要部を示す回路構成
図、第３図は第２図の特性試験用接続端子部に信
号入出力端子部を実装する状態を示す図、第４図
は電子式電力量計に適用した従来装置の概略構成
を示す図である。 １１……電力−周波数回路、１２……分周回
路、１３……計数回路、１４……表示部、１５…
…特性試験用接続端子部、１５−１……スイツ
チ、１５−２……受光素子、１５−４……発光素
子、１５−５……受光素子、１６……信号入出力
端子部、１６−３……発光素子、１６−４……受
光素子、１６−７……発光素子。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 電子機器における直列接続された複数の構成部
   分の各間に設けられ前段構成部分と後段構成部分
   とを接続・分離するスイツチ，光の受光に応じて
   前記スイツチを開閉する第１受光素子、前記スイ
   ツチに対して前記前段構成部分側に接続されこの
   前段構成部分からの特性信号に応じて発光する第
   １発光素子及び前記スイツチに対して前記後段構
   成部分側に接続され前記後段構成部分に対する特
   性試験用信号を光として受光する第２受光素子を
   有する特性試験用接続端子部と、前記スイツチに
   対するスイツチ開閉用信号を光として発光する第
   ２発光素子及び前記特性試験用信号を光として発
   光する第３発光素子と前記特性信号を光として受
   光する第３受光素子とを有するとともにこれら第
   ２及び第３発光素子と第３受光素子とに対して接
   続された各端子を有し、かつブロツク体に前記第
   ２及び第３発光素子をそれぞれ前記第１及び第２
   受光素子と対峙させる位置に配列するとともに前
   記第３受光素子を前記第１発光素子と対峙させる
   位置に配置した信号入出力端子部とを具備したこ
   とを特徴とする電子機器の特性試験端子装置。