JPH0350209B2 - - Google Patents
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- JPH0350209B2 JPH0350209B2 JP57077077A JP7707782A JPH0350209B2 JP H0350209 B2 JPH0350209 B2 JP H0350209B2 JP 57077077 A JP57077077 A JP 57077077A JP 7707782 A JP7707782 A JP 7707782A JP H0350209 B2 JPH0350209 B2 JP H0350209B2
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- optical fibers
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0044—Furnaces, ovens, kilns
-
- G—PHYSICS
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- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0808—Convex mirrors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0818—Waveguides
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は焼鈍炉の中を搬送される製品の温度変
化を測定する測温装置に関し、その目的は炉中の
複数位置において連続移動する各製品の温度を測
定し、各製品の焼鈍温度履歴の把握、炉の温度制
御に利用できるものを提供することにある。
化を測定する測温装置に関し、その目的は炉中の
複数位置において連続移動する各製品の温度を測
定し、各製品の焼鈍温度履歴の把握、炉の温度制
御に利用できるものを提供することにある。
従来、パイプ生産設備の中の焼鈍炉の工程にお
いては、作業員が付きつきりで炉中の所定位置の
雰囲気を検出して、各パイプの焼鈍温度履歴の把
握に利用されている。しかしこのような測定方法
では次のような問題点が発生している。
いては、作業員が付きつきりで炉中の所定位置の
雰囲気を検出して、各パイプの焼鈍温度履歴の把
握に利用されている。しかしこのような測定方法
では次のような問題点が発生している。
Γ作業員の作業環境が悪い。
Γ多数の測定ポイントをカバーするには限界があ
る。
る。
Γ個人誤差が出やすい。
Γ雰囲気管理のため、パイプの実際の焼鈍温度履
歴を正確に把握できない。
歴を正確に把握できない。
Γデータの整理に時間がかかり、生産ラインでの
管理に適さない。
管理に適さない。
本発明は、焼鈍炉中を等間隔で搬送される複数
の製品の搬送経路に沿つて、入射端面がこの搬送
経路に向いた光フアイバーを、前記製品の搬送間
隔の整数倍の間隔で複数本設け、前記ロータリー
デイスクに接続された出射側端面の検出光のうち
前記ロータリーデイスクの所定位置の光フアイバ
ーの検出光を測定する光学温度計を設け、前記複
数本の光フアイバーに対応した位置にそれぞれ製
品が来た時に前記ロータリーデイスクを前記所定
の回動角度間隔ずつ往回動させて、その時の各製
品の温度を前記光学温度計にて検知させるととも
に、その後にロータリーデイスクを復回動させて
元の状態に復帰させるパルスモータを設けたこと
を特徴とし、光フアイバーの入射側端面で製品か
ら出る光を検出して温度検出するため、雰囲気の
温度を測定していた従来のものに比べて焼鈍温度
を正確に把握でき、１つの光学温度計に検出光を
順に導いて測定するため、多数の測定ポイントを
十分にカバーすることができ、従つて１つのパイ
プについての焼鈍温度履歴を正確に把握でき、ま
た光フアイバーで検出光を所定位置まで導くた
め、作業員を悪い作業環境から解放できる効果が
得られる。
の製品の搬送経路に沿つて、入射端面がこの搬送
経路に向いた光フアイバーを、前記製品の搬送間
隔の整数倍の間隔で複数本設け、前記ロータリー
デイスクに接続された出射側端面の検出光のうち
前記ロータリーデイスクの所定位置の光フアイバ
ーの検出光を測定する光学温度計を設け、前記複
数本の光フアイバーに対応した位置にそれぞれ製
品が来た時に前記ロータリーデイスクを前記所定
の回動角度間隔ずつ往回動させて、その時の各製
品の温度を前記光学温度計にて検知させるととも
に、その後にロータリーデイスクを復回動させて
元の状態に復帰させるパルスモータを設けたこと
を特徴とし、光フアイバーの入射側端面で製品か
ら出る光を検出して温度検出するため、雰囲気の
温度を測定していた従来のものに比べて焼鈍温度
を正確に把握でき、１つの光学温度計に検出光を
順に導いて測定するため、多数の測定ポイントを
十分にカバーすることができ、従つて１つのパイ
プについての焼鈍温度履歴を正確に把握でき、ま
た光フアイバーで検出光を所定位置まで導くた
め、作業員を悪い作業環境から解放できる効果が
得られる。
以下本発明の一実施例を第１図と第２図に基づ
いて説明する。１は焼鈍炉で、炉入口側Ａから炉
出口側Ｂに向つて連続駆動される炉床２を有し、
炉入口側Ａで炉床２上に載置された製品としての
パイプ３は、炉中Ｃを経て炉出口側Ｂへ搬送され
る。４1〜４5は光フアイバーで、各入射側端面５
１〜５5は前記焼鈍炉１の天井部に炉入口側Ａから
炉出口側Ｂに向けて等間隔ｌおき配設され、各入
射側端面５1〜５5はパイプ３からの光を受光する
ように前記炉床２に対向して取付けられている。
６はロータリーデイスクで、周方向に沿つて一定
角度θおきに前記光フアイバー４1〜４5の各出射
側端面７1〜７5が接続されており、パルスモータ
８によつて一定角度θづつその周方向に回動駆動
される。９は光学温度計としての２色温度計で、
前記ロータリーデイスク６の周方向を１時〜12時
の12等分した場合に第１図では前記光フアイバー
４1〜４5のうちの出射側端面が12時の位置にある
光フアイバーと光軸が一致して、その検出光の温
度に応じたアナログ信号が出力される。１０は増
幅器１１を介して入力された前記２色温度計９出
力信号をデジタル変換するアナログ・デジタル変
換器、１２は中央処理装置で、炉床２の前記連続
移送に同期して前記パルスモータ８に駆動用のパ
ルスを送ると共にアナログ−デジタル変換器１０
を介して取り込んだ２色温度計９出力データの処
理が実行される。１３は２色温度計９からの出力
データを記憶するメモリで、前記中央処理装置１
２はこのメモリ１３からデータを読み出して所定
のデータ処理が実行される。１４は出力装置で、
CRTデイスプレー、プリンタ等から成る。
いて説明する。１は焼鈍炉で、炉入口側Ａから炉
出口側Ｂに向つて連続駆動される炉床２を有し、
炉入口側Ａで炉床２上に載置された製品としての
パイプ３は、炉中Ｃを経て炉出口側Ｂへ搬送され
る。４1〜４5は光フアイバーで、各入射側端面５
１〜５5は前記焼鈍炉１の天井部に炉入口側Ａから
炉出口側Ｂに向けて等間隔ｌおき配設され、各入
射側端面５1〜５5はパイプ３からの光を受光する
ように前記炉床２に対向して取付けられている。
６はロータリーデイスクで、周方向に沿つて一定
角度θおきに前記光フアイバー４1〜４5の各出射
側端面７1〜７5が接続されており、パルスモータ
８によつて一定角度θづつその周方向に回動駆動
される。９は光学温度計としての２色温度計で、
前記ロータリーデイスク６の周方向を１時〜12時
の12等分した場合に第１図では前記光フアイバー
４1〜４5のうちの出射側端面が12時の位置にある
光フアイバーと光軸が一致して、その検出光の温
度に応じたアナログ信号が出力される。１０は増
幅器１１を介して入力された前記２色温度計９出
力信号をデジタル変換するアナログ・デジタル変
換器、１２は中央処理装置で、炉床２の前記連続
移送に同期して前記パルスモータ８に駆動用のパ
ルスを送ると共にアナログ−デジタル変換器１０
を介して取り込んだ２色温度計９出力データの処
理が実行される。１３は２色温度計９からの出力
データを記憶するメモリで、前記中央処理装置１
２はこのメモリ１３からデータを読み出して所定
のデータ処理が実行される。１４は出力装置で、
CRTデイスプレー、プリンタ等から成る。
なお、各パイプ３は等間隔Ｌ＝ｌ／２に配置さ
れて炉床２が速度ｖで連続移動する場合を例に挙
げて説明する。また、先ず、前記ロータリーデイ
スク６は光フアイバー４1の光軸と２色温度計９
の光軸とが一致する状態にあつて、ロータリーデ
イスク６は第２図ｃのパルスで時計方向に１パル
スで角度θだけ回動し、第２図ｄのパルスで反時
計方向に１パルスで角度θだけ回転するよう構成
されている。第２図ａはCPU１２のクロツクパ
ルスを表わす。
れて炉床２が速度ｖで連続移動する場合を例に挙
げて説明する。また、先ず、前記ロータリーデイ
スク６は光フアイバー４1の光軸と２色温度計９
の光軸とが一致する状態にあつて、ロータリーデ
イスク６は第２図ｃのパルスで時計方向に１パル
スで角度θだけ回動し、第２図ｄのパルスで反時
計方向に１パルスで角度θだけ回転するよう構成
されている。第２図ａはCPU１２のクロツクパ
ルスを表わす。
CPU１２のデータ読み込みルーチンでは、例
えば、パイプ３のうちの特定パイプ３0が光フア
イバー４1の入射側端面５1の真下に来た時、ｌ＝
2Lに設定されているため、光フアイバー４2〜４5
の各入射側端面５2〜５5の真下にもパイプ３が来
ている。この時、前記中央処理装置〔以下、
CPUと称す〕１２から第２図ｂ温度情報取り込
みパルスのうち、パルスB1が出力されると、光
フアイバー４1を介し更に２色温度計９→増幅器
１１→アナログ・デジタル変換器１０を介してデ
ジタル変換された特定パイプ３0の温度情報が、
メモリ１３へ格納される。これが終了すると同時
に、第２図ｃの時計方向送りパルスC1がCPU１
２からパルスモータ８に出力されてロータリーデ
イスク６がθだけ回動し、光フアイバー４2の光
軸が２色温度計９の光軸と一致する。これが終了
すると同時にパルスB2が出力されて光フアイバ
ー４2からの温度情報が先程と同様な経路でメモ
リ１３に格納される。以下、同様に、パルスC2
→パルスB3〔光フアイバー４3の情報格納〕→パ
ルスC3→パルスB4〔光フアイバー４4の情報格納〕
→パルスC4→パルスB5〔光フアイバー４5の情報
格納〕が実行され、これが終了すると順に反時計
方向送りパルスD1，D2，D3，D4がパルスモータ
８に出力されて、ロータリーデイスク６が4θだけ
反時計方向に回動し、再び光フアイバー４1の光
軸と２色温度計９の光軸とが一致した状態に復帰
して次の測定に備える。
えば、パイプ３のうちの特定パイプ３0が光フア
イバー４1の入射側端面５1の真下に来た時、ｌ＝
2Lに設定されているため、光フアイバー４2〜４5
の各入射側端面５2〜５5の真下にもパイプ３が来
ている。この時、前記中央処理装置〔以下、
CPUと称す〕１２から第２図ｂ温度情報取り込
みパルスのうち、パルスB1が出力されると、光
フアイバー４1を介し更に２色温度計９→増幅器
１１→アナログ・デジタル変換器１０を介してデ
ジタル変換された特定パイプ３0の温度情報が、
メモリ１３へ格納される。これが終了すると同時
に、第２図ｃの時計方向送りパルスC1がCPU１
２からパルスモータ８に出力されてロータリーデ
イスク６がθだけ回動し、光フアイバー４2の光
軸が２色温度計９の光軸と一致する。これが終了
すると同時にパルスB2が出力されて光フアイバ
ー４2からの温度情報が先程と同様な経路でメモ
リ１３に格納される。以下、同様に、パルスC2
→パルスB3〔光フアイバー４3の情報格納〕→パ
ルスC3→パルスB4〔光フアイバー４4の情報格納〕
→パルスC4→パルスB5〔光フアイバー４5の情報
格納〕が実行され、これが終了すると順に反時計
方向送りパルスD1，D2，D3，D4がパルスモータ
８に出力されて、ロータリーデイスク６が4θだけ
反時計方向に回動し、再び光フアイバー４1の光
軸と２色温度計９の光軸とが一致した状態に復帰
して次の測定に備える。
次の測定までの間隔τは、τ＝Ｌ／υで、５点の
連続測定に要する時間Ｔは、Ｔ＝（１点当りの温
度情報の読み込みに要する時間）×Ｎ＋（ロータリ
ーデイスクの角度θの回動に要する時間）×（Ｎ−
１）で求められ、ここでＮは測定点数である。理
想的には、入射側端面５1〜５5の軸がパイプ３の
中心上にあることが望ましいが、若干はずれてい
ても差支えない。この許容誤差をΔxとすると、 υ・ＴΔx なる条件を満せば測定可能である。なお、通常、
速度υは非常に小さいので、何ら問題はない。
度情報の読み込みに要する時間）×Ｎ＋（ロータリ
ーデイスクの角度θの回動に要する時間）×（Ｎ−
１）で求められ、ここでＮは測定点数である。理
想的には、入射側端面５1〜５5の軸がパイプ３の
中心上にあることが望ましいが、若干はずれてい
ても差支えない。この許容誤差をΔxとすると、 υ・ＴΔx なる条件を満せば測定可能である。なお、通常、
速度υは非常に小さいので、何ら問題はない。
CPU１２のデータ処理ルーチンでは、焼鈍炉
１の炉出口側Ｂにパイプ３が現われる度に、その
パイプ３が光フアイバー４1〜４5の入射側端面５
１〜５5の下方の測定ポイントを通過した際の温度
情報をメモリ１３から読み出して、焼鈍炉１を通
過した順番を表わすパイプナンバーと共に各測定
ポイントの温度情報が焼鈍温度履歴として出力装
置１４を介して出力される。
１の炉出口側Ｂにパイプ３が現われる度に、その
パイプ３が光フアイバー４1〜４5の入射側端面５
１〜５5の下方の測定ポイントを通過した際の温度
情報をメモリ１３から読み出して、焼鈍炉１を通
過した順番を表わすパイプナンバーと共に各測定
ポイントの温度情報が焼鈍温度履歴として出力装
置１４を介して出力される。
このように構成したため、各パイプ３が測定ポ
イントを通過した際の焼鈍温度を、パイプ３毎の
履歴として即座に処理することができ、生産ライ
ンの管理に適する。光フアイバー４1〜４5とロー
タリーデイスク６を介して測定するため、測定ポ
イントが多くてもこれを容易にカバーすることが
できると共に、複数の測定ポイントに対して同一
の２色温度計９、増幅器１１、アナログ・デジタ
ル変換器１０で済むため、各測定ポイント間にお
ける誤差もなく、正確な測定が可能である。従来
のような雰囲気管理では、パイプ３の径や厚さに
よつて測定温度と実際の焼鈍温度との間にばらつ
きがあつた。この測温装置によると光フアイバー
４1〜４5と２色温度計９によつて焼鈍中のパイプ
３の実際の温度を測定できるため、正確な温度管
理を実施できる。
イントを通過した際の焼鈍温度を、パイプ３毎の
履歴として即座に処理することができ、生産ライ
ンの管理に適する。光フアイバー４1〜４5とロー
タリーデイスク６を介して測定するため、測定ポ
イントが多くてもこれを容易にカバーすることが
できると共に、複数の測定ポイントに対して同一
の２色温度計９、増幅器１１、アナログ・デジタ
ル変換器１０で済むため、各測定ポイント間にお
ける誤差もなく、正確な測定が可能である。従来
のような雰囲気管理では、パイプ３の径や厚さに
よつて測定温度と実際の焼鈍温度との間にばらつ
きがあつた。この測温装置によると光フアイバー
４1〜４5と２色温度計９によつて焼鈍中のパイプ
３の実際の温度を測定できるため、正確な温度管
理を実施できる。
上記実施例では、炉床２が連続移送されるもの
として説明したが、これは間欠移送さた場合であ
つても同様に実施可能であつて、この場合には連
続移送の場合に比べて各種の制約条件が緩和され
る。
として説明したが、これは間欠移送さた場合であ
つても同様に実施可能であつて、この場合には連
続移送の場合に比べて各種の制約条件が緩和され
る。
上記実施例では、各パイプ３の間隔がＬがｌ／
２、速度υとして説明したが、パイプ３の間隔Ｌ
と間隔ｌとがこの関係以外の場合であつても
CPU１２のソフトウエアを変更することで対処
できる。また、光フアイバーの数が変つても同様
にソフトウエアの変更で対処できる。
２、速度υとして説明したが、パイプ３の間隔Ｌ
と間隔ｌとがこの関係以外の場合であつても
CPU１２のソフトウエアを変更することで対処
できる。また、光フアイバーの数が変つても同様
にソフトウエアの変更で対処できる。
以上説明のように本発明によると、光フアイバ
ーの入射側端面で製品から出る光を検出して温度
検出するため、焼鈍炉内の雰囲気温度を測定して
いた従来のものに比べて焼鈍温度を正確に測定で
きる。各測定ポイントの検出光を順に同一の光学
温度計に導いて測定するため、各測定ポイント相
互間の誤差が少なくなると共に従来に比べて多数
の測定ポイントを十分にカバーすることができ、
従つて１つのパイプについての焼鈍温度履歴を正
確に把握でき、また光フアイバーで検出光を所定
位置まで導くため、作業員を悪い作業環境から解
放することができるものである。
ーの入射側端面で製品から出る光を検出して温度
検出するため、焼鈍炉内の雰囲気温度を測定して
いた従来のものに比べて焼鈍温度を正確に測定で
きる。各測定ポイントの検出光を順に同一の光学
温度計に導いて測定するため、各測定ポイント相
互間の誤差が少なくなると共に従来に比べて多数
の測定ポイントを十分にカバーすることができ、
従つて１つのパイプについての焼鈍温度履歴を正
確に把握でき、また光フアイバーで検出光を所定
位置まで導くため、作業員を悪い作業環境から解
放することができるものである。
第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図ａ
〜ｂは第１図の要部タイミング図である。 １……焼鈍炉、２……炉床、３……パイプ〔製
品〕、４1〜４5……光フアイバー、５1〜５5……
入射側端面、６……ロータリーデイスク、８……
パルスモータ、９……２色温度計〔光学温度計〕、
１０……アナログ・デジタル変換器、１２……中
央処理装置、１３……メモリ、１４……出力装
置。
〜ｂは第１図の要部タイミング図である。 １……焼鈍炉、２……炉床、３……パイプ〔製
品〕、４1〜４5……光フアイバー、５1〜５5……
入射側端面、６……ロータリーデイスク、８……
パルスモータ、９……２色温度計〔光学温度計〕、
１０……アナログ・デジタル変換器、１２……中
央処理装置、１３……メモリ、１４……出力装
置。
Claims (1)
- １ 焼鈍炉中を等間隔で搬送される複数の製品の
搬送経路に沿つて、入射端面がこの搬送経路に向
いた光フアイバーを、前記製品の搬送間隔の整数
倍の間隔で複数本設け、前記複数本の光フアイバ
ーの出射側端面が周方向に所定の回動角度間隔を
もつて接続されたロータリーデイスクを設け、前
記ロータリーデイスクに接続された出射側端面の
検出光のうち前記ロータリーデイスクの所定位置
の光フアイバーの検出光を測定する光学温度計を
設け、前記複数本の光フアイバーに対応した位置
にそれぞれ製品が来た時に前記ロータリーデイス
クを前記所定の回動角度間隔ずつ往回動させて、
その時の各製品の温度を前記光学温度計にて検知
させるとともに、その後にロータリーデイスクを
復回動させて元の状態に復帰させるパルスモータ
ーを設けた焼鈍炉における製品測温装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57077077A JPS58193428A (ja) | 1982-05-07 | 1982-05-07 | 焼鈍炉における製品測温装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57077077A JPS58193428A (ja) | 1982-05-07 | 1982-05-07 | 焼鈍炉における製品測温装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58193428A JPS58193428A (ja) | 1983-11-11 |
| JPH0350209B2 true JPH0350209B2 (ja) | 1991-08-01 |
Family
ID=13623716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57077077A Granted JPS58193428A (ja) | 1982-05-07 | 1982-05-07 | 焼鈍炉における製品測温装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58193428A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0676923B2 (ja) * | 1984-10-09 | 1994-09-28 | 富士電機株式会社 | ビレツトの温度検出装置 |
| JPH051861Y2 (ja) * | 1986-03-10 | 1993-01-19 | ||
| JPH01124727A (ja) * | 1987-11-10 | 1989-05-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 加熱装置 |
| JPH02120040U (ja) * | 1988-11-30 | 1990-09-27 | ||
| JP4899644B2 (ja) * | 2006-06-01 | 2012-03-21 | セイコーエプソン株式会社 | 電子機器のスイッチ機構 |
-
1982
- 1982-05-07 JP JP57077077A patent/JPS58193428A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58193428A (ja) | 1983-11-11 |
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