JPH0353141A - 光ファイバの光損失測定方法 - Google Patents
光ファイバの光損失測定方法Info
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- JPH0353141A JPH0353141A JP18754989A JP18754989A JPH0353141A JP H0353141 A JPH0353141 A JP H0353141A JP 18754989 A JP18754989 A JP 18754989A JP 18754989 A JP18754989 A JP 18754989A JP H0353141 A JPH0353141 A JP H0353141A
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- Japan
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- optical fiber
- light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く産業上の利用分野〉
本発明は、被測定光ファイバの光損失を非破壊でしかも
高精度で容易に測定する光ファイバの光損失測定方法に
関する。
高精度で容易に測定する光ファイバの光損失測定方法に
関する。
〈従来の技術〉
従来の光損失測定方法として広く用いられていろ方法は
、「カットバック法」と呼ばれるもので、その典型的な
測定法を第３図に示す。第３図に示すように、カットパ
ック法では、光ａ１からの光波を被測定光ファイバ３（
長さＬ［ｋｍ］）に励振系２を介して入射し、光ファイ
バ出射端において光検出器４で光出力Ｐ０を測定する。
、「カットバック法」と呼ばれるもので、その典型的な
測定法を第３図に示す。第３図に示すように、カットパ
ック法では、光ａ１からの光波を被測定光ファイバ３（
長さＬ［ｋｍ］）に励振系２を介して入射し、光ファイ
バ出射端において光検出器４で光出力Ｐ０を測定する。
次に、入射端から１〜２ｍ程度の位置で被測定光ファイ
バ３を切断し、その位置における光出力Ｐ，，，を光検
出Ｗｉ４で測定する。この２つの光出力Ｐ０およびＰＩ
ｎから、光損失ａを次式を用いて測定する。
バ３を切断し、その位置における光出力Ｐ，，，を光検
出Ｗｉ４で測定する。この２つの光出力Ｐ０およびＰＩ
ｎから、光損失ａを次式を用いて測定する。
ａ＝一（１ ０／Ｌ） ｌ ｏ ｇ，０（Ｐ，／Ｐ，，
） ［ｄＢ／ｋｍ］また、光源に発光ダイオード、半導
体レーザを用いることにより、発光波長での光損失が、
また、白色光源を分光器により分光し、光ファイバへの
入射光の波長を変化させて測定することにより光損失の
波長特性が求められる。
） ［ｄＢ／ｋｍ］また、光源に発光ダイオード、半導
体レーザを用いることにより、発光波長での光損失が、
また、白色光源を分光器により分光し、光ファイバへの
入射光の波長を変化させて測定することにより光損失の
波長特性が求められる。
く発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、上記従来の光ファイバの損失測定方法で
は、光ファイバ３を切断するため、光ファイバ端面の状
態により光検出＠４で受光する光出力も変化し再現性に
難があり、測定精度および損失値の信頼性に問題があっ
た。また、損失を測定する際、光源１の時間的出力変動
等により、正確な損失が得られにくいという欠点もあっ
た。更に、光ファイバ３の損失を測定する際、第３図か
らわかるように、同時にＰ０とｐ，，，を測定すること
は困難であった。
は、光ファイバ３を切断するため、光ファイバ端面の状
態により光検出＠４で受光する光出力も変化し再現性に
難があり、測定精度および損失値の信頼性に問題があっ
た。また、損失を測定する際、光源１の時間的出力変動
等により、正確な損失が得られにくいという欠点もあっ
た。更に、光ファイバ３の損失を測定する際、第３図か
らわかるように、同時にＰ０とｐ，，，を測定すること
は困難であった。
く発明の目的〉
本発明は、上記従来の事情に鑑みなされたものであって
、測定の際、被測定光ファイバの切断が必要でなく、光
源の出力変動に対しても安定した損失値が得られること
ができ、これによりａ定精度の確保とともに測定時間が
短縮された非破壊による光ファイバの光損失測定方法を
提供することを目的としている。
、測定の際、被測定光ファイバの切断が必要でなく、光
源の出力変動に対しても安定した損失値が得られること
ができ、これによりａ定精度の確保とともに測定時間が
短縮された非破壊による光ファイバの光損失測定方法を
提供することを目的としている。
く発明の構成〉
本発明方法を実現する構成は、被測定光ファイパの各端
部に結合される光源と、励振系と、光ファイバカッブラ
ーと、２つの光検出器と、差動増幅器と、演算装置とを
有している。そして光源の光、つまり波長の可変な光、
波長スペクトル幅の広い光あるいは、単一波長光を、光
ファイバヵップラーにょり２系統に分岐し、分岐した光
の一方を光ファイバの一端に入射し、光ファイバの他端
から出射した光の強度および分岐した他方の光の強度を
それぞれ光検出諸で同時に検出し、その２つの光出力の
比較から光損失を測定する。この場合、光ファイバヵッ
プラーで分岐して光ファイバに入射される一方の分岐光
出方をＰＩ１光ファイバカッブラーで分岐した他方の光
出力をＰ２、また、被測定光ファイバ（長さＬ［ｋｍ］
）の光出力をＰ，とする。そうすると光ファイバヵップ
ラーにおいて、入射光波に対して次のような関係がある
。
部に結合される光源と、励振系と、光ファイバカッブラ
ーと、２つの光検出器と、差動増幅器と、演算装置とを
有している。そして光源の光、つまり波長の可変な光、
波長スペクトル幅の広い光あるいは、単一波長光を、光
ファイバヵップラーにょり２系統に分岐し、分岐した光
の一方を光ファイバの一端に入射し、光ファイバの他端
から出射した光の強度および分岐した他方の光の強度を
それぞれ光検出諸で同時に検出し、その２つの光出力の
比較から光損失を測定する。この場合、光ファイバヵッ
プラーで分岐して光ファイバに入射される一方の分岐光
出方をＰＩ１光ファイバカッブラーで分岐した他方の光
出力をＰ２、また、被測定光ファイバ（長さＬ［ｋｍ］
）の光出力をＰ，とする。そうすると光ファイバヵップ
ラーにおいて、入射光波に対して次のような関係がある
。
Ｐ，： Ｐ２＝ｌ ， ｋ
従って、Ｐ２を測定すれば、Ｐ，の光出方が評価できる
。光ファイバカッブラーでのＰ，とＰの関係は予め測定
することができる。従って、ｋが既知であるため、被測
定光ファイバの光損失は、次式で求めることができる。
。光ファイバカッブラーでのＰ，とＰの関係は予め測定
することができる。従って、ｋが既知であるため、被測
定光ファイバの光損失は、次式で求めることができる。
ａ＝− （１ ０／Ｌ） ｌ ｏ ｇ１。（ Ｐ ７
（ Ｐ ２／ ｋ ） ） ［ ｄ ＢＡＩ１］本測
定法においてはＰ２とＰ３とは、同時に測定可能である
ため、測定時間の短縮が期待できる。また、ＰおよびＰ
，の光出力は同時に測定するため、光源の出力の変動に
対して補正する必要がなく、光源が変動したとしても高
精度な光損失の測定が可能となる。
（ Ｐ ２／ ｋ ） ） ［ ｄ ＢＡＩ１］本測
定法においてはＰ２とＰ３とは、同時に測定可能である
ため、測定時間の短縮が期待できる。また、ＰおよびＰ
，の光出力は同時に測定するため、光源の出力の変動に
対して補正する必要がなく、光源が変動したとしても高
精度な光損失の測定が可能となる。
く実 施 例〉
以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。
第１図は、本発明による光損失測定方法を示したもので
あり、ｌば光源、２は励振系、５は光ファイバカッブラ
ー ３は被測定光ファイバ、４ａ，４ｂは光検出器、６
は差動増幅器、７は演算装置である。
あり、ｌば光源、２は励振系、５は光ファイバカッブラ
ー ３は被測定光ファイバ、４ａ，４ｂは光検出器、６
は差動増幅器、７は演算装置である。
本測定方法では、第３図に示した方法とは異なり、光源
１からの光波を光ファイバカップラ−５に入射し、その
光ファイバカップラ−５の分岐部の一方が被測定ファイ
バ３の一端（左端）と結合され、分岐部の他方は光検出
＠４ｂと結合している。また、被測定光ファイバ３の他
端（右端）は、光検出Ｎ４ａと結合している。光検出器
４ａ，４ｂの出力は、差動増幅器６に送られ、その出力
を演算装置７で式（２）で示した演算を行い、光損失の
値を求めることができる。
１からの光波を光ファイバカップラ−５に入射し、その
光ファイバカップラ−５の分岐部の一方が被測定ファイ
バ３の一端（左端）と結合され、分岐部の他方は光検出
＠４ｂと結合している。また、被測定光ファイバ３の他
端（右端）は、光検出Ｎ４ａと結合している。光検出器
４ａ，４ｂの出力は、差動増幅器６に送られ、その出力
を演算装置７で式（２）で示した演算を行い、光損失の
値を求めることができる。
この場合、光源１として波長スペクトル幅の広い光を出
力する発光ダイオードや、単一波長光を出力する半導体
レーザを用いれば、各発光波長における光損失を測定で
きる。また、光源１として、分光器で分光された白色光
を用いると光損失の波長特性も測定することができる。
力する発光ダイオードや、単一波長光を出力する半導体
レーザを用いれば、各発光波長における光損失を測定で
きる。また、光源１として、分光器で分光された白色光
を用いると光損失の波長特性も測定することができる。
第２図に、実施例を用いた測定結果を示す。
被調定ファイバは、単一モード光ファイバである。また
、本測定に要した時間は、従来の測定法に比較して約１
７２の時間に短縮できた。また、測定の再現性について
測定した結果、高精度で測定できることが確認できた。
、本測定に要した時間は、従来の測定法に比較して約１
７２の時間に短縮できた。また、測定の再現性について
測定した結果、高精度で測定できることが確認できた。
また、本測定法は、布設された線路の光損失を測定する
場合の遠端測定法にも適用できる。
場合の遠端測定法にも適用できる。
く発明の効果〉
以上のように、本発明は、被測定光ファイバの各端部に
結合される光源と、光ファイバカッブラーと、２つの光
検出器と、演算装置を有し、波長の可変な光、波長スペ
クトル幅の広い光あるいは、単一波長光を光ファイバカ
ッブラーに入射し、その光ファイバカッブラーの分岐部
の一方を被測定光ファイバの一端（入射端）に接続する
。そして光ファイバの他端（出射端）での光出力と、光
ファイバカッブラーの分岐部の他方での光出力とを光検
出器で検出し、その２つの光出力の比較から光損失を測
定する方法である。これにより、光損失は、上記の２つ
の光検出器の光出力を同時に求めその差から測定するこ
とができ、測定時間も短縮でき、被測定ファイバも切断
することなく行え、しかも、光源の出力変動に対しても
影響を受けることがない。従って、高い測定精度を確保
できるとともに測定時間の短縮ももたらすので、被破壊
光ファイバ光損失測定法を提供することができろ。
結合される光源と、光ファイバカッブラーと、２つの光
検出器と、演算装置を有し、波長の可変な光、波長スペ
クトル幅の広い光あるいは、単一波長光を光ファイバカ
ッブラーに入射し、その光ファイバカッブラーの分岐部
の一方を被測定光ファイバの一端（入射端）に接続する
。そして光ファイバの他端（出射端）での光出力と、光
ファイバカッブラーの分岐部の他方での光出力とを光検
出器で検出し、その２つの光出力の比較から光損失を測
定する方法である。これにより、光損失は、上記の２つ
の光検出器の光出力を同時に求めその差から測定するこ
とができ、測定時間も短縮でき、被測定ファイバも切断
することなく行え、しかも、光源の出力変動に対しても
影響を受けることがない。従って、高い測定精度を確保
できるとともに測定時間の短縮ももたらすので、被破壊
光ファイバ光損失測定法を提供することができろ。
第１図は本発明の光損失測定方法を示す構成図、第２図
は本発明方法による測定結果を示す特性図、第３図は従
来の光損失測定方法を示す構成図である。 図面中、 １は光源、 ２は励振系、 ３は被測定光ファイバ、 ４．４ａ，４ｂは光検出器、 ５は光ファイバカッブラー ６は差動増幅器、 ７は演算装置である。
は本発明方法による測定結果を示す特性図、第３図は従
来の光損失測定方法を示す構成図である。 図面中、 １は光源、 ２は励振系、 ３は被測定光ファイバ、 ４．４ａ，４ｂは光検出器、 ５は光ファイバカッブラー ６は差動増幅器、 ７は演算装置である。
Claims (1)
- 光源の光を光ファイバカッブラーにより２系統に分岐し
、分岐した光の一方を光ファイバの一端に入射し、光フ
ァイバの他端から出射した光の強度および分岐した他方
の光の強度をそれぞれ光検出器で同時に検出し、検出し
た両光強度を基に演算装置で演算して光ファイバの光損
失を測定することを特徴とする光ファイバの光損失測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18754989A JPH0353141A (ja) | 1989-07-21 | 1989-07-21 | 光ファイバの光損失測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18754989A JPH0353141A (ja) | 1989-07-21 | 1989-07-21 | 光ファイバの光損失測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0353141A true JPH0353141A (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=16208024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18754989A Pending JPH0353141A (ja) | 1989-07-21 | 1989-07-21 | 光ファイバの光損失測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0353141A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997010651A1 (en) * | 1995-09-15 | 1997-03-20 | Pllb Elettronica S.P.A. | System, method and device for monitoring a fiber optic cable |
-
1989
- 1989-07-21 JP JP18754989A patent/JPH0353141A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997010651A1 (en) * | 1995-09-15 | 1997-03-20 | Pllb Elettronica S.P.A. | System, method and device for monitoring a fiber optic cable |
| US5793481A (en) * | 1995-09-15 | 1998-08-11 | Pllb Elettronica S.P.A. | System, method and device for monitoring a fiber optic cable |
| AU705520B2 (en) * | 1995-09-15 | 1999-05-27 | Pllb Elettronica S.P.A. | System, method and device for monitoring a fiber optic cable |
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