JPH0356668A - スパッター装置 - Google Patents
スパッター装置Info
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- JPH0356668A JPH0356668A JP19080189A JP19080189A JPH0356668A JP H0356668 A JPH0356668 A JP H0356668A JP 19080189 A JP19080189 A JP 19080189A JP 19080189 A JP19080189 A JP 19080189A JP H0356668 A JPH0356668 A JP H0356668A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光磁気ディスクや相変化型光ディスク等の記録
膜の成膜に適したスバッター装置に関し、特に、量産性
に優れたスパッター装置に関する.〔従来の技術〕 文書ファイル用等に用いられる光磁気ディスクや相変化
型光ディスク等の記録膜の成膜を行う装置として、スバ
ッター装置が良く知られているが、一度に多数の基板に
成膜を行うスパッター装置としては、例えば、第8図,
第9図に示す通過型インライン成膜スパッター装置や、
第10図,第11図に示す回転型通過成膜スパッター装
置の2種が知られている. ここで、第8図は通過型インライン成膜スパッター装置
を上方から見た時の断面図であり、第9図は通過型イン
ライン成膜スバッター装置を前方から見た時の断面図で
ある. 第8図,第9図において、符号6lはディスク基板、符
号62はディスク基板装着用のパレット,符号63は上
記パレットがセットされる予備排気室、符号64. 7
6はロードロック室、符号65. 74は待機室、符号
66, 69. 72はスパッター室、符号67, 7
0.73はターゲット、符号68. 71はバッファ室
、符号77は威膜後の基板装着パレット62を収納する
ための収納室、符号79は搬送機構,電装,排気装置等
(図示せず)の収納部である. 第8図及び第9図に示す通過型インライン成膜スパッタ
ー装置においては、予備排気室63から口−ドロック室
64に搬送されたパレット62は、待機室65を経て第
lのスバッタ一室66に順次搬入され、例えば、SiN
等による1層目の威膜が行われる.モしてl層目の成膜
が終了したパレット62は、バッファ室68を介して第
2のスバッター室69に搬送され、例えば、TbFeC
o等による2層目の成膜が行われる.そして次のバッフ
ァ室7lを介して第3のスパッター室72に搬送され、
SiN等による3層目の成膜が行われる.そして,成膜
後のパレット62は待機室74、ロードロック室76を
経て収納室77に搬送される. このように、第8図及び第9図に示す通過型インライン
成膜スパッター装置においては、予備排気室63にセッ
トされたディスク基板装着パレット62を順次搬送し、
3つのスパッタ一室により3層の成膜を順次行うため、
多層膜の或膜を効率良く行うことができる. 次に、第lO図は回転型通過成膜スパッター装置を上方
から見た時の断面図であり、第11図は回転型通過成膜
スパッター装置を前方から見た時の断面図である. 第10図,第11図において、符号9lはディスク基板
、符号92はディスク基板装着用の自・公転パレット,
符号93は或膜前の自・公転パレット92をセットする
ストツカー、符号94, 101はロードロック室、符
号95, 97. 99はスパッタ一室、符号102は
成膜後の自・公転パレット92を収納するストッカー、
符号103は搬送機構,電装,排気装置等(図示せず)
の収納部を夫々示している.第10図及び第11図に示
す回転型通過成膜スパッター装置においては、ストッカ
−93からロードロック室94に搬送された自・公転パ
レット92は、基板91を自・公転しながら第1のスパ
ッター室95に順次搬入され、例えば、SiN等による
1層目の威膜が行われる.モしてl層目の成膜が終了し
た自公転パレット92は、第2のスパッター室97に搬
送され、例えば、TbFeCo等による2層目の成膜が
行われる。そして次に第3のスパッター室99に搬送さ
れ、SiN等による3層目の成膜が行われる。そして、
成膜後のパレット92はロード口ツタ室101を経てス
トツカー102に搬送され、収納される.このように、
第10図及び第11図に示す回転型通過成膜スバッター
装置においては、ストッヵ−93にセットされたディス
ク基板9l装着の自・公転パレット92を順次搬送し,
3つのスパッター室95,97. 99により3層の成
膜を順次行うため、多層膜の或膜を効率良く行うことが
できる.また、スパッタ一時には基板91は自・公転パ
レット92によって自・公転されているため、均一な成
膜を行うことができる. 〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、第8図及び第9図に示す通過型インライン成
膜スパツター装置においては、通常、各ターゲット67
, 70. 73は連続放電されており、この連続放電
している各ターゲット67, 70. 73でパレット
62上の基板61に成膜し、多層膜の形成を行う構成の
ため,各層形成用のスパツタ一室66, 69.72間
の相互影響が無いように各室を通過させる必要があり、
各スバッター室66, 69. 72の手前にバッフ7
室68. 71を設ける必要が生じる.また、各ターゲ
ット67, 70. 73の前をパレット全面を通過さ
せるため、少なくともパレットの3倍幅以上の室長が必
要となる。このため,第8図及び第9図に示す通過型イ
ンライン成膜スパツター装置では、装置の全長が長くな
りすぎ、装置が大規模化するという問題が生じる. また、第8図及び第9図に示す通過型インライン或膜ス
パッター装置において、パレット62上の各基板61に
一様に成膜を行うためには、パレット62の基板配列方
向の長さより長いターゲットを設ける必要があるが、こ
のような大きなターゲットを用いた場合,現状では、そ
の使用効率は25%程度となるため、高価なレアメタル
等をターゲット材料として用いた場合には、成膜処理コ
ストが増大する原因となる.また,上述の大サイズのタ
ーゲット前を不回転で通過させながら成膜を行う方法で
は、膜貿が不均一となる虞れが多分にあり、歩留り低下
の原因となり、処理コストがより増大する. 次に、第lO図及び第11図に示す回転型通過成膜スパ
ッター装置は、上述の通過型インライン或膜スパッター
装置における問題を解決するため、スパッター室間のバ
ッファ室を廃止し、且つ、基板91を保持するパレット
92に自転機構及び公転機構を設けたものであるが、パ
レットの各スバッター室95. 97. 99間移送時
には、ターゲットへの放電を停止する必要があり、この
ため、処理時間がかかり量産性に劣るという問題がある
. また,上述の回転型通過成膜スパツター装置では、基板
91の保持に円形状のパレット92を用い、且つ自・公
転機構を設けたことにより,均質な成膜を行うことはで
きるが、複雑な回転機構からのダストの影響で、形成さ
れた膜の欠陥率の悪化を生ずるという問題がある.また
、第10図及び第11図に示す構成では、基板の冷却が
難しく、基板に熱の影響による反り等が発生しやすいと
いう問題も生ずる. 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、光磁
気ディスクや相変化型光ディスク等の基板への成膜を効
率良く且つ均質に行うことができ、しかも量産性に優れ
且つ処理コストも低減し得るスパッター装置を提供する
ことを目的とする.〔課題を解決するための手段〕 上記目的を達成するため,本発明によるスバツター装置
は、円筒形シリンドリカルターゲットと、このターゲッ
トが中心に配置された円形スパツターチャンバーと,該
チャンバー内の上記ターゲットの周りに等間隔に多数配
設され基板面がターゲットと対向するように基板を保持
する基板保持部材と、該基板保持部材を上記ターゲット
を中心に公転する手段とを備えたことを特徴とする.ま
た、本発明によるスパッター装置の一構威としては,円
筒形シリンドリカルターゲットと、このターゲットが中
心に配置された円形スパッターチャンバーと、該チャン
バー内の上記ターゲットの周りに等間隔に多数配設され
基板面がターゲットと対向するよ・うに基板を保持する
基板保持部材と、該基板保持部材を上記ターゲットを中
心に公転する手段とを備え、上記基板保持部材として、
基板を一枚づつ出し入れ可能な筒状カセットを上下2段
に設け,上下何れか一方側の筒状カセットに予め収納さ
れた多数枚の基板を順次一枚づつ他方側の筒状カセット
に移送してカセットの出口に位置し上記ターゲットと対
向する基板が成膜されるように構或する. また、本発明によるスバッター装置の別構成としては、
円筒形シリンドリカルターゲットを中心に配した複数の
円形スパッターチャンバーと、各チャンバー内の上記タ
ーゲットの周りに等間隔に多数配設され基板面がターゲ
ットと対向するように基板を保持する基板保持部材と、
該基板保持部材を上記ターゲットを中心に公転する手段
と、各円形スパッターチャンバー間に配置され基板を枚
葉単位若しくは上記基板保持部材に装着された状態で順
次移送する移送路と、該移送路と円形スパッターチャン
バーとを連結し円形スパッターチャンバーに基板を出し
入れするエクスチェンジャーとを備えた構成とする. 〔作 用〕 本発明によるスパッター装置では、円筒形シリンドリカ
ルターゲットを中心に配した円形スパッターチャンバー
を設け、チャンバー内の上記ターゲットの周りに等間隔
に多数配設された基板保持部材によって基板面がターゲ
ットと対向するように基板を保持し、且つその基板保持
部材を上記ターゲットを中心に公転する手段を設けたこ
とにより,多数の基板に同時に且つ効率良く均質な成膜
を行うことができる. また、上記円形スパッターチャンバーを複数設け、各円
形スパッターチャンバー間に基板を枚葉単位若しくは上
記基板保持部材に装着された状態で順次移送する移送路
を配置し、且つ、移送路と円形スパッターチャンバーと
を連結し円形スパッターチャンバーに基板を出し入れす
るエクスチェンジャーを設け、複数の円形スパッターチ
ャンバーで順次或膜を行うことにより、多層膜の形成を
容易に且つ効率良く行うことが可能となる.〔実 施
例〕 以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
. 第1図は本発明の一実施例を示すスバッター装置を上方
から見たときの断面図、第2図は同上装置を前方から見
たときの第1図1−1線断面図である. 第1図及び第2図において、この実施例によるスパッタ
ー装置は、円筒形シリンドリカルターゲット5と、この
ターゲット5が中心に配置された円形スパッターチャン
バー4と、該チャンバー4内の上記ターゲット5の周り
に等間隔に多数配設され基板面がターゲットと対向する
ようにディスク基板lを保持する基板保持部材2と、該
基板保持部材2を上記ターゲット5を中心に公転する機
構7とを備えており、上記基板保持部材2として,基板
lを一枚づつ出し入れ可能な筒状カセット2aを上下2
段に設けると共に、上下何れか一方側の筒状カセット2
aに予め収納された多数枚の基板1を順次一枚づつ他方
側の筒状カセットに移送する機構8を設け、多数枚の基
板1を順次一枚づつ他方側の筒状カセットに移送してカ
セットの出口に位置し上記ターゲット5と対向する基板
が成膜されるように構威したものである. 尚、第1図及び第2図中、符号3a, 3bは夫々基板
保持部材2を出し入れするためのロードロック室を示し
、また、符号9はスパッター電源、符号10は真空排気
装置を示している. さて、第1図及び第2図において、ディスク基板1は基
板保持部材2の一方側の筒型カセット2aに50〜10
0枚セットされた状態で、一方側のロードロック室3a
からスパッターチャンバー4内のカセット保持自公転及
び上下動機構7上に移送される.そして、基板保持部材
2は順次シリンドリカルターゲット5の周りに等間隔に
配置され、スパッターが開始される.ここで、基板保持
部材2はスパッターの開始と共に、カセット保持自公転
及び上下動機構7によってシリンドリカルターゲット5
の周りを公転される.また、このときカセット2aの自
転も行われるため、各カセットの出口に位置した基板の
基板面には均一性の良い膜が成膜される. 各基板1に対して、所定膜厚の威膜が行われた後は、カ
セット最前部(出口部分)に位置する基板は基板上下カ
セット間移送機構8によって上段から下段のカセットに
移送され、また上段側のカセットには次の基板がカセッ
ト内の機構により最前部に移動され、連続的にスパッタ
ーされる。そして上記行程を順次繰り返してカセット内
に保持した基板の全てのスパッターが終了した基板保持
部材2は、出口側のロードロック室3bを経てスパッタ
ーチャンバー4外に取り出される.尚、基板に多層膜を
連続的に形成する場合には、第3図に示すように、複数
の円形スパッターチャンバー4を設け、各円形スパッタ
ーチャンバー4のロードロック室を連結して移送路を設
け、この移送路の途中に基板保持部材2の方向を反転す
る反転機構1lを設けて、l層目の成膜終了後の基板を
保持した基板保持部材2を次のスパッターチャンバーに
向きを変えて移送し、そのスパッターチャンバー内のシ
リンドリカルターゲットの周りに基板保持部材2を配置
して1層目の場合と同様にして2層目の成膜を行う.以
下、スパッターチャンバーの設置数分だけ上記行程を繰
り返せば、必要層数の多層膜を形威することができる.
尚,連続的に成膜を行う場合に、基板の昇温により反り
が発生することがあるが、基板保持部材2のカセット2
a外周に水冷ジャケットを有する冷却器を配することに
よって上記反りの発生を軽減することが可能である. 以上、第1図乃至第3図を参照して説明したように,本
実施例におけるスパッター装置では,基板保持部材とし
て上下2段構成の筒状カセットを用い、カセット内へ基
板を保持するようにしたことにより、自・公転機構から
の発生ダストの影響を軽減することができ、また、自公
転機構の低ダスト化を図ることもでき、低欠陥処理が可
能となる. また、本実施例では、多数枚の基板をカセットに保持し
た状態でスパッターチャンバーに出し入れする構成のた
め、ロードロックの開閉頻度が極端に低減し,スパッタ
ー室の連続放電処理においても雰囲気の乱れがなく、安
定した被膜付与が可能となる. 以上のように,本実施例におけるスパッター装置によれ
ば、第8図乃至第第11図に示した従来のスパッター装
置に比べて、低コストで且つ高品位のディスク基板の量
産が容易に実施可能となる。
膜の成膜に適したスバッター装置に関し、特に、量産性
に優れたスパッター装置に関する.〔従来の技術〕 文書ファイル用等に用いられる光磁気ディスクや相変化
型光ディスク等の記録膜の成膜を行う装置として、スバ
ッター装置が良く知られているが、一度に多数の基板に
成膜を行うスパッター装置としては、例えば、第8図,
第9図に示す通過型インライン成膜スパッター装置や、
第10図,第11図に示す回転型通過成膜スパッター装
置の2種が知られている. ここで、第8図は通過型インライン成膜スパッター装置
を上方から見た時の断面図であり、第9図は通過型イン
ライン成膜スバッター装置を前方から見た時の断面図で
ある. 第8図,第9図において、符号6lはディスク基板、符
号62はディスク基板装着用のパレット,符号63は上
記パレットがセットされる予備排気室、符号64. 7
6はロードロック室、符号65. 74は待機室、符号
66, 69. 72はスパッター室、符号67, 7
0.73はターゲット、符号68. 71はバッファ室
、符号77は威膜後の基板装着パレット62を収納する
ための収納室、符号79は搬送機構,電装,排気装置等
(図示せず)の収納部である. 第8図及び第9図に示す通過型インライン成膜スパッタ
ー装置においては、予備排気室63から口−ドロック室
64に搬送されたパレット62は、待機室65を経て第
lのスバッタ一室66に順次搬入され、例えば、SiN
等による1層目の威膜が行われる.モしてl層目の成膜
が終了したパレット62は、バッファ室68を介して第
2のスバッター室69に搬送され、例えば、TbFeC
o等による2層目の成膜が行われる.そして次のバッフ
ァ室7lを介して第3のスパッター室72に搬送され、
SiN等による3層目の成膜が行われる.そして,成膜
後のパレット62は待機室74、ロードロック室76を
経て収納室77に搬送される. このように、第8図及び第9図に示す通過型インライン
成膜スパッター装置においては、予備排気室63にセッ
トされたディスク基板装着パレット62を順次搬送し、
3つのスパッタ一室により3層の成膜を順次行うため、
多層膜の或膜を効率良く行うことができる. 次に、第lO図は回転型通過成膜スパッター装置を上方
から見た時の断面図であり、第11図は回転型通過成膜
スパッター装置を前方から見た時の断面図である. 第10図,第11図において、符号9lはディスク基板
、符号92はディスク基板装着用の自・公転パレット,
符号93は或膜前の自・公転パレット92をセットする
ストツカー、符号94, 101はロードロック室、符
号95, 97. 99はスパッタ一室、符号102は
成膜後の自・公転パレット92を収納するストッカー、
符号103は搬送機構,電装,排気装置等(図示せず)
の収納部を夫々示している.第10図及び第11図に示
す回転型通過成膜スパッター装置においては、ストッカ
−93からロードロック室94に搬送された自・公転パ
レット92は、基板91を自・公転しながら第1のスパ
ッター室95に順次搬入され、例えば、SiN等による
1層目の威膜が行われる.モしてl層目の成膜が終了し
た自公転パレット92は、第2のスパッター室97に搬
送され、例えば、TbFeCo等による2層目の成膜が
行われる。そして次に第3のスパッター室99に搬送さ
れ、SiN等による3層目の成膜が行われる。そして、
成膜後のパレット92はロード口ツタ室101を経てス
トツカー102に搬送され、収納される.このように、
第10図及び第11図に示す回転型通過成膜スバッター
装置においては、ストッヵ−93にセットされたディス
ク基板9l装着の自・公転パレット92を順次搬送し,
3つのスパッター室95,97. 99により3層の成
膜を順次行うため、多層膜の或膜を効率良く行うことが
できる.また、スパッタ一時には基板91は自・公転パ
レット92によって自・公転されているため、均一な成
膜を行うことができる. 〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、第8図及び第9図に示す通過型インライン成
膜スパツター装置においては、通常、各ターゲット67
, 70. 73は連続放電されており、この連続放電
している各ターゲット67, 70. 73でパレット
62上の基板61に成膜し、多層膜の形成を行う構成の
ため,各層形成用のスパツタ一室66, 69.72間
の相互影響が無いように各室を通過させる必要があり、
各スバッター室66, 69. 72の手前にバッフ7
室68. 71を設ける必要が生じる.また、各ターゲ
ット67, 70. 73の前をパレット全面を通過さ
せるため、少なくともパレットの3倍幅以上の室長が必
要となる。このため,第8図及び第9図に示す通過型イ
ンライン成膜スパツター装置では、装置の全長が長くな
りすぎ、装置が大規模化するという問題が生じる. また、第8図及び第9図に示す通過型インライン或膜ス
パッター装置において、パレット62上の各基板61に
一様に成膜を行うためには、パレット62の基板配列方
向の長さより長いターゲットを設ける必要があるが、こ
のような大きなターゲットを用いた場合,現状では、そ
の使用効率は25%程度となるため、高価なレアメタル
等をターゲット材料として用いた場合には、成膜処理コ
ストが増大する原因となる.また,上述の大サイズのタ
ーゲット前を不回転で通過させながら成膜を行う方法で
は、膜貿が不均一となる虞れが多分にあり、歩留り低下
の原因となり、処理コストがより増大する. 次に、第lO図及び第11図に示す回転型通過成膜スパ
ッター装置は、上述の通過型インライン或膜スパッター
装置における問題を解決するため、スパッター室間のバ
ッファ室を廃止し、且つ、基板91を保持するパレット
92に自転機構及び公転機構を設けたものであるが、パ
レットの各スバッター室95. 97. 99間移送時
には、ターゲットへの放電を停止する必要があり、この
ため、処理時間がかかり量産性に劣るという問題がある
. また,上述の回転型通過成膜スパツター装置では、基板
91の保持に円形状のパレット92を用い、且つ自・公
転機構を設けたことにより,均質な成膜を行うことはで
きるが、複雑な回転機構からのダストの影響で、形成さ
れた膜の欠陥率の悪化を生ずるという問題がある.また
、第10図及び第11図に示す構成では、基板の冷却が
難しく、基板に熱の影響による反り等が発生しやすいと
いう問題も生ずる. 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、光磁
気ディスクや相変化型光ディスク等の基板への成膜を効
率良く且つ均質に行うことができ、しかも量産性に優れ
且つ処理コストも低減し得るスパッター装置を提供する
ことを目的とする.〔課題を解決するための手段〕 上記目的を達成するため,本発明によるスバツター装置
は、円筒形シリンドリカルターゲットと、このターゲッ
トが中心に配置された円形スパツターチャンバーと,該
チャンバー内の上記ターゲットの周りに等間隔に多数配
設され基板面がターゲットと対向するように基板を保持
する基板保持部材と、該基板保持部材を上記ターゲット
を中心に公転する手段とを備えたことを特徴とする.ま
た、本発明によるスパッター装置の一構威としては,円
筒形シリンドリカルターゲットと、このターゲットが中
心に配置された円形スパッターチャンバーと、該チャン
バー内の上記ターゲットの周りに等間隔に多数配設され
基板面がターゲットと対向するよ・うに基板を保持する
基板保持部材と、該基板保持部材を上記ターゲットを中
心に公転する手段とを備え、上記基板保持部材として、
基板を一枚づつ出し入れ可能な筒状カセットを上下2段
に設け,上下何れか一方側の筒状カセットに予め収納さ
れた多数枚の基板を順次一枚づつ他方側の筒状カセット
に移送してカセットの出口に位置し上記ターゲットと対
向する基板が成膜されるように構或する. また、本発明によるスバッター装置の別構成としては、
円筒形シリンドリカルターゲットを中心に配した複数の
円形スパッターチャンバーと、各チャンバー内の上記タ
ーゲットの周りに等間隔に多数配設され基板面がターゲ
ットと対向するように基板を保持する基板保持部材と、
該基板保持部材を上記ターゲットを中心に公転する手段
と、各円形スパッターチャンバー間に配置され基板を枚
葉単位若しくは上記基板保持部材に装着された状態で順
次移送する移送路と、該移送路と円形スパッターチャン
バーとを連結し円形スパッターチャンバーに基板を出し
入れするエクスチェンジャーとを備えた構成とする. 〔作 用〕 本発明によるスパッター装置では、円筒形シリンドリカ
ルターゲットを中心に配した円形スパッターチャンバー
を設け、チャンバー内の上記ターゲットの周りに等間隔
に多数配設された基板保持部材によって基板面がターゲ
ットと対向するように基板を保持し、且つその基板保持
部材を上記ターゲットを中心に公転する手段を設けたこ
とにより,多数の基板に同時に且つ効率良く均質な成膜
を行うことができる. また、上記円形スパッターチャンバーを複数設け、各円
形スパッターチャンバー間に基板を枚葉単位若しくは上
記基板保持部材に装着された状態で順次移送する移送路
を配置し、且つ、移送路と円形スパッターチャンバーと
を連結し円形スパッターチャンバーに基板を出し入れす
るエクスチェンジャーを設け、複数の円形スパッターチ
ャンバーで順次或膜を行うことにより、多層膜の形成を
容易に且つ効率良く行うことが可能となる.〔実 施
例〕 以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
. 第1図は本発明の一実施例を示すスバッター装置を上方
から見たときの断面図、第2図は同上装置を前方から見
たときの第1図1−1線断面図である. 第1図及び第2図において、この実施例によるスパッタ
ー装置は、円筒形シリンドリカルターゲット5と、この
ターゲット5が中心に配置された円形スパッターチャン
バー4と、該チャンバー4内の上記ターゲット5の周り
に等間隔に多数配設され基板面がターゲットと対向する
ようにディスク基板lを保持する基板保持部材2と、該
基板保持部材2を上記ターゲット5を中心に公転する機
構7とを備えており、上記基板保持部材2として,基板
lを一枚づつ出し入れ可能な筒状カセット2aを上下2
段に設けると共に、上下何れか一方側の筒状カセット2
aに予め収納された多数枚の基板1を順次一枚づつ他方
側の筒状カセットに移送する機構8を設け、多数枚の基
板1を順次一枚づつ他方側の筒状カセットに移送してカ
セットの出口に位置し上記ターゲット5と対向する基板
が成膜されるように構威したものである. 尚、第1図及び第2図中、符号3a, 3bは夫々基板
保持部材2を出し入れするためのロードロック室を示し
、また、符号9はスパッター電源、符号10は真空排気
装置を示している. さて、第1図及び第2図において、ディスク基板1は基
板保持部材2の一方側の筒型カセット2aに50〜10
0枚セットされた状態で、一方側のロードロック室3a
からスパッターチャンバー4内のカセット保持自公転及
び上下動機構7上に移送される.そして、基板保持部材
2は順次シリンドリカルターゲット5の周りに等間隔に
配置され、スパッターが開始される.ここで、基板保持
部材2はスパッターの開始と共に、カセット保持自公転
及び上下動機構7によってシリンドリカルターゲット5
の周りを公転される.また、このときカセット2aの自
転も行われるため、各カセットの出口に位置した基板の
基板面には均一性の良い膜が成膜される. 各基板1に対して、所定膜厚の威膜が行われた後は、カ
セット最前部(出口部分)に位置する基板は基板上下カ
セット間移送機構8によって上段から下段のカセットに
移送され、また上段側のカセットには次の基板がカセッ
ト内の機構により最前部に移動され、連続的にスパッタ
ーされる。そして上記行程を順次繰り返してカセット内
に保持した基板の全てのスパッターが終了した基板保持
部材2は、出口側のロードロック室3bを経てスパッタ
ーチャンバー4外に取り出される.尚、基板に多層膜を
連続的に形成する場合には、第3図に示すように、複数
の円形スパッターチャンバー4を設け、各円形スパッタ
ーチャンバー4のロードロック室を連結して移送路を設
け、この移送路の途中に基板保持部材2の方向を反転す
る反転機構1lを設けて、l層目の成膜終了後の基板を
保持した基板保持部材2を次のスパッターチャンバーに
向きを変えて移送し、そのスパッターチャンバー内のシ
リンドリカルターゲットの周りに基板保持部材2を配置
して1層目の場合と同様にして2層目の成膜を行う.以
下、スパッターチャンバーの設置数分だけ上記行程を繰
り返せば、必要層数の多層膜を形威することができる.
尚,連続的に成膜を行う場合に、基板の昇温により反り
が発生することがあるが、基板保持部材2のカセット2
a外周に水冷ジャケットを有する冷却器を配することに
よって上記反りの発生を軽減することが可能である. 以上、第1図乃至第3図を参照して説明したように,本
実施例におけるスパッター装置では,基板保持部材とし
て上下2段構成の筒状カセットを用い、カセット内へ基
板を保持するようにしたことにより、自・公転機構から
の発生ダストの影響を軽減することができ、また、自公
転機構の低ダスト化を図ることもでき、低欠陥処理が可
能となる. また、本実施例では、多数枚の基板をカセットに保持し
た状態でスパッターチャンバーに出し入れする構成のた
め、ロードロックの開閉頻度が極端に低減し,スパッタ
ー室の連続放電処理においても雰囲気の乱れがなく、安
定した被膜付与が可能となる. 以上のように,本実施例におけるスパッター装置によれ
ば、第8図乃至第第11図に示した従来のスパッター装
置に比べて、低コストで且つ高品位のディスク基板の量
産が容易に実施可能となる。
次に、第4図及び第5図に本発明の別の実施例を示し、
以下説明する. 第4図は本発明の別の実施例を示すスパッター装置を上
方から見たときの断面図、第5図は同上装置を前方から
見たときの透視図である.第4図及び第5図において、
本実施例におけるスパッター装置は、円筒形シリンドリ
カルターゲット25を中心に配した複数の円形スパッタ
ーチャンバー29と、各チャンバー29内の上記ターゲ
ット25の周りに等間隔に多数配設され基板面がターゲ
ット25と対向するようにディスク基板21を保持する
基板保持部材24と、該基板保持部材24を上記ターゲ
ット25を中心に自・公転する機構と、各円形スパッタ
ーチャンバー2燗に配置され基板を一枚毎の枚葉単位で
順次移送する移送路となる直行型の空間搬送チャンバー
22と,該空間搬送チャンバー22と円形スパッターチ
ャンバー29とを連結し円形スパッターチャンバー29
に基板21を出し入れするプラットホーム型エクスチェ
ンジャー23. 26とを備えた構成となっている.尚
、第4図及び第5図において、図中符号27は水冷ジャ
ケットを有する冷却器を示している. さて,第4図及び第5図に示す構成のスパツター装置に
おいては、ディスク基板2lは搬送チャンバー22によ
り一枚毎の枚葉単位で図中矢印方向に移動し、プラット
ホーム型エクスチェンジャー23の前後移動プレートに
載せられる.そして、この直後に前後移動プレートは前
進し、円形スパッターチャンバー29のスバッター室2
9Aの入口をシールすると共に、基板自公転機構に固定
された基板保持部材24に基板21を受け渡す.この基
板の受渡しの直後に、上記プレートは後退し,次に搬送
されてきた基板をプレートに載せる.そしてこの動作を
順次繰り返して、基板21を一枚毎にチャンバー29内
に挿入し、基板自公転機構の基板保持部材24に連続し
て渡す. 以上のようにしてスパッター室内の基板保持部材24に
保持された基板21は,回転型のシリンドリカルターゲ
ット25の周りを自・公転しつつ移動し、例えばSiN
等の誘電体薄膜が付与される。
以下説明する. 第4図は本発明の別の実施例を示すスパッター装置を上
方から見たときの断面図、第5図は同上装置を前方から
見たときの透視図である.第4図及び第5図において、
本実施例におけるスパッター装置は、円筒形シリンドリ
カルターゲット25を中心に配した複数の円形スパッタ
ーチャンバー29と、各チャンバー29内の上記ターゲ
ット25の周りに等間隔に多数配設され基板面がターゲ
ット25と対向するようにディスク基板21を保持する
基板保持部材24と、該基板保持部材24を上記ターゲ
ット25を中心に自・公転する機構と、各円形スパッタ
ーチャンバー2燗に配置され基板を一枚毎の枚葉単位で
順次移送する移送路となる直行型の空間搬送チャンバー
22と,該空間搬送チャンバー22と円形スパッターチ
ャンバー29とを連結し円形スパッターチャンバー29
に基板21を出し入れするプラットホーム型エクスチェ
ンジャー23. 26とを備えた構成となっている.尚
、第4図及び第5図において、図中符号27は水冷ジャ
ケットを有する冷却器を示している. さて,第4図及び第5図に示す構成のスパツター装置に
おいては、ディスク基板2lは搬送チャンバー22によ
り一枚毎の枚葉単位で図中矢印方向に移動し、プラット
ホーム型エクスチェンジャー23の前後移動プレートに
載せられる.そして、この直後に前後移動プレートは前
進し、円形スパッターチャンバー29のスバッター室2
9Aの入口をシールすると共に、基板自公転機構に固定
された基板保持部材24に基板21を受け渡す.この基
板の受渡しの直後に、上記プレートは後退し,次に搬送
されてきた基板をプレートに載せる.そしてこの動作を
順次繰り返して、基板21を一枚毎にチャンバー29内
に挿入し、基板自公転機構の基板保持部材24に連続し
て渡す. 以上のようにしてスパッター室内の基板保持部材24に
保持された基板21は,回転型のシリンドリカルターゲ
ット25の周りを自・公転しつつ移動し、例えばSiN
等の誘電体薄膜が付与される。
そして,半周移動したところで、基板取外し側のプラッ
トホーム型エクスチェンジャー23により、基板保持部
材24から基板21が外され搬送チャンバー22に移送
され、基板21は次のスパッターチャンバーのスバッタ
一室29Bに同様の機構により送り込まれ、次の成膜が
行われる. 尚、エクスチェンジャーの作動時においてはスパッタ一
室の開閉により、スパッター室は搬送チャンバーに開放
された状態となるが、搬送チャンバー内は通常スパッタ
一室と同レベルの圧力に排気されており、開閉動作の開
閉量が基板の通過に必要な10a+m程度で且つ2秒程
度の時間で終わることから、スパッター室の雰囲気変動
は軽微で有り、スパッター放電の安定性は維持される.
また、基板21をスパッター室内に挿入する側と取り出
す側のエクスチェンジャーは、同時にスパッタ一室を開
放しないタイミングで動作するように制御されるため、
雰囲気変動は最小限に維持され、スパッター放電の安定
性は維持される. ところで、第4図及び第5図に示す構成のスパッター装
置においては、半周回転後、基板21が除去された基板
保持部材24は、自公転機構によりシリンドリカルター
ゲット25の非放電側に周り込み、水冷ジャケットを有
する冷却器27に近接して回転し冷却される.この冷却
効果により、基板を再び自・公転させる場合の基板昇温
か軽減され、基板の反りの発生を防止することができる
.尚、基板保持部材24を自公転する基板自公転機構部
を下部側で支持回転する構造とすることによりダストの
発生を軽微とすることができ、成膜時の低欠陥処理が可
能となる. ところで、第4図に示す構成のスパッター装置を、光磁
気ディスクや相変化型光ディスク用基板の成膜に用いる
場合、1層目と3層目の成膜を行うスパッター室29A
, 29Cに設置されるシリンドリカルターゲット2
5には、SiN, SiO等の誘電体化合物を用いるか
、またはSi単独ターゲットを使用する反応性スパッタ
ーで基板へSiN, SiOなどの誘電体膜を付与し、
プラスチック基板素地へのアンダーコート及び光磁気膜
や相変化膜上の保護層とする. また、光磁気膜や相変化膜などの信号記録薄膜を付与す
るスバッタ一室29Bのターゲットは、付与膜近似の組
成で構成する場合もあるが、シリンドリカルターゲット
の表層を付与膜組威の単成分または分割成分のターゲッ
ト材を周上に分割配置し、Coスバッターすることによ
り、均一性の良好な膜組成と特性を効率良く得ることが
できる.また、使用効率もプレーナー型ターゲットの2
5%レベルに比べ、70%以上と高くすることができる
.さて、以上のように、本実施例におけるスパッター装
置によれば、枚葉通過インライン型成膜での自公転処理
を簡略でコンパクトな構成の装置で2実施可能で、第8
図乃至第11図に示した従来のスパッター装置に比べて
、低コストで且つ高品位のディスク基板の量産が容易に
実施可能となる.次に、第6図及び第7図に本発明のさ
らに別の実施例を示し,以下説明する. 第6図は本実施例におけるスバッター装置を上方から見
たときの断面図、第7図は同上装置を前方から見たとき
の断面図である. 第6図及び第7図において、本実施例におけるスパッタ
ー装置は、円筒形シリンドリカルターゲット45a,
45b, 45cを中心に配した複数の円形スパッター
チャンバー49と、各チャンバー49内の上記ターゲッ
ト45a, 45b, 45cの周りに等間隔に多数配
設され基板面がターゲット45a, 45b, 45c
と対向するようにディスク基板4lを保持するパレット
状の基板保持部材42(以下、パレットと称す)と、該
基板保持部材42を上記ターゲット45a, 45b,
45cを中心に自・公転する機構47と、各円形スパッ
ターチャンバー間に配置され、基板41を上記パレット
42に装着された状態で順次移送する移送路となるパレ
ット移送チャンバー43と、該パレット移送チャンバー
43と各円形スパッターチャンバ−49とを連結し各円
形スパッターチャンバー49のスパッター室49A,
498. 49Cにパレット42を出し入れするエクス
チェンジャー兼用のロードロック機構44とを備えた構
成となっている.尚、第6図,第7図において,符号4
6はロードロック機構44の前後移動プレート,符号5
0はパレット42を吊り下げるためのパレットハンガー
を示している.さて、第6図及び第7図に示す構成のス
バッター装置においては,ディスク基板41はパレット
42に装着された状態でパレット移送チャンバー43内
を図中矢印方向に移動し、ロードロック機Js44の前
後移動プレート46に設けられたフックに吊り下げられ
る.この直後、前後移動プレート4Gは前進し、符号4
9Bのスパッタ一室に示すように、処理前のパレットを
スパッタ一室に挿入すると共に、開口部を移動プレート
46によりシールする。
トホーム型エクスチェンジャー23により、基板保持部
材24から基板21が外され搬送チャンバー22に移送
され、基板21は次のスパッターチャンバーのスバッタ
一室29Bに同様の機構により送り込まれ、次の成膜が
行われる. 尚、エクスチェンジャーの作動時においてはスパッタ一
室の開閉により、スパッター室は搬送チャンバーに開放
された状態となるが、搬送チャンバー内は通常スパッタ
一室と同レベルの圧力に排気されており、開閉動作の開
閉量が基板の通過に必要な10a+m程度で且つ2秒程
度の時間で終わることから、スパッター室の雰囲気変動
は軽微で有り、スパッター放電の安定性は維持される.
また、基板21をスパッター室内に挿入する側と取り出
す側のエクスチェンジャーは、同時にスパッタ一室を開
放しないタイミングで動作するように制御されるため、
雰囲気変動は最小限に維持され、スパッター放電の安定
性は維持される. ところで、第4図及び第5図に示す構成のスパッター装
置においては、半周回転後、基板21が除去された基板
保持部材24は、自公転機構によりシリンドリカルター
ゲット25の非放電側に周り込み、水冷ジャケットを有
する冷却器27に近接して回転し冷却される.この冷却
効果により、基板を再び自・公転させる場合の基板昇温
か軽減され、基板の反りの発生を防止することができる
.尚、基板保持部材24を自公転する基板自公転機構部
を下部側で支持回転する構造とすることによりダストの
発生を軽微とすることができ、成膜時の低欠陥処理が可
能となる. ところで、第4図に示す構成のスパッター装置を、光磁
気ディスクや相変化型光ディスク用基板の成膜に用いる
場合、1層目と3層目の成膜を行うスパッター室29A
, 29Cに設置されるシリンドリカルターゲット2
5には、SiN, SiO等の誘電体化合物を用いるか
、またはSi単独ターゲットを使用する反応性スパッタ
ーで基板へSiN, SiOなどの誘電体膜を付与し、
プラスチック基板素地へのアンダーコート及び光磁気膜
や相変化膜上の保護層とする. また、光磁気膜や相変化膜などの信号記録薄膜を付与す
るスバッタ一室29Bのターゲットは、付与膜近似の組
成で構成する場合もあるが、シリンドリカルターゲット
の表層を付与膜組威の単成分または分割成分のターゲッ
ト材を周上に分割配置し、Coスバッターすることによ
り、均一性の良好な膜組成と特性を効率良く得ることが
できる.また、使用効率もプレーナー型ターゲットの2
5%レベルに比べ、70%以上と高くすることができる
.さて、以上のように、本実施例におけるスパッター装
置によれば、枚葉通過インライン型成膜での自公転処理
を簡略でコンパクトな構成の装置で2実施可能で、第8
図乃至第11図に示した従来のスパッター装置に比べて
、低コストで且つ高品位のディスク基板の量産が容易に
実施可能となる.次に、第6図及び第7図に本発明のさ
らに別の実施例を示し,以下説明する. 第6図は本実施例におけるスバッター装置を上方から見
たときの断面図、第7図は同上装置を前方から見たとき
の断面図である. 第6図及び第7図において、本実施例におけるスパッタ
ー装置は、円筒形シリンドリカルターゲット45a,
45b, 45cを中心に配した複数の円形スパッター
チャンバー49と、各チャンバー49内の上記ターゲッ
ト45a, 45b, 45cの周りに等間隔に多数配
設され基板面がターゲット45a, 45b, 45c
と対向するようにディスク基板4lを保持するパレット
状の基板保持部材42(以下、パレットと称す)と、該
基板保持部材42を上記ターゲット45a, 45b,
45cを中心に自・公転する機構47と、各円形スパッ
ターチャンバー間に配置され、基板41を上記パレット
42に装着された状態で順次移送する移送路となるパレ
ット移送チャンバー43と、該パレット移送チャンバー
43と各円形スパッターチャンバ−49とを連結し各円
形スパッターチャンバー49のスパッター室49A,
498. 49Cにパレット42を出し入れするエクス
チェンジャー兼用のロードロック機構44とを備えた構
成となっている.尚、第6図,第7図において,符号4
6はロードロック機構44の前後移動プレート,符号5
0はパレット42を吊り下げるためのパレットハンガー
を示している.さて、第6図及び第7図に示す構成のス
バッター装置においては,ディスク基板41はパレット
42に装着された状態でパレット移送チャンバー43内
を図中矢印方向に移動し、ロードロック機Js44の前
後移動プレート46に設けられたフックに吊り下げられ
る.この直後、前後移動プレート4Gは前進し、符号4
9Bのスパッタ一室に示すように、処理前のパレットを
スパッタ一室に挿入すると共に、開口部を移動プレート
46によりシールする。
尚、この動作時において、短時間ではあるが、パレット
移送チャンバー43とスパッタ一室はシールが開放され
た状態となるが、パレット移送チャンバー43内はスバ
ッタ一室と同レベルの真空に排気されているのでスパッ
タ一室内の雰囲気変動はスパッター放電に影響を与えず
、また、A,B,Cの各スバッター室は同時に開放しな
いタイミングで動作するので相互の影響は回避される.
さて、各スバッターチャンパー49のスバッター室49
A, 49B, 49Gに挿入されたパレット42は、
スパッター室内のパレットハンガー46のフックに受け
渡され、パレット下端に位置するパレット自公転疑動機
構47によってシリンドリカルターゲット45a, 4
5b, 45cの周囲を公転すると共に、パレット42
に設けた回軸機構によって個々の基板41が自転する. ここで、第6[及び第7図に示す構成のスバッター装置
では、光磁気ディスクや相変化型光ディスク用基板の成
膜を行う場合、l層目と3層目の成膜を行うスパッター
室49A , 49Cに設置されるシリンドリカルター
ゲット45a , 45cには、SiN ,SiQ等の
誘電体化合物を用いるか、またはSi単独ターゲットを
使用する反応性スパッターで基板へSiN, SiOな
どの誘電体膜を付与し、プラスチック基板素地へのアン
ダーコート及び光磁気膜や相変化膜上の保護層とする. また,光磁気膜や相変化膜などの信号記録薄膜を付与す
るスパッタ一室49Bのターゲット45bは、付与膜近
似の組成で構成する場合もあるが、シリンドリ力ルター
ゲットの表層を付与膜組成の単或分または分割成分の
ターゲット材を周上に分割配置し、Coスパッターする
ことにより、均一性の良好な膜組成と特性を効率良く得
ることができる.さて、スパッタ一室内のパレットの公
転により,膜付与の終了したパレット42は、空になっ
た前後移動プレート46のフックに吊り下げられる.そ
の直後,移動プレート46はロードロック機構44によ
って後退され、パレット移動チャンパー43のパレット
移動列に復帰し,成膜処理後のパレットが前後移動プレ
ート46から外され図中矢印方向に移動すると共に、次
の処理前のパレットが前後移動プレート46のフックに
吊り下げられる.以下,上述の動作が繰り返し行われ、
必要層数の多層膜の形成が終了する. 以上のように、本実施例のスパッター装置によれば、第
8図乃至第1l図に示した従来のスパッター装置に比べ
て、低コストで且つ高品位のディスク基板の量産が容易
に実施可能となる.また、本実施例におけるスパッター
装置では、円周回転型のスパッタ一室と、直線移動型の
チャンバーとの組合せにより、機構の簡略化とシステム
のコンパクト化を容易に図ることができる。
移送チャンバー43とスパッタ一室はシールが開放され
た状態となるが、パレット移送チャンバー43内はスバ
ッタ一室と同レベルの真空に排気されているのでスパッ
タ一室内の雰囲気変動はスパッター放電に影響を与えず
、また、A,B,Cの各スバッター室は同時に開放しな
いタイミングで動作するので相互の影響は回避される.
さて、各スバッターチャンパー49のスバッター室49
A, 49B, 49Gに挿入されたパレット42は、
スパッター室内のパレットハンガー46のフックに受け
渡され、パレット下端に位置するパレット自公転疑動機
構47によってシリンドリカルターゲット45a, 4
5b, 45cの周囲を公転すると共に、パレット42
に設けた回軸機構によって個々の基板41が自転する. ここで、第6[及び第7図に示す構成のスバッター装置
では、光磁気ディスクや相変化型光ディスク用基板の成
膜を行う場合、l層目と3層目の成膜を行うスパッター
室49A , 49Cに設置されるシリンドリカルター
ゲット45a , 45cには、SiN ,SiQ等の
誘電体化合物を用いるか、またはSi単独ターゲットを
使用する反応性スパッターで基板へSiN, SiOな
どの誘電体膜を付与し、プラスチック基板素地へのアン
ダーコート及び光磁気膜や相変化膜上の保護層とする. また,光磁気膜や相変化膜などの信号記録薄膜を付与す
るスパッタ一室49Bのターゲット45bは、付与膜近
似の組成で構成する場合もあるが、シリンドリ力ルター
ゲットの表層を付与膜組成の単或分または分割成分の
ターゲット材を周上に分割配置し、Coスパッターする
ことにより、均一性の良好な膜組成と特性を効率良く得
ることができる.さて、スパッタ一室内のパレットの公
転により,膜付与の終了したパレット42は、空になっ
た前後移動プレート46のフックに吊り下げられる.そ
の直後,移動プレート46はロードロック機構44によ
って後退され、パレット移動チャンパー43のパレット
移動列に復帰し,成膜処理後のパレットが前後移動プレ
ート46から外され図中矢印方向に移動すると共に、次
の処理前のパレットが前後移動プレート46のフックに
吊り下げられる.以下,上述の動作が繰り返し行われ、
必要層数の多層膜の形成が終了する. 以上のように、本実施例のスパッター装置によれば、第
8図乃至第1l図に示した従来のスパッター装置に比べ
て、低コストで且つ高品位のディスク基板の量産が容易
に実施可能となる.また、本実施例におけるスパッター
装置では、円周回転型のスパッタ一室と、直線移動型の
チャンバーとの組合せにより、機構の簡略化とシステム
のコンパクト化を容易に図ることができる。
以上説明したように、本発明によれば、光磁気ディスク
や相変化型光ディスク等の基板への威膜を効率良く且つ
均質に行うことができ、しかも量産性に優れ,且つ処理
コストをも低減し得るスバッター装置を提供することが
できる. また,本発明によれば、コンパクト化と成膜処理の量産
化とを同時に図り得るスバッター装置を提供することが
できる.
や相変化型光ディスク等の基板への威膜を効率良く且つ
均質に行うことができ、しかも量産性に優れ,且つ処理
コストをも低減し得るスバッター装置を提供することが
できる. また,本発明によれば、コンパクト化と成膜処理の量産
化とを同時に図り得るスバッター装置を提供することが
できる.
第l図は本発明の一実施例を示しスパッター装置を上方
から見たときの断面図、第2図は同上装置の第1図I−
1線断面図、第3図は第1図に示す構成のスバッター装
置の連結例を示す図、第4図は本発明の別の実施例を示
しスパッター装置を上方から見たときの断面図、第5図
は第4図A方向から見たときのスバッター装置の透視図
、第6図は本発明のさらに別の実施例を示しスバッター
装置を上方から見たときの断面図、第7図は同上装置を
前方から見たときの断面図、第8図及び第10図は夫々
従来技術によるスバッター装置を上方から見たときの断
面図、第9図及び第11図は夫々第8図及び第10図に
示す装置を前方から見たときの断面図である. 1,21.41・・・・基板、2, 24. 42・・
・・基板保持部材、4,29,49・・・・円形スパツ
ターチャンバー5. 25, 45a , 45b ,
45c ”円筒形シリンドリカルターゲット、7,4
7・・・・機構.第 l 図 〜管 h1 2 図
から見たときの断面図、第2図は同上装置の第1図I−
1線断面図、第3図は第1図に示す構成のスバッター装
置の連結例を示す図、第4図は本発明の別の実施例を示
しスパッター装置を上方から見たときの断面図、第5図
は第4図A方向から見たときのスバッター装置の透視図
、第6図は本発明のさらに別の実施例を示しスバッター
装置を上方から見たときの断面図、第7図は同上装置を
前方から見たときの断面図、第8図及び第10図は夫々
従来技術によるスバッター装置を上方から見たときの断
面図、第9図及び第11図は夫々第8図及び第10図に
示す装置を前方から見たときの断面図である. 1,21.41・・・・基板、2, 24. 42・・
・・基板保持部材、4,29,49・・・・円形スパツ
ターチャンバー5. 25, 45a , 45b ,
45c ”円筒形シリンドリカルターゲット、7,4
7・・・・機構.第 l 図 〜管 h1 2 図
Claims (3)
- 1.円筒形シリンドリカルターゲットと、このターゲッ
トが中心に配置された円形スパッターチャンバーと、該
チャンバー内の上記ターゲットの周りに等間隔に多数配
設され基板面がターゲットと対向するように基板を保持
する基板保持部材と、該基板保持部材を上記ターゲット
を中心に公転する手段とを備え、上記ターゲットと対向
する多数の基板面に同時に成膜するスパッター装置。 - 2.円筒形シリンドリカルターゲットと、このターゲッ
トが中心に配置された円形スパッターチャンバーと、該
チャンバー内の上記ターゲットの周りに等間隔に多数配
設され基板面がターゲットと対向するように基板を保持
する基板保持部材と、該基板保持部材を上記ターゲット
を中心に公転する手段とを備え、上記基板保持部材とし
て、基板を一枚づつ出し入れ可能な筒状カセットを上下
2段に設け、上下何れか一方側の筒状カセットに予め収
納された多数枚の基板を順次一枚づつ他方側の筒状カセ
ットに移送してカセットの出口に位置し上記ターゲット
と対向する基板が成膜されるように構成したスパッター
装置。 - 3.円筒形シリンドリカルターゲットを中心に配した複
数の円形スパッターチャンバーと、各チャンバー内の上
記ターゲットの周りに等間隔に多数配設され基板面がタ
ーゲットと対向するように基板を保持する基板保持部材
と、該基板保持部材を上記ターゲットを中心に公転する
手段と、各円形スパッターチャンバー間に配置され基板
を枚葉単位若しくは上記基板保持部材に装着された状態
で順次移送する移送路と、該移送路と円形スパッターチ
ャンバーとを連結し円形スパッターチャンバーに基板を
出し入れするエクスチェンジャーとを備え、複数の円形
スパッターチャンバーで順次成膜を行うことによって多
層膜の形成を可能としたスパッター装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19080189A JPH0356668A (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | スパッター装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19080189A JPH0356668A (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | スパッター装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0356668A true JPH0356668A (ja) | 1991-03-12 |
Family
ID=16263971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19080189A Pending JPH0356668A (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | スパッター装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0356668A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5215420A (en) * | 1991-09-20 | 1993-06-01 | Intevac, Inc. | Substrate handling and processing system |
| JP2002180558A (ja) * | 2000-04-28 | 2002-06-26 | Sekisui Chem Co Ltd | 建 物 |
| JP2008223110A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜処理装置 |
| US20110132756A1 (en) * | 2009-12-03 | 2011-06-09 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Sputtering device |
| TWI450992B (zh) * | 2009-12-23 | 2014-09-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 濺鍍裝置 |
| JP2014209404A (ja) * | 2008-10-22 | 2014-11-06 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 高エネルギーイオンを使用する磁気薄膜のパターン化 |
| US9263078B2 (en) | 2008-02-12 | 2016-02-16 | Applied Materials, Inc. | Patterning of magnetic thin film using energized ions |
| US9997386B2 (en) | 2008-09-30 | 2018-06-12 | Canon Anelva Corporation | Substrate holder mounting device and substrate holder container chamber |
-
1989
- 1989-07-24 JP JP19080189A patent/JPH0356668A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5215420A (en) * | 1991-09-20 | 1993-06-01 | Intevac, Inc. | Substrate handling and processing system |
| JP2002180558A (ja) * | 2000-04-28 | 2002-06-26 | Sekisui Chem Co Ltd | 建 物 |
| JP2008223110A (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 薄膜処理装置 |
| US9263078B2 (en) | 2008-02-12 | 2016-02-16 | Applied Materials, Inc. | Patterning of magnetic thin film using energized ions |
| US9997386B2 (en) | 2008-09-30 | 2018-06-12 | Canon Anelva Corporation | Substrate holder mounting device and substrate holder container chamber |
| JP2014209404A (ja) * | 2008-10-22 | 2014-11-06 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 高エネルギーイオンを使用する磁気薄膜のパターン化 |
| US20110132756A1 (en) * | 2009-12-03 | 2011-06-09 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Sputtering device |
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