JPH0356866A - 誘電体材料定数の測定方法および測定装置 - Google Patents
誘電体材料定数の測定方法および測定装置Info
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- JPH0356866A JPH0356866A JP19206989A JP19206989A JPH0356866A JP H0356866 A JPH0356866 A JP H0356866A JP 19206989 A JP19206989 A JP 19206989A JP 19206989 A JP19206989 A JP 19206989A JP H0356866 A JPH0356866 A JP H0356866A
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Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａｉ産業上の利用分野
この発明は誘電体材料定数の測定方法および測定装置に
関し、特に誘電体試料の温度特性を測定するための方法
および装置に関する。
関し、特に誘電体試料の温度特性を測定するための方法
および装置に関する。
（ｂ）従来の技術
誘電体試料をシールドケース内に配置して、ＴＥＯＩ，
，（一般的にはｎ−１）あるいはＴＥｏ１δモードの共
振周波数を測定し、ついで、このケースを恒温槽に入れ
て加熱し、熱的に平衡状態に近づけた後、再び共振周波
数を測定してその温度特性を測定する方法が知られてい
る。
，（一般的にはｎ−１）あるいはＴＥｏ１δモードの共
振周波数を測定し、ついで、このケースを恒温槽に入れ
て加熱し、熱的に平衡状態に近づけた後、再び共振周波
数を測定してその温度特性を測定する方法が知られてい
る。
ところが、恒温槽を用いる方法では装置が大型になるば
かりでなく、誘電体試料が所定の温度まで上昇して平衡
状態に達するまでに長時間を要してしまう。
かりでなく、誘電体試料が所定の温度まで上昇して平衡
状態に達するまでに長時間を要してしまう。
そこで、本願出願人は特開昭６２−２１１５６６号にて
、誘電体試料を直接高周波加熱することによって上記従
来の問題点を解消した、誘電体材料定数の測定方法およ
び測定装置について出厠している。
、誘電体試料を直接高周波加熱することによって上記従
来の問題点を解消した、誘電体材料定数の測定方法およ
び測定装置について出厠している。
ここで上記出願の実施例について簡単に示す。
第３図は装置の概略図であり、同図において１４は有底
円筒状のシールドケースであり、このシールドケース１
４の内部の略中央部に支持棒ｌ８によって、中空筒状の
誘電体試料１６が固定されている。また、シールドケー
ス１４の側壁には対向する位置に入力用コネクタ３０お
よび出力用コネクタ３２が取り付けられ、それぞれに結
合ループなどの結合手段が設けられている。この入力用
コネクタ３０および出力用コネクタ３２間にネソトワー
クアナライザ３４が接続されている。さらに、シールト
ケースｌ４の側壁にはもう１つのコネクタ３６が取り付
けられ、このコネクタ３６にも結合ループなどの結合手
段が設けられている。このコ不クタ３６に加熱用高周波
注入装置３８が接続されている。
円筒状のシールドケースであり、このシールドケース１
４の内部の略中央部に支持棒ｌ８によって、中空筒状の
誘電体試料１６が固定されている。また、シールドケー
ス１４の側壁には対向する位置に入力用コネクタ３０お
よび出力用コネクタ３２が取り付けられ、それぞれに結
合ループなどの結合手段が設けられている。この入力用
コネクタ３０および出力用コネクタ３２間にネソトワー
クアナライザ３４が接続されている。さらに、シールト
ケースｌ４の側壁にはもう１つのコネクタ３６が取り付
けられ、このコネクタ３６にも結合ループなどの結合手
段が設けられている。このコ不クタ３６に加熱用高周波
注入装置３８が接続されている。
このような測定装置において、加熱用高周波注入装置３
８が誘電体共振器１２内に高周波電力を注入する。これ
により誘電体試料１６が高周波加熱される。一方、不ソ
トワークアナライザ３４はコネクタ３０および３２間に
結合された誘電体共振器１２の共振周波数などを測定す
る。
８が誘電体共振器１２内に高周波電力を注入する。これ
により誘電体試料１６が高周波加熱される。一方、不ソ
トワークアナライザ３４はコネクタ３０および３２間に
結合された誘電体共振器１２の共振周波数などを測定す
る。
このようにして誘電体試料１６が所定温度であるときの
共振周波数を測定することによって誘電体試料の温度特
性を求めることができる。
共振周波数を測定することによって誘電体試料の温度特
性を求めることができる。
（Ｃｌ発明が解決しようとする課題
ところが、前述した高周波加熱による誘電体材料定数の
測定方法および測定装置の例では、講電体共振器の共振
周波数を測定するために非常に高価なネットワークアナ
ライザを用いるため、測定装置全体が高価で大型になる
という問題があったこの発明の目的は、高価な一般のネ
ットワークアナライザを用いないで誘電体共振器の共振
周波数を測定できるようにして上記従来の問題点を解消
した、誘電体材料定数の測定方法および測定装置を提供
することにある。
測定方法および測定装置の例では、講電体共振器の共振
周波数を測定するために非常に高価なネットワークアナ
ライザを用いるため、測定装置全体が高価で大型になる
という問題があったこの発明の目的は、高価な一般のネ
ットワークアナライザを用いないで誘電体共振器の共振
周波数を測定できるようにして上記従来の問題点を解消
した、誘電体材料定数の測定方法および測定装置を提供
することにある。
ｆ［１）課題を解決するための手段
この発明の誘電体材料定数の測定方法は、シールドケー
ス内に誘電体試料を配置するとともに、信号の人出力用
の複数の結合手段を設けて講電体共振器を構成し、 信号入力用結合手段と信号出力用結合手段間に増幅回路
を含む正帰還回路を接続して前記講電体共振器とともに
発振回路を構成し、 特定の結合手段に高周波電力を注入して前記誘電体試料
を加熱することによって前記発振回路の発振周波数の変
化を測定し、この発振周波数の変化から前記講電体試料
の所定の材料定数を求めることを特徴としている。
ス内に誘電体試料を配置するとともに、信号の人出力用
の複数の結合手段を設けて講電体共振器を構成し、 信号入力用結合手段と信号出力用結合手段間に増幅回路
を含む正帰還回路を接続して前記講電体共振器とともに
発振回路を構成し、 特定の結合手段に高周波電力を注入して前記誘電体試料
を加熱することによって前記発振回路の発振周波数の変
化を測定し、この発振周波数の変化から前記講電体試料
の所定の材料定数を求めることを特徴としている。
また、この発明の誘電体材籾定数の測定装置は、シール
ドケース内に誘電体試料が配置され、信号入出力用の複
数の結合手段が設けられた誘電体共振器と、 信号入力用結合手段と信号出力用結合手段間に接続され
て、誘電体共振器とともに発振回路を構戊する、増幅回
路を含む正帰還回路と、前記発振回路の発振周波数を測
定する周波数測定手段と、 特定の結合手段に高周波電力を注入して前記誘電体試料
を加熱する高周波電力注入手段と、からなり、前記語電
体試料が加熱される前後の発振周波数から誘雷体試料の
所定の材料定数を求めることを特徴としている。
ドケース内に誘電体試料が配置され、信号入出力用の複
数の結合手段が設けられた誘電体共振器と、 信号入力用結合手段と信号出力用結合手段間に接続され
て、誘電体共振器とともに発振回路を構戊する、増幅回
路を含む正帰還回路と、前記発振回路の発振周波数を測
定する周波数測定手段と、 特定の結合手段に高周波電力を注入して前記誘電体試料
を加熱する高周波電力注入手段と、からなり、前記語電
体試料が加熱される前後の発振周波数から誘雷体試料の
所定の材料定数を求めることを特徴としている。
ｔｅｌ作用
この発明の誘電体材料定数の測定方法および測定装置に
おいては、シールドケース内に誘電体試料が配置される
とともに、信号の入出力用の結合手段が複数個設けられ
て、先ず誘電体共振器が構成される。前記結合手段の信
号入力部と信号出力部間に増幅回路を含む正帰還回路が
接続されて、前記講電体共振器とともに発振回路が構成
される。前記信号人力部および信号出力部の結合手段は
所定のモードに結合する手段が選ばれ、正帰還回路もそ
の所定のモードで発振するよう、ループ長が発振周波数
における波長の整数倍となるように選ばれる。したがっ
て、この正帰還回路によって誘電体共振器は所定モード
で共振する。周波数測定手段は前記発振回路の発振周波
数すなわち誘電体共振器の共振周波数を測定する。一方
、高周波電力注入手段は特定の結合手段に高周波電力を
注入する。これによって誘電体試料に高周波電磁界が印
加され、誘導加熱の原理で加熱される。このように誘電
体試料の加熱の前後における発振回路の発振周波数すな
わち誘電体共振器の共振周波数の変化から誘電体試料の
共振周波数の塩度係数などの所定の材料定数を求めるこ
とができる。
おいては、シールドケース内に誘電体試料が配置される
とともに、信号の入出力用の結合手段が複数個設けられ
て、先ず誘電体共振器が構成される。前記結合手段の信
号入力部と信号出力部間に増幅回路を含む正帰還回路が
接続されて、前記講電体共振器とともに発振回路が構成
される。前記信号人力部および信号出力部の結合手段は
所定のモードに結合する手段が選ばれ、正帰還回路もそ
の所定のモードで発振するよう、ループ長が発振周波数
における波長の整数倍となるように選ばれる。したがっ
て、この正帰還回路によって誘電体共振器は所定モード
で共振する。周波数測定手段は前記発振回路の発振周波
数すなわち誘電体共振器の共振周波数を測定する。一方
、高周波電力注入手段は特定の結合手段に高周波電力を
注入する。これによって誘電体試料に高周波電磁界が印
加され、誘導加熱の原理で加熱される。このように誘電
体試料の加熱の前後における発振回路の発振周波数すな
わち誘電体共振器の共振周波数の変化から誘電体試料の
共振周波数の塩度係数などの所定の材料定数を求めるこ
とができる。
（ｆ）実施例
第１図はこの発明に用いられる測定装置の構成図、第２
図（Ａ），（Ｂ）は測定装置に用いられる誘電体共振器
の縦断面図である。第１図において１２は誘電体共振器
であり、同図では、その概略横断面を示している。この
誘電体共振器工２は、例えばアルξニュームあるいはそ
の合金などの導電材料からなるシールドケースを含む。
図（Ａ），（Ｂ）は測定装置に用いられる誘電体共振器
の縦断面図である。第１図において１２は誘電体共振器
であり、同図では、その概略横断面を示している。この
誘電体共振器工２は、例えばアルξニュームあるいはそ
の合金などの導電材料からなるシールドケースを含む。
このシールドケースは円筒状部５０を側壁とし、下部に
底板５１を取り付け、上部に蓋５２を被せて構成してい
る。なお、このシールドケースはセラ多ソクのような誘
電体にシールド電極を形成したものを用いてもよい。
底板５１を取り付け、上部に蓋５２を被せて構成してい
る。なお、このシールドケースはセラ多ソクのような誘
電体にシールド電極を形成したものを用いてもよい。
第２図（Ａ）， （Ｂ）に示すように、シールドケー
ス内には低誘電率の誘電体例えばフォルステライトなど
からなる円筒状の支持台５３によって中空円筒状の誘電
体試料１６を！！置することによって、この誘電体試料
ｌ６をシールドヶース内の略中央部に固定している。シ
ールドヶースの一部を構成する前記側壁５０には第２図
（Ａ）に示すように誘電体試料１６の中央高さ位置２箇
所にコネクタ３０および３２を設けている。これらのコ
ネクタにはそれぞれ中心魂体とアース間に結合ルーブ３
０ａおよび３２ａを設けている。また、第１図および第
２図（Ｂ）に示すように側壁５０の他の位置には誘電体
試料１６の中央高さと異なる高さにコネクタ３６を設け
ている。このコネクタ３６の中心導体とアース間に結合
ルーブ３６ａを設けている。さらに、側壁５０の他の箇
所に誘電体試料の温度測定用窓５４および真空排気用排
気孔５５を設けている。真空排気装置４９はシールドケ
ース内を真空にして、空気の対流および熱伝導による外
部への熱流出を防止し、また、側壁５０と底板５１から
なるシールドケースに対して蓋５２を一定圧力で真空吸
着させるためのものである。
ス内には低誘電率の誘電体例えばフォルステライトなど
からなる円筒状の支持台５３によって中空円筒状の誘電
体試料１６を！！置することによって、この誘電体試料
ｌ６をシールドヶース内の略中央部に固定している。シ
ールドヶースの一部を構成する前記側壁５０には第２図
（Ａ）に示すように誘電体試料１６の中央高さ位置２箇
所にコネクタ３０および３２を設けている。これらのコ
ネクタにはそれぞれ中心魂体とアース間に結合ルーブ３
０ａおよび３２ａを設けている。また、第１図および第
２図（Ｂ）に示すように側壁５０の他の位置には誘電体
試料１６の中央高さと異なる高さにコネクタ３６を設け
ている。このコネクタ３６の中心導体とアース間に結合
ルーブ３６ａを設けている。さらに、側壁５０の他の箇
所に誘電体試料の温度測定用窓５４および真空排気用排
気孔５５を設けている。真空排気装置４９はシールドケ
ース内を真空にして、空気の対流および熱伝導による外
部への熱流出を防止し、また、側壁５０と底板５１から
なるシールドケースに対して蓋５２を一定圧力で真空吸
着させるためのものである。
以上のように構成した誘電体共振器に次に述べる各種回
路装置を接続することによって測定装置を構成している
。方向性結合器４０はコネクク３２および同軸ケーブル
５６からの信号を分配して周波数カウンタ４３およびロ
ーバスフィルタ４１へそれぞれ供給する。ローバスフィ
ルタ４１は誘電体共振器１２がＴＥｏ＋δモードで発振
する周波数を濾波し、その他の高次のモードで発振する
周波数或分をカブトする。アンブ４２はローパスフィル
タ４１の出力信号を増幅して同軸ケーブル５７、同軸コ
ネクタ３０および結合ルーブ３０ａを介して誘電体共振
器１２へ信号を加える。前記同軸ケーブル５６．方向性
結合器４０， ローパスフィルタ４１，アンプ４２お
よび同軸ケーブル５７は誘電体共振器１２に対する正帰
還回路として作動させる。すなわちこの正帰還回路によ
る位相差がＴ Ｅ ｏ ｌδモードの共振周波数におけ
る波長の整数倍となるように線路長を設定している。従
って誘電体共振器１２と正帰還回路からなる発振回路は
誘電体共振器１２の共振周波数で発振する。周波数カウ
ンタ４３はこの発振回路の発振周波数を測定する。
路装置を接続することによって測定装置を構成している
。方向性結合器４０はコネクク３２および同軸ケーブル
５６からの信号を分配して周波数カウンタ４３およびロ
ーバスフィルタ４１へそれぞれ供給する。ローバスフィ
ルタ４１は誘電体共振器１２がＴＥｏ＋δモードで発振
する周波数を濾波し、その他の高次のモードで発振する
周波数或分をカブトする。アンブ４２はローパスフィル
タ４１の出力信号を増幅して同軸ケーブル５７、同軸コ
ネクタ３０および結合ルーブ３０ａを介して誘電体共振
器１２へ信号を加える。前記同軸ケーブル５６．方向性
結合器４０， ローパスフィルタ４１，アンプ４２お
よび同軸ケーブル５７は誘電体共振器１２に対する正帰
還回路として作動させる。すなわちこの正帰還回路によ
る位相差がＴ Ｅ ｏ ｌδモードの共振周波数におけ
る波長の整数倍となるように線路長を設定している。従
って誘電体共振器１２と正帰還回路からなる発振回路は
誘電体共振器１２の共振周波数で発振する。周波数カウ
ンタ４３はこの発振回路の発振周波数を測定する。
温度センサ４４は例えば放射温度計からなり、講電体共
振器の窓部５４を通して誘電体試料ｌ６の放射熱を測定
する。信号発生器４６は制御装置４５から与えられた特
定の周波数信号を発生する。ハイパワーアンブ４７はそ
の信号を電力増幅する。Ｑｅ調整機構４８は結合ループ
３６ａの外部Ｑ （Ｑｅ）を調整するとともに、ハイパ
ワーアンブ４７の出力をコネクタ３６を介して誘電体共
振器１２内へ注入する。このとき、結合ルーブ３６ａは
第２図（Ｂ）に示すように、誘電体試料の中央高さから
少しずれた位置に設けたため、ＴＥ．，。δモードの電
磁界に鈷合し、これにより誘電体試料ｌ６が発熱する。
振器の窓部５４を通して誘電体試料ｌ６の放射熱を測定
する。信号発生器４６は制御装置４５から与えられた特
定の周波数信号を発生する。ハイパワーアンブ４７はそ
の信号を電力増幅する。Ｑｅ調整機構４８は結合ループ
３６ａの外部Ｑ （Ｑｅ）を調整するとともに、ハイパ
ワーアンブ４７の出力をコネクタ３６を介して誘電体共
振器１２内へ注入する。このとき、結合ルーブ３６ａは
第２図（Ｂ）に示すように、誘電体試料の中央高さから
少しずれた位置に設けたため、ＴＥ．，。δモードの電
磁界に鈷合し、これにより誘電体試料ｌ６が発熱する。
ＴＥＱＩ１＋δモードは同図に示すように誘電体試料の
中央高さ位置で電磁界密度が略０であるため、第２図（
Ａ）に示した周波数測定系の信号人出力用結合ループ３
０ａ，３２ａには結合しない。従って、前記発振回路に
は影響を与えない。
中央高さ位置で電磁界密度が略０であるため、第２図（
Ａ）に示した周波数測定系の信号人出力用結合ループ３
０ａ，３２ａには結合しない。従って、前記発振回路に
は影響を与えない。
第１図に示した制御装置４５はパーソナルコンピュータ
などから構成し、前記周波数カウンタ４３および温度セ
ンサ４４の測定結果をそれぞれ読み込み、上記信号発生
器４６を制御する。
などから構成し、前記周波数カウンタ４３および温度セ
ンサ４４の測定結果をそれぞれ読み込み、上記信号発生
器４６を制御する。
ところで、誘電体試料１６を含む誘電体共振器１２の無
負荷Ｑ（Ｑｏ）は次式で与えられる。
負荷Ｑ（Ｑｏ）は次式で与えられる。
１／ロｏ−（１／Ｑｊ＋） ＋ （１／Ｑａｚ）
＋ （１／Ｑｃ ）ここでＱｄｌは誘電体試料の誘
電損失に関するＱＯ，２は支持台５３の読電損失に関す
るＱ、Ｏｃはシールドケースのジュール損に関するＱで
ある？のような誘電体共振器１２に対し、高周波電力を
注入する際、結合ループ３６ａの外部Ｑ （Ｑｅ）を講
電体共振器１２の無負荷Ｑ（ＱＯ）に近似ないし一致さ
せると、注入される高周波電力の殆どが誘電体共振器■
２に吸収される。このとき、信号発生器４６の出力する
信号の周波数を講電体共振器ｌ２の共振周波数に一致さ
せることによって、誘電体共振器（結合ループ）からの
反射を最小にする。このことによって、誘電体共振器に
注入される高周波電力のうちＱｏ／Ｑ■の割合で誘電体
試料１６が加熱され発熱する。このことにより誘電体試
料ｌ６の温度が上昇する。
＋ （１／Ｑｃ ）ここでＱｄｌは誘電体試料の誘
電損失に関するＱＯ，２は支持台５３の読電損失に関す
るＱ、Ｏｃはシールドケースのジュール損に関するＱで
ある？のような誘電体共振器１２に対し、高周波電力を
注入する際、結合ループ３６ａの外部Ｑ （Ｑｅ）を講
電体共振器１２の無負荷Ｑ（ＱＯ）に近似ないし一致さ
せると、注入される高周波電力の殆どが誘電体共振器■
２に吸収される。このとき、信号発生器４６の出力する
信号の周波数を講電体共振器ｌ２の共振周波数に一致さ
せることによって、誘電体共振器（結合ループ）からの
反射を最小にする。このことによって、誘電体共振器に
注入される高周波電力のうちＱｏ／Ｑ■の割合で誘電体
試料１６が加熱され発熱する。このことにより誘電体試
料ｌ６の温度が上昇する。
一般に誘電体試料の周波数の温度係数巻τ，は次式で与
えられる． τｆ ＝（１／ｆ１）（ｆ２ −ｆｌ）／（Ｔ２ −Ｔ
Ｉ）ここでＴ１は加熱前の温度、Ｔ２は加熱後の温度、
ｆｌは温度Ｔ１における共振周波数、ｆ２は温度Ｔ２に
おける共振周波数である。
えられる． τｆ ＝（１／ｆ１）（ｆ２ −ｆｌ）／（Ｔ２ −Ｔ
Ｉ）ここでＴ１は加熱前の温度、Ｔ２は加熱後の温度、
ｆｌは温度Ｔ１における共振周波数、ｆ２は温度Ｔ２に
おける共振周波数である。
すなわち２点の温度について誘電体共振器の共振周波数
を゛測定することによって、誘電体試料の周波数の温度
係数を求めることができる。具体的には制′４Ｂ装置４
５は温度センサ４４により加熱前の誘電体試料の温度Ｔ
１を測定するとともに周波数カウンタ４３により、その
ときの共振周波数ｆ１を読み込む．その後、信号発生器
４６へ制御信号を発生して、ＴＥｏ＋＋。δモードの共
振周波数に等しい周波数の信号を発生させる。これによ
り誘電体試料１６は高周波加熱される。温度センサ４４
の測定値を基に、誘電体試料ｌ６の温度が所定値Ｔ２に
達し平衡状態となったとき、周波数カウンタ４３の測定
値ｆ２を読み込む。なお、厳密には誘電体試料１６の温
度上昇に伴い、誘電体共振器の共振周波数が変化するた
め、誘電体試料ｌ６の加熱期間中にも制御装置４５は周
波数カウンタ４３の測定結果を読み込み、ＴＥ０，，，
δモードの共振周波数に等しい周波数の高周波電力を注
入するように信号発生器４６を制御する。
を゛測定することによって、誘電体試料の周波数の温度
係数を求めることができる。具体的には制′４Ｂ装置４
５は温度センサ４４により加熱前の誘電体試料の温度Ｔ
１を測定するとともに周波数カウンタ４３により、その
ときの共振周波数ｆ１を読み込む．その後、信号発生器
４６へ制御信号を発生して、ＴＥｏ＋＋。δモードの共
振周波数に等しい周波数の信号を発生させる。これによ
り誘電体試料１６は高周波加熱される。温度センサ４４
の測定値を基に、誘電体試料ｌ６の温度が所定値Ｔ２に
達し平衡状態となったとき、周波数カウンタ４３の測定
値ｆ２を読み込む。なお、厳密には誘電体試料１６の温
度上昇に伴い、誘電体共振器の共振周波数が変化するた
め、誘電体試料ｌ６の加熱期間中にも制御装置４５は周
波数カウンタ４３の測定結果を読み込み、ＴＥ０，，，
δモードの共振周波数に等しい周波数の高周波電力を注
入するように信号発生器４６を制御する。
上述の例では、誘電体試料１６の周波数の温度係数を測
定したが、周波数の温度係数は誘電体試料の誘電率の温
度係数と誘電体試料の線膨張係数との間に一定の関係式
が戊り立つため、例えば講電体試料の線膨張係数を他の
測定手段により予め測定しておくことによって、周波数
の温度係数から誘電体試料の誘電率の温度係数を求める
こともできる。
定したが、周波数の温度係数は誘電体試料の誘電率の温
度係数と誘電体試料の線膨張係数との間に一定の関係式
が戊り立つため、例えば講電体試料の線膨張係数を他の
測定手段により予め測定しておくことによって、周波数
の温度係数から誘電体試料の誘電率の温度係数を求める
こともできる。
Ｉｇ）発明の効果
この発明によれば、シールドケース内に誘電体試料を配
置してなる誘電体共振器に対して正帰還回路を接続して
発振回路を構成したことにより、この発振回路の発振周
波数を測定することによって誘電体共振器の共振周波数
を測定することが可能となる。このため、従来用いられ
ていた高価なネットワークアナライザが不要となり、測
定装置全体を小型且つ安価に構成することができる。
置してなる誘電体共振器に対して正帰還回路を接続して
発振回路を構成したことにより、この発振回路の発振周
波数を測定することによって誘電体共振器の共振周波数
を測定することが可能となる。このため、従来用いられ
ていた高価なネットワークアナライザが不要となり、測
定装置全体を小型且つ安価に構成することができる。
第１図はこの発明の実施例を示す概略ブロノク図である
。第２図（Ａ）， （Ｂ）は第ｌ図に示した装置に用
いられる誘電体共振器の縦断面図であり、（Ａ）は周波
数測定系におけるモード、（Ｂ）は加熱系におけるモー
ドをそれぞれ示している。第３図は従来の測定装置の概
略ブロック図である。 １２ １６ ３０ ３２ ３０ ３６ ３６ ５０ ５１ ５２ ５３ ー誘電体共振器、 一誘電体試料、 信号入力用コネクタ、 信号出力用コネクタ、 ａ，３２ａ一結合ループ、 一高周波電力注入用コネクタ、 ａ一結合ループ、 側壁、 底板、 蓋、 一支持台。 第 ２ 図（Ａ） 第 ２ 図 （Ｂ） ３６ａ 第 ３ 図 ７３４ ゝ３８
。第２図（Ａ）， （Ｂ）は第ｌ図に示した装置に用
いられる誘電体共振器の縦断面図であり、（Ａ）は周波
数測定系におけるモード、（Ｂ）は加熱系におけるモー
ドをそれぞれ示している。第３図は従来の測定装置の概
略ブロック図である。 １２ １６ ３０ ３２ ３０ ３６ ３６ ５０ ５１ ５２ ５３ ー誘電体共振器、 一誘電体試料、 信号入力用コネクタ、 信号出力用コネクタ、 ａ，３２ａ一結合ループ、 一高周波電力注入用コネクタ、 ａ一結合ループ、 側壁、 底板、 蓋、 一支持台。 第 ２ 図（Ａ） 第 ２ 図 （Ｂ） ３６ａ 第 ３ 図 ７３４ ゝ３８
Claims (2)
- （１）シールドケース内に誘電体試料を配置するととも
に、信号の入出力用の複数の結合手段を設けて誘電体共
振器を構成し、 信号入力用結合手段と信号出力用結合手段間に増幅回路
を含む正帰還回路を接続して前記誘電体共振器とともに
発振回路を構成し、 特定の結合手段に高周波電力を注入して前記誘電体試料
を加熱することによって前記発振回路の発振周波数の変
化を測定し、この発振周波数の変化から前記誘電体試料
の所定の材料定数を求めることを特徴とする誘電体材料
定数の測定方法。 - （２）シールドケース内に誘電体試料が配置され、信号
入出力用の複数の結合手段が設けられた誘電体共振器と
、 信号入力用結合手段と信号出力用結合手段間に接続され
て、誘電体共振器とともに発振回路を構成する、増幅回
路を含む正帰還回路と、 前記発振回路の発振周波数を測定する周波数測定手段と
、 特定の結合手段に高周波電力を注入して前記誘電体試料
を加熱する高周波電力注入手段と、からなり、前記誘電
体試料が加熱される前後の発振周波数から誘電体試料の
所定の材料定数を求めることを特徴とする誘電体材料定
数の測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19206989A JP2504204B2 (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | 誘電体材料定数の測定方法および測定装置 |
| US07/550,161 US5119034A (en) | 1989-07-12 | 1990-07-09 | Method of measuring dielectric material constants and measuring device employed therefor |
| GB9015226A GB2234826B (en) | 1989-07-12 | 1990-07-11 | Method of measuring dielectric material constants and measuring device employed therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19206989A JP2504204B2 (ja) | 1989-07-24 | 1989-07-24 | 誘電体材料定数の測定方法および測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0356866A true JPH0356866A (ja) | 1991-03-12 |
| JP2504204B2 JP2504204B2 (ja) | 1996-06-05 |
Family
ID=16285112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19206989A Expired - Fee Related JP2504204B2 (ja) | 1989-07-12 | 1989-07-24 | 誘電体材料定数の測定方法および測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2504204B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2876635B2 (ja) | 1989-08-17 | 1999-03-31 | 株式会社村田製作所 | 誘電体共振器 |
-
1989
- 1989-07-24 JP JP19206989A patent/JP2504204B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2504204B2 (ja) | 1996-06-05 |
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