JPH0357430B2 - - Google Patents

Description

請求の範囲 １ イメージ事象の位置座標を表わす出力信号を
発生する放射線イメージング装置の固有ひずみ特
性を補正するための方法において、次の段階： 最初のオフライン・テスト過程において得られ
た直交平行線パターンテスト・データを使用して
予め定められた個数のイメージ事象点において空
間ひずみ補正係数を計算すること、 計算された補正係数をオフライン・テスト過程
において得られ、一様なイメージ照射によつて得
られたイメージ事象データを含むイメージ・フイ
ールド・テスト・データに対応して修正するこ
と、 イメージング装置のイメージ事象データ出力信
号の補正に使用するため修正された空間ひずみ補
正係数を記憶装置に蓄積することから構成される
ことを特徴とするシンチレーシヨンカメラの空間
ひずみ補正方法。

２ 補正係数修正段階において前に計算された空
間ひずみ補正係数がこの補正係数を使用して補正
されたイメージ事象データの単位セル面積毎のイ
メージ事象密度の勾配を使用して反復法によつて
修正され、反復法の各段階においてイメージ事象
密度の勾配がそれぞれ異る大きさのイメージ面積
に亘つて計算されることを特徴とする請求の範囲
第１項記載の空間ひずみ補正方法。

３ 放射線イメージング装置からのオンラインイ
メージ形成過程中にイメージ事象座標を表わす出
力信号を受け、この出力信号と蓄積されている修
正された空間ひずみ補正係数からイメージ事象座
標調整用の補正係数を計算する段階を含むことを
特徴とする請求の範囲第１項記載の空間ひずみ補
正方法。

４ 予め定められた個数のイメージ事象点におい
て隣接する４アレイ点で区画された面積内のイメ
ージ事象位置座標を決める出力信号中のイメージ
事象座標の一部を受取る段階と、記憶装置から４
アレイ点で区画された面積に対する修正されたひ
ずみ補正係数を読出す段階と、この読み出された
修正空間ひずみ補正係数と出力信号のイメージ事
象座標の受取られた部分に補間計算を行つてイメ
ージ事象の座標調整用の補正係数を求める段階が
追加されていることを特徴とする請求の範囲第３
項記載の空間ひずみ補正方法。

５ 放射線イメージング装置からの出力信号とイ
メージ事象再配置用補正係数とを組合わせてイメ
ージ形成装置又はイメージ事象座標分析装置で使
用される調整された正しいイメージ事象座標信号
を作る段階が追加されていることを特徴とする請
求の範囲第４項記載の空間ひずみ補正方法。

６ 座標調整用の補正係数を計算する段階がイメ
ージ形成装置から出力信号が受取られる度にその
出力信号に対して実行されることを特徴とする請
求の範囲第３項記載の空間ひずみ補正方法。

７ イメージ事象座標に応じてイメージを表示す
る装置を備える放射線イメージング装置に対する
空間ひずみを補正するための装置において、最初
のオフライン・テストにおいて得られた空間ひず
みとイメージ・フイールドの一様性を表わすイメ
ージテスト・データから計算された空間ひずみ補
正係数を予め定められたアレイ形式で蓄積する記
憶装置を備え、この記憶装置はイメージ事象座標
信号に応じてこの信号の表わす座標点を取囲む四
つの隣接アレイ点で区画された面積に対するひず
み補正係数信号を送り出すためのアドレス手段を
含むものであること、 このひずみ補正係数信号とイメージ事象信号に
応じてイメージ事象の再配置位置を決定する補間
装置を備え、この補間装置は送り出されたひずみ
補正信号と上記の四つの隣接アレイ点でかこまれ
た面積内でイメージ事象位置を決めるイメージ事
象座標データとを使用して二変数補間計算を行う
ものであること、 イメージ事象座標信号とイメージ事象位置調整
信号に応じてイメージング装置又はイメージ事象
座標分析装置で使用される修正されたイメージ事
象座標信号を出力として送り出す手段が設けられ
ていること を特徴とするシンチレーシヨンカメラの空間ひず
み補正装置。

８ ひずみ補正係数が最初のオフライン・テスト
過程中一様なイメージ照射のデータから得られた
イメージ事象密度の勾配によつて修正された直交
線パターン・イメージ・データから計算されるこ
とを特徴とする請求の範囲第７項記載の空間ひず
み補正装置。

９ データ出力信号がXY座標系上のイメージ事
象位置を表わすＸおよびＹアナログ信号であるこ
と、補間装置がＸおよびＹ信号の双方に対して
AD変換器を備えてＸおよびＹデイジタル信号と
すること、これらのＸおよびＹデイジタル表示が
共に2Nビツトのデイジタルデータ・フオーマツ
トによつていること、記憶装置のアドレツシング
装置が各イメージ事象を取囲む４アレイ点で区画
された面積を決定するＸおよびＹデイジタル信号
の特定数の高位ビツトに応動すること、補間装置
がこの４アレイ点で区画された面積内のイメージ
事象位置を表わすＸおよびＹデイジタル信号の特
定数の低位ビツトに応動することを特徴とする請
求の範囲第８項記載の空間ひずみ補正装置。

１０ 記憶装置に蓄積されているひずみ補正係数
がＸおよびＹ座標においてＸおよびＹデイジタル
補正量を2^N-m×2^N-mアレイ形式で決定し（Ｎ−ｍ
はデイジタル情報の選ばれた高位ビツトの個数）、
補間装置は各イメージ事象座標を取囲む４近接ア
レイ点で区画された面積面のイメージ事象の座標
に対する空間ひずみ補正係数のデイジタル出力信
号に対して可能な2^m種類（ｍは情報の低位ビツト
の特定数）の二変数補間操作の一つを遂行するこ
とを特徴とする請求の範囲第９項記載の空間ひず
み補正装置。

発明の要約 シンチレーシヨンカメラ又はそれに類似したイ
メージ形成装置の空間ひずみを補正する方法と装
置。空間ひずみ補正方法は実際のシンチレーシヨ
ンカメラのオンライン診断使用に先立つオフライ
ン・テスト測定ならびに分析過程において補正係
数を精確に決定する。ひずみ補正係数は最初テス
ト測定中に直交平行線パターンのイメージによつ
て得られるイメージ事象（イベント）データを使
用して決定される。均一・フイールド・フラツ
ド・イメージからのデータもテスト測定中このデ
ータの一つの関数の勾配を利用してひずみ補正係
数を精緻化し修正するために使用される。シンチ
レーシヨンカメラのイメージの位置を再調整する
装置も設けられ、この装置はメモリを備え補正係
数を予め定められたアレイの形で記憶する。シン
チレーシヨンカメラとそれに付属するイメージ表
示装置のオンライン使用中イメージ位置再調整装
置はシンチレーシヨンカメラからのデータをメモ
リに蓄積されているひずみ補正係数に従つて変更
する。ある実施例ではイメージ事象データが事象
毎に再調整あるいは補正される。

発明の背景 発明の分野 この発明は広くはシンチレーシヨンカメラとイ
メージ形成表示装置に関し、更に限定すればシン
チレーシヨンカメラの空間ひずみを補正する方法
と装置に関する。

従来の技術 シンチレーシヨンカメラとそれに組合わされた
イメージ表示装置によつて得られるイメージある
いはイメージ・データのひずみは主として点源感
度（ポイントソース・センシテイビテイ）の変動
と空間的のひずみによるものである。現在入手で
きるアンガー型と呼ばれているシンチレーシヨン
カメラではカメラの設計が良好であり適切な調整
が行われているとき点源感度の変動は１−２％以
内にとどめることができる。空間ひずみはシンチ
レーシヨン事象の位置決めの系統的誤差に起因す
る。この場合シンチレーシヨン装置内の位置の関
数としての光分布に非線型変化が起り事象はイメ
ージ全面においてのその正しい位置に表示されな
い。その結果イメージが局部的に縮小又は拡大さ
れイメージ強度分布が誤つたものに変化する。従
つてイメージ内の個々の事象の位置の変化が視覚
的に認められることはないが空間ひずみはイメー
ジ強度の著しい不均一性を引き起す。

シンチレーシヨンカメラの空間ひずみと表示強
度の不均一性を補正するために従来種々の方法が
試みられて来た。

従来のひずみ補正方法の一つでは特定の区域に
おけるイメージ事象の全カウント数を以前に得ら
れたフイールドフラツド情報に基いて増加又は減
小させる。しかしこの方法では不均一性の主原因
である空間ひずみを正しく補償することは不可能
である。

1973年７月10日Ｇ・Muehllehnerに付与された
米国特許第3745345号で提案されている別の補正
方法ではアンガーカメラの空間ひずみを測定して
座標補正係数を求めている。これらの座標補正係
数はカメラとイメージ表示装置内に蓄積されイメ
ージの補正に使用される。補正係数は予め定めら
れた面積を持つイメージ素面毎に分割されて蓄積
される。マツプと呼ばれている補正前のデイジタ
ルイメージ・データはアナライザに集められる。
一つの例ではイメージ事象カウント情報がイメー
ジ素面毎に集められ、座標補正係数に従つて新し
いイメージ区域位置に再分配される。座標補正係
数を各シンチレーシヨン事象に対応する信号の補
正に利用する装置も提案されている。座標補正係
数は点源による正規アレイから対応するイメージ
点位置において求められる。点源のアレイは孔を
明けた板を使用して、この板を予め定められた
種々の方向に移動させ移動毎に露出して多重露出
を実施することによつて求められる。

更に別のひずみ補正方法においては平行線パタ
ーンを使用し、点源によつてイメージ面を走査
し、イメージ面全体にフイールド・フラツド照明
を実施する。全面フイールドフラツド技術ではフ
イールドフラツドの勾配が補正のための移動の指
示に利用される。

上記の既知補正方法は一般にそれぞれの目的に
適したものであるがアンガー型シンチレーシヨン
カメラ又は同種の装置において空間ひずみ特性を
更に効果的に修正する方法と装置を提供すること
も望まれている。

発明の概括 この発明の目的はシンチレーシヨンカメラとイ
メージ形成装置の空間ひずみ特性を補正するため
の改良された方法と装置を提供することである。

正確なイメージを与えるるための事象位置調整
に役立つひずみ補正係数を求める改良方法を提供
することもこの発明の目的である。

シンチレーシヨンカメラの事象信号の位置を実
時間ベースで事象毎に高い精度で調節する方法と
装置を提供することもこの発明の目的である。こ
の場合事象位置は蓄積されている補正係数アレイ
に従つて精確に調整される。

端的に言えば、そしてこの発明の一つの実施例
によれば、方法と装置は、シンチレーシヨンカメ
ラまたは同種のイメージ形成装置の空間ひずみを
補正するように形成される。空間ひずみ補正方法
は実際のオンライン診断に使用される前にオフラ
イン・テスト測定ならびに分析過程においてひず
み補正係数を精確に決定する。即ち補正係数は最
初に直交平行線パターンのイメージにつてテスト
測定中に得られたイメージ事象データから決定さ
れ、ユニフオーム・フイールド・フラツドイメー
ジからのデータによりテスト測定中にひずみ補正
係数がフイールドフラツドイメージ・データの一
つの関数の勾配を使用して修正され精確化され
る。シンチレーシヨンカメラのイメージ位置調整
装置のメモリには補正係数が予め定められたアレ
イとして記憶される。シンチレーシヨンカメラと
イメージ表示装置のオンライン使用中イメージ位
置再調整装置はシンチレーシヨンカメラからのデ
ータをメモリに蓄積されているひずみ補正係数に
応じて修正する。ある実施例ではイメージ事象デ
ータが事象毎に調整されあるいは補正される。

これらの目的およびその他のこの発明の目的は
添付図面を参照して行なう次の詳細な説明によつ
て明確にされる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による空間ひずみ補正方法お
よび装置をシンチレーシヨンカメラおよびイメー
ジ表示装置と関連させて示したブロツク接続図で
ある。

第２図と第３図はこの発明のテスト測定に際し
て使用される平行線パターンマスクを第１図の装
置と関連して示す線図である。

第４図と第５図は第１図の装置によつてテスト
測定中に得られたイメージデータを表わす線図で
ある。

第６図乃至第９図はひずみ補正係数を求めるた
めのこの発明の分析手段を説明する線図である。

第１０図はこの発明の方法によつて決定された
ひずみ補正係数を表わすダイヤグラムである。

第１１図は平行線パターンによる分析手段によ
つて得られたひずみ補正係数の修正に対してテス
ト測定中に得られたフイールド・フラツド・イメ
ージデータを利用する分析技術を説明するための
ダイヤグラムである。

第１２図は第１図のイメージ位置調整装置のブ
ロツク構成図である。

第１３図は第１２図の装置の動作を説明する線
図である。

図において、１０はシンチレーシヨンカメラ、
１２はアナログ信号電圧出力線、１４はデータ記
憶装置、１６は汎用計算機、１８はイメージ位置
調整装置、１９は出力信号線、２０はイメージ表
示および調整装置、２１はデータ蓄積・分析装
置、２２は平行線パターンマスク、２４はシンチ
レーシヨンカメラの検出ヘツド、２６はγ線点源
である。

選ばれた実施例の詳細な説明 この発明による方法と装置は第１図に１０とし
て示したシンチレーシヨンカメラに適している。
このシンチレーシヨンカメラ１０はそれに表われ
るシンチレーシヨン事象を変換してカメラ１０に
設定された座標系に対する事象のｘ，ｙ座標を表
わす信号を発生する。シンチレーシヨンカメラの
中最も良く知られているのはアンガー型と呼ばれ
ているもので、その詳細は受けたガンマ線のイメ
ージ表示装置を形成するためのアンガー型カメラ
および付属装置の詳細な構造および動作について
説明した米国特許第3745345号明細書から知るこ
とができる。カメラ１０にはイメージ事象のｘ，
ｙ位置座標を表わすアナログ信号電圧出力線１２
を備えている。

この発明の要旨によりカメラ１０の空間ひずみ
特性はカメラ１０のオンライン動作（目的とする
対象物の測定を行う動作）に先立つオフライン・
テスト測定ならびに分析過程において精確に決定
される。

オフライン・テスト測定ならびに分析過程にお
いては平行線パターンのイメージの分析がパター
ンの直交座標軸に対応して二段ステツプで実施さ
れる。更にこの操作中フイールドフラツド・イメ
ージの分析も行われる。テスト測定と分析の過程
においてカメラ１０に表わされるイメージ事象の
データがｘ，ｙ信号線１２を通してデータ記憶装
置１４に導かれる。このデータは汎用計算機１６
により分析されてカメラ１０のイメージ面の全面
に存在するイメージ事象のそれぞれに対する補正
を表わすひずみ補正係数があらかじめ決定したア
レイの形で求められる。

このひずみ補正係数はイメージ位置調整装置１
８内に蓄積され、カメラ１０のオンライン・イメ
ージ形成（診断）に際して使用される。カメラ１
０による診断中イメージ位置調整装置１８は蓄積
されているひずみ補正係数を使用してｘ，ｙ信号
電圧出力線１２を通してカメラ１０から送られて
来たイメージ事象データをイメージ位置に応じて
補正する。イメージ位置座標とそれに対応して選
ばれたひずみ補正係数を使用する二変数補間計算
によりイメージ事象位置に対する補正移動ベクト
ルが決定される。この補正移動をカメラ１０から
与えられるイメージ事象座標に加えると補正され
たイメージ事象データが得られる。

イメージ位置調整装置１８は補正されたイメー
ジ事象データを出力信号線１９を通してイメージ
表示および調整装置２０に与え正しいイメージを
表示させる。補正されたイメージ事象をデータ蓄
積・分析装置２１に与えてイメージ表示および調
整装置２０に無関係にデータ分析を行なうように
することも可能である。特殊の構成においては、
イメージ位置調整装置の出力信号線１９における
補正された信号出力データはアナログおよびデイ
ジタルフオーマツトの両者を含む。

オフライン・テスト測定ならびに分析の経過の
詳細は次の通りである。まず平行線パターンマス
ク２２を特定の方向をもつてカメラ１０の検出ヘ
ツド２４の前に置く。γ線点源２６をカメラ検出
ヘツド２４から適当な距離に置き平行線パターン
マスク２２が一様にγ線照射されるようにする。
平行線パターンマスク２２は例えば鉛板より作る
ことができる。ｘ，ｙ信号出力線１２はオフライ
ン・テスト測定ならびに分析の進行中データ記憶
装置１４に接続されている。

オフライン・テスト中データ記憶装置１４はマ
スク２２に対応する平行線パターンを特定のデー
タ・フオーマツトによりデイジタル表示すること
に利用される。更にオフライン・テスト測定なら
びに分析中平行線パターンマスク２２は第１の特
定の方向に垂直な第２の特定の方向に置かれ、デ
ータ記憶装置１４を通してデイジタルフオーマツ
トの平行線パターンを表示するデータが得られ
る。

一つの実施例では第２図に示すように幅１mmの
平行なスリツト２８が15mm間隔で27本並んでいる
平行線パターンマスク２２が大きさ約400mmのカ
メラ面に対して使用される。平行なスリツト２８
間のマスク２２の位置は３０で示されている。こ
のマスクの鉛板の厚さは例えば３mmである。

カメラ１０の固有の空間ひずみ特性を測定する
際にはまず平行線パターンマスク２２をそのスリ
ツト２８がカメラ１０の座標系のｙ軸に平行にな
るように置きｘ方向における空間ひずみ特性を測
定する。マスク２２には適当な標識を設けカメラ
１０の検出ヘツド２４の精確な位置決めができる
ようにする。例えば適当数の孔３１をマスクパタ
ーンの周辺に沿つて等間隔で設ける。第２図の平
行線パターンマスク２２を使用するとｙ軸に平行
な線パターンの影像がデータ記憶装置１４によつ
て予め定められたデータフオーマツトに従つて得
られる。

一つの実施例ではデータフオーマツトはデイジ
タルであり、データ記憶装置１４はAD変換器を
含みｘ，ｙ信号出力線１２のアナログデータをデ
イジタルデータに変換する。例えば情報の深さ８
ビツトで256×256のイメージ・データ・アレイが
記憶装置１４に蓄積される。更に256×256アレイ
の各位置において深さ12ビツトのイメージ情報を
集めるために９個のイメージ又は露光を利用する
ことができる。256×256アレイにおいて12ビツト
の深さを持つデータ記憶装置１４に対して適当な
長さの一回の露出を採用することも可能である。
データ記憶装置１４で得られるデイジタル情報表
示は第２図のｙ軸方向に置かれた平行線パターン
マスクに対応してカメラ１０の空間ひずみを含ん
でいる。

オフライン・テスト測定および分析の次の段階
では平行線パターンマスク２２を第３図に示すよ
うにそのスリツト２８がｘ軸に平行となるように
置いてカメラ１０のｙ軸方向の空間ひずみ特性を
測定する。ここでもデータ記憶装置１４は平行線
パターンマスク２２のイメージのデイジタル表示
を集めて各点のデータ深さ12ビツトの256×256ア
レイとして蓄積する。これによつてカメラ１０の
ｙ方向のひびみ特性を表わすマツプが得られる。

ｙ方向に置かれた平行線パターンマスク２２を
使用するオフライン・テスト測定および分析によ
つて得られたデイジタル・イメージ・データの画
像表示である第４図にはカメラ１０の空間ひずみ
が誇張して示されている。一つのイメージ線２８
ａの一部が拡大して右側に示されている。破線２
８が理想線で、矢印がそれからの偏差を現わす。
同様にｘ方向に置かれたマスクを使用したときの
イメージ線２８ａのひずみ（ｙ軸方向の空間ひず
み）を拡大して第５図に示す。ここでも理想線２
８からの偏差（ｙ方向偏差）が矢印で表わされて
いる。

直交平行線パターンのイメージから求められデ
ータ記憶装置１４に蓄積されたイメージ表示デー
タは分析用の計算機１６に導かれ補正係数のアレ
イが作られる。これをΔ（ｘ，ｙ）で表わす。
これらの補正係数は測定で求められたイメージデ
ータを空間ひずみのないカメラによつてマスク２
２に対して作られた正しいイメージ・データと比
較することによつて得られる。

この発明によれば計算機１６の分析プログラム
は平行線パターンの位置を数値的に決定する。イ
メージ線２８ａの位置はイメージ面座標系に対し
て等間隔を保つてｘ方向に引いた直線の中の予め
定められた本数に対して決定される。第６図に示
したｘ方向のサンプル線３２，３４および３６は
その中の三本を示している。これらの三本のサン
プル線のそれぞれから第７図に示すピーク・デー
タ・パターン４０が得られる。このピークパター
ン４０はｙ方向データのピークをｘ方向にプロツ
トして作られたものである。ピーク４２，４４，
４６等は平行線パターンマスクを使用する測定に
よつて得られデータ記憶装置１４に蓄積されたイ
メージデータのｙ線位置に対応する。各ｙ線ピー
クのｘ座標をカメラ１０の座標面上の原ｙ線のｘ
座標と比較することによりカメラ１０のｘ方向の
空間ひずみ特性を決定することができる。一例を
挙げれば最初のピーク４２はx₀で生じているが空
間ひずみがないときの最初のｙ線の正しい位置座
標はx₁である。第７図に示したのと同様なピーク
データが予め定められた本数のｘ方向サンプル線
３２，３４，３６，…に対して分析されｘ方向に
おける空間ひずみ特性が決定される。

この発明の一つの実施例ではデイジタルイメー
ジ表示パターンがカメラ１０の表示面のｙ方向に
64回繰り返して測定され第７図に示したようなピ
ークパターン４０の64本について分析される。

第７図のピークデータを実際に測定されたｘ座
標とｘ軸上の正しいピーク位置についてプロツト
すると第８図が得られる。第８図の各点例えば５
０，５２等は測定点であり直線５４はｙ線データ
のピークの正しい位置と測定された位置との間に
偏差がないときのプロツトを示している。従つて
プロツト点５８と直線５４の間の垂直間隔５６は
測定されたピーク位置と一つのｘ方向サンプル線
上の一つのｙ線の正しい位置との間の偏差を表わ
している。これと同様な偏差が測定点５０，５
２，５８等について求められこれをそのｘ座標に
応じて配置すると第９図の偏差曲線が得られる。
カメラ面を横切る一つのｘサンプル線の全長では
このようなピーク偏差が27回起る。この偏差は第
９図に×印で示されている。一つのｘ方向のサン
プル線に対してプロツトされた曲線上の各点はそ
れぞれのｘ座標位置においてのカメラ１０のｘ座
標ひずみを表わしている。例えば第９図の矢印５
６で示された偏差は第８図の測定点５８に対応し
ｘ座標x_iにおいてのｘ方向のひずみを表わす。第
９図の偏差曲線の形と特徴に応じ、又統計分析の
原理に従つて曲線合せ分析を行うことによりカメ
ラ１０の特定のｘ方向サンプル線に沿つたｘ方向
のひずみ曲線６０に最も適合した関数を決定する
ことができる。曲線合せに要求される精度に応じ
て適当な曲線合せ分析法が選定される。

第７図と第８図に示したピーク分析によつて求
められた第９図の曲線６０にはマスク２２の27本
のスリツト線に対応して27の測定ピーク点（×印
で示す）がある。従つてひずみ補正係数の64×64
アレイを得ようとすれば最適合曲線６０とそれを
表わす多項関数を利用してカメラ１０のｘ軸上に
規則正しく分布した64個のアレイ点のそれぞれに
おいてのひずみ補正係数を決定する。これから補
間法により27個の原測定点から64個のひずみ補正
係数が求められる。カメラ面上で空間ひずみは
徐々に変化しある狭い範囲内で急激に変化するこ
とがないからこのように少数の測定点から補間に
よつて多数の点を計算して決めることも正当視さ
れる。この計算によつて求められた64個の補正係
数データは第９図の曲線６０上の〇印で示されて
いる。

このようにして計算機１６は第６図に３２，３
４および３６として示されている64本のｘ方向サ
ンプル線のそれぞれに対してｘ方向に規則正しく
分布する64個の補正移動係数を計算する。これに
よつてカメラ面上に想定された等間隔で分布する
特定のアレイの各アレイ点におけるひずみ補正移
動係数の64×64アレイが得られる。この発明にお
いて補正移動係数のアレイを作るための分析方法
は補間法に限らず種々の方法が利用されることは
明らかである。又補正係数アレイも64×64以外の
例えば256×256アレイとすることも可能である。
更に平行線パターン・マスク２２の平行線本数も
27に限らずその他の本数の平行線パターン・マス
クを使用することができる。

同様にして第３図と第５図に示すｘ方向の線パ
ターンについての分析とそれによつて得られるデ
イジタルデータも記憶装置１４に蓄積され、計算
機１６によつてｙ方向ひずみ補正係数の64×64ア
レイが計算される。このようにしてテスト測定お
よび分析過程において求められた直交平行線パタ
ーン・イメージの分析結果はｘひずみ補正係数と
ｙひずみ補正係数とを含む64×64アレイ即ち補正
係数Δ（ｘ，ｙ）の64×64アレイである。その
各アレイ点Δ（xi，yi）は補正係数ベクトルで
あり実際に測定されたイメージ事象点と空間ひず
みがないときのイメージ事象点に対応する正しい
イメージ点との間の距離を表わしている。カメラ
１０のｘ，ｙ信号電圧出力線１２に対応するイメ
ージ事象点に加えるひずみ補正係数ベクトルは試
験測定ならびに分析過程において求められた補正
ベクトルに対して逆向きである。これは測定され
た補正ベクトルがイメージ事象点をひずみを持つ
測定点から正しいイメージ事象点に移すための補
正ベクトルに対して180゜回転していることによ
る。第１０図には64×64アレイの隣接する４個の
アレイ点においてひずみ補正係数がその方向と大
きさを表わすベクトルとして記入されている。各
ベクトルはｘ方向とｙ方向のひずみ補正係数を含
んでいる。

前に述べたように、フイールド・フラツド・イ
メージの分析（ガンマカメラを空間的に均一な強
度で照射したときに得られる不均一なイメージ輝
度の分析）もテスト測定ならびに分析過程中に実
施され得られたデイジタルイメージ表示データも
記憶装置１４に蓄積される。第１１図を参照し
て、このフイールド・フラツド・イメージデータ
は計算機１６に与えられ、補正係数Δ（ｘ，
ｙ）の64×64アレイの隣接する４個のアレイ点の
間に構成される単位セル面積内に起るイメージ事
象の実効個数（イメージ事象の測定された信号か
ら補正計算により得られる有効な、補正されたイ
メージデータの個数）が計算される。一例を挙げ
れば計算機１６は単位セル面積Ａ内のフラツドイ
メージ事象数（ガンマカメラを空間的に均一な強
度の放射線で照射したとき得られるイメージ事象
の数）で表わされるイメージ密度係数Ｆを計算し
た後続いてひずみ補正係数Δ（ｘ，ｙ）によつ
て各イメージ事象の位置が補正された後の単位セ
ル面積A′内に起り得るイメージ事象密度に対応
する実効イメージ事象密度F′_eff（ひずみのない、
又はひずみを補正した後のイメージ事象密度）を
計算する。これはｉセルに対するひずみ補正係数
Δ（xi，yi）によつて再調整された単位セル面
積A_ieffに対する測定された事象密度Fiと考えるこ
とができる。これによつて補正された単位セル面
積A′_ieffにおいての補正されたイメージ事象密度
F′_ieffが得られる。

F′_iellは一様な密度であつて、補正されたイメー
ジの総ての単位セル面積に対して等しくなる筈で
ある。補正係数アレイΔ（ｘ，ｙ）が補正され
たイメージ表示面においてこの一様密度を確実に
達成するようにするため補正された密度関数F′_eff
（ｘ，ｙ）の勾配を使用して補正係数Δ（ｘ，
ｙ）を修正する。特に、テスト期間中に測定され
記憶された密度関数F′_eff（ｘ，ｙ）から決定され
るF′_eff（ｘ，ｙ）の勾配すなわち変化を適当なス
ケール係数と共に使用してひずみ補正係数Δ
（xi，yi）を修正するに際してF′_eff（ｘ，ｙ）の勾
配を補正係数の修正対象となつている単位セルに
隣接する面積にまたがつて計算する。このように
して求められた関数F′_eff（ｘ，ｙ）の勾配とそれ
に関連するスケール係数は組合わせてδとして
表わす。これによつて直交平行線パターンのイメ
ージ分析によつて求められたひずみ補正係数Δ
（ｘ，ｙ）によつて修正されたひずみ補正係数Δ
Ｖ′（ｘ，ｙ）は次式で与えられる： Δ′（xi，yi）＝Δ（xi，yi）＋δ F′_eff（ｘ，ｙ）の勾配は単位セルｉの周囲の隣
接面積にまたがつて計算される、すなち各単位セ
ルから出発して隣接する単位セルへの変化が確認
されるのに対して補正係数の修正は反復法（イテ
レーシヨン）で行われる。即ち（ｎ＋１）次の代
入に際してｎ次の代入によつて得られた修正され
た補正係数が使用され、この手続が繰り返されて
補正係数が次第に修正され、最適性に近づく。最
初の修正には直交線パターン分析によつて得られ
た原補正係数Δ（ｘ，ｙ）が使用される。又反
復代入はセルｉに隣接する比較的狭い面積から始
め、代人を繰り返す毎に隣接面積を変えて行く。

関数F′_eff（ｘ，ｙ）の計算法を詳細に説明する
ため第１１図に示すように面積Ａの単位セルｉを
区画する四つのアレイ点においての補正係数ベク
トル₁，₂，₃，₄を考える。これらのベク
トル₁−₄はそれぞれのアレイ点と補正された
セル面積A′_effの四つの偶点との間の間隔を表わし
ている。補正されたセル面積A′_effは単位セルの原
面積Ａ内に起る総てのイメージ事象位置の調整の
結果作られるものでベクトル解析によつて構成す
ることができる。面積Ａのｉ番目の単位セルには
フイールド・フラツド・イメージ・データから計
算される密度関数F_iが与えられる。これから係数
F′_effが次の式で計算される： F′_ieff＝F_i×A_i／A′_ieff このようにして64×64アレイの総てのアレイ点
において密度係数F′_ieffが計算され、勾配計算を
行なうことにより予め定められた個数の単位セル
を含む特定面積においての関数F′_eff（ｘ，ｙ）の
勾配が決定される。

テスト測定ならびに分析の結果得られたものは
ひずみ補正係数Δ′（ｘ，ｙ）の64×64アレイ
である。この補正係数はイメージ位置調整装置１
８のメモリに蓄積され、カメラ１０と付属イメー
ジ形成装置のオンライン動作時にイメージ事象の
再配置に使用される。補正係数Δ′（ｘ，ｙ）
を最も効果的に利用するためには補正係数アレイ
をテスト測定ならびに分析過程において計算機１
６で計算された実際のｘおよびｙ補正係数Δ
（ｘ，ｙ）の和と差を含む係数C₁乃至C₈の形でメ
モリに蓄積する。係数C₁乃至C₈は次に説明する
がその一例はそれぞれ８ビツト情報を含んでい
る。

イメージ位置調整装置１８は第１２図に示すよ
うにｘ座標に対するAD変換器１００とｙ座標に
対するAD変換器１０２を含んでいる。これらの
AD変換器のアナログ入力端はそれぞれカメラ０
の信号出力線１２のｘ線又はｙ線に結ばれてい
る。イメージ事象が発生すると出力線１２にアナ
ログ信号が導かれ変換器１００と１０２はｘ，ｙ
アナログ信号をｘおよびｙ座標のそれぞれに対す
る12本のデータ出力線における12ビツトデイジタ
ルデータに変換する。変換器１００と１０２から
のｘおよびｙデイジタルデータに対する高位の６
本のデータ線１０４と１０６は係数メモリ１０８
のｘおよびｙアドレス入力端に結ばれている。係
数メモリ１０８の出力である係数C₁乃至C₈は６
ビツトｘアドレスデータ線１０４と６ビツトｙア
ドレスデータ線１０６に対応してデイジタル形成
でデータ線１１０に送り込まれる。

係数C₁乃至C₈は第１３図に示した原補正係数
ベクトルΔ（ｘ，ｙ）のｘ，ｙ成分を使用して
次の式で定義される： C₁＝V_1x C₂＝V_2x−V_1x C₃＝V_3x−V_1x C₄＝V_4x−V_3x−V_2x＋V_1x C₅＝V_1y C₆＝V_2y−V_1y C₇＝V_3y−V_1y C₈＝V_4y−V_3y−V_2y＋V_1y 出力線１１０は補間装置１１２の一つのデイジ
タル・データ入力端に結ばれている。補間装置１
１２の別の二つのデイジタル・データ入力端には
出力データ線１１４および１１６上のｘおよびｙ
デイジタル座標データの低次の６ビツトが導かれ
る。線１１４，１１６上のｘおよびｙ座標データ
の低次の６ビツトは第１３図に示した残留関数
R_xおよびR_yを表わすものである。

補間装置１１２は次式による二変数補間計算を
実施する： Δx＝C₁＋C₂R_x＋C₃R_y＋C₄R_xR_y Δy＝C₅＋C₆R_x＋C₇R_y＋C₈R_xR_y ここでR_xとR_yはアレイの単位セルにおいての
イメージ事象座標である。補間計算で求められた
ΔxとΔyは補間装置１１２のアナログ出力とな
る。

第一のアナログ出力Δxは加算増幅器１１８の
第一の入力端に導かれ、その第二の入力端にはカ
メラ１０からの信号線１２のx_aアナログデータが
導かれる。増幅器１１８の出力はイメージ事象の
補正されたｘ座標x_c＝Δx＋x_aでありイメージ表
示調整装置２０において使用される。同様に補間
装置１１２のアナログ出力Δyは加算増幅器１２
０の第一の入力端に導かれ、カメラ１０の信号線
１２からのy_aデータは増幅器１２０の第二の入力
端に導かれる。この増幅器の出力であるアナログ
値y_c＝Δy＋y_aはイメージ表示調整装置２０に与
えられる。

この発明の方法により直交線パターンのイメー
ジ分析に際して上記のフイールド・フラツド・イ
メージ・データの勾配による修正を行つて計算さ
れた補正係数をイメージ位置調整装置１８に導い
て補正を行なうとフイールド・フラツド密度の変
動が10％であるカメラ１０に対して密度変動をほ
ぼ１％にすることができる。これに比較して直交
線パターン・イメージ分析だけによつて得られた
ひずみ補正係数を使用する場合には上記のフイー
ルド・フラツド密度の変動が約４％低下するだけ
である。更にフイールド・フラツド・イメージ・
データの勾配だけを利用して得られたひずみ補正
係数を使用すると上記のフイールド・フラツド・
密度の変動が約３％に低下する。

カメラ１０の空間ひずみ特性がその使用期間中
ある程度変化することができる。これは光電増倍
管の取換え、その他の電子回路部品のドリフト、
劣化、再調整等に基く。これに対してはこの発明
の趣旨に従つてカメラ１０とイメージ位置調整装
置１８のイメージング特性のテストにおいて必要
と認められればひずみ補正係数を再評価して新た
な補正係数を求めプログラムを訂正する。平行線
パターンとフイールド・フラツドによるテストイ
メージングデータをカメラ使用現場において採集
し新しいひずみ補正係数をカメラ使用現場におけ
るテストデータから計算機１６によつて計算する
かあるいはカメラ製造業者の製造と試験の現場に
おいて計算する。更にこの発明によれば必要なひ
ずみ補正係数の修正には通常フイールド・フラツ
ド・テストのデータだけでよく、平行線パターン
は必要としないことが確められた。この場合フイ
ールド・フラツド・テストを実施するだけで始め
の平行線パターン・イメージの補正係数ΔV（ｘ，
ｙ）をフイールド・フラツド・テストのデータに
基き計算機１６によつて修正することができる。

これまでは事象の発生毎にその位置を調整する
場合について説明して来たが、この発明の方法は
総てのイメージデータが記録された後でイメージ
データの修正が行われるポストイメージ修正方式
によつても実施される。しかし事象を表わす信号
が発生する毎に実時間データ修正を実施してメモ
リ容積とイメージング過程全体の速度最適化する
方式がこの発明の実施に最も適している。又この
発明の一つの実施例ではイメージ位置調整装置１
８の機能が記憶されているプログラムに応じて計
算機によつて遂行される。しかし第１図と第１２
図に示したイメージ位置調整装置を使用する方が
有利である。

この発明の一つの有利な実施形態ではデータ記
憶装置１４と計算機１６がオフ・ライン・テスト
測定ならびに分析過程においてだけひずみ補正係
数を決定するために使用される。この場合記憶装
置１４と計算機１６はカメラ１０とその付属装置
から分離して一つのカメラ１０以上のカメラに対
して互に無関係にあるいは時分割方式で使用する
ことができる。更にイメージ位置調整装置１８は
カメラ１０のオンラインイメージング表示に際し
てだけ使用される。

この発明の種々の実施例を図面を参照して説明
したがこれらの実施形態には種々の変化と修正が
可能である。続く請求の範囲はこの発明の精神に
かないその範囲内にあると認められる総ての変化
と修正を包含する。