JPH0357452B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0357452B2 JPH0357452B2 JP57136520A JP13652082A JPH0357452B2 JP H0357452 B2 JPH0357452 B2 JP H0357452B2 JP 57136520 A JP57136520 A JP 57136520A JP 13652082 A JP13652082 A JP 13652082A JP H0357452 B2 JPH0357452 B2 JP H0357452B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light receiving
- scanning direction
- beams
- turned
- receiving section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、変調可能な複数のビームをポリゴン
ミラー等の走査装置を用いて偏向させて被走査面
上を同時に走査するマルチビーム走査装置に関す
るものであり、さらに詳しくは、被走査面上で印
字開始位置を決めるための信号（以下、SOS信号
という。）を検知するビーム位置検知方法に係わ
る。
ミラー等の走査装置を用いて偏向させて被走査面
上を同時に走査するマルチビーム走査装置に関す
るものであり、さらに詳しくは、被走査面上で印
字開始位置を決めるための信号（以下、SOS信号
という。）を検知するビーム位置検知方法に係わ
る。
上記マルチビーム走査装置はシングルビーム走
査装置に比べポリゴンミラーの回転数を低減する
ことができるので耐久性や振動の面から利点が大
きい。しかし、SOS信号の検知については各ビー
ム相互の関係が加わるので非常に難しくなる。
査装置に比べポリゴンミラーの回転数を低減する
ことができるので耐久性や振動の面から利点が大
きい。しかし、SOS信号の検知については各ビー
ム相互の関係が加わるので非常に難しくなる。
一つの方法として、ビーム発生装置の相互位置
を正確に決めておいて各ビームのうちの１つのビ
ーム位置のみを検出し、他のビームの位置は検知
されたビームの位置を補正してSOS信号とするや
り方が考えられる。
を正確に決めておいて各ビームのうちの１つのビ
ーム位置のみを検出し、他のビームの位置は検知
されたビームの位置を補正してSOS信号とするや
り方が考えられる。
例えば、第１図に示すように100μｍ間隔で発
光部をもつ半導体レーザー１を主走査方向に対し
てθ傾けて設置し、第２図に示す焦点距離５mmの
コリメータレンズ２、ポリゴンミラー３及び焦点
距離500mmのfθレンズ４とで被走査面上に投影す
る場合を考えると、100μｍのビーム間隔に対し
被走査面上で±30μｍの誤差を許容するとして
も、ビームは100倍に拡大されるので半導体レー
ザー１を傾ける角度θを sin-1（1/100±3/1000） の精度としなければならない。また、半導体レー
ザー１の各発光部を段階状にずらす場合は±0.3μ
ｍの精度でずらさねばならない。このような高精
度での半導体レーザーの配置或いは、製作は非常
に難しいものである。
光部をもつ半導体レーザー１を主走査方向に対し
てθ傾けて設置し、第２図に示す焦点距離５mmの
コリメータレンズ２、ポリゴンミラー３及び焦点
距離500mmのfθレンズ４とで被走査面上に投影す
る場合を考えると、100μｍのビーム間隔に対し
被走査面上で±30μｍの誤差を許容するとして
も、ビームは100倍に拡大されるので半導体レー
ザー１を傾ける角度θを sin-1（1/100±3/1000） の精度としなければならない。また、半導体レー
ザー１の各発光部を段階状にずらす場合は±0.3μ
ｍの精度でずらさねばならない。このような高精
度での半導体レーザーの配置或いは、製作は非常
に難しいものである。
上記方法の変形として、第３図に示すように被
走査面上でのビームの相互位置を各ビーム毎に設
けたミラー５，５，５で調整することが考えられ
る。即ち、各ミラー５，５，５を主走査方向と平
行な軸のまわりに回動してビーム間隔を調整する
とともに副走査方向と平行な軸のまわりに回動し
て各ビームの主走査方向の位置を調整するのであ
る。
走査面上でのビームの相互位置を各ビーム毎に設
けたミラー５，５，５で調整することが考えられ
る。即ち、各ミラー５，５，５を主走査方向と平
行な軸のまわりに回動してビーム間隔を調整する
とともに副走査方向と平行な軸のまわりに回動し
て各ビームの主走査方向の位置を調整するのであ
る。
しかし、この方法もミラー５，５，５の調整と
いう新たな調整要素が加わるうえにその調整が非
常に微妙なものであり、実際には難しい方法であ
る。
いう新たな調整要素が加わるうえにその調整が非
常に微妙なものであり、実際には難しい方法であ
る。
そこで各ビーム毎に別々にビーム位置を検知す
ることが考えられるが、通常のレーザービームプ
リンタでは走査線の間にすきまができないように
するために被走査面上ではビームがオーバーラツ
プするように設定されている（第４図）。例えば
ビーム間隔を100μｍとした場合、中心強度の
１／e2で定義したビーム径を被走査面上で200μｍ
程度になるように設定する訳である。しかしこの
ようなオーバーラツプは、各ビーム毎に設けられ
た検知装置が他のビームをも検知してしまい誤動
作の原因となる。
ることが考えられるが、通常のレーザービームプ
リンタでは走査線の間にすきまができないように
するために被走査面上ではビームがオーバーラツ
プするように設定されている（第４図）。例えば
ビーム間隔を100μｍとした場合、中心強度の
１／e2で定義したビーム径を被走査面上で200μｍ
程度になるように設定する訳である。しかしこの
ようなオーバーラツプは、各ビーム毎に設けられ
た検知装置が他のビームをも検知してしまい誤動
作の原因となる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので
あり、マルチビーム走査装置のビーム位置検知を
ビームがオーバーラツプしているにもかかわらず
各ビーム毎に精度よく検知できるビーム位置検知
方法を提供することを目的とする。
あり、マルチビーム走査装置のビーム位置検知を
ビームがオーバーラツプしているにもかかわらず
各ビーム毎に精度よく検知できるビーム位置検知
方法を提供することを目的とする。
上述の目的は、各ビームの位置を検知するため
の複数の受光部を各ビームの走査線上で主走査方
向にずらして配置し、ビームの点灯・対応する受
光部によるビームの検知・ビームの点灯を走査開
始側から検知されるビームの順におこなうことに
よつて達成される。即ち、ビームの点灯は受光部
にビームがさしかかる前におこなわれ、このビー
ムが検知されるとこのビームを消灯するとともに
次のビームを所定のタイミングで点灯し、以下順
次各ビームに対して点灯・検知・消灯をおこなう
のである。
の複数の受光部を各ビームの走査線上で主走査方
向にずらして配置し、ビームの点灯・対応する受
光部によるビームの検知・ビームの点灯を走査開
始側から検知されるビームの順におこなうことに
よつて達成される。即ち、ビームの点灯は受光部
にビームがさしかかる前におこなわれ、このビー
ムが検知されるとこのビームを消灯するとともに
次のビームを所定のタイミングで点灯し、以下順
次各ビームに対して点灯・検知・消灯をおこなう
のである。
このように制御することによつて各ビームの位
置を正確に検出することができる。
置を正確に検出することができる。
以下、図面を参照して本発明の各実施例を説明
する。
する。
第５図の実施例は複数のオーバーラツプするビ
ームB1，B2，B3，B4，B5に対し複数の受光素子
E1，E2，E3，E4，E5を各ビームの走査線上で互
いに主走査方向にずらして配置したものである。
このような受光素子からなる検知装置Ｍは便宜上
第３図に示すように被走査面である感光ドラム６
の側方に配置される。
ームB1，B2，B3，B4，B5に対し複数の受光素子
E1，E2，E3，E4，E5を各ビームの走査線上で互
いに主走査方向にずらして配置したものである。
このような受光素子からなる検知装置Ｍは便宜上
第３図に示すように被走査面である感光ドラム６
の側方に配置される。
各受光部の主走査方向の間隔は受光部の主走査
方向の大きさ、ビームの大きさ、走査方向の位置
誤差等からビームを点灯したとき前のビームに対
する受光部に影響しないことが必要である。ま
た、受光部の大きさは、副走査方向には入射光量
をできるだけ多くとるためビームの大きさを充分
カバーする大きさであることが望しく、主走査方
向には第６図に示すようにビームがガウスビーム
でありスレツシヨールドThをピークの中間にと
るのがもつとも誤差の影響を受けにくいためビー
ムの大きさの半分以上は必要である。
方向の大きさ、ビームの大きさ、走査方向の位置
誤差等からビームを点灯したとき前のビームに対
する受光部に影響しないことが必要である。ま
た、受光部の大きさは、副走査方向には入射光量
をできるだけ多くとるためビームの大きさを充分
カバーする大きさであることが望しく、主走査方
向には第６図に示すようにビームがガウスビーム
でありスレツシヨールドThをピークの中間にと
るのがもつとも誤差の影響を受けにくいためビー
ムの大きさの半分以上は必要である。
第５図の実施例において各ビームの消灯は第７
図に示すようにおこなわれる。即ち、最初のビー
ムB1がまず点灯され、このビームB1が受光素子
E1に検知されるとビームB1は消灯され、次にビ
ームB2が所定のタイミングで点灯され、このビ
ームB2が受光素子E2に検知されるとビームB2は
消灯され、以下これを順次ビームB5まで続ける。
図に示すようにおこなわれる。即ち、最初のビー
ムB1がまず点灯され、このビームB1が受光素子
E1に検知されるとビームB1は消灯され、次にビ
ームB2が所定のタイミングで点灯され、このビ
ームB2が受光素子E2に検知されるとビームB2は
消灯され、以下これを順次ビームB5まで続ける。
これによつて各受光素子E1〜E5からは検知信
号S1，S2，S3，S4，S5が各ビーム位置に対応して
出力される。そして、ビームB1は検知信号S1か
ら時間T1後、ビームB2は検知信号S2から時間T2
後というように各ビーム毎に一定時間遅延して印
字開始位置をそろえ印字をおこなう。
号S1，S2，S3，S4，S5が各ビーム位置に対応して
出力される。そして、ビームB1は検知信号S1か
ら時間T1後、ビームB2は検知信号S2から時間T2
後というように各ビーム毎に一定時間遅延して印
字開始位置をそろえ印字をおこなう。
第８図の実施例は１つの受光素子Eoを用い、
この受光素子Eoを主走査方向にずらされた開口
A1，A2，A3，A4，A5，A6を開けたスクリーン
SPで覆つたものである。この場合も制御は第７
図に示したようにおこなう。但し、検知信号S1〜
S6は１つの受光素子Eoから出力される。尚、本
発明においてビームB1〜B6は第８図に示すよう
に主走査方向に若干ずれていてもよい。
この受光素子Eoを主走査方向にずらされた開口
A1，A2，A3，A4，A5，A6を開けたスクリーン
SPで覆つたものである。この場合も制御は第７
図に示したようにおこなう。但し、検知信号S1〜
S6は１つの受光素子Eoから出力される。尚、本
発明においてビームB1〜B6は第８図に示すよう
に主走査方向に若干ずれていてもよい。
第５図のビームのオーバーラツプ状態を見ると
判るように、隣り同士のビームはオーバーラツプ
しているが離れたビーム同士はオーバーラツプし
ていない。
判るように、隣り同士のビームはオーバーラツプ
しているが離れたビーム同士はオーバーラツプし
ていない。
そこでビームをグループに分け受光素子を複数段
に並べることが考えられる。
に並べることが考えられる。
第９図は上記の考察に基づいた実施例で、ビー
ムB1，B2，B3に対する受光素子E1，E2，E3とビ
ームB4，B5，B6に対する受光素子E4，E5，E6と
に分け、夫々を副走査方向に２段に並べたもので
ある。
ムB1，B2，B3に対する受光素子E1，E2，E3とビ
ームB4，B5，B6に対する受光素子E4，E5，E6と
に分け、夫々を副走査方向に２段に並べたもので
ある。
第１０図はこれをさらに進展させ、ビームB1，
B2，B3に対して１つの受光素子EAをビームB4，
B5，B6に対して別の１つの受光素子EBを主走査
方向に対して傾けて設け、これら受光素子EA，
EBを各ビームに対する開口A1〜A6を有するスク
リーンSPで覆つたものである。この際、スクリ
ーンSPは各受光素子毎に設けてもよい。
B2，B3に対して１つの受光素子EAをビームB4，
B5，B6に対して別の１つの受光素子EBを主走査
方向に対して傾けて設け、これら受光素子EA，
EBを各ビームに対する開口A1〜A6を有するスク
リーンSPで覆つたものである。この際、スクリ
ーンSPは各受光素子毎に設けてもよい。
第１１図の実施例は１つの受光素子Eoを用い、
これを覆うスクリーンSPに２段に並んだ開口A1，
A2，A3，A4及びA5，A6，A7，A8を設けたもの
である。この場合各段の開口は互いに副走査方向
から見て重ならないように配置し、また、受光素
子としては応答性のよいものを用いる。
これを覆うスクリーンSPに２段に並んだ開口A1，
A2，A3，A4及びA5，A6，A7，A8を設けたもの
である。この場合各段の開口は互いに副走査方向
から見て重ならないように配置し、また、受光素
子としては応答性のよいものを用いる。
上述の通り本発明は、少なくとも第１、第２の
変調可能なビームで被走査面を同時に、かつ、各
ビームの照射が副走査方向においてほぼ一線上に
並ぶとともに隣接するビームの照射が互いにオー
バーラツプした状態で走査するマルチビーム走査
装置において、各ビームを受光して各ビームの位
置を検知するために各ビームの走査線上に設けら
れる各受光部を、第１のビームに対応する第１の
受光部が第２のビームに対応する第２の受光部に
対して主走査方向において先行するようにずらし
て配置し、第１のビームを第１の受光部に到達す
る前に点灯させ、その第１のビームが第１の受光
部によつて検出された後に隣り合う第２のビーム
を点灯させ、第１のビームを第１のビームが第２
の受光部に到達する前に消灯させるようにしたも
のであるから、ビームの照射が被走査面上でオー
バーラツプするにもかかわらず各ビームの位置を
正確に検知することができるものである。
変調可能なビームで被走査面を同時に、かつ、各
ビームの照射が副走査方向においてほぼ一線上に
並ぶとともに隣接するビームの照射が互いにオー
バーラツプした状態で走査するマルチビーム走査
装置において、各ビームを受光して各ビームの位
置を検知するために各ビームの走査線上に設けら
れる各受光部を、第１のビームに対応する第１の
受光部が第２のビームに対応する第２の受光部に
対して主走査方向において先行するようにずらし
て配置し、第１のビームを第１の受光部に到達す
る前に点灯させ、その第１のビームが第１の受光
部によつて検出された後に隣り合う第２のビーム
を点灯させ、第１のビームを第１のビームが第２
の受光部に到達する前に消灯させるようにしたも
のであるから、ビームの照射が被走査面上でオー
バーラツプするにもかかわらず各ビームの位置を
正確に検知することができるものである。
また、共通の受光素子を各ビームの走査線上主
走査方向にずらして開口を設けたスクリーンで覆
うようにすれば受光素子の数を減らすことができ
る。
走査方向にずらして開口を設けたスクリーンで覆
うようにすれば受光素子の数を減らすことができ
る。
さらにまた、各ビームをグループに分け夫々の
グループに対する受光部を副走査方向に複数段に
並べれば多くのビームを用いる場合でも検知装置
をコンパクトに構成することができる。
グループに対する受光部を副走査方向に複数段に
並べれば多くのビームを用いる場合でも検知装置
をコンパクトに構成することができる。
第１図は複数の発光部をもつ半導体レーザーを
示す図、第２，３図はマルチビーム走査装置のビ
ーム位置検知の一例として本発明者により提案検
討された方法を説明する図、第４図は複数のビー
ムの発光部と被走査面上における相互の関係を説
明する図、第５，８，９，１０，１１図は本発明
各実施例のビームと受光部との関係を説明する
図、第６図はビームと受光素子出力の関係を説明
する図、第７図は本発明のビーム位置検知方法の
制御を説明する図である。 １……半導体レーザー、Ｂ……ビーム、２……
コリメーターレンズ、Ｅ……受光素子、３……ポ
リゴンミラー、Ａ……開口、４……fθレンズ、Ｍ
……検知装置、５……ミラー、Ｓ……検知信号、
６……感光ドラム、SP……スクリーン。
示す図、第２，３図はマルチビーム走査装置のビ
ーム位置検知の一例として本発明者により提案検
討された方法を説明する図、第４図は複数のビー
ムの発光部と被走査面上における相互の関係を説
明する図、第５，８，９，１０，１１図は本発明
各実施例のビームと受光部との関係を説明する
図、第６図はビームと受光素子出力の関係を説明
する図、第７図は本発明のビーム位置検知方法の
制御を説明する図である。 １……半導体レーザー、Ｂ……ビーム、２……
コリメーターレンズ、Ｅ……受光素子、３……ポ
リゴンミラー、Ａ……開口、４……fθレンズ、Ｍ
……検知装置、５……ミラー、Ｓ……検知信号、
６……感光ドラム、SP……スクリーン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 少なくとも第１、第２の変調可能なビームで
被走査面を同時に、かつ、各ビームの照射が副走
査方向においてほぼ一線上に並ぶとともに隣接す
るビームの照射が互いにオーバーラツプした状態
で走査するマルチビーム走査装置において、 各ビームを受光して各ビームの位置を検知する
ために各ビームの走査線上に設けられる各受光部
を、第１のビームに対応する第１の受光部が第２
のビームに対応する第２の受光部に対して主走査
方向において先行するようにずらして配置し、 第１のビームを第１の受光部に到達する前に点
灯させ、その第１のビームが第１の受光部によつ
て検出された後に隣り合う第２のビームを点灯さ
せ、第１のビームを第１のビームが第２の受光部
に到達する前に消灯させるようにしたビーム位置
検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13652082A JPS5926005A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | マルチビ−ム走査装置におけるビ−ム位置検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13652082A JPS5926005A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | マルチビ−ム走査装置におけるビ−ム位置検知方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5926005A JPS5926005A (ja) | 1984-02-10 |
| JPH0357452B2 true JPH0357452B2 (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=15177093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13652082A Granted JPS5926005A (ja) | 1982-08-04 | 1982-08-04 | マルチビ−ム走査装置におけるビ−ム位置検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926005A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60230761A (ja) * | 1984-04-28 | 1985-11-16 | Nec Corp | 印字位置調整回路 |
| JP3535686B2 (ja) * | 1997-03-03 | 2004-06-07 | 株式会社リコー | マルチビームレーザ走査装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57102609A (en) * | 1980-12-18 | 1982-06-25 | Canon Inc | Method and device for scanning using plural number of beams |
-
1982
- 1982-08-04 JP JP13652082A patent/JPS5926005A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5926005A (ja) | 1984-02-10 |
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