JPH0358658B2 - - Google Patents
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- JPH0358658B2 JPH0358658B2 JP59150892A JP15089284A JPH0358658B2 JP H0358658 B2 JPH0358658 B2 JP H0358658B2 JP 59150892 A JP59150892 A JP 59150892A JP 15089284 A JP15089284 A JP 15089284A JP H0358658 B2 JPH0358658 B2 JP H0358658B2
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- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 3
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 10
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
- G01L1/248—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet using infrared
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、熱弾性効果を利用した応力画像表示
装置に関し、特にサンプリングのタイミングを自
動的に最適状態に設定することのできる応力画像
表示装置に関する。
装置に関し、特にサンプリングのタイミングを自
動的に最適状態に設定することのできる応力画像
表示装置に関する。
[従来の技術]
熱弾性効果を利用して非接触で短時間に応力分
布を測定し表示する装置が提案されている。この
提案装置は、被検体の応力集中部位の表面温度
が、圧縮荷重を受けた時上昇し、逆に引張荷重を
受けた時下降することに着目したものであり、荷
重を加えた時の温度(又ひ温度分布)から荷重な
し又は逆方向荷重を加えた時の温度(又は温度分
布)を差し引いて応力分布画像を得ている。
布を測定し表示する装置が提案されている。この
提案装置は、被検体の応力集中部位の表面温度
が、圧縮荷重を受けた時上昇し、逆に引張荷重を
受けた時下降することに着目したものであり、荷
重を加えた時の温度(又ひ温度分布)から荷重な
し又は逆方向荷重を加えた時の温度(又は温度分
布)を差し引いて応力分布画像を得ている。
[発明が解決しようとする問題点]
その際、良質の画像を得るためには、引張及び
圧縮荷重が極大の時の被検体表面温度をサンプリ
ングする必要があるが、従来はサンプリングのタ
イミングをオペレータが調節していたため、経験
と習熟が必要であつた。本発明はこの点に鑑みて
なされたものであり、サンプリングのタイミング
合わせを自動的に行うことのできる装置を提供す
ることを目的としている。
圧縮荷重が極大の時の被検体表面温度をサンプリ
ングする必要があるが、従来はサンプリングのタ
イミングをオペレータが調節していたため、経験
と習熟が必要であつた。本発明はこの点に鑑みて
なされたものであり、サンプリングのタイミング
合わせを自動的に行うことのできる装置を提供す
ることを目的としている。
[問題点を解決するための構成]
この目的を達成するため、本発明においては、
繰返し変動する荷重負荷をうける被検体を、荷重
負荷の2種のタイミングにおいて夫々赤外線検出
器で走査して得られる被検体の2種の温度分布デ
ータに基づいて応力分布画像を求めて表示する応
力画像表示装置において、前記荷重負荷の繰返し
周期と同じ繰返し周期を持つ第1のサンプリング
信号を発生する手段と、該第1のサンプリング信
号から前記荷重負荷の繰返し周期の半分の期間遅
れた第2のサンプリング信号を発生する手段と、
被検体を赤外線検出器で走査して得られる温度分
布データを夫々のサンプリング信号に同期してサ
ンプリングする手段と、第1のサンプリング信号
に同期してサンプリングされた温度分布データを
積分する第1の積分手段と、第2サンプリング信
号に同期してサンプリングされた温度分布データ
を積分する第2の積分手段と、夫々の積分手段の
出力の差を求める手段と、前記第1及び第2のサ
ンプリング信号の加重負荷に対する位相を複数段
階にわたつて変化させる位相可変手段と、前記差
検出手段の出力をモニタし、その出力が最も大き
くなる時の位相を検出する検出手段とを設け、該
検出手段によつて検出された位相に前記第1及び
第2のサンプリング信号の位相を固定するように
したことを特徴としている。
繰返し変動する荷重負荷をうける被検体を、荷重
負荷の2種のタイミングにおいて夫々赤外線検出
器で走査して得られる被検体の2種の温度分布デ
ータに基づいて応力分布画像を求めて表示する応
力画像表示装置において、前記荷重負荷の繰返し
周期と同じ繰返し周期を持つ第1のサンプリング
信号を発生する手段と、該第1のサンプリング信
号から前記荷重負荷の繰返し周期の半分の期間遅
れた第2のサンプリング信号を発生する手段と、
被検体を赤外線検出器で走査して得られる温度分
布データを夫々のサンプリング信号に同期してサ
ンプリングする手段と、第1のサンプリング信号
に同期してサンプリングされた温度分布データを
積分する第1の積分手段と、第2サンプリング信
号に同期してサンプリングされた温度分布データ
を積分する第2の積分手段と、夫々の積分手段の
出力の差を求める手段と、前記第1及び第2のサ
ンプリング信号の加重負荷に対する位相を複数段
階にわたつて変化させる位相可変手段と、前記差
検出手段の出力をモニタし、その出力が最も大き
くなる時の位相を検出する検出手段とを設け、該
検出手段によつて検出された位相に前記第1及び
第2のサンプリング信号の位相を固定するように
したことを特徴としている。
[作用]
第1のサンプリング信号に同期してサンプリン
グされた温度データが圧縮荷重時のデータで、第
2のサンプリング信号に同期してサンプリングさ
れた温度データが引張荷重時にデータであるとす
れば、サンプリングのタイミングが荷重の極大の
タイミングに一致した時、第1の積分手段の出力
値は最も大きく、第2の積分手段の出力値は最も
小さくなるため、その時差検出手段の出力は最大
となる。従つて、加重負荷に対するサンプリング
の位相は徐々に変えながら差検出手段の出力をモ
ニタすることにより荷重が極大のタイミングを知
ることができ、サンプリングのタイミングを自動
的に合わせることができる。
グされた温度データが圧縮荷重時のデータで、第
2のサンプリング信号に同期してサンプリングさ
れた温度データが引張荷重時にデータであるとす
れば、サンプリングのタイミングが荷重の極大の
タイミングに一致した時、第1の積分手段の出力
値は最も大きく、第2の積分手段の出力値は最も
小さくなるため、その時差検出手段の出力は最大
となる。従つて、加重負荷に対するサンプリング
の位相は徐々に変えながら差検出手段の出力をモ
ニタすることにより荷重が極大のタイミングを知
ることができ、サンプリングのタイミングを自動
的に合わせることができる。
[実施例]
以下、図面を用いて本発明の一実施例を詳説す
る。
る。
第1図は本発明を実施した応力画像表示装置の
一例を示すブロツク図である。図において1は被
検体、2は被検体1に荷重を印加する荷重試験
機、3は被検体1から発生する赤外線を検出する
ための赤外線検出器、4は赤外線検出器3の像ス
ポツトを被検体1上に結像すると共に、その像ス
ポツトを被検体1上でラスタ走査するための光ス
キヤナ、5は基準赤外線を発生する黒体炉であ
る。光スキヤナ4の走査に伴つて検出器3から得
られる検出信号は、増幅器6を介してクランプ回
路やリニアライザ等を含む処理回路7ほ送られ、
温度とリニアな関係を有する温度信号に変換され
る。得られた温度信号は、A−D変換器8によつ
てデジタル信号に変換された後、ゲート9a又は
9bを介して取出され、コンピユータ10へ送ら
れて付属するメモリ11a又は11bへ格納され
る。上記ゲート9a,9bを介して取出された信
号が供給される積分回路12a,12b、レジス
タ13a,13b及び差検出回路14が本発明に
おける特徴部分であり、差検出回路14の出力信
号はコンピユータ10へ送られ、付属するサンプ
リングタイミング合わせ用メモリ15へ格納され
る。
一例を示すブロツク図である。図において1は被
検体、2は被検体1に荷重を印加する荷重試験
機、3は被検体1から発生する赤外線を検出する
ための赤外線検出器、4は赤外線検出器3の像ス
ポツトを被検体1上に結像すると共に、その像ス
ポツトを被検体1上でラスタ走査するための光ス
キヤナ、5は基準赤外線を発生する黒体炉であ
る。光スキヤナ4の走査に伴つて検出器3から得
られる検出信号は、増幅器6を介してクランプ回
路やリニアライザ等を含む処理回路7ほ送られ、
温度とリニアな関係を有する温度信号に変換され
る。得られた温度信号は、A−D変換器8によつ
てデジタル信号に変換された後、ゲート9a又は
9bを介して取出され、コンピユータ10へ送ら
れて付属するメモリ11a又は11bへ格納され
る。上記ゲート9a,9bを介して取出された信
号が供給される積分回路12a,12b、レジス
タ13a,13b及び差検出回路14が本発明に
おける特徴部分であり、差検出回路14の出力信
号はコンピユータ10へ送られ、付属するサンプ
リングタイミング合わせ用メモリ15へ格納され
る。
16は前記ゲート9a,9bをON−OFFする
ゲート信号を作成するタイミング回路で、荷重試
験機2からの荷重信号が供給されるゼロクロス検
出回路17、コンピユータ10から指定された時
間ゼロクロス検出回路17からのパルス信号を遅
延させる可変遅延回路18、可変遅延回路18か
らのパルス信号を2系統に分配する分配器19、
分配器19からのパルス信号と前記光スキヤナ4
からの水平同期信号とに基づいて1水平走査分の
長さのゲート信号を発生するワンシヨツト回路2
0a,20bとから構成される。21はゲート9
bへ送られるサンプリングを分周する分周器で、
その分周出力はスイツチ22を介して前記光スキ
ヤナ4の垂直走査歩進用入力端子Vへ送られる。
この入力端子Vへは、スイツチ22を介して図示
しないパルス発生器からの連続歩進パルスSPを
供給することができる。
ゲート信号を作成するタイミング回路で、荷重試
験機2からの荷重信号が供給されるゼロクロス検
出回路17、コンピユータ10から指定された時
間ゼロクロス検出回路17からのパルス信号を遅
延させる可変遅延回路18、可変遅延回路18か
らのパルス信号を2系統に分配する分配器19、
分配器19からのパルス信号と前記光スキヤナ4
からの水平同期信号とに基づいて1水平走査分の
長さのゲート信号を発生するワンシヨツト回路2
0a,20bとから構成される。21はゲート9
bへ送られるサンプリングを分周する分周器で、
その分周出力はスイツチ22を介して前記光スキ
ヤナ4の垂直走査歩進用入力端子Vへ送られる。
この入力端子Vへは、スイツチ22を介して図示
しないパルス発生器からの連続歩進パルスSPを
供給することができる。
上述の如き構成において、光スキヤナ4は、例
えば1秒間に120回の繰返し水平走査を行い、ス
イツチ22が接点C側に倒されている場合、垂直
走査歩進用入力端子へ送られる歩進パルスSPに
よつて垂直方向にステツプ走査を行う。従つて、
光スキヤナ4の垂直走査が適宜な位置に来た時点
でスイツチ22を接点Oへ切換え歩進用パルスの
供給を停止すれば、光スキヤナ4はその位置で垂
直走査を停止し、水平走査のみを繰返すライン走
査を行う。
えば1秒間に120回の繰返し水平走査を行い、ス
イツチ22が接点C側に倒されている場合、垂直
走査歩進用入力端子へ送られる歩進パルスSPに
よつて垂直方向にステツプ走査を行う。従つて、
光スキヤナ4の垂直走査が適宜な位置に来た時点
でスイツチ22を接点Oへ切換え歩進用パルスの
供給を停止すれば、光スキヤナ4はその位置で垂
直走査を停止し、水平走査のみを繰返すライン走
査を行う。
オペレータはサンプリングタイミング合わせを
行う際、例えば視野の中央位置にてライン走査を
行うように光スキヤナ4を設定する。第2図aは
荷重試験機2が発生する荷重信号を示し、本実施
例では荷重が正弦波形で500msecの周期(2Hz)
で繰返し印加されていることが分る。この荷重信
号が供給されるゼロクロス検出回路17からは、
第2図bに示すように荷重印加周期の半分の周期
のパルス信号P1a,P1b,P2a,P2b,
P3a,P3b,……が得られる。可変遅延回路
18は、このパルス信号を2個のパルスを1組と
して、第2図cに示すように1組毎に位相を6゜
(時間にして500msec×6゜/360゜≒8.3msec)ステ
ツプで変化させ、分配回路19へ送る。分配回路
19は各組に含まれる2つのパルス内、前のパル
スP1a,P2a,P3a,…はワンシヨツト回
路20aへ、後のパルスP1b,P2b,P3
b,…はワンシヨツト回路20bへ第2図d,e
に示すように分配する。
行う際、例えば視野の中央位置にてライン走査を
行うように光スキヤナ4を設定する。第2図aは
荷重試験機2が発生する荷重信号を示し、本実施
例では荷重が正弦波形で500msecの周期(2Hz)
で繰返し印加されていることが分る。この荷重信
号が供給されるゼロクロス検出回路17からは、
第2図bに示すように荷重印加周期の半分の周期
のパルス信号P1a,P1b,P2a,P2b,
P3a,P3b,……が得られる。可変遅延回路
18は、このパルス信号を2個のパルスを1組と
して、第2図cに示すように1組毎に位相を6゜
(時間にして500msec×6゜/360゜≒8.3msec)ステ
ツプで変化させ、分配回路19へ送る。分配回路
19は各組に含まれる2つのパルス内、前のパル
スP1a,P2a,P3a,…はワンシヨツト回
路20aへ、後のパルスP1b,P2b,P3
b,…はワンシヨツト回路20bへ第2図d,e
に示すように分配する。
第2図f,gは第2図d,eのP1a,P1
b,P2aの部分を時間的に拡大して表わしたも
のである。第2図hは光スキヤナ4から発生する
毎秒120回の水平走査に同期した水平同期信号を、
第2図iはその水平走査により得られる温度信号
を夫々示す。
b,P2aの部分を時間的に拡大して表わしたも
のである。第2図hは光スキヤナ4から発生する
毎秒120回の水平走査に同期した水平同期信号を、
第2図iはその水平走査により得られる温度信号
を夫々示す。
ワンシヨツト回路20aは、分配回路19から
送られるパルス信号P1a,P2a,…(第2図
f)と、上記水平同期信号(第2図hとに基づ
き、P1a,P2aが発生してから最初に行われ
る1回の水平走査期間“1”になるサンプリング
信号(第2図j)を発生し、ゲート9aへ送る。
ワンシヨツト回路20bも全く同様にP1bが発
生してから最初に行われる1回の水平走査期間
“1”になるサンプリング信号を(第2図k)発
生し、ゲート9bへ送る。
送られるパルス信号P1a,P2a,…(第2図
f)と、上記水平同期信号(第2図hとに基づ
き、P1a,P2aが発生してから最初に行われ
る1回の水平走査期間“1”になるサンプリング
信号(第2図j)を発生し、ゲート9aへ送る。
ワンシヨツト回路20bも全く同様にP1bが発
生してから最初に行われる1回の水平走査期間
“1”になるサンプリング信号を(第2図k)発
生し、ゲート9bへ送る。
ゲート9a,9bはサンプリング信号が“1”
の期間開かれるため、P1aに基づいてゲート9
aから温度信号Sa1が、P2bに基づいてゲー
ト9bから温度信号Sb1が取出され、積分回路
12a,12bへ夫々送られて積分される。そし
て、得られた積分値Ia1,Ib1は、次のゲート9
a,9bが開かれるまでの間レジスタ13a,1
3bに保持され、その間に差検出回路14はIa1
とIb1の差データI1を求め、コンピユータ10
へ送る。コンピユータ10は、このI1をメモリ
15へ格納する。
の期間開かれるため、P1aに基づいてゲート9
aから温度信号Sa1が、P2bに基づいてゲー
ト9bから温度信号Sb1が取出され、積分回路
12a,12bへ夫々送られて積分される。そし
て、得られた積分値Ia1,Ib1は、次のゲート9
a,9bが開かれるまでの間レジスタ13a,1
3bに保持され、その間に差検出回路14はIa1
とIb1の差データI1を求め、コンピユータ10
へ送る。コンピユータ10は、このI1をメモリ
15へ格納する。
次に、全く同様にしてP2a,P2bに基づい
て温度信号Sa2,Sb2がサンプリングされ、
夫々の積分値Ia2,Ib2の差I2が差検出回路1
4によつて求められ、コンピユータ10へ送られ
てメモリ15へ格納され、以下全く同様して荷重
印加に対する位相が順次6゜ずつずれたタイミング
で得られた温度信号の積分値の差がデータI3〜
I30が差検出回路14より求められ、メモリ1
5へ順次格納されて行く。
て温度信号Sa2,Sb2がサンプリングされ、
夫々の積分値Ia2,Ib2の差I2が差検出回路1
4によつて求められ、コンピユータ10へ送られ
てメモリ15へ格納され、以下全く同様して荷重
印加に対する位相が順次6゜ずつずれたタイミング
で得られた温度信号の積分値の差がデータI3〜
I30が差検出回路14より求められ、メモリ1
5へ順次格納されて行く。
ところで、被検体の表面温度は、被検体に印加
される圧縮荷重が極大の時最高となり、引張荷重
が極大の時最低となることは先に述べた。従つ
て、圧縮荷重が極大の時の走査によつて得られた
温度信号の積分値は他のタイミングでの走査によ
つて得られた温度信号の積分値よりも大きく、引
張荷重が極大の時の走査によつて得られた温度信
号の積分値は反対に最も小さくなる。そのため、
2つの積分値の差のデータは、双方が極大のタイ
ミングの時に最大の値となる。
される圧縮荷重が極大の時最高となり、引張荷重
が極大の時最低となることは先に述べた。従つ
て、圧縮荷重が極大の時の走査によつて得られた
温度信号の積分値は他のタイミングでの走査によ
つて得られた温度信号の積分値よりも大きく、引
張荷重が極大の時の走査によつて得られた温度信
号の積分値は反対に最も小さくなる。そのため、
2つの積分値の差のデータは、双方が極大のタイ
ミングの時に最大の値となる。
そこで、コンピユータ10は、メモリ15に格
納されたI1〜I30の中から最大値Inを求め、
可変遅延回路18の遅延時間を時間では500msec
×n×6゜/360゜(位相にして6゜×n)に設定する。
この遅延時間で与えられるタイミングが圧縮及び
引張荷重が極大のタイミングであることは言うま
でもない。そして、オペレータが手動で、もしく
はコンピユータが自動的にその状態でスイツチ2
2を接点C側に倒して垂直走査を走査開始位置
(通常は視野の上端)へ戻した後、接点D側へ切
換えると共に分周器21をリセツトし、応力分布
画像測定を開始する。ゲート9bへのサンプリン
グ信号は荷重印加の1周期に1個発生するから、
分周器21の分周比が1/64である場合、64回の
荷重印加毎に光スキヤナ4の垂直走査が1ステツ
プずつ進められ、所定ステツプ例えば1画面の走
査線本数240本として240ステツプに達した時点で
測定が終了する。
納されたI1〜I30の中から最大値Inを求め、
可変遅延回路18の遅延時間を時間では500msec
×n×6゜/360゜(位相にして6゜×n)に設定する。
この遅延時間で与えられるタイミングが圧縮及び
引張荷重が極大のタイミングであることは言うま
でもない。そして、オペレータが手動で、もしく
はコンピユータが自動的にその状態でスイツチ2
2を接点C側に倒して垂直走査を走査開始位置
(通常は視野の上端)へ戻した後、接点D側へ切
換えると共に分周器21をリセツトし、応力分布
画像測定を開始する。ゲート9bへのサンプリン
グ信号は荷重印加の1周期に1個発生するから、
分周器21の分周比が1/64である場合、64回の
荷重印加毎に光スキヤナ4の垂直走査が1ステツ
プずつ進められ、所定ステツプ例えば1画面の走
査線本数240本として240ステツプに達した時点で
測定が終了する。
各ステツプにおいて64回の荷重印加毎ゲート9
aを介してサンプリングされた圧縮荷重極大時の
1ライン分の温度信号は、メモリ11aの所定部
位に積算され、同じく64回の荷重印加毎にゲート
9bを介してサンプリングされた引張荷重極大時
の1ライン分の温度信号は、メモリ11bの所定
部位へ積算される。このようにして合計240ステ
ツプにわたる測定が終了した時点では、メモリ1
1aには圧縮荷重極大のタイミングでサンプリン
グされた1画面分240ラインの温度信号を64回積
算した温度画像データが格納され、メモリ11b
には引張荷重極大のタイミングでサンプリングさ
れた1画面分240ラインの温度信号を64回積算し
た温度画像データが格納されることになる。そし
て、コンピユータ10は、この圧縮荷重極大時の
温度画像と引張荷重極大時の温度画像の差を求め
るようにデータの引算を行い、図示しない表示装
置へ送り応力分布画像として表示する。
aを介してサンプリングされた圧縮荷重極大時の
1ライン分の温度信号は、メモリ11aの所定部
位に積算され、同じく64回の荷重印加毎にゲート
9bを介してサンプリングされた引張荷重極大時
の1ライン分の温度信号は、メモリ11bの所定
部位へ積算される。このようにして合計240ステ
ツプにわたる測定が終了した時点では、メモリ1
1aには圧縮荷重極大のタイミングでサンプリン
グされた1画面分240ラインの温度信号を64回積
算した温度画像データが格納され、メモリ11b
には引張荷重極大のタイミングでサンプリングさ
れた1画面分240ラインの温度信号を64回積算し
た温度画像データが格納されることになる。そし
て、コンピユータ10は、この圧縮荷重極大時の
温度画像と引張荷重極大時の温度画像の差を求め
るようにデータの引算を行い、図示しない表示装
置へ送り応力分布画像として表示する。
尚、上記実施例では積分回路を2つ用いたが、
同時に積分動作を行うわけではないので、1つの
積分回路を兼用し、2つのレジスタへ振分けるよ
うにすることも考えられる。
同時に積分動作を行うわけではないので、1つの
積分回路を兼用し、2つのレジスタへ振分けるよ
うにすることも考えられる。
[発明の効果]
以上詳述した如く、本発明によれば、サンプリ
ングのタイミングを引張及び圧縮荷重が極大のタ
イミングに自動的に合わせることができるため、
経験や習熟を必要とせずに常に良質の応力分布画
像を得ることが可能である。
ングのタイミングを引張及び圧縮荷重が極大のタ
イミングに自動的に合わせることができるため、
経験や習熟を必要とせずに常に良質の応力分布画
像を得ることが可能である。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロツ
ク図、第2図は実施例の動作を説明するためのタ
イミング図である。 1:被検体、2:荷重試験機、3:赤外線検出
器、4:光スキヤナ、7:処理回路、8:A−D
変換器、9a,9b:ゲート、10:コンピユー
タ、11a,11b,15:メモリ、12a,1
2b:積分回路、13a,13b:レジスタ、1
4:差検出回路、16:タイミング回路、17:
ゼロクロス検出回路、18:可変遅延回路、1
9:分配器、20a,20b:ワンシヨツト回
路、21:分周器、22:スイツチ。
ク図、第2図は実施例の動作を説明するためのタ
イミング図である。 1:被検体、2:荷重試験機、3:赤外線検出
器、4:光スキヤナ、7:処理回路、8:A−D
変換器、9a,9b:ゲート、10:コンピユー
タ、11a,11b,15:メモリ、12a,1
2b:積分回路、13a,13b:レジスタ、1
4:差検出回路、16:タイミング回路、17:
ゼロクロス検出回路、18:可変遅延回路、1
9:分配器、20a,20b:ワンシヨツト回
路、21:分周器、22:スイツチ。
Claims (1)
- 1 繰返し変動する荷重負荷をうける被検体を、
荷重負荷の2種のタイミングにおいて夫々赤外線
検出器で走査して得られる被検体の2種の温度分
布データに基づいて応力分布画像を求めて表示す
る応力画像表示装置において、前記荷重負荷の繰
返し周期と同じ繰返し周期を持つ第1のサンプリ
ング信号を発生する手段と、該第1のサンプリン
グ信号から前記荷重負荷の繰返し周期の半分の期
間遅れた第2のサンプリング信号を発生する手段
と、被検体を赤外線検出器で走査して得られる温
度分布データを夫々のサンプリング信号に同期し
てサンプリングする手段と、第1のサンプリング
信号に同期してサンプリングされた温度分布デー
タを積分する第1の積分手段と、第2のサンプリ
ング信号に同期してサンプリングされた温度分布
データを積分する第2の積分手段と、夫々の積分
手段の出力の差を求める手段と、前記第1及び第
2のサンプリング信号の加重負荷に対する位相を
複数段階にわたつて変化させる位相可変手段と、
前記差検出手段の出力をモニタし、その出力が最
も大きくなる時の位相を検出する検出手段とを設
け、該検出手段によつて検出された位相に前記第
1及び第2のサンプリング信号の位相を固定する
ようにしたことを特徴とする応力画像表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15089284A JPS6129735A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 応力画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15089284A JPS6129735A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 応力画像表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6129735A JPS6129735A (ja) | 1986-02-10 |
| JPH0358658B2 true JPH0358658B2 (ja) | 1991-09-06 |
Family
ID=15506656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15089284A Granted JPS6129735A (ja) | 1984-07-20 | 1984-07-20 | 応力画像表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6129735A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9749118B2 (en) | 2011-05-16 | 2017-08-29 | Alcatel Lucent | Method and apparatus for providing bidirectional communication between segments of a home network |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8915227D0 (en) * | 1989-07-03 | 1989-08-23 | Sira Ltd | Method and apparatus for detecting stress in an object |
-
1984
- 1984-07-20 JP JP15089284A patent/JPS6129735A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9749118B2 (en) | 2011-05-16 | 2017-08-29 | Alcatel Lucent | Method and apparatus for providing bidirectional communication between segments of a home network |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6129735A (ja) | 1986-02-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |