JPS6129735A - 応力画像表示装置 - Google Patents

応力画像表示装置

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JPS6129735A
JPS6129735A JP15089284A JP15089284A JPS6129735A JP S6129735 A JPS6129735 A JP S6129735A JP 15089284 A JP15089284 A JP 15089284A JP 15089284 A JP15089284 A JP 15089284A JP S6129735 A JPS6129735 A JP S6129735A
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JP
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sampling
timing
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maximum
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Yoji Nakayama
仲山 要二
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00Measuring force or stress, in general
    • G01L1/24Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
    • G01L1/248Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet using infrared

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、熱弾性効果を利用した応力画像表示装置に関
し、特にサンプリングのタイミングを自動的に最適状態
に設定することのできる応力画像表示装置に関する。
[従来の技術] 熱弾性効果を利用して非接触で短時間に応力分布を測定
し表示する装置が提案されている。この提案装置は、被
検体の応力集中部位の表面温度が、圧縮荷重を受けた時
上昇し、逆に引張荷重を受けた時下降することに着目し
たものであり、荷重を加えた時の湿度(又は温東分布)
から荷重なし又は逆方向荷重を加えた時の温度(又は温
度分布)を差し引いて応力分布画像を得ている。
[発明が解決しようとする問題点] その際、良質の画像を冑るためには、引張及び圧縮荷重
が極大の時の被検体表面温度をサンプリングする必要が
あるが、従来はサンプリングのタイミングをAベレータ
が調節していたため、紅験と円熟が必要であった。本発
明はこの点に鑑み−(なされたものであり、リーンブリ
ングのタイミング合わ甘を自動的に行うことのできる装
置を提供することを目的としている。
[問題点を解決するための構成] この目的を達成するため、本発明においては、繰返lノ
変動ヴる61重負荷をうける被検体を、荷重負荷の2f
f!のタイミングにおいて人々赤外線検出器で走査して
得られる被検体の2種の潟麿分イtjデータに基づいて
応力分布画像を求めて表示する応力画像表示装置?7に
おいて、前記荷車負荷の緑返し周期と同じ繰返し周期を
持つ第1の1ノンプリング信号を発生J−る手段と、該
第1のサンプリング信号から前記荷重負荷の繰返し周期
の半分の期間遅れた第2のナンブリング信号を発生する
手段と、被検体を赤外線検出器で走査して得られる瀉瓜
分布データを夫々のサンプリング信号に同期してサンプ
リングする手段と、第1のサンプリング信号に同期して
サンプリングされた温痘分布データを積分する第1の積
分手段と、第2のサンプリング信号に同期してサンプリ
ングされた温度分布データを積分覆る第2の積分手段と
、夫々の積分手段の出力の差を求める手段と、前記第1
及び第2のサンプリング信号の加重負荷に対する位相を
複数段階にわたって変化させる位相可変手段と、前記差
検出手段の出力をモニタし、その出力が最も太きく <
>る時の位相を検出する検出手段とを設け、該検出手段
によって検出された位相に前記第1及び第2のサンプリ
ング信号の位相を固定するようにしたことを特徴として
いる。
[作用] 第1のサンプリング信号に同期してサンプリングされた
温度データが圧縮荷重時のj:一タで、第2の量サンプ
リング信号に同期してサンプリングされた温度データが
引張荷重時のデータであるとすれば、サンプリングのタ
イミングが荷重の極大のタイミングに一致した時、第1
の積分手段の出力値は最も大きく、第2の積分手段の出
力値は最も小さくなるため、その時差検出手段の出力は
最大となる。従って、加重負荷に対するサンプリングの
位相を徐々に変えながら差検出手段の出力をモニタする
ことにより荷重が極大のタイミングを知ることができ、
サンプリングのタイミングを自動的に合わせることがで
きる。
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の一実施例を詳説する。
第1図は本発明を実施した応力画像表示装置の一例を示
すブロック図である。図において1は被検体、2は被検
体1に荷重を印加する荷重試験機、3は被検体1から発
生する赤外線を検出するための赤外線検出器、4は赤外
線検出器3の像スポットを被検体1上に結@すると共に
、その像スポットを被検体1上でラスク走査するための
光スキャナ、5は基準赤外線を発生する黒体炉である。
光スキ1/す4の走査に伴って検出器3から得られる検
出信号は、増幅器6を介してクランプ回路やリニアライ
ザ等を含む処理回路7へ送られ、温度とリニアな関係を
有する温度信号に変換される。得られた温度信号は、A
−D変換器8によってデジタル信号に変換された後、ゲ
ート9a又は9bを介して取出され、コンピュータ10
へ送られて付属するメモリlla又は11bへ格納され
る。上記ゲート9a、9bを介して取出された信号が供
給される積分回路12a、12b、レジスタ13a、1
3b及び差検出回路14が本発明における特徴部分であ
り、差検出回路14の出力信号はコンピュータ10へ送
られ、付属するサンプリングタイミング合わせ用メモリ
15へ格納される。
16は前記ゲート9a、9bを0N−OFFするゲート
信号を作成するタイミング回路で、荷重試験機2からの
荷重信号が供給されるゼロクロス検出回路17、コンピ
コ、−夕10から指定された時間ゼロクロス検出回路1
7からのパルス信号を遅延させる可変遅延回路18、可
変遅延回路18からのパルス信号を2系統に分配する分
配器19、分配器19からのパルス信号と前記光スキャ
ナ4からの水平同期信号とに基づいて1水平走査分の長
さのゲート信号を発生するワンショット回路20a、2
0bとから構成される。21はゲート9bへ送られるサ
ンプリングを分周する分周器で、その分周出力はスイッ
チ22を介して前記光スキャナ4の垂直走査歩進用入力
端子■へ送られる。
この入力端子Vへは、スイッチ22を介して図示しない
パルス発生器からの連続歩進パルスSPを供給すること
ができる。
上述の如き構成において、光スキャナ4は、例えば1秒
間に120回の繰返し水平走査を行い、スイッチ22が
接点C側に倒されている場合、垂直走査歩進用入力端子
へ送られる歩進パルスSPによって垂直り向にステップ
走査を行う。従って、光スキ17す4の垂直走査が適宜
な位置に来た時点でスイッチ22を接点Oへ切換え歩進
用パルスの供給を停止すれば、光スキャナ4はその位置
で垂直走査を停止し、水平走査のみを繰返すライン走査
を行う。
オペレータはサンプリングタイミング合わせを行う際、
例えば視野の中央位置にてライン走査を行うように光ス
キャナ4を設定する。第2図(a)は荷重試験線2が発
生する荷重信号を示し、本実施例では荷重が正弦波形で
5 Q Q m5eoの周期(21−1z)で繰返し印
加されていることが分る。この荷車信号が供給されるゼ
ロクロス検出回路17からは、第2図(b)に示すよう
に荷重印加周期の半分の周期のパルス信号P 1a、 
P 1b、 P 2a、 P 2b。
p 3a、 p 3b、  ・・・・が得られる。可変
遅延回路18は、このパルス信号を2個のパルスを1絹
として、第2図(C)に示づように1組毎に位相を6°
 (時間にして500m5ecx 6’ /360” 
’:;8.3IllSeC)ステップで変化させ、分配
回路19へ送る。分配回路19は各組に含まれる2つの
パルスの内、前のパルスpla、 p2a、 p3a、
  ・−−はワンショット回路20aへ、後のパルスp
ib。
P2b、 P3b、  ・・・はワンショット回路20
bへ第2図(d)、(e)に示Jように分配する。
第2図(f)、(G)は第2図(d)、(e)のP I
a、 P Ib、 P 2aの部分を時開的に拡大して
表わしICものぐある。第2図(h)は光ス4ヤナ4か
ら発生する毎秒120回の水平走査に同期した水平同期
信号を、第2図(i)はその水平走査により得られる温
度信号を夫々示1゜ ワンショット回路2’ Oaは、分配回路19から送ら
れるパル245号P1a、 1)2a、  ・・・(第
2図([))と、十記水平同期信月(第2図(h)とに
基づき、p la、 p 2aが発生してから最初に行
われる1回の水平走査期間′″1″になるサンプリング
信号(第2図(J))を発生し、グー]−98へ送る。
ワンショット回路20[)も全く同様にPlbが発生し
てから最初に行われる1回の水平走査期間II I I
+になる1ノンシリング信号を(第2図(k))発生し
、ゲート9bへ送る。
グー1−9a、9bはυンプリンク信+3 カ” 1 
”の期間開かれるため、Plに基づいてゲート9aから
温度信号Sa1が、P2に基づいてゲート9bから温度
信号S旧が取出され、積分回路12a。
12bへ夫々送られて積分される。そして、得られた積
分値ia1.lblは、次にゲート9a、9bが開かれ
るまでの間レジスタ13a、13bに保持され、その間
に差検出回路14はIalとTb1の差データ■1を求
め、コンピュータ10へ送る。
コンピュータ10は、この11をメモリ15へ格納する
次に、全く同様にしてP3 、P4に基づいて温度信号
S82.Sb2がサンプリングされ、夫々の積分(iQ
 I a2.  I b2の差■2が差検出回路14に
よって求められ、コンピュータ10へ送られてメモリ1
5へ格納され、以下全く同様にして荷重印加に対する位
相が順次6°ずつずれたタイミングで得られた温度信号
の積分値の差のデータ13〜I30が差検出回路14よ
り求められ、メモリ15へ順次格納されて行く。
ところで、被検体の表面温度は、被検体に印加される圧
縮荷重が極大の時最高となり、引張荷重が極大め時最低
となることは先に述べた。従って、几縮荷手が極大の時
の走査によって得られた温度信号の積分値は伯のタイミ
ングでの走査によって得られた湿度信号の積分値よりも
大きく、引張荷重が極大の時の走査によって得られた温
度信号の積分値は反対に最も小さくなる。そのため、2
つの積分値の差のj゛−夕は、双方が極大のタイミング
の時に最大の値となる。
そこで、コンピュータ10は、メtす15に格納された
11〜130の中から最大値■0を求め、可変遅延回路
18の遅延時間を時間では500m5ecx n X 
6°/360’  (位相にして6°xn)に設定する
。この遅延時間で与えられるタイミングが圧縮及び引張
荷重が極大のタイミングであることは言うまでもない。
そして、Aベレータが手動で、もしくはコンピュータが
自動的にその状態でスイッチ22を接点C側に倒して!
TIj:i走査を走査開始位置(通常は視野の上端)へ
戻しl〔後、接点り側へ切換えると共に分周器21をリ
セットし、応力分布画像測定を開始する。ゲート9bへ
のサンプリング信号は荷重印加の1周期に1個発生する
から、分周器21の分周比が1/64である場合、64
回の荷重印加毎に光スキャナ4の垂直走査が1ステツプ
ずつ進められ、所定ステップ例えば1画面の走査線本数
240本として240ステツプに達した時点で測定が終
了する。
各ステップにおいて64回の荷重印加毎にゲート9aを
介してサンプリングされた圧縮荷重極大時の1ライン分
の温度信号は、メモリ11aの所定部位に積算され、同
じく64回の荷重印加毎にゲート9bを介してサンプリ
ングされた引張荷重極大時の1ライン分の温度信号は、
メモリ11bの所定部位へ積算される。このようにして
合計240ステツプにわたる測定が終了した時点では、
メモリIlaには圧縮荷重極大のタイミングでサンプリ
ングされた1画面分240ラインの温度信号を64回積
算した温度画像データが格納され、メモリ11bには引
張荷重極大のタイミングでサンプリングされた1画面分
240ラインの温度信号を64回積算した温度画像デー
タが格納されることになる。そして、コンピュータ10
は、この圧縮荷重極大時の湿度画像と引張荷重極大時の
湿度画像の差を求めるようにデータの引粋を行い、図示
しない表示装置へ送り応力分布画像として表示する。
尚、上記実施例では積分回路を2つ用いたが、同時に積
分動作を行うわけではないので、1つの積分回路で兼用
し、2つのレジスタへ振分1)るようにすることも考え
られる。
[発明の効果] 以上詳述した如く、本発明によれば、サンプリングのタ
イミングを引張及び圧縮荷重が極大のタイミングに自動
的に合わせることができるため、経験や習熟を必要とせ
ずに常に良質の応力分布画像を得ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は実施例の動作を説明するためのタイミング図であ
る。 1:被検体 2:何重試験機 3:赤外線検出器 4:光スキャナ 7:処理回路 8:A−D変換器 9a、9b:ゲート 10:コンピュータ 11a、llb、15:メ−E IJ 12a、12b:積分回路 13a、13b:レジスタ 14:差検出回路 16:タイミング回路 17:ゼロクロス検出回路 18:可変遅延回路 19:分配器 20a、20b:’)’、yショyト回’N21:分周
器 22:スイッチ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 繰返し変動する荷重負荷をうける被検体を、荷重負荷の
    2種のタイミングにおいて夫々赤外線検出器で走査して
    得られる被検体の2種の温度分布データに基づいて応力
    分布画像を求めて表示する応力画像表示装置において、
    前記荷重負荷の繰返し周期と同じ繰返し周期を持つ第1
    のサンプリング信号を発生する手段と、該第1のサンプ
    リング信号から前記荷重負荷の繰返し周期の半分の期間
    遅れた第2のサンプリング信号を発生する手段と、被検
    体を赤外線検出器で走査して得られる温度分布データを
    夫々のサンプリング信号に同期してサンプリングする手
    段と、第1のサンプリング信号に同期してサンプリング
    された温度分布データを積分する第1の積分手段と、第
    2のサンプリング信号に同期してサンプリングされた湿
    度分布データを積分する第2の積分手段と、夫々の積分
    手段の出力の差を求める手段と、前記第1及び第2のサ
    ンプリング信号の加重負荷に対する位相を複数段階にわ
    たって変化させる位相可変手段と、前記差検出手段の出
    力をモニタし、その出力が最も大きくなる時の位相を検
    出する検出手段とを設け、該検出手段によって検出され
    た位相に前記第1及び第2のサンプリング信号の位相を
    固定するようにしたことを特徴とする応力画像表示装置
JP15089284A 1984-07-20 1984-07-20 応力画像表示装置 Granted JPS6129735A (ja)

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JPS6129735A true JPS6129735A (ja) 1986-02-10
JPH0358658B2 JPH0358658B2 (ja) 1991-09-06

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5349870A (en) * 1989-07-03 1994-09-27 Sira Limited Method and apparatus for detecting stress in an object

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5349870A (en) * 1989-07-03 1994-09-27 Sira Limited Method and apparatus for detecting stress in an object

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