JPH0361573A - ブランケット位置測定方法並びに装置並びに透明印刷台 - Google Patents

ブランケット位置測定方法並びに装置並びに透明印刷台

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JPH0361573A
JPH0361573A JP1198682A JP19868289A JPH0361573A JP H0361573 A JPH0361573 A JP H0361573A JP 1198682 A JP1198682 A JP 1198682A JP 19868289 A JP19868289 A JP 19868289A JP H0361573 A JPH0361573 A JP H0361573A
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JP
Japan
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blanket
printing
receiving element
transparent
light receiving
Prior art date
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Pending
Application number
JP1198682A
Other languages
English (en)
Inventor
Akifumi Noda
野田 章史
Seiichi Tabayashi
田林 誠一
Dainosuke Watanabe
渡辺 大之輔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
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Publication of JPH0361573A publication Critical patent/JPH0361573A/ja
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  • Inking, Control Or Cleaning Of Printing Machines (AREA)
  • Printing Methods (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〉 本発明は、グラビア、平版などのブランケットを介して
インキを被印刷体に転写する印刷機や印刷方法に係る。
そのうち特に、正確にブランケットの位置を把握する為
のブランケット位置測定方法、並びに装置、並びに透明
印刷台に係る。
(従来の技術) 従来のグラビア、平版などのブランケットを介してイン
キを被印刷体に転写する印刷方性は公知であった。
この場合、ブランケットの位置を把握する事は一般的に
は行われていなかった。
しかし、印刷精度が向上して、数十μ退位以下の植皮が
実現出来る様になって来ている。
その場合、以下の問題が発生してきた。
まず、既にブランケットにインキが乗っているものとす
る。そのインキがブランケットから被印刷体にインキが
転移する為には、ブランケットと被印刷体が接触する必
要がある。
しかし、その接触度合いが大き過ぎると円筒形のブラン
ケットが歪んでしまう。そうすると、その歪みにより、
印刷精度が低下する。従って最も理想的なのは、ブラン
ケットと被印刷体が線接触することである。
この場合、接触の程度を、何らかの手段で測定する必要
がある。しかし、従来のブランケットの位置測定手段と
しては、以下の方法しか無かった。
印刷機の印刷部分の側面より発光させる。そして、それ
に対する側面に、撮像素子などのセンサーによってその
光を受光する。この受光信号によって分かる遮蔽の有無
、もしくは、透過した光の幅を判定する。そして、それ
により測定していた。
(発明が解決しようとする課題) しかし、合名に述べて来た様なJ3過型の測定方法には
、欠点があった。それは、測定した値に、ミリ単位の測
定誤差が生じる、ということである。
その原因はいろいろある。代表的なものを示すと、セン
サー自体の能力、回折による誤差、被印刷体による反射
、被印刷体の平滑度合い等による。従って、印刷精度に
対応したブランケットの位置測定方法とはなっていない
。以上の理由により、印刷時の位置制御には用いられて
いなかった。
従って、実際の印刷においてブランケットの位置制御に
用いられる程度の、印刷精度以下の精度のブランケット
の位置を把握する為のブランケット位置測定方法、並び
に装置、並びに透明印刷台が求められていた。
(課題を解決する為の手段) 」二連の課題に鑑み、側面からの透過センシングに代え
、ブランケット正面からの反射測定を用いて測定するも
のである。
具体的には、透明な被印刷体を載置する印刷台が透明な
基板であり、前記印刷台の下部に発光素子と受光素子を
備えており、前記受光素子の受光信号を基にブランケッ
トの位置を測定する事を特徴とするブランケット位置測
定方法を採用するものである。なお、ここで受光素子が
ラインセンサーであっても、エリアセンサーであっても
よいが、おのおの利点がある。
また、ブランケットの位置の具体的測定方法としては、
ブランケットと被印刷体との間隔を干渉を利用して測定
するものであっても、発光素子から発光した光がブラン
ケットで反射して受光素子に入射する迄の実時間を測定
するものであってもよい。しかし、おのおの利点を異に
するので、単一の条件のみでは、選択は出来ない。
また、それに用いられる装置としているいろ選択できる
。例えは、透明な被印刷体を載置する印刷台が透明な基
板であり、前記印刷台の下部に発光素子と受光素子を備
えているブランケット位置測定装置であり、同様に受光
素子がラインセンサーである場合と、エリアセンサーで
ある場合がある。
また、それに用いられる印刷台の構造は、透明な被印刷
体を載置する印刷台が透明な基板である印刷台である。
また、応用として、透明な被印刷体を載置する印刷台が
透明な基板であり、前記印刷台の下部に発光素子と受光
素子を備えており、前記受光素子の受光信号を基にブラ
ンケットの位置を測定し、ブランケットと被印刷体との
接触領域を測定してブランケットの歪み具合を直接測定
する方法もある。この場合、ブランケットと被印刷体と
の接触領域は、ニップ幅と言われる。
実際の印刷では、インキの転移の確実さを調整する値と
して代用される場合が多い。一般的な二、プ幅は0.6
mmと言われている。従って、この値に調整する場合に
も、有用である。
また、印刷台の強度が要求され、印刷台が透明な構成を
採りえない場合は、以上の手段に代え、透明な被印刷体
を載置する印刷台のブランケット接触予定部分に光ファ
イバーの一端を備えてあり、光ファイバーの他端に発光
素子と受光素子を備えており、前記受光素子の受光信号
を基にブランケットの位置を測定する手段をとる事とな
る。その時の測定装置は、透明な被印刷体を載置する印
刷台のブランケット接触予定部分に光ファイバーの一端
を備えてあり、光ファイバーの他端に発光素子と受光素
子を備えている事を特徴とするブランケット位置測定装
置ということとなる。
(作用) 上述の各手段を採用すると、測定誤差が減少し、実際の
印刷に於いて位置制御に用いる事が可能となるので、印
刷ネa度を向上する事が可能となる。
(実施例) 本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明する。第1
図は、本発明の一実施例を示す印刷状態の断面図である
。第2図は、同印刷台の平面図である。
本実施例に示す印刷装置は、大まかには、印刷台(11
)と、版(12〉と、ブランケット(13)と、ドクタ
ー(14)と、発光素子(15)と、受光素子(16)
と、からなる。
また、実際の印刷では、印刷台(11)の上に被印刷体
(2)〉が、乗っている。
このうち印刷台(11)は、接触部分のみ101幅の透
明部分(31)が、スリット状に被印刷体の幅の全幅に
対して窓状に、ガラスにより嵌め込まれて設けられてい
る。
また、その透明部分(31)の下には、発光素子(15
)と受光素子(16)が設けられている。
印刷台(11)の透明部分(31)の上には、透明な被
印刷体(2))が乗っている。
また、発光素子(15)と受光素子(16)は、He−
Neレーザ発振器とCCDイメージセンサ−から構成さ
れている。
その他の版(12)と、ブランケット(13)と、ドク
ター(14)については、従来公知の凹版オフセット印
刷機と同一なので省略する。
(発明の効果) 本発明により、実際の印刷においてブランケットの位置
制御に用いる事が可能になり、線接触と限らずニップ幅
調整、インキの転移状況等、幅広いリアルタイムの測定
が可能になった。
従って、これらのデータを利用することによりブランケ
ット位置もしくは接触圧の調整がリアルタイムで行う事
が可能になった。これにより、印刷の精度、品質の向上
、検査効率の向上、稼働効率の向上、検査人員の削減等
の効果が上がった。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示す印刷状態の断面−、
第2図は、同印刷機の印刷台の平面図である。 11 印刷台 12版 13 ブランケット 14 ドクター 15 発光素子 16 受光素子 2) 被印刷体 31 透明部分

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)透明な被印刷体を載置する印刷台が透明な基板で
    あり、前記印刷台の下部に発光素子と受光素子を備えて
    おり、前記受光素子の受光信号を基にブランケットの位
    置を測定する事を特徴とするブランケット位置測定方法
  2. (2)受光素子がラインセンサーである請求項1のブラ
    ンケット位置測定方法。
  3. (3)受光素子がエリアセンサーである請求項1のブラ
    ンケット位置測定方法。
  4. (4)ブランケットと被印刷体との間隔を干渉を利用し
    て測定する請求項1のブランケット位置測定方法。
  5. (5)発光素子から発光した光がブランケットで反射し
    て受光素子に入射するまでの実時間を測定する事により
    ブランケットの距離を測定する請求項1のブランケット
    位置測定方法。
  6. (6)透明な被印刷体を載置する印刷台が透明な基板で
    あり、前記印刷台の下部に発光素子と受光素子を備えて
    いる事を特徴とするブランケット位置測定装置。
  7. (7)受光素子がラインセンサーである請求項1のブラ
    ンケット位置測定方法。
  8. (8)受光素子がエリアセンサーである請求項1のブラ
    ンケット位置測定方法。
  9. (9)透明な被印刷体を載置する印刷台が透明な基板で
    ある印刷台。
  10. (10)透明な被印刷体を載置する印刷台が透明な基板
    であり、前記印刷台の下部に発光素子と受光素子を備え
    ており、前記受光素子の受光信号を基にブランケットの
    位置を測定し、ブランケットと被印刷体との接触領域を
    測定する事を特徴とするブランケット接触領域測定方法
  11. (11)透明な被印刷体を載置する印刷台のブランケッ
    ト接触予定部分に光ファイバーの一端を備えてあり、光
    ファイバーの他端に発光素子と受光素子を備えており、
    前記受光素子の受光信号を基にブランケットの位置を測
    定する事を特徴とするブランケット位置測定方法。
  12. (12)透明な被印刷体を載置する印刷台のブランケッ
    ト接触予定部分に光ファイバーの一端を備えてあり、光
    ファイバーの他端に発光素子と受光素子を備えている事
    を特徴とするブランケット位置測定装置。
JP1198682A 1989-07-31 1989-07-31 ブランケット位置測定方法並びに装置並びに透明印刷台 Pending JPH0361573A (ja)

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JP1198682A JPH0361573A (ja) 1989-07-31 1989-07-31 ブランケット位置測定方法並びに装置並びに透明印刷台

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JPH0361573A true JPH0361573A (ja) 1991-03-18

Family

ID=16395300

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JP (1) JPH0361573A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5553547A (en) * 1995-06-06 1996-09-10 Miller Process Coating Co. Laser controlled indexer for printing on ware
WO2013187304A1 (ja) * 2012-06-13 2013-12-19 シャープ株式会社 アレイ基板の製造方法、液晶パネルの製造方法、アレイ基板の製造装置およびオフセット印刷装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5553547A (en) * 1995-06-06 1996-09-10 Miller Process Coating Co. Laser controlled indexer for printing on ware
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