JPH0361584A - 情報記録媒体 - Google Patents
情報記録媒体Info
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- JPH0361584A JPH0361584A JP2036174A JP3617490A JPH0361584A JP H0361584 A JPH0361584 A JP H0361584A JP 2036174 A JP2036174 A JP 2036174A JP 3617490 A JP3617490 A JP 3617490A JP H0361584 A JPH0361584 A JP H0361584A
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- JP
- Japan
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- film
- recording
- recording medium
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- metal
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は光記録素子、光ディスク、文書画像ファイル、
光カード等に利用できる情報記録媒体に関する。
光カード等に利用できる情報記録媒体に関する。
[従来の技術]
従来、ヒートモード(溶融、蒸宛タイプ)の追記型情報
記録媒体としては、A、Q、Cr、Cu s A u
s N iST is B iなどの金属膜(日刊工業
新聞: 1987年4月14日版)、あるいはTe、T
e化合物などのカルコゲン化物膜[M、Terao、
et al:J、AI]p1.Phys、50.68
81(1979)] などが知られている。しかしな
がら、金属膜はレーザー光の吸収効率が悪いため記録時
に強いレーザー光と時間(100mWX 1μ5ec)
を必要とし、高速回転での記録に感度が足りず、また、
ビット形成時に生じるビット周辺等の盛り上りのため再
生時の雑音が増加しやすいという欠点を有する。又、カ
ルコゲン化物蒸着膜は熱、湿度などによって劣化すると
いう欠点を有する。
記録媒体としては、A、Q、Cr、Cu s A u
s N iST is B iなどの金属膜(日刊工業
新聞: 1987年4月14日版)、あるいはTe、T
e化合物などのカルコゲン化物膜[M、Terao、
et al:J、AI]p1.Phys、50.68
81(1979)] などが知られている。しかしな
がら、金属膜はレーザー光の吸収効率が悪いため記録時
に強いレーザー光と時間(100mWX 1μ5ec)
を必要とし、高速回転での記録に感度が足りず、また、
ビット形成時に生じるビット周辺等の盛り上りのため再
生時の雑音が増加しやすいという欠点を有する。又、カ
ルコゲン化物蒸着膜は熱、湿度などによって劣化すると
いう欠点を有する。
相変化型情報記録媒体としては、従来よりTe5Te化
合物などのカルコゲン膜[S、R。
合物などのカルコゲン膜[S、R。
Ovs旧n5ky;Appl、Phy’s、IetL、
18.254 (1971) ]が知られているが
、記録時の反射率変化は10%程度とコントラストが小
さいという欠点を有する。
18.254 (1971) ]が知られているが
、記録時の反射率変化は10%程度とコントラストが小
さいという欠点を有する。
又、バブルモード記録としては、In
CH4−02等のスパッタ膜[作問、小沢、岡尾、安置
、光メモリシンポジウム゛85,39(1985)US
P4,735.8881が知られているが、構成成分が
酸化されやすいInであり、又膜中のInあるいはIn
2O3と有機成分が別々にクラスターとして存在してい
るため長期安定性や高湿下における安定性に問題があっ
た。更に、記録部であるバブルの隆起も1000大と小
さいためコントラストも小さくなるという欠点があった
。
、光メモリシンポジウム゛85,39(1985)US
P4,735.8881が知られているが、構成成分が
酸化されやすいInであり、又膜中のInあるいはIn
2O3と有機成分が別々にクラスターとして存在してい
るため長期安定性や高湿下における安定性に問題があっ
た。更に、記録部であるバブルの隆起も1000大と小
さいためコントラストも小さくなるという欠点があった
。
分散状態にある金属微粒子を含有するポリマー層からな
る情報記録媒体としては、特開昭6377785に、有
機金属錯体をポリマーに分散させ、それを熱分解して作
製した情報記録媒体が提案されている。しかし、ポリカ
ーボネート、ポリメチルメタクリレート等のプラスチッ
ク基板に記録膜を作製する場合、有機金属錯体の分解温
度はプラスチック基板の分解温度(〜100℃)以下に
限定されるため、実際使用可能な有機金属錯体は極めて
少ない。更に有機金属錯体とポリマーの分散性、溶解性
等によって、その組合せは限定される。
る情報記録媒体としては、特開昭6377785に、有
機金属錯体をポリマーに分散させ、それを熱分解して作
製した情報記録媒体が提案されている。しかし、ポリカ
ーボネート、ポリメチルメタクリレート等のプラスチッ
ク基板に記録膜を作製する場合、有機金属錯体の分解温
度はプラスチック基板の分解温度(〜100℃)以下に
限定されるため、実際使用可能な有機金属錯体は極めて
少ない。更に有機金属錯体とポリマーの分散性、溶解性
等によって、その組合せは限定される。
又、上記特開昭63−77785に記載された情報記録
媒体は湿式法によって作製されており、作製プロセスの
工程数が多くなるという問題があった。
媒体は湿式法によって作製されており、作製プロセスの
工程数が多くなるという問題があった。
電磁波、特にレーザービームの照射により、情報の記録
・再生及び消去可能な情報記録媒体としては、結晶−結
晶あるいは結晶−非晶間の相変化を利用したカルコゲン
系薄膜がよく知られている。相変化型情報記録媒体は光
磁気記録媒体では困難な車−ビームによるオーバーライ
ドが可能であり、ドライブ側の光学系も単純であること
などから、最近その研究開発が活発になっている。その
代表的な材料として、USP3.530,441に開示
されているGe−Te、Ge−Te−9b、Ge−Te
−8SGe−8e −5SGe−8e−Sb、Ge−A
s−3e。
・再生及び消去可能な情報記録媒体としては、結晶−結
晶あるいは結晶−非晶間の相変化を利用したカルコゲン
系薄膜がよく知られている。相変化型情報記録媒体は光
磁気記録媒体では困難な車−ビームによるオーバーライ
ドが可能であり、ドライブ側の光学系も単純であること
などから、最近その研究開発が活発になっている。その
代表的な材料として、USP3.530,441に開示
されているGe−Te、Ge−Te−9b、Ge−Te
−8SGe−8e −5SGe−8e−Sb、Ge−A
s−3e。
In−Te、5e−Tes 5e−Asなどが知られて
いる。又、安定性、高速結晶化等の向上を目的に、Ge
−Te系にAu(特開昭61−219692) 、S
n及びAu(特開昭11i1−270190)、Pb(
特開昭62−19490)等を添加した材料の提案や、
記録−消去の繰返し性能向上を目的に、Ge−Te−5
e−3bの組成比を特定した材料(特開昭62−734
38)の提案等も成されている。
いる。又、安定性、高速結晶化等の向上を目的に、Ge
−Te系にAu(特開昭61−219692) 、S
n及びAu(特開昭11i1−270190)、Pb(
特開昭62−19490)等を添加した材料の提案や、
記録−消去の繰返し性能向上を目的に、Ge−Te−5
e−3bの組成比を特定した材料(特開昭62−734
38)の提案等も成されている。
しかしながら、そのいずれもが)日変化型書換可能情報
記録媒体として要求される諸性性のすべてを満足し得る
ものとは言えない。特に記録感度、消去感度の向上、オ
ーバーライド時の消し残りによる消去比低下の防止なら
びに記録部、未記録部の長寿命化が解決すべき最重要課
題となっている。
記録媒体として要求される諸性性のすべてを満足し得る
ものとは言えない。特に記録感度、消去感度の向上、オ
ーバーライド時の消し残りによる消去比低下の防止なら
びに記録部、未記録部の長寿命化が解決すべき最重要課
題となっている。
上記で述べた種々の技術課題のうち、記録部、未記録部
の長期安定化が、追記型、書換可能型の双方の情報記録
媒体において最優先課題である。そこで、この課題を解
決する方法の一つとして、光吸収物質を透光性のマトリ
ックスに分散させた情報記録媒体の提案がなされている
。
の長期安定化が、追記型、書換可能型の双方の情報記録
媒体において最優先課題である。そこで、この課題を解
決する方法の一つとして、光吸収物質を透光性のマトリ
ックスに分散させた情報記録媒体の提案がなされている
。
マトリックスとしては、Si、A、17.Ti。
Mgの各酸化物が特開昭57−208648に提案され
ている。更に、特開昭63−173240ではマトリッ
クスとして、熱伝導性の小さいSiO2、Sin、Si
3N4、TiO2、ZnZnS5ZnOSA 03、A
N N、MMgO5Ge。
ている。更に、特開昭63−173240ではマトリッ
クスとして、熱伝導性の小さいSiO2、Sin、Si
3N4、TiO2、ZnZnS5ZnOSA 03、A
N N、MMgO5Ge。
SiC,ZrO2、NbzOsなどの金属酸化物、金属
窒化物、金属硫化物、金属炭化物が検討されている。し
かし、金属酸化物、金属窒化物、金属硫化物、金属炭化
物等の無機材料によるマトリックスは、記録−消去の繰
返しによる結晶咳の生成及び結晶成長が起こり、消し残
りの原因や粒界ノイズによるC/Hの低下をもたらした
。
窒化物、金属硫化物、金属炭化物が検討されている。し
かし、金属酸化物、金属窒化物、金属硫化物、金属炭化
物等の無機材料によるマトリックスは、記録−消去の繰
返しによる結晶咳の生成及び結晶成長が起こり、消し残
りの原因や粒界ノイズによるC/Hの低下をもたらした
。
一方、マトリックスとして有機材料の使用を検討した例
が特開昭80−124038、特開昭63−20583
2及び特開昭63−206721に述べられている。
が特開昭80−124038、特開昭63−20583
2及び特開昭63−206721に述べられている。
これらの公報には、Te等の物質と耐熱性樹脂の同性ス
パッタによって金属微粒子が分散した白゛機薄膜を情報
記録媒体に利用する例が開示されている。又、電子通信
学会技術研究報告CP)I83−58には、TeとCH
4による反応性スパッ夕を利用して情報記録媒体を作製
することが開示されている。しかし、上記製膜法つまり
金属と有機物質の同時スパッタあるいは反応性スパッタ
による製膜法では、Te等の金属微粒子の粒径、分散状
態の制御は困難であった。又グロー放電によって有機マ
トリックスを作製するため、反応圧力は10 ”−”t
orr程度であり、スパッタ法では分散物質の凝集はさ
けられず、微小化は困難であった。
パッタによって金属微粒子が分散した白゛機薄膜を情報
記録媒体に利用する例が開示されている。又、電子通信
学会技術研究報告CP)I83−58には、TeとCH
4による反応性スパッ夕を利用して情報記録媒体を作製
することが開示されている。しかし、上記製膜法つまり
金属と有機物質の同時スパッタあるいは反応性スパッタ
による製膜法では、Te等の金属微粒子の粒径、分散状
態の制御は困難であった。又グロー放電によって有機マ
トリックスを作製するため、反応圧力は10 ”−”t
orr程度であり、スパッタ法では分散物質の凝集はさ
けられず、微小化は困難であった。
[発明が解決しようとする課題]
本発明は、以上のような従来技術の問題点に鑑みてなさ
れたものであって、コントラスト及びC/Nが大きく記
録部及び非記録部の寿命が長く安定性の良好な情報記録
媒体を提供することを目的とする。
れたものであって、コントラスト及びC/Nが大きく記
録部及び非記録部の寿命が長く安定性の良好な情報記録
媒体を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明者らは、有機金属化合物を出発材料とし、該材料
をグロー放電分解法により合成した薄膜を情報記録媒体
の記録膜として用いることにつき鋭意検討してきた。し
かし、出発材料に有機金属化合物だけを用いた場合には
、遷移金属の供給が不可能となり遷移金属を含有した記
録層の合成は出来なかった。ところが、有機金属錯体を
出発材料とした場合には金属微粒子が均一に分散された
記録膜の合成が可能となることを見い出し、本発明を完
成するに至った。
をグロー放電分解法により合成した薄膜を情報記録媒体
の記録膜として用いることにつき鋭意検討してきた。し
かし、出発材料に有機金属化合物だけを用いた場合には
、遷移金属の供給が不可能となり遷移金属を含有した記
録層の合成は出来なかった。ところが、有機金属錯体を
出発材料とした場合には金属微粒子が均一に分散された
記録膜の合成が可能となることを見い出し、本発明を完
成するに至った。
すなわち、本発明によれば、基板上に記録層を設けてな
る情報記録媒体において、前記記録層が、グロー放電分
解法により形成された有機金属錯体のプラズマ重合膜か
らなることを特徴とするf青報S己録媒体力(提1共さ
れる。
る情報記録媒体において、前記記録層が、グロー放電分
解法により形成された有機金属錯体のプラズマ重合膜か
らなることを特徴とするf青報S己録媒体力(提1共さ
れる。
以下本発明の情報記録媒体について詳細に説明する。
本発明の情報記録媒体は、真空反応檜内にセットされた
所望の基板上に、有機金属錯体を出発物質とし、グロー
放電分解法により該有機金属錯体のプラズマ重合膜を形
成して記録層とすることにより作製される。
所望の基板上に、有機金属錯体を出発物質とし、グロー
放電分解法により該有機金属錯体のプラズマ重合膜を形
成して記録層とすることにより作製される。
本発明の情報記録媒体の記録層の形成に用いられる出発
材料を例示すると、例えば鉄を含むものとしては、鉄(
III)アセチルアセトナートフェロセン、あるいはタ
イロン、エチレンジアミン、 2.2′−ジピリジン、
1.10−フェナントロリン、ジチオール、オキシン、
チオキシン、3−メルカプト−p−クレゾールなどのキ
レト試薬を存する鉄錯体が用いられる。
材料を例示すると、例えば鉄を含むものとしては、鉄(
III)アセチルアセトナートフェロセン、あるいはタ
イロン、エチレンジアミン、 2.2′−ジピリジン、
1.10−フェナントロリン、ジチオール、オキシン、
チオキシン、3−メルカプト−p−クレゾールなどのキ
レト試薬を存する鉄錯体が用いられる。
コバルト化合物としては、コバルト(II)アセチルア
セトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート
、コバルトセン、あるいはタイロン、エチレンジアミン
、2.2’ −ジピリジン、1.10−フェナントロリ
ン、ジチオール、オキシン、チオキシン、3−メルカプ
ト−p−クレゾールなどのキレート試薬を有するコバル
ト錯体が用いられる。
セトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート
、コバルトセン、あるいはタイロン、エチレンジアミン
、2.2’ −ジピリジン、1.10−フェナントロリ
ン、ジチオール、オキシン、チオキシン、3−メルカプ
ト−p−クレゾールなどのキレート試薬を有するコバル
ト錯体が用いられる。
ニッケル化合物としては、例えばニッケルアセチルアセ
トナート(NiAA)、ジメチルグリオキシム、ベンジ
ルジオキシム、シクロヘキサン−1,2−ジオンジオキ
シム、タイロン、エチレンジアミン、2.2′−ジピリ
ジン、1.10−フェナントロリン、ジチオール、オキ
シン、チオキシン、3−メルカプト−p−クレゾールな
どのキレート試薬を1つないし2つ有するニッケル錯体
が用いられる。
トナート(NiAA)、ジメチルグリオキシム、ベンジ
ルジオキシム、シクロヘキサン−1,2−ジオンジオキ
シム、タイロン、エチレンジアミン、2.2′−ジピリ
ジン、1.10−フェナントロリン、ジチオール、オキ
シン、チオキシン、3−メルカプト−p−クレゾールな
どのキレート試薬を1つないし2つ有するニッケル錯体
が用いられる。
銅化合物として、例えば銅アセチルアセトナ−l・(C
uAA)、及びタイロン、エチレンジアミン、2.2′
−ジピリジン、1.10−フェナントロリン、ジチオー
ル、オキシン、チオキシン、3−メルカプト−p−クレ
ゾールなどのキレート試薬を1つないし2つ有する銅錯
体が用いられる。
uAA)、及びタイロン、エチレンジアミン、2.2′
−ジピリジン、1.10−フェナントロリン、ジチオー
ル、オキシン、チオキシン、3−メルカプト−p−クレ
ゾールなどのキレート試薬を1つないし2つ有する銅錯
体が用いられる。
チタン化合物としては、例えばジイソプロポキシチタン
ビス(アセチルアセトナート) ビス(アセチルアセト
ナート)チタンオキシド等が用いられる。
ビス(アセチルアセトナート) ビス(アセチルアセト
ナート)チタンオキシド等が用いられる。
テルル化合物としては、テルルジイソプロポキンジアセ
チルアセトナートなどが用いられる。
チルアセトナートなどが用いられる。
セレン化合物としては、セレンジイソプロポキシジアセ
チルアセトナートなどが用いられる。
チルアセトナートなどが用いられる。
他にはLa、Ce、Pr、Nd55m、Gd。
D3/% Er、Yb、5cSYSThs Mn。
Mgなどのシクロペンタジェニル化合物が使用可能であ
る。
る。
更に、高蒸気圧を有するC a s S r s B
B、La、Ce、YSSm、Tb、Er5YbSV。
B、La、Ce、YSSm、Tb、Er5YbSV。
Nbなどのアセチルアセトナート錯体が使用可能である
。
。
又、上記有機金属錯体において、一部又は全部の水素原
子がフッ素原子、塩素原子、臭素原子、よう素原子など
のハロゲン原子と置換したハロゲン有機金属錯体も使用
可能である。
子がフッ素原子、塩素原子、臭素原子、よう素原子など
のハロゲン原子と置換したハロゲン有機金属錯体も使用
可能である。
本発明に使用する上記有機金属錯体として、有機物質が
配位している中心金属の標準電極電位が−0,50V以
上であるものが特に好ましい。
配位している中心金属の標準電極電位が−0,50V以
上であるものが特に好ましい。
この場合配位子は特に限定されない。
標準電極電位とは、金属のイオン化傾向や酸化還元系で
の酸化力あるいは還元力を示す尺度となる。表1に代表
的な金属の標準電極電位を示す。好ましい有機金属錯体
の中心金属としてF e s Co SN t SS
n s Cu s A gなどが使用できる。もちろん
、表1に記載のない金属でも、標準電極電位が−0,5
0V以上であれば好ましく使用できる。
の酸化力あるいは還元力を示す尺度となる。表1に代表
的な金属の標準電極電位を示す。好ましい有機金属錯体
の中心金属としてF e s Co SN t SS
n s Cu s A gなどが使用できる。もちろん
、表1に記載のない金属でも、標準電極電位が−0,5
0V以上であれば好ましく使用できる。
表
標準電極電位(El)
P t ”+ 2 e ;j P t
l。
本発明における記録層(プラズマ重合膜)の製膜手段と
しては、直流グロー放電分解法、交流グロー放電分解法
が適しており、特に「fグロー放電分解法の採用が好適
である。なお、グロー放電分解法それ自体は公知の技術
である。rrグロー放電分解広による製膜条件の一例を
あげれば次のとおりである。モノマー加熱蒸発温度につ
いては、材料(有機金属錯体)の蒸気圧が10’ to
rr−100torr程度となる温度に保持するのが望
ましい。カッコ内は好適範囲を表わしている。
しては、直流グロー放電分解法、交流グロー放電分解法
が適しており、特に「fグロー放電分解法の採用が好適
である。なお、グロー放電分解法それ自体は公知の技術
である。rrグロー放電分解広による製膜条件の一例を
あげれば次のとおりである。モノマー加熱蒸発温度につ
いては、材料(有機金属錯体)の蒸気圧が10’ to
rr−100torr程度となる温度に保持するのが望
ましい。カッコ内は好適範囲を表わしている。
rr周波数−100KIIz 〜50Ml1z (1
3,58MIIz)rrパワー−1〜500W (5〜
200W)反応圧カー0.001〜10torr(0,
05〜2 torr)基板温度・・・−50〜300℃
(0〜200℃)このグロー放電分解法での基板温度は
、上記範囲内であれば、放電したままで製膜を行なった
り、一定温度に保持しなから製膜を行なったり、段階的
に温度を変化させて製膜を行なったりすることも可能で
ある。
3,58MIIz)rrパワー−1〜500W (5〜
200W)反応圧カー0.001〜10torr(0,
05〜2 torr)基板温度・・・−50〜300℃
(0〜200℃)このグロー放電分解法での基板温度は
、上記範囲内であれば、放電したままで製膜を行なった
り、一定温度に保持しなから製膜を行なったり、段階的
に温度を変化させて製膜を行なったりすることも可能で
ある。
柾板材料は限定されるものではないが、各種金属、ガラ
ス、高分子フィルム、セラミックス、無機単結晶基板な
どが好適に使用される。
ス、高分子フィルム、セラミックス、無機単結晶基板な
どが好適に使用される。
又、必要に応じて反応時に他の反応物質、キャリアガス
、不純物等を」(存させてよいことはいうまでもない。
、不純物等を」(存させてよいことはいうまでもない。
かくして所望の基板上に前記有機金属錯体のプラズマ重
合膜(記録膜)が形成されるが、この膜厚の好ましい範
囲は5oλ〜5μm、より好ましくは 100ス〜2μ
mである。
合膜(記録膜)が形成されるが、この膜厚の好ましい範
囲は5oλ〜5μm、より好ましくは 100ス〜2μ
mである。
本発明の情報記録媒体を作製するための所望の基板には
その目的に応じて予めSiO2゜Si3N4などの薄膜
を被覆したものを用いることもできる。
その目的に応じて予めSiO2゜Si3N4などの薄膜
を被覆したものを用いることもできる。
又、本発明の情報記録媒体には目的に応じて更に他の層
(例えば5i02、Si3N+、SiC,Ai)N等の
保護層;紫外線硬化性樹脂等の接着層;ポリメチルメタ
クリレート、ポリカーボネート等の保護板;AI SC
r、Au等の反射層)を配置することができる。
(例えば5i02、Si3N+、SiC,Ai)N等の
保護層;紫外線硬化性樹脂等の接着層;ポリメチルメタ
クリレート、ポリカーボネート等の保護板;AI SC
r、Au等の反射層)を配置することができる。
本発明の情報記録媒体に対する情報の記録、再生及び消
去には電磁波が使用され、その電磁波としてはレーザー
光、電子線、X線、紫外線、可視線、赤外線、マイクロ
波等種々のものが採用可能であるが、ドライブに取付け
る際に有利な小型でコンパクトな半導体レーザーのビー
ムが最適である。
去には電磁波が使用され、その電磁波としてはレーザー
光、電子線、X線、紫外線、可視線、赤外線、マイクロ
波等種々のものが採用可能であるが、ドライブに取付け
る際に有利な小型でコンパクトな半導体レーザーのビー
ムが最適である。
ここで、本発明を光ディスクに適用した場合の一構成例
を第1図に示す。なお、本発明はこの例に限定されるも
のではなく、種々の変形、変更が可能であることはいう
までもない。図中1は所望の基板であり、該基板1上に
は、両面を保護層3で被覆された記録層2が設けられ、
さらに最上層には保護板4が設けられている。
を第1図に示す。なお、本発明はこの例に限定されるも
のではなく、種々の変形、変更が可能であることはいう
までもない。図中1は所望の基板であり、該基板1上に
は、両面を保護層3で被覆された記録層2が設けられ、
さらに最上層には保護板4が設けられている。
記録層2は前述のように、グロー放電分解法による有機
金属媒体のプラズマ重合膜で形成されており、好ましく
は図示の如く炭素系物質5の中に光吸収物質6(金属微
粒子)が均一に分散された状態となっている。
金属媒体のプラズマ重合膜で形成されており、好ましく
は図示の如く炭素系物質5の中に光吸収物質6(金属微
粒子)が均一に分散された状態となっている。
本発明の情報記録媒体の記録層を構成する上記プラズマ
重合膜において、そのマトリックスを構成する炭化水素
系物質としては高密度に架橋した炭化水素の重合体、i
−カーボン、グラファイト、ダイヤモンド及びそれらの
複合体が挙げられる。これらの炭素系物質はCを主成分
とし、必要に応じてH,N、O等を含有させることがで
きる。このマトリックスに分散している金属微粒子の量
は通常5〜95重量%、好ましくは20〜80重量%の
範囲である。微粒子の大きさは50nI11以下、特に
30nm以下が好ましい。
重合膜において、そのマトリックスを構成する炭化水素
系物質としては高密度に架橋した炭化水素の重合体、i
−カーボン、グラファイト、ダイヤモンド及びそれらの
複合体が挙げられる。これらの炭素系物質はCを主成分
とし、必要に応じてH,N、O等を含有させることがで
きる。このマトリックスに分散している金属微粒子の量
は通常5〜95重量%、好ましくは20〜80重量%の
範囲である。微粒子の大きさは50nI11以下、特に
30nm以下が好ましい。
膜厚は、特に限定されないが、通常lO〜1000I好
ましくは20〜500nmの範囲である。
ましくは20〜500nmの範囲である。
[実施例コ
以下に本発明を実施例により更に詳細に説明する。
実施例1
基板としてガラス板、シリコンウェハー ポリエチレン
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、銅アセチルアセトナートを出発物質としてグロー放
電分解法により1100n厚の記録膜をプラズマ重合し
て形成し、光ディスクを作製した。記録膜の形成には第
2図に示す構造の装置を使用した。図中、llは基板、
12は銅アセチルアセトナート、13はRF電極、L4
は対向電極、15はRF電源、16は真空計、17は油
拡散ポンプ、18は面回転ポンプ、19は基板iFA
度コントロールユニット、20は熱電対、21はM o
ヒーターである。又、成膜条件は以下の通りである。
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、銅アセチルアセトナートを出発物質としてグロー放
電分解法により1100n厚の記録膜をプラズマ重合し
て形成し、光ディスクを作製した。記録膜の形成には第
2図に示す構造の装置を使用した。図中、llは基板、
12は銅アセチルアセトナート、13はRF電極、L4
は対向電極、15はRF電源、16は真空計、17は油
拡散ポンプ、18は面回転ポンプ、19は基板iFA
度コントロールユニット、20は熱電対、21はM o
ヒーターである。又、成膜条件は以下の通りである。
・基板温度:25℃
・銅アセチルアセトナートの加熱温度=80℃・反応圧
カニ I X 10’ torr・高周波型カニ 70
W、 13.56M1lz上記のようにして作製した各
光ディスクの記録膜に対してフーリエ変換赤外分光分析
(以下PTIRという)、X線光電子分光分析(以下X
PSという)及び透過型電子顕微鏡(以下TEMという
)観察を行ったところ、得られた記録膜は約10nn+
の粒径に制御された銅微粒子が均一に分散した炭素系薄
膜であることがわかった。
カニ I X 10’ torr・高周波型カニ 70
W、 13.56M1lz上記のようにして作製した各
光ディスクの記録膜に対してフーリエ変換赤外分光分析
(以下PTIRという)、X線光電子分光分析(以下X
PSという)及び透過型電子顕微鏡(以下TEMという
)観察を行ったところ、得られた記録膜は約10nn+
の粒径に制御された銅微粒子が均一に分散した炭素系薄
膜であることがわかった。
また、この記録膜に対して高感度示差走査熱量測定法(
以下DSCという)及び熱重量分析法(以下TGAとい
う)により熱分析した結果、250℃において熱分解と
考えられる発熱ピーク及び重量減少が認められた。
以下DSCという)及び熱重量分析法(以下TGAとい
う)により熱分析した結果、250℃において熱分解と
考えられる発熱ピーク及び重量減少が認められた。
次に、この記録膜の記録特性を評価するために、プレグ
ルーブ付ポリカーボネート基板上に1100n厚の記録
膜を形成し、光ディスクを作製した。なお、記録膜は上
記装置を用いて上記と同一条件で製膜した。こうして作
製した光ディスクを1800rpa+で回転させながら
記録膜上でレーザーパワーが5o+Wとなるようにレー
ザービームを照射したところ、明確な反射率変化が確認
された。走査型電子顕微鏡(以下SEMという)によっ
て記録部を観察した結果、300nmの高さをもった表
面平滑なバブル形状が観察された。
ルーブ付ポリカーボネート基板上に1100n厚の記録
膜を形成し、光ディスクを作製した。なお、記録膜は上
記装置を用いて上記と同一条件で製膜した。こうして作
製した光ディスクを1800rpa+で回転させながら
記録膜上でレーザーパワーが5o+Wとなるようにレー
ザービームを照射したところ、明確な反射率変化が確認
された。走査型電子顕微鏡(以下SEMという)によっ
て記録部を観察した結果、300nmの高さをもった表
面平滑なバブル形状が観察された。
C/Nは55dBであった。又、形成直後の記録膜の反
射率は65%であり1.この膜を30℃、90%湿度の
環境下で300日間放置した後にも反射率の変化は認め
られなかった。
射率は65%であり1.この膜を30℃、90%湿度の
環境下で300日間放置した後にも反射率の変化は認め
られなかった。
実施例2
基板としてガラス板、シリコンウェハー ポリエチレン
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、ニッケルアセチルアセトナートを出発物質としてグ
ロー放電分解法により 1θani厚の記録膜をプラズ
マ重合して形成し、光ディスクを作製した。記録膜の形
成には突流N1で用いた装置と同様のものを使用した。
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、ニッケルアセチルアセトナートを出発物質としてグ
ロー放電分解法により 1θani厚の記録膜をプラズ
マ重合して形成し、光ディスクを作製した。記録膜の形
成には突流N1で用いた装置と同様のものを使用した。
成膜条件は以下の通りである。
・基板温度:25℃
・ニッケルアセチルアセトナートの加熱温度80℃
・反応圧カニ I X 10−”torr・高周波型カ
ニ 70W、 13.58MHz上記のようにして作製
した各光ディスクの記録膜に対してFTIR,XPS及
びTEM観察を行ったところ、得られた記録膜は約5n
IIlの粒径に制御されたニッケル微粒子が均一に分散
した炭素系薄膜であることがわかった。又、この記録膜
に対して高感度DSC及びTGAにより熱分析した結果
、250℃迄において熱分解と考えられる発熱ピーク及
び重量減少が認められた。
ニ 70W、 13.58MHz上記のようにして作製
した各光ディスクの記録膜に対してFTIR,XPS及
びTEM観察を行ったところ、得られた記録膜は約5n
IIlの粒径に制御されたニッケル微粒子が均一に分散
した炭素系薄膜であることがわかった。又、この記録膜
に対して高感度DSC及びTGAにより熱分析した結果
、250℃迄において熱分解と考えられる発熱ピーク及
び重量減少が認められた。
次に、この記録膜の記録特性を評価するために、プレグ
ルーブ付ポリカーボネート基板上に10OnI11厚の
記録膜を形成し、光ディスクを作製した。なお、記録膜
は上記装置を用いて上記と同一条件で製膜した。こうし
て作製した光ディスクを1800rpmで回転させなが
ら記録膜上でレーザーパワーが5mWとなるようにレー
ザービームを照射したところ、明確な反射率変化が確認
された。SEMによって記録部を観察した結果、300
nIIIの高さをもった表面平滑なバブル形状が観察さ
れた。C/Nは55dBであった。又、形成直後の記録
膜の反射率は40%であり、この膜を30°C190%
湿度の環境下で300日間放置した後にも反射率の変化
は認められなかった。
ルーブ付ポリカーボネート基板上に10OnI11厚の
記録膜を形成し、光ディスクを作製した。なお、記録膜
は上記装置を用いて上記と同一条件で製膜した。こうし
て作製した光ディスクを1800rpmで回転させなが
ら記録膜上でレーザーパワーが5mWとなるようにレー
ザービームを照射したところ、明確な反射率変化が確認
された。SEMによって記録部を観察した結果、300
nIIIの高さをもった表面平滑なバブル形状が観察さ
れた。C/Nは55dBであった。又、形成直後の記録
膜の反射率は40%であり、この膜を30°C190%
湿度の環境下で300日間放置した後にも反射率の変化
は認められなかった。
実施例3
基板としてガラス板、シリコンウェハー、ポリエチレン
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、テルルジイソプロポキシジアセチルアセトナートを
出発物質としてグロー放電分解法により 100■厚の
記録膜をプラズマ重合して形成し、光ディスクを作製し
た。
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、テルルジイソプロポキシジアセチルアセトナートを
出発物質としてグロー放電分解法により 100■厚の
記録膜をプラズマ重合して形成し、光ディスクを作製し
た。
記録膜の形成には実施例1で用いた装置と同様のものを
使用した。成膜条件は以下の通りである。
使用した。成膜条件は以下の通りである。
・基板温度=25℃
・テルルジイソプロポキシジアセチルアセトナートの加
熱温度=100℃ ・H2流量: 100 SCCM ・反応圧カニ I X 10’ torr・高周波型カ
ニ 70W、 13.56MHz上記のようにして作製
した各光ディスクの記録膜に対してFTIR,XPS及
びTEM観察を行ったところ、得られた記録膜は約10
rvの粒径に制御されたテルル微粒子が均一に分散した
炭素系薄膜であることがわかった。又、この記録膜に対
して高感度DSC及びTGAにより熱分析した結果、5
00℃迄においては熱分解と考えられる発熱ピーク及び
重Qd少が認められなかった。この膜の形成直後の状態
は非晶質であった。
熱温度=100℃ ・H2流量: 100 SCCM ・反応圧カニ I X 10’ torr・高周波型カ
ニ 70W、 13.56MHz上記のようにして作製
した各光ディスクの記録膜に対してFTIR,XPS及
びTEM観察を行ったところ、得られた記録膜は約10
rvの粒径に制御されたテルル微粒子が均一に分散した
炭素系薄膜であることがわかった。又、この記録膜に対
して高感度DSC及びTGAにより熱分析した結果、5
00℃迄においては熱分解と考えられる発熱ピーク及び
重Qd少が認められなかった。この膜の形成直後の状態
は非晶質であった。
次にこの記録膜の記録・消去特性を評価するため、基板
/保護膜A/記録膜/保護層B/接着層/保護板構成の
光ディスクを作製した。基板としてはプレグルーブ付き
ポリカーボネートを用い、保護膜A及びBはSi3N4
を用いてスパッタ法により100 nm厚に成膜し、接
着層は紫外線硬化樹脂を用いて塗布法により形成し、ま
た保護板としては0.5mm厚のポリカーボネート板を
用いた。なお記録膜は前記装置を用いて同一条件で成膜
した。
/保護膜A/記録膜/保護層B/接着層/保護板構成の
光ディスクを作製した。基板としてはプレグルーブ付き
ポリカーボネートを用い、保護膜A及びBはSi3N4
を用いてスパッタ法により100 nm厚に成膜し、接
着層は紫外線硬化樹脂を用いて塗布法により形成し、ま
た保護板としては0.5mm厚のポリカーボネート板を
用いた。なお記録膜は前記装置を用いて同一条件で成膜
した。
こうして作製した光ディスクを1800rpmで回転さ
せながらパワー変調したレーザービームをEim/se
eの線速で照肘し、記録・消去を繰返したところ、50
dBのC/Nと30dBの消去比が?すられ、充分な記
録消去特性が得られた。
せながらパワー変調したレーザービームをEim/se
eの線速で照肘し、記録・消去を繰返したところ、50
dBのC/Nと30dBの消去比が?すられ、充分な記
録消去特性が得られた。
更に、上記条件によって光記録を行った光ディスクを3
0℃、90%湿度の環境下で300日保イIした後、記
録の再生を行ったところ、その特性は初期特性と変わら
なかった。
0℃、90%湿度の環境下で300日保イIした後、記
録の再生を行ったところ、その特性は初期特性と変わら
なかった。
実施例4
基板としてガラス仮、シリコンウェハー、ポリエチレン
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、トリエチルインジウムセレンジイソプロポキンジア
セチルアセトナート、トリメチルタリウム及びコバルト
(nI)アセチルアセトナートを出発材料としてグロー
放電分解法によりI00nm厚の記録膜をプラズマ重合
して形威し、光ディスクを作製した。記録膜の形成には
実施例1で用いた装置と同様のもの(トリエチルインジ
ウム、セレンジイソプロポキシジアセチルアセトナート
、トリメチルタリウムの導入配管は図示していない。)
を使用した。製膜条件は以下の通りである。
テレフタレート及びポリカーボネートを用い、該基板上
に、トリエチルインジウムセレンジイソプロポキンジア
セチルアセトナート、トリメチルタリウム及びコバルト
(nI)アセチルアセトナートを出発材料としてグロー
放電分解法によりI00nm厚の記録膜をプラズマ重合
して形威し、光ディスクを作製した。記録膜の形成には
実施例1で用いた装置と同様のもの(トリエチルインジ
ウム、セレンジイソプロポキシジアセチルアセトナート
、トリメチルタリウムの導入配管は図示していない。)
を使用した。製膜条件は以下の通りである。
・基板温度:50℃
・Ar流m : 30 SCCM
・H2流ffi : 100 SCCM・反応圧カニ
I X 10’ torr・高周波型カニ 100 W
、 13.56MHzFTIR,XPS、TEM観察の
結果から、得られた記録膜は5■の粒径に制御された金
属微粒子が均一に分散した炭素系薄J摸であることがわ
かった。X線回折の結果、この膜の形成直後の状態は非
晶質であった。この薄膜を高感度DSC,TGA+、:
より熱分析した結果、500℃迄において熱分解と考え
られる発熱ピーク及び重量減少は認められなかった。
I X 10’ torr・高周波型カニ 100 W
、 13.56MHzFTIR,XPS、TEM観察の
結果から、得られた記録膜は5■の粒径に制御された金
属微粒子が均一に分散した炭素系薄J摸であることがわ
かった。X線回折の結果、この膜の形成直後の状態は非
晶質であった。この薄膜を高感度DSC,TGA+、:
より熱分析した結果、500℃迄において熱分解と考え
られる発熱ピーク及び重量減少は認められなかった。
次にこの記録膜の記録・消去特性を評価するため、基板
/保護膜A/記録H/保護Jl!B/接着層/保譲板構
成の光ディスクを作製した。基板としてはプレグルーブ
付きポリカーボネートを用い、保護膜A及びBは5iz
N4を用いてスパッタ法により 1oorv厚に成膜し
、接着層は紫外線硬化樹脂を用いて塗布法により形成し
、又保護板としては0.5mm厚のポリカーボネート板
を用いた。なお記録膜は前記装置を用いて同一条件で成
膜した。
/保護膜A/記録H/保護Jl!B/接着層/保譲板構
成の光ディスクを作製した。基板としてはプレグルーブ
付きポリカーボネートを用い、保護膜A及びBは5iz
N4を用いてスパッタ法により 1oorv厚に成膜し
、接着層は紫外線硬化樹脂を用いて塗布法により形成し
、又保護板としては0.5mm厚のポリカーボネート板
を用いた。なお記録膜は前記装置を用いて同一条件で成
膜した。
こうして作製した光ディスクを180Orpmで回転さ
せながらパワー変調したレーザービームを10m/se
eの線速で照射し、記録・消去を繰返したところ、50
dBのC/Nと30dBの消去比が得られ、充分な記録
消去特性が得られた。
せながらパワー変調したレーザービームを10m/se
eの線速で照射し、記録・消去を繰返したところ、50
dBのC/Nと30dBの消去比が得られ、充分な記録
消去特性が得られた。
更に、上記条件によって光記録を行った光ディスクを3
0℃、90%湿度の環境下で300日保存した後、記録
再生を行ったところ、その特性は初期特性と変わらなか
った。
0℃、90%湿度の環境下で300日保存した後、記録
再生を行ったところ、その特性は初期特性と変わらなか
った。
実施例5
出発材料として銅アセチルアセトナート(CuAA)、
ニッケルアセチルアセトナート(NiAA)、コバルト
(II)アセチルアセトナート(CoAA)、R<m>
アセチルアセトナート(FeAA)、亜鉛(II)アセ
チルアセトナート(ZnAA)、アルミニウム(III
)アセチルアセトナート(,61AA)を用いてプラズ
マCVD法によりそれぞれの薄膜を50〜200nmの
厚さで作製した。使用装置及び成膜条件は以下の通りで
ある。
ニッケルアセチルアセトナート(NiAA)、コバルト
(II)アセチルアセトナート(CoAA)、R<m>
アセチルアセトナート(FeAA)、亜鉛(II)アセ
チルアセトナート(ZnAA)、アルミニウム(III
)アセチルアセトナート(,61AA)を用いてプラズ
マCVD法によりそれぞれの薄膜を50〜200nmの
厚さで作製した。使用装置及び成膜条件は以下の通りで
ある。
・使用装置:第2図に示す通り。
・基 板ニガラス板、ポリエチレンテレフタレート、
シリコンウェハー 3.5インチφプレグルーブ付ポ リカーボネート光デイスク用基 板、 ・基板温度:25℃ ・出発材料の加熱温度二80〜100℃・反応圧カニ
3 X 10”’ torr・高周波型カニ 70W、
13.56MHz上記出発上記上り得られた薄膜はT
EM観察から得られた結果、金属あるいは金属酸化物か
らなる微粒子を含有していることがわかった。
シリコンウェハー 3.5インチφプレグルーブ付ポ リカーボネート光デイスク用基 板、 ・基板温度:25℃ ・出発材料の加熱温度二80〜100℃・反応圧カニ
3 X 10”’ torr・高周波型カニ 70W、
13.56MHz上記出発上記上り得られた薄膜はT
EM観察から得られた結果、金属あるいは金属酸化物か
らなる微粒子を含有していることがわかった。
CuAA、 NIAA、 CoAA、PeAA、ZnA
A、 A、Q AAのプラズマCVD薄膜中の微粒子
の大きさは、それぞれ約15、8.6.2nmであり、
ZuAA、 AI AAのプラズマCVD薄膜には、
微粒子が認められなかった。
A、 A、Q AAのプラズマCVD薄膜中の微粒子
の大きさは、それぞれ約15、8.6.2nmであり、
ZuAA、 AI AAのプラズマCVD薄膜には、
微粒子が認められなかった。
膜中の微粒子を構成する金属の標準電極型(立の減少に
対応して微粒子の大きさが減少しており、微粒子を生成
するためには、標準電極電位で−(1,50V以上の金
属を有する有機金属錯体を出発材料に用いることが有効
であることがわかる。
対応して微粒子の大きさが減少しており、微粒子を生成
するためには、標準電極電位で−(1,50V以上の金
属を有する有機金属錯体を出発材料に用いることが有効
であることがわかる。
上記のような微粒子の生成は薄膜の光学特性を左右し、
CuAA、NIAA、CoAA、 FeAA 、 Zn
AA、 A I AAのプラズマCVD薄膜は、それぞ
れ銅棒色、焦茶色、灰色、黄色、無色透明、無色透明と
種々の外観を示した。これら薄膜の光学特性を第3図(
a)〜(e)に示す。膜中微粒子の粒径が大きくなるに
従い、それぞれの波長での吸収率が増大することがわか
る。可視光を情報の書き込み、読み出しに利用する場合
、吸収率及び反射率の確保が必要であり、光学特性とい
う点でも、標準電極電位で一〇、5v以上の金属を有す
る有機金属錯体を出発材料に用いることが有効であるこ
とがわかる。
CuAA、NIAA、CoAA、 FeAA 、 Zn
AA、 A I AAのプラズマCVD薄膜は、それぞ
れ銅棒色、焦茶色、灰色、黄色、無色透明、無色透明と
種々の外観を示した。これら薄膜の光学特性を第3図(
a)〜(e)に示す。膜中微粒子の粒径が大きくなるに
従い、それぞれの波長での吸収率が増大することがわか
る。可視光を情報の書き込み、読み出しに利用する場合
、吸収率及び反射率の確保が必要であり、光学特性とい
う点でも、標準電極電位で一〇、5v以上の金属を有す
る有機金属錯体を出発材料に用いることが有効であるこ
とがわかる。
次に、これらプラズマCVD薄膜の記録特性を評価する
ために、プレグルーブ付ポリカーボネート基板上に、1
00r+m厚の記8Mを作製した(第4図(a))。な
お記録膜は上記装置を用いて同一条件で作製した。こう
して作製した光ディスクに周波数3.7MHz、線速5
.6m/sで830■波長5mWで記録を行ったところ
CoAA、N1AAのプラズマCVD薄膜では明確な反
射率変化が確認された。SEMによって記録部を観察し
た結果、表面平滑・なバブルが観察された。C/Nは5
0dBであった。
ために、プレグルーブ付ポリカーボネート基板上に、1
00r+m厚の記8Mを作製した(第4図(a))。な
お記録膜は上記装置を用いて同一条件で作製した。こう
して作製した光ディスクに周波数3.7MHz、線速5
.6m/sで830■波長5mWで記録を行ったところ
CoAA、N1AAのプラズマCVD薄膜では明確な反
射率変化が確認された。SEMによって記録部を観察し
た結果、表面平滑・なバブルが観察された。C/Nは5
0dBであった。
CoAAのプラズマCVD薄膜は50rvのAIを積層
することで(第4図(b) ) CuAA、NIAAプ
ラズマCVD薄膜の場合と同様の結果を得た。Apを積
層することによる吸収率、反射率の増大の結果と考えら
れる。
することで(第4図(b) ) CuAA、NIAAプ
ラズマCVD薄膜の場合と同様の結果を得た。Apを積
層することによる吸収率、反射率の増大の結果と考えら
れる。
FeAAプラズマCVD薄膜は、可視光のガスレーザー
を用いることで反射率変化が認められ情報記録媒体への
利用が確認できた。
を用いることで反射率変化が認められ情報記録媒体への
利用が確認できた。
これら記録のメカニズムは炭化水素物質の一部がレーザ
ー光によって発生する熱で気化するためと考えられる。
ー光によって発生する熱で気化するためと考えられる。
実施例6
ポリカーボネート基板上に、ニッケルグリオキシムのプ
ラズマCVD薄膜を作製し、ディスクの記録特性を評価
した。その結果、実施例5においでN1AAのプラズマ
CVD薄膜を記録膜に用いた場合と同様の結果を得た。
ラズマCVD薄膜を作製し、ディスクの記録特性を評価
した。その結果、実施例5においでN1AAのプラズマ
CVD薄膜を記録膜に用いた場合と同様の結果を得た。
実施例7
ポリカーボネート基板上に、鉄フェナントロリンのプラ
ズマCVD薄膜を作製し、ディスクの記録特性を評価し
た。その結果、実施例5においてFeAAのプラズマC
VD薄膜を記録膜に用いた場合と同様の結果を得た。
ズマCVD薄膜を作製し、ディスクの記録特性を評価し
た。その結果、実施例5においてFeAAのプラズマC
VD薄膜を記録膜に用いた場合と同様の結果を得た。
[発明の効果]
本発明によれば、有機金属錯体をグロー放電分解法によ
ってプラズマ重合した膜を記録層としているので、光吸
収物質(金属微粒子)が炭素系物質に均一に分散された
状態となり、記録層に含まれている炭素系物質が光吸収
物質を3次元的に保護し、記録膜単体でも充分な機械的
強度、耐熱性、耐候性、耐腐食性を備えるようになり、
記録の長寿命化を図ることができる。
ってプラズマ重合した膜を記録層としているので、光吸
収物質(金属微粒子)が炭素系物質に均一に分散された
状態となり、記録層に含まれている炭素系物質が光吸収
物質を3次元的に保護し、記録膜単体でも充分な機械的
強度、耐熱性、耐候性、耐腐食性を備えるようになり、
記録の長寿命化を図ることができる。
又、光吸収物質が微粒子化されることによって、記録及
び/又は消去時の電磁波のエネルギーが微粒子に集中す
るため感度が向上する上、記録の消去時の結晶粒径が微
粒子の大きさよりは拡大しないため、消去比が増大する
。
び/又は消去時の電磁波のエネルギーが微粒子に集中す
るため感度が向上する上、記録の消去時の結晶粒径が微
粒子の大きさよりは拡大しないため、消去比が増大する
。
更に、記録層中の光吸収物質(金属微粒子)の粒径、粒
径分布を任意に制御できるため、記録層の記録感度、消
去感度、寿命等の緒特性を均一にかつ任意に制御できる
。その上、記録層に使用可能な金属源を大幅に拡大でき
るという利点もある。
径分布を任意に制御できるため、記録層の記録感度、消
去感度、寿命等の緒特性を均一にかつ任意に制御できる
。その上、記録層に使用可能な金属源を大幅に拡大でき
るという利点もある。
第1図は本発明を光ディスクに適用した場合の一構成例
を示す断面図、第2図は本発明による光ディスクの作製
に使用される装置の構成を示す概略図、第3図 (a)
〜(e)は、それぞれCuAA(a) 、N1AA(b
) 、CoAA(c)、F e AA(d) 、Z n
AA(e)のプラズマCVD薄膜の光学特性を示す図
。第4図(a) (b)は実施例5における記録媒体
を説明する図である。 l・・・基板、2・・・記録層、3・・・保護層、4・
・・保護板、5・・・炭素系物質、6・・・光吸収物質
、11・・・基板、12・・・銅アセチルアセトナート
、I3・・・RF電極、14・・・対向電極、15・・
・RF電源、16・・・真空計、17・・・油拡散ポン
プ、18・・・油回転ポンプ、
を示す断面図、第2図は本発明による光ディスクの作製
に使用される装置の構成を示す概略図、第3図 (a)
〜(e)は、それぞれCuAA(a) 、N1AA(b
) 、CoAA(c)、F e AA(d) 、Z n
AA(e)のプラズマCVD薄膜の光学特性を示す図
。第4図(a) (b)は実施例5における記録媒体
を説明する図である。 l・・・基板、2・・・記録層、3・・・保護層、4・
・・保護板、5・・・炭素系物質、6・・・光吸収物質
、11・・・基板、12・・・銅アセチルアセトナート
、I3・・・RF電極、14・・・対向電極、15・・
・RF電源、16・・・真空計、17・・・油拡散ポン
プ、18・・・油回転ポンプ、
Claims (2)
- (1)基板上に記録層を設けてなる情報記録媒体におい
て、前記記録層が、グロー放電分解法により形成された
有機金属錯体のプラズマ重合膜からなることを特徴とす
る情報記録媒体。 - (2)有機金属錯体のプラズマ重合膜に含有されている
金属微粒子を構成する少なくともひとつの金属の標準電
極電位が−0.5eV以上である請求項(1)記載の情
報記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2036174A JPH0361584A (ja) | 1989-03-10 | 1990-02-19 | 情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5618889 | 1989-03-10 | ||
| JP1-77838 | 1989-03-29 | ||
| JP7783889 | 1989-03-29 | ||
| JP2036174A JPH0361584A (ja) | 1989-03-10 | 1990-02-19 | 情報記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0361584A true JPH0361584A (ja) | 1991-03-18 |
Family
ID=27289000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2036174A Pending JPH0361584A (ja) | 1989-03-10 | 1990-02-19 | 情報記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0361584A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006185857A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 燃料電池用の金属セパレータとその製造方法 |
-
1990
- 1990-02-19 JP JP2036174A patent/JPH0361584A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006185857A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-13 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 燃料電池用の金属セパレータとその製造方法 |
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