JPH0362172A - 論理検証充分性評価方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は論理装置の論理検証方法に係り、特に論理検証
充分性評価方法に関する。

〔従来の技術〕

近年、半導体技術の進歩に伴い、論理装置の大規模化、
オールＬＳＩ化が進み、開発期間短縮と開発工数低減が
重要な課題になっている。この課題に対処するため、論
理検証は主に、実機調整ではなく、論理シミュレーショ
ンにより行われている。このような論理検証をできるだ
け系統立てて行えるようにするには、論理検証充分性評
価方法が不可欠である。

論理検証充分性評価方法は、論理回路の動作を検証する
ことを目的とした構造テストカバレージ評価方法と論理
回路の機能を検証することを目的とした機能テストカバ
レージ評価方法に大別される。

構造テストカバレージ評価方法に関する従来技術に次の
ものがある。ＩＢＭ　　ジャーナル　リサーチ　デベロ
ップメント　第２６巻　第■号（１９８２年１月）第８
９頁から第９９ぽ（ｉ１３Ｍ　Ｊ。

ＲＥＳ、ＤＥＶＥＬＯＰ、Ｖｏｌ、２６．Ｎａ１（Ｊａ
ｎ、１９８２）ＰＰ、８９−９９）において、ハードウ
ェアフローチャートで記述された動作レベル論理の構造
テストカバレージ評価方法が記載されている。このハー
ドウェアフローチャートは、動作内容を表す動作ボック
スと動作条件の判定を表す判定ボックスからなり、各判
定ボックスの各動作のテスト実施率を表すＣ８尺度と（
ｎ＋１）段の連続する判定ボックスで囲まれた論理の各
動作の組合せのテスト実施率を表すｃｎ尺度が評価基準
として使用されている。

一方、機能テストカバレージ詳細方法に関する従来技術
は見当たらない。

〔発明が解決しようとするｌＩＩ題〕

上記の従来技術を含めて、構造テストカバレージ評価方
法は、この詳細方法に固有な問題、すなわち、未テスト
のテスト項目が指損されても、そのテスト項目の機能的
な意味が不明のため、そのテスト項目をテストするため
のテストプログラムが容易に作成できず、その結果、論
理検証が充分に行えないという′第１の問題がある。こ
の問題を解決するには機能テストカバレージ詳細が不可
欠であり、本発明の第１の目的は機能テストカバレージ
評価方法を抛倶することにある。

機能テストカバレージ評価方法において、論理回路が変
更されたときに、この変更に対して有効な機能テストカ
バレージデータを保存することができないと、テストを
最初からやり直さなければならないという第２の問題が
ある。この問題を解決するには論理回路変更時の機能テ
ストカバレージデータの保存が不可欠であり１本発明の
第２の目的は論理回路変更時の機能テストカバレージデ
ータの保存方法を提供することにある。

また１機能テストカバレージ評他方法において。

機能テスト項目が変更されたときに、この変更に対して
有効な機能テストカバレージデータを保存することがで
きないと、テストを最初からやり直さなければならない
という第３の問題がある。この問題を解決するには機能
テスト項目変更時の機能゛テストカバレージデータの保
存が不可欠であり、本発明の第３の目的は機能テスト項
目変更時の機能テストカバレージデータの保存方法を提
供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、上記の第１の目的を達成するために。

計算機を使用する論理設計自動化システムにおいて、論
理検証対象論理（論理装置全体または複数の論理ユニッ
ト）の機能を検証するための機能テスト項目セットを作
成して登録する第１ステップと、前記論理検証対象論理
の論理回路データを入力して論理コンパイルを行い、コ
ンパイル結果を登録する第２ステップと、前記コンパイ
ル結果とテストプログラムを入力して論理シミュレーシ
ョンを行い、シミュレーション結果を登録する第３ステ
ップと、前記機能テスト項目セットと前記シミュレーシ
ョン結果を入力し、前記機能テスト項目セットのテスト
実施状態を表す機能テストカバレージデータを作成して
登録する第４ステップと、前記機能テストカバレージデ
ータを入力し、それを編集して出方する第５ステップよ
りなる第１の手段を使用するようにしたものである。

また、本発明は、上記の第２の目的を達成するために、
上記の第１の手段において、前記論理検証対象論理回路
の動作を検証するための構造テスト項目セットを作成し
て登録する第６ステップを追加し、その第４ステップの
代わりに、前記機能テスト項目セットと前記構造テスト
項目セットと前記シミュレーション結果を入力し、前記
テストプログラムの前記機能テストカバレージデータと
前記構造テスト項目セットのテスト実施状態を表す構造
テストカバレージデータを作成し、前記テストプログラ
ム名と対応づけて登録する第７ステップを使用し、前記
論理検証対象論理の論理回路が変更されたときに、変更
前の前記構造テスト項目セットと変更後の前記構造テス
ト項目セットと変更前の前記機能テストカバレージデー
タと変更前の前記構造テストカバレージデータを入力し
。

両者の前記構造テスト項目セットを比較して前記変更に
より無効になった変更前の無効構造テスト項目を認識し
、その無効構造テスト項目のテスト実施状態に依存して
前記変更に対して有効な変更前の前記機能テストカバレ
ージデータを保存して登録する第８ステップを追加した
第２の手段を使用するようにしたものである。

また、本発明は、上記の第３の目的を達成するために、
上記の第１の手段において、前記論理検証対象論理の機
能が変更されたときに、変更前の前記機能テスト項目セ
ットと変更後の前記機能テージデータを入力し、両者の
前記機能テスト項目セットを比較して前記変更により無
効になった無効機能テスト項目を認識し、その無効機能
テスト項目のテスト実施状態を未テストにしてその機能
テストカバレージデータを登録する第９ステップを追加
した第３の手段を使用するようにしたものである。

さらに、本発明は、上記の第１の手段の第１ステップに
おいて、論理装置全体の前記機能テスト項目セットを作
成して登録しておき、その機能テスト項目セットから前
記論理検証対象論理の前記機能テスト項目を自動抽出す
る第４の手段を使用するようにしたものである。

さらに、本発明は、上記の第２の手段の第６ステップに
おいて、前記論理検証対象論理の論理回路データを入力
し、その論理回路データから前記構造テスト項目セット
を自動生成する第５の手段を使用するようにしたもので
ある。

〔作用〕

上記の第工の手段は機能テストカバレージ評価を可能に
し、上記の第２の手段は論理回路変更時の機能テストカ
バレージデータの保存を可能にし、上記の第３の手段は
機能テスト項目変更時の機能テストカバレージデータの
保存を可能にし、上記の第４の手段は上記の第１の手段
において機能テスト項目セットの重複登録の回避を可能
にし、上記の第５の手段は上記の第２の手段において構
造テスト項目セットの人手作成不要をＬＩＪ能にする。

〔実施例〕

以下１本発明の一実施例を図面により詳細に説明する。

第１図は１機能テストカバレージ評価を可能にする０本
発明に基づくテストカバレージデータ取得処理のフロー
チャートである。この図において、ステップ１００，１
０２，１０３，１０５　。

１０６．１０７が本発明を実施するために追加したステ
ップである。この図に基づき、テストカバレージデータ
取得の処理手順を順次説明する。

ステップ１００：本ステップは、人手作成の論理装置全
体の機能テスト項目１２０の入力を受付け、単一表現形
式の機能テスト項目はそのまま、多重表現形式の機能テ
スト項目は単一表現形式に変換し、その機能テスト項目
を機能テスト項目ファイル１３２に出力する。

機能テスト項目は、論理装置を構成する各論理ユニット
の機能を検証するためのテスト項目で、論理ユニット間
インタフェース信号（コマンド。

オーダ列）の組合せである。

各機能テスト項目は。

信号名＝論理値・信号名＝論理値・・・・・・・・信号
名＝論理値；コメント の形式で記述される。ここで、論理値はＯかｌのいずれ
かであり、・はＡＮＤ条件を表す。また、信号名＝論理
値の記述において、単一表現形式の記述 ＡＯ−Ｐ＝Ｏ・Ａｌ−Ｐ＝Ｏ・Ａ２−Ｐ＝０の代わりに
、多重表現形式を用いて Ａ　＜Ｏ−２＞−Ｐ＝ＯＯＯ と記述することも可能である。

第２図は機能テスト項目１２０の例を示す。また、第３
ｗＪは機能テスト項目２００が機能テスト項目ファイル
１３２に出力されるときのデータを示す。

ステップ１０１　：本ステップは、論理検証対象論理（
論理装置全体または複数の論理ユニット）の論理回路デ
ータが格納されている論理回路ファイル１３０を入力し
、論理コンパイルを行い、その結果をコンパイル結果フ
ァイル１３３に出力する。

論理回路データは、論理回路を構成する各素子毎に以下
の形式で記述される。入力エツジはＳＤ　　ＰＩ　　信
号名 の形式で、出力エツジは ＳＤ　　ＰＯ信号名 の形式で、ゲートは ＩＣ素子タイプ　ピン番号＝信号名・・・ビン番号＝信
号名 の形式で各々記述される。ここで、Ｓｔ）はエツジ定義
オペレーションを、ＩＣはゲート定義オペレーションを
、ＰＩは入力エツジを、ＰＯは出カニ内の論理回路デー
タの例を示す。

一方、コンパイル結果は、論理シミュレーションを高速
に行うために、論理回路データをテーブル形式に変換し
たデータである。第５図はコンパイル結果のデータ構成
を示す、この図に基づき、そのデータ構成を説明する。

入力接続テーブル５００において、信号名接続ポインタ
は当該入力信号の信号名テーブル５０４へのポインタを
表す。

素子テーブル５０１において、入力接続ポインタと入力
数は当該素子の入力の入力接続テーブル５００への先頭
ポインタとその入力数を、素子コードは当該素子の素子
タイプのコードを、出力接続ポインタと出力数は当該素
子の出力の出力接続テーブル５０２への先頭ポインタと
その出力数を各々表す。出力接続テーブル５０２におい
て、信号名接続ポインタは当該出力信号の信号名テーブ
ル５０４へのポインタを、負荷接続ポインタと負荷数は
当該出力信号の負荷（ファンアウト）の負債接続テーブ
ル５０３への先頭ポインタとその負荷数を各々表す。負
荷接続テーブル５０３において、素子接続ポインタは当
該負荷を入力とする素子の素子テーブル５０１へのポイ
ンタを表す、信号名テーブル５０４において、信号名は
当該信号の信号名を表す。

ステップ１０２：本ステップは１機能テストフレームデ
ータ作成処理を行う。

第６図は機能テストフレームデータ作成処理のフローチ
ャートである。この図に基づき、その処理手順を順次説
明する。

ステップ６００：本ステップは１機能テスト項目ファイ
ル１３２とコンパイル結果ファイル１３３内の信号名テ
ーブル５０４を入力する。

ステップ６０１：本ステップは１機能テスト項目ファイ
ル１３２内の各機能テスト項目について、当該機能テス
ト項目を構成している各信号名が信号名テーブル５０４
内に存在しているかを判定し、すべての信号名が存在し
ているならば、当該機能テスト項目を選択し、各信号名
を当該信号名が登録されている信号名テーブル５０４の
エントリ番号にコード変換する。

ステップ６０２：本ステップは、ステップ６０１の結果
を使用して機能テストフレームデータを作成し、機能テ
ストフレームデータファイル１３４に出力する。

第７園は機能テストフレームのデータ構成を示す。この
図に基づき、そのデータ構成を説明する。

機能テスト項目検索テーブル７００において、そのエン
トリ番号は信号名コードと対応しており、テスト項目検
索ポインタと個数は当該信号名コードを構成要素とする
機能テスト項目の機能テスト項目接続テーブル７０１へ
の先頭ポインタとその個数を表す１機能テスト項目接続
テーブル７０１において、テスト項目接続ポインタは当
該信号名コードを構＊要素とする機能テスト項目の機能
テスト項ｌ１ｌｌ１７０２へのポインタを表す。機能テ
スト項目テーブル７０２において、構成要素接続ポイン
タと個数は当該信号名コードを構成要素とする機能テス
ト項目の構成要素テーブル７０３への先頭ポインタとそ
の構成要素の個数を表す。構成要素テーブル７０３にお
いて、信号名コードと論理値は当該機能テスト項目を構
成している信号名コードとその論理値（Ｏか１）を表す
、コメントテーブル７０４において、このテーブルのエ
ントリ番号は機能テスト項目テーブル７０２のエントリ
番号と対応しており、コメントは当該機能テスト項目の
コメントを表す。

ステップ１０３：本ステップは５構造テストフレ一ムデ
ータ作成処理を行う。

構造テスト項目は、論理検証対象論理の論理回路の各サ
ブ回路の動作を検証するためのテスト項目で、外部端子
とフリップフロップ素子で囲まれた各サブ回路（組合せ
回路）の動作の組合せである。

第８図は構造テストフレームデータ作成処理のフローチ
ャートである。この図に基づき、その処理手法を順次説
明する。

ステップ８００：本ステップは、コンパイル結果ファイ
ル１３３を入力する。

ステップ８０１：本ステップは、コンパイル結果、すな
わち、入力接続テーブル５００、素子テーブル５０１．
出力接続テーブル５０２、負荷接続テーブル５０３、信
号名テーブル５０４を参照して、以下の条件を満たす観
測信号を認識する。

（１）外部端子の入出力信号は観測信号である。但し、
スキャン回路の入出力信号とクロック入力信号は除く。

（２）フリップフロップ素子の出力信号は観測信号であ
る。但し、出力信号が両極存在するならば、Ｐ極の出力
信号で代表させる。

（３）観測信号が組合せ回路を介さずに隣接するならば
、最も入力端の観測信号で代表させる。

（４）出力信号が観測信号であるフリップフロップ素子
のクロック入力信号は観測信号である。

ステップ８０２：本ステップは、テーブル５００〜５０
４を参照して、入力外部端子の観測信号を除く各観測信
号を起点にファンイントレースを行い、当該観測信号を
切口出力信号とし、その１つ入力端の観測信号を切口入
力信号とするサブ回路を抽出し、当該サブ回路の構造テ
スト項目を以下の方法で生成する。

（１）サブ回路の構成素子がＡＮＤ　（ＮＡＮＤ）素子
ならば、その出力信号値が１（Ｏ）になる組合せとして
、その入力信号値がすべて１（０）になる場合を選択し
、その出力信号が０（１）になる組合せとして、その入
力信号値のいずれかｌっが０（１）で、他のすべての入
力信号値がＸ（ｄｏｎ’ｔ　ｃａｒｅ）となるすべての
場合を選択する。

（２）サブ回路の構成索子がＯＲ（ＮＯＲ）素子ならば
、その出力信号値が１（Ｏ）になる組合せとして、その
入力信号値のいずれか１つが１（０）で、他のすべての
入力信号値が又となるすべての場合を選択し、その出力
信号値が０（１）になる組合せとして、その入力信号値
がすべてＯ（１）になる場合を選択する。

（３）各素子の入力信号値の組合せを連瀦して、入力観
測信号値の組合せで構造テスト項目生成条件表を作成す
る。ここで、サブ回路の観測出力信号がフリップフロッ
プ素子の出力信号ならば。

入力観測信号値の各組合せにクロック入力信号値が１で
あるという条件を追加する。

（４）構造テスト項目生成条件表から構造テスト項目を
生成する。構造テスト項目の表現形式は、上記の機能テ
スト項目の表現形式と同一であり、コメントは出力観測
信号名とその出力論理値である。

第９図は論理回路の例を示す。第１０図は論理回路９０
０の構造テスト項目生成条件表と構造テスト項目生成条
件表１０００から生成した構造テスト項目を示す。

ステップ８０３：本ステップは、ステップ８０２で生成
した構造テスト項目セットにおいて、重複構造テスト項
目と被包含構造テスト項目を以下の方法で認識し、削除
する。

（１）各構造テスト項目について、当該構造テスト項目
を構成している信号名が英数字順に並ぶように構成要素
（信号名＝論理４ｄｌ）を入替える。

（２）構造テスト項目セットにおいて、構成要素数を第
１キーとして、第１構成要索の信号名を第２キーとして
、構造テスト項目をソートする。

（３）構成要素が重複する構造テスト項目を認識し、１
つを残して、その他のすべての構造テスト項目を削除す
る０重複する構造テスト項目の例を以下に示す。

Ａ−Ｐ＝ｌ　　−Ｂ−Ｐ＝１　；　Ｘ−Ｐ、０Ａ−Ｐ＝
１　−　Ｂ−Ｐ＝１　　；　Ｙ−Ｐ、０（４）構成要素
に関して包含関係がある構造テスト項目を認識し、包含
される構造テスト項目をすべて削除する。包含関係があ
る構造テスト項目の例を以下に示す。

Ａ−Ｐ＝１−　Ｂ−Ｐ＝１　：　Ｘ−Ｐ、　０Ａ−Ｐ＝
１・Ｂ−Ｐ＝１−Ｃ−Ｐ＝１　；　Ｙ−Ｐ、　０ステッ
プ８０４：本ステップは、ステップ８０３の後で残って
いる各構造テスト項目について、当該構造テスト項目を
構成している各信号名を当該信号名が登録されている信
号名テーブル５０４のエントリ番号にコード変換する。

ステップ８０５：本ステップは、ステップ８０４の結果
を使用して構造テストフレームデータを作成し、構造テ
ストフレームデータファイル１３５に出力する。

第１１図は構造テストフレームのデータ構成を示す。こ
の図に基づき、そのデータ構成を説明する。構造テスト
項目検索テーブル１１００において、そのエントリ番号
は信号名コードと対応しており、テスト項目ポインタと
個数は当該信号名コードを構成要素とする構造テスト項
目の構造テスト項目接続テーブル１１０１への先頭ポイ
ンタとその個数を表す、構造テスト項目接続テーブル１
１０１において、テスト項目接続ポインタは当該信号名
コードを構成要素とする構造テスト項目の構造テスト項
目テーブル１１０２へのポインタを表す。構造テスト項
目テーブル１１０２において、構成要素接続ポインタと
個数は当該信号名コードを構成要素とする構造テスト項
目の構成要素テーブル１１０３への先頭ポインタとその
構成要素の個数を表し、出力信号名コードは当該構造テ
スト項目のコメントの出力観測信号の信号名コードを、
出力論理値は当該構造テスト項目のコメントの出力観測
信号の論理値を各々表子。構成要素テーブル１１０３に
おいて、信号名コードと論理値は当該構造テスト項目を
構成している信号名コードとその論理値を表す。

ステップ１０４，１０５ニステップ１０４は論理シミュ
レーションを行い、ステップ１０５はテストカバレージ
データ取得処理を行う。肉ステップの処理は交互に行わ
れる。

ステップ１０４は、コンパイル結果ファイル１３３とテ
ストプログラムが格納されているテストプログラムファ
イル１３１を入力し、論理シミュレーションを行い、そ
の結果をシミュレーション結果ファイル１３６に出力す
る。また、ステップ１０４は、論理シミュレーションの
実行中に、後述のようにステップ１０５と交互処理を行
う。

テストプログラムは論理検証対象論理の論理回路の切口
入力信号の論理値の時系列集合であり、シミュレーショ
ン結果は当該論理回路内の観測信号の論理値の時系列集
合である。第１２図はテストプログラムファイル１３１
内のテストプログラムの例を、第１３図はシミュレーシ
ョン結果ファイル１３６内のシミュレーション結果の例
を示す。

第１４図はステップ１０４とステップ１０５の交互処理
の概要を示す、この図に基づき、その処理手順を以下に
説明する。

ステップ１４００　：本ステップでは、最初にスステッ
プ１０４がステップ１０５を初期設定モードで起動する
。次にステップ１０５が初期設定処理を行う。最後に、
ステップ１０５がステップ１０４に終了を応答する。

第Ｉ５図はステップ１０５で使用するワークテーブルと
機能テストフレームデータ、構造テストフレームデータ
の関連を示す、＊理値テーブル１５００において、この
テーブルのエントリ番号は機能テスト項目検索テーブル
７００、構造テスト項目検索テーブル１１００のエント
リ番号と対応しており、倫理値は当該信号名コードの論
理値を表し、イベントフラグは当該信号名コードのイベ
ント（論理値の変化）発生の状態を表す０機能テストカ
バレージテーブル１５０１において、このテーブルのエ
ントリ番号は機能テスト項目テーブル７０２のエントリ
番号と対応しており、テストカバレージは機能テストの
実施状態を表す、構造テストカバレージテーブル１５０
２において、このテーブルのエントリ番号は構造テスト
項目テーブル１１０２のエントリ番号と対応しており。

テストカバレージは構造テストの実施状態を表す。

第１６図はステップ１０５の初期設定処理のフローチャ
ートである。この図に基づき、その処理手順を説明する
。

ステップ１６００：本ステップは、機能テストフレーム
データファイル１３４と構造テストフレームデータファ
イル１３５を入力する。

ステップ１６０１：本ステップは、ワークテーブル１５
００〜１５０２の初期設定を行う、すなわち、論理値テ
ーブル１５００の論理値を×に、機能テストカバレージ
テーブル１５０１のテストカバレージを０に、構造テス
トカバレージテーブル１５０２のテストカバレージを各
々０にセットする。

ステップ１４０１：本ステップでは、ステップ１０４が
所定のサイクル分の論理シミュレーションを行い、その
間に発生した観測信号のイベントセットをインタフェー
ステーブル１１０にセットする。ここで、イベントは論
理値が変化した信号名コードとその論理値の対である。

ステップ１４０２　：本ステップでは、最初にステップ
１０４がステップ１０５をカバレージ取得モードで起動
する１次にステップ１０５はインタフェーステーブル１
１０を参照し、テストカバレージ取得処理を行う、最後
にステップ１０５はステップ１０４に終了を応答する。

第１７図はステップ１０５のテストカバレージ取得処理
のフローチャートである。この図に基づき、その処理手
順を以下に説明する。

ステップ１７００：本ステップは、論理値テーブル１５
００のイベントフラグにＯをセットし、インタフェース
テーブル１１０から１サイクル分のイベントセットを順
次取出し、各イベントについて、その論理値をテーブル
１５００の論理値にセットし、テーブル１５００のイベ
ントフラグに１をセットする。

ステップ１７０１：本ステップは、論理値テーブル１５
００において、イベントフラグが１である各信号名コー
ドについて５機能テストフレームデータ７００〜７０４
を参照して、当該信号名コードを構成要素とする機能テ
スト項目をすべて認識し、各機能テスト項目について機
能テストカバレージの取得を以下の方法で行う。

（１）当該機能テスト項目がテスト実施済みならば、す
なわち１機能テストカバレージテーブル１５０１におい
て、当該機能テスト項目のテストカバレージが１ならば
、処理をスキップする。

（２）当該機能テスト項目のテスト条件が成立していれ
ば、その機能テストカバレージを取得する。

すなわち、当該機能テスト項目の各構成要素の条件（信
号名コード＝論理値）が成立していれば１機能テストカ
バレージテーブル１５０１において、当該機能テスト項
目のテストカバレージに１をセットする。

ステップ１７０２：本ステップは、論理値テーブル１５
　往古において、イベントフラグ１である各信号名コー
ドについて、構造テストフレームデータ１１００−１１
０３を参照して、当該信号名コードを構成要素とする構
造テスト項目をすべて認識し、各構造テスト項目につい
て構造テストカバレージの取得を以−ドの方法で行う。

（１）当該構造テスト項目がテスト実施済みならば。

すなわち、構造テストカバレージテーブル１５０２にお
いて、当該構造テスト項目のテストカバレージが１なら
ば、処理をスキップする。

（２）当該構造テスト項目の出力ｌ１１測信号のテスト
条件（信号名コード＝論理値）が成立していなければ、
処理をスキップする。

（３）当該構造テスト項目の入力観測信号のテスト条件
が成立していれば、その構造テストカバレージを取得す
る。すなわち、当該構造テスト項目の各構成要素の条件
（信号名コード＝論理値）が成立していれば、構造テス
トカバレージテーブル１５０２において、当該構造テス
ト項目のテストカバレージに１をセットする。

ステップ１７０３：本ステップは、インタフェーステー
ブル１１０に未処理イベントセットが残っているかを判
定し、残っていれば、ステップ１７００に分岐し、そう
でなければ、テストカバレージ取得処理は終了する。

ステップ１４０２の後は、ステップ１０４の論理シミュ
レーションが終了するまで、ステップ１４０１とステッ
プ１４０２の交互処理を行う。

ステップ１４０３　：本ステップでは、ステップ１０４
がステップ１０５を終了モードで起動し、ステップ１０
４はシミュレーション結果をシミュレーション結果ファ
イル１３６に出力して処理を終了する。一方、ステップ
１０５は、当該テストプログラム名と機能テストカバレ
ージテーブル１５０１のデータと構造テストカバレージ
テーブル１５０２のデータをインタフェーステーブル１
１１にセットして処理を終了する。

ステップ１０６：本ステップはテストカバレージデータ
登録処理を行う。

第１８図はテストカバレージデータ登録処理のフローチ
ャートである。この図に基づき、その処理手順を順次説
明する。

ステップ１８００　：本ステップは、インタフェーステ
ーブル１１１とテストカバレージデータが格納されてい
るテストカバレージデータファイル１３７を入力する。

第１９図はテストカバレージのデータ構成を示す、累積
機能テストカバレージテーブル１９００は機能テストカ
バレージテーブル１５０１と同一形式であり、累積構造
テストカバレージテーブル１９０１は構造テストカバレ
ージテーブル１５０２と同一形式である。テストカバレ
ージ管理テーブル１９０２において、テストプログラム
名はテストカバレージデータを登録するテストプログラ
ム名を表し１機能テストカバレージの先頭ポインタと個
数は機能テストカバレージ登録テーブル１９０３への先
頭ポインタとその個数を表し、構造テストカバレージの
先頭ポインタと個数は構造テストカバレージテーブル１
９０４への先頭ポインタとその個数を表す。機能テスト
カバレージ登録テーブル１９０３において、圧縮テスト
カバレージは機能テストカバレージを圧縮してデータを
表す。構造テストカバレージ登録テーブル１９０４にお
いて。

圧縮テストカバレージは構造テストカバレージを圧縮し
たデータを表す。上記のテストカバレージデータはテス
トカバレージデータファイル１３７の作成時に初期化さ
れる。

ステップ１８０１　：本ステップは、インタフェーステ
ーブル１１１内の機能テストカバレージと累積機能テス
トカバレージテーブル１９００内の機能テストカバレー
ジをＯＲ演算し、テーブル上９００にセットし、テーブ
ル１１１内の構造テストカバレージと累積構造テストカ
バレージテーブル１９０１内の構造テストカバレージを
ＯＲ演算し、テーブル上９０１にセットする。

ステップ１８０２：本ステップは、インタフェーステー
ブル１１１内のテストプログラム名をテストカバレージ
テーブル１９０２にセットし、テーブル１１１内の機能
テストカバレージと構造テストカバレージを圧縮し、圧
縮結果をテーブル１９０２、機能テストカバレージ登録
テーブル１９０３、構造テストカバレージ登録テーブル
１９０４にセットする。

第２０図はテストカバレージの圧縮の例を示す。

ステップ１８０３：本ステップは、テストカバレージデ
ータ１９００〜１９０４をテストカバレージデータファ
イル１３７に出力する。

ステップ１０７：本ステップは、機能テストフレー１１
データフアイル１３４、構造テストフレー２１データフ
アイル１３５、テストカバレージデータファイル１３７
を入力し、テストカバレージデータを編集し、テストカ
バレージデータ１５０を出力する。

テストカバレージデータ１５０は、累積機能テストカバ
レージの比率、累積構造テストカバレージの比率、未テ
ストの機能テスト項目等である。

第２１１１２１は、論理回路変更時の機能テストカバレ
ージデータの保存を可能にする０本発明に基づく論理変
更時のテストカバレージデータ保存処理のフローチャー
トである。この図において、ステップ１０８が本発明を
実施するために新たに追加したステップである。この図
に基づき、論理変更時のテストカバレージデータ保存の
処理手順を順次説明する。以下の説明において、旧とい
う接頭辞は論理変更前を、新という接頭辞は論理変更後
を各々表す。

ステップ１０１：本ステップは、新論理回路ファイル１
３８を入力し、論理コンパイルを行い、新コンパイル結
果ファイル１３９に出力する。

ステップ１０２：本ステップは機能テスト項目ファイル
１３２と新コンパイル結果ファイル１３９を入力し２機
能テストフレームデータを作威し、新機能テストフレー
ムデータファイル１４０に出力する。ここで１機能テス
ト項目の変更がないのに、本ステップの処理を行うのは
、論理変更により同一信号名でも信号名コードが変わる
可能性があるからである。

ステップ１０３：本ステップは、新コンパイル結果ファ
イル１３９を入力し、構造テストフレームデータを作威
し、新構造テストフレームデータファイル１４１に出力
する。

ステップ１０８：本ステップは、論理変更時のテストカ
バレージデータ保存処理を行う。

第２２図はテストカバレージデータ保存処理のフローチ
ャートである。この図に基づき、その処理手順を順次説
明する。

ステップ２２００　：本ステップはワークテーブルの初
期設定を行う。

第２３図はワークテーブルの構成を示す、旧構造テスト
項目テーブル２３０ｏにおいて、構造テスト項目は旧構
造テスト項目を表す、新構造テスト項目テーブル２３０
１において、構造テスト項目は新構造テスト項目を表す
。新旧構造テスト項目対応テーブル２３０２において、
このテーブルのエントリ番号はテーブル２３００のエン
トリ番号と対応しており、対応フラグはテーブル２３０
０内の当該構造テスト項目がテーブル２３０　Ｌ内に存
在しているか否かを表し、エントリ番号は当該構造テス
ト項目がテーブル２３ｏ１に存在している場合のテーブ
ル２３０１のエントリ番号を表す。

再テストプログラム名テーブル２３ｏ３において、テス
トプログラム名は再テストすべきテストプログラム名を
表す。

上記の初期設定において、本ステップはテーブル２３０
０の構造テスト項目とテーブル２３０１の構造テスト項
目とテーブル２３０３の再テストプログラム名にスペー
スをセットし、テーブル２３０２の対応フラグとエント
リ番号に０をセットする。

ステップ２２０１：本ステップは、旧コンパイル結果フ
ァイル１４２．旧構造フレームデータファイル１４３．
新コンパイル結果ファイル１３９、新構造フレームデー
タファイル１４１．旧テストカバレージデータファイル
１４４．新テストカバレージデータファイル１４５を入
力する。

ステップ２２０２：本ステップは、旧コンパイル結果（
テーブル５０４の形式のデータ）を参照して、旧構造テ
ストフレームデータ（テーブル１１００〜１１０３の形
式のデータ）を構造テスト項目（構造テスト項目ｆｏｏ
ｌの形式のデータ）に変換し、この構造テスト項目を旧
構造テスト項目テーブル２３００にセットし、新コンパ
イル結果（テーブル５０４の形式のデータ）を参照して
、新構造テストフレームデータ（テーブル１１００〜１
１０３の形式のデータ）を構造テスト項目（構造テスト
項目１００１の形式のデータ）に変換し、この構造テス
ト項目を新構造テスト項目テーブル２３０１にセットす
る。

ステップ２２０３　：本ステップは、旧構造テスト項目
テーブル２３００内の各構造テスト項目について、新構
造テスト項目テーブル２３０１をサーチし、当該構造テ
スト項目が見つかれば、新旧構造テスト項目対応テーブ
ル２３０２の当該対応フラグにｌをセットし、当該エン
トリ番号にテーブル２３０１の当該エントリ番号をセッ
トする。

ステップ２２０４：本ステップは、旧テストカバレージ
データ（テーブル１９０２の形式のデータ）のエントリ
番号Ｎを１にセットする。

ステップ２２０５　：本ステップは、エントリ番号Ｎに
テストカバレージが登録されているかを判定し、登録さ
れていれば、ステップ２２０６へ進み、そうでなければ
、ステップ２２１１に分岐する。

ステップ２２０６　：本ステップは、エントリ番号Ｎが
指す構造テストカバレージの圧縮テストカバレージ（テ
ーブル１９０４の形式のデータ）を取出し、復元する。

第２４図はテストカバレージの復元の例を示す。

ステップ２２０７：本ステップは、復元された構造テス
トカバレージにおいて、新旧構造テスト項目対応テーブ
ル２３０２内の対応フラグが０である旧構造テスト項目
テーブル２３００内のすべての構造テスト項目のテスト
カバレージが０であるかを判定し、この条件を満たすな
らば、ステップ２２０８に進み、そうでなければ、ステ
ップ２２１０に分岐する。

ステップ２２０８　：本ステップはテストカバレージデ
ータの保存を以下の方法で行う。

（１）ステップ２２０６で復元した旧構造テストカバレ
ージ（テーブル１５０２の形式のデータ）に対応する新
構造テストカバレージ（テーブル１５０２の形式のデー
タ）の各要素を０にセットし、新旧構造テスト項目対応
テーブル２３０２を参照して、旧構造テストカバレージ
の各要素の値を新構造テストカバレージの同一要素の位
置にセットし、新構造テストカバレージを作成する。

（２）新累積構造テストカバレージ（テーブル１９０１
の形式のデータ）と新構造テストカバレージのＯＲ演算
を行い、新累積構造テストカバレージを更新する。

（３）エントリ番号Ｎが指す機能テストカバレージの圧
縮テストカバレージ（テーブル１９０３の形式のデータ
）を取出し、復元し、ａｔ元した旧機能テストカバレー
ジ（テーブル１５０１の形式のデータ）と新累積機能テ
ストカバレージ（テーブル１９０２の形式のデータ）の
ＯＲ演算を行い、新累積機能テストカバレージを更新す
る。

（４）新構造テストカバレージを圧縮した圧縮テストカ
バレージとエントリ番号Ｎが指すテストプログラム塩と
機能テストカバレージの圧縮テストカバレージ（テーブ
ル１９０２〜１９０４の形式のデータ）を順次登録する
。

ステップ２２０９　：本ステップはエントリ番号Ｎにｌ
を加算する。

ステップ２２１０：本ステップは、エントリ番号Ｎが指
すテストプログラム名を再テストプログラム名テーブル
２３０３に登録する。

ステップ２２１１：本ステップは、新テストカバレージ
データ（テーブル１９００〜１９０４の形式のデータ）
を新テストカバレージデータファイル１４５に出力し、
再テストプログラム名テーブル２３０３内の再テストプ
ログラム名工５１を出力する。

第２５図は、機能テスト項目変換時の機能テストカバレ
ージデータの保存を可能にする、本発明に基づく機能テ
スト項目変更時のテストカバレージデータ保存処理のフ
ローチャートである。この図において、ステップ１０９
が本発明を実施するために竺汽に追加したステップであ
る。この図に基づき、機能テスト項目変更時のテストカ
バレージデータ保存の処理手順を順次説明する。以下の
説明において、旧という接頭辞は論理変更前を、新とい
う接頭辞は論理変更後を各々表す。

ステップ１００：本ステップは、新機能テスト項目１２
１の入力を受付け、新機能テスト項目ファイル１４６に
出力する。

ステップ１０２：本ステップは、新機能テスト項目ファ
イル１４６とコンパイル結果ファイル１３３を入力し５
機能テストフレームデータを作成し、新機能テストフレ
ームデータファイル１４０に出力する。

ステップ１０９：本ステップは、機能テスト項目変更時
のテストカバレージデータ保存処理を行う。

第２６図はテストカバレージデータ保存処理のフローチ
ャートである。この図に基づき、その処理手順を順次説
明する。

ステップ２６００　：本ステップはワークテーブルの初
ち己漕を行う。

第２７＠はワークテーブルの構成を示す、旧機能テスト
項目テーブル２７００において、機能テスト項目は旧機
能テスト項目を表す、新機能テスト項目テーブル２７０
１において、機能テスト項目は新機能テスト項目を表す
、新旧機能テスト項目対応テーブル２７０２において、
このテーブルのエントリ番号はテーブル２７００のエン
トリ番号と対応しており、対応フラグはテーブル２７０
０内の当該機能テスト項目がテーブル２７０１内に存在
しているか否かを表し、エントリ番号は当該機能テスト
項目がテーブル２７０１に存在している場合のテーブル
２７０１のエントリ番号を表す。

上記の初期設定において５本ステップはテーブル２７０
０の機能テスト項目とテーブル２７０１の機能テスト項
目にスペースをセットし、テーブル２７０２の対応フラ
グとエントリ番号にＯをセットする。

ステップ２６０１：本ステップは、コンパイル結果ファ
イル１３３、旧機能テストフレームデータファイル１４
７、新機能テストフレームデータファイル１４０．旧テ
ストカバレージデータファイル１４４．新テストカバレ
ージデータファイル１４５を入力する。

ステップ２６０２　：本ステップは、コンパイル結果（
テーブル５０４の形式のデータ）を参照して、旧機能テ
ストフレームデータ（テーブル７００〜７０４の形式の
データ）を機能テスト項目（機能テスト項目３００の形
式のデータ）に変換し、この機能テスト項目を旧機能テ
スト項目テーブル２７００にセットし、新機能テストフ
レームデータ（テーブル７００〜７０４の形式のデータ
）を機能テスト項目（機能テスト項目３００の形式のデ
ータ）に変換し、この機能テスト項目を新機能テスト項
目テーブル２７０１にセットする。

ステップ２６０３　：本ステップは、旧機能テスト項目
テーブル２７００内の各機能テスト項目について、新機
能テスト項目テーブル２７０１をサーチし、当該機能テ
スト項目が見つかれば、新旧機能テスト項目対応テーブ
ル２７ｏ２の当該対応フラグに１をセットし、当該エン
トリ番号にテープル２７０１の当該エントリ番号をセッ
トする。

ステップ２６０４　：本ステップは、旧テストカバレー
ジデータ（テーブル１９ｏ２の形式のデータ）のエント
リ番号Ｎに１をセットする。

ステップ２６０５　：本ステップは、エントリ番号Ｎに
テストカバレージが登録されているかを判定し、登録さ
れていれば、ステップ２６０６に進み、そうでなければ
、ステップ２６ｏ８に分岐する。

ステップ２６０６　：本ステップは、テストプログラム
単位のテストカバレージの保存を以下の方法で行う。

（１）エントリ番号Ｎが指す機能テストカバレージの圧
縮テストカバレージ（テーブル１９ｏ３の形式のデータ
）を取出し、復元し、復元した旧機能テストカバレージ
（テーブル１５ｏ１の形式のデータ）に対応する新機能
テストカバレージ（テーブル１５０１の形式のデータ）
の各要素をＯにセットし、新旧機能テスト項目対応テー
ブル２７０２を参照して、対応フラグ１の旧機能テスト
カバレージの各要素の値を新機能テストカバレージの同
一要素の位置にセットし、新機能テストカバレージを作
成する。

（２）新機能テストカバレージを圧縮した圧縮テストカ
バレージとエントリ番号Ｎが指すテストプログラム名と
機能テストカバレージの圧縮テストカバレージ（テーブ
ル１９０２〜１９０４の形式のデータ）を順次登録する
。

ステップ２６０７：本ステップはエントリ番号Ｎに１を
加算する。

ステップ２６０８　：本ステップは、累積テストカバレ
ージの保存を以下の方法で行う。

（１）開票積構造テストカバレージ（テーブル１９０１
の形式のデータ）をそのまま新累積構造テストカバレー
ジとする。

（２）旧累積機能テストカバレージ（テーブル１９００
の形式のデータ）に対応する新累積機能テストカバレー
ジ（テーブル１９００の形式のデータ）の各要素を０に
セットし、新旧機能テスト項目対置プル２７０２を参照
して、対応フラグが１の旧累積機能テストカバレージの
各要素の値を新累積機能テストカバレージの同一要素の
位置にセットし、新累積機能テストカバレージを作成す
る。

ステップ２６０９　：本ステップは、新テストカバレー
ジデータ（テーブル１９００〜１９０４の形式のデータ
）を新テストカバレージデータファイル１４５に出力す
る。

本実施例によれば、機能テストカバレージ評価と論理−
回路変更時の機能テストカバレージデータの保存と機能
テスト項目変更時の機能テストカバレージデータの保存
が可能である。

〔発明の効果〕 本発明によれば１機能テストカバレージ評価により、論
理検証工程の進捗管理、論理回路と機能テスト項目の変
更に伴う再テストの管理、未テスト項目の指摘による追
加テストの管理ができるので、論理検証効率が向上し、
論理装置の開発期間短縮と開発工数低減に大きな効果が
ある。

第１図は本発明に基づくテストカバレージデータ取得処
理のフロニチャート、第２図は第１図の機能テスト項目
１２０の説明図、第３図は第１図の機能テスト項目ファ
イル１３２の説明図、第４国は第１図の論理回路ファイ
ル１３０の説明図、第５図は第１１１！ｌのコンパイル
結果ファイル１３３の説明図、第６図は第１図の機能テ
ストフレームデータ作成ステップ１０２のフローチャー
ト、第７図は第１図の機能テストフレームデータファイ
ル１３４の説明ｗＩ、第８図は第１図の構造テストフレ
ームデータ作成ステップ１０３のフローチャート、第９
図と第１０図は第１図の構造テストフレームデータ作成
ステップ１０３の説明図、第１１図は第１図の構造テス
トフレームデータファイル１３５の説明図、第１２図は
第１図のデス１−プログラムファイル１３１の説明図、
第１３図は第１図のシミュレーション結果ファイル１３
６の説明図、第Ｉ４図は第１１１！Ｊの論理シミュレー
タステップ１０４とテストカバレージデータ取得ステラ
、？・、ＪＯ５の間の交互処理の説明図・第１５図は第
１図のテストカバレージデータ取得ステップ１０５で使
用するワークテーブルの説明図、第１６図は第１図のテ
ストカバレージ取得ステップ１０５の内の初期設定処理
のフローチャート、第１７図は第１図のテストカバレー
ジ取得ステップ１０５の内のテストカバレージ取得処理
のフローチャート、第１８１１は第１！Ｊ！ｉのテスト
カバレージデータ登録ステップ１０６のフローチャート
、第１９図は第１図のテストカバレージデータファイル
１３７の説明図、第２０図は第１図のテストカバレージ
データ登録ステップ１０６の説明図、第２１図は本発明
に基づく論理変更時のテストカバレージデータ保存処理
のフローチャート、第２２図は第２１図のテストカバレ
ージデータ保存ステップ１０８のフローチャート、第２
３図は第２１図のテストカバレージデータ保存ステップ
１０８で使用するワークテーブルの説明図、第２４図は
第２１図のテストカバレージデータ保存ステップ１０８
の説明図、第２５図は本発明に基づく機能テスト項目変
更時のテストカバレージデータ保存処理のフローチャー
ト、第２６図は第２５図のテストカバレージデータ保存
ステップ１０９のフローチャート、第２７図は第２５ｗ
１のテストカバレージデータ保存ステップ１０９で使用
するワークテーブルの説明図である。

１００〜１０９・・・テストカバレージデータ取得・保
存の処理ステップ、１２０，１２１・・・テストカバレ
ージデータ取得・保存の入力図面、１３０〜１４７・・
・テストカバレージデータ取得・保存の入出カフアイル
、１５０，１５１・・・テストカバレージデータ取得・
保存の出力リスト。

区 ／２θ ■ ２θθ 羽疫１１ヶ久ドブｔ’目　ζ入力デー７）／３２ 猶 図 ３ρρ Ｒ罷テストブ社（＝カブ−り） Ｌ　　−−ｍ−−−−−−−−−−−−−−−−ＪＬ−
−−−−−−一　　　−−−一−−−−−−−−−−−
−Ｊ４θθ　輪重８プ番 ４θ１　　富１理回路す−タ ／ρ２ 第 乙 固 ／３４ 第 図 ／ρ３ 猶 図 Ｌ　　−＋＋＋＋＋　　　＋＋＋＋　　＋＋　　　＋＋
＋＋　　　＋＋　　　−Ｊ０５ フロ１，７人カイ５づ 豹 ／θ 口 Ｌ＝−−−−−−＋−＋＋＋＋＋　　＋＋＋＋＋−Ｊ／
θθθ ／ρρ／ 田り立テス）婦目生成条イーを炙 Ａ薄支Ｌブストブ委ｇ 拓 １２ 区 ／３１ １θ−Ｆ ρ θ θ ρ θ エ Ｆ θ ／ θ ρ ／ １７Ｌ−ｆ’ ／ θ θ ／ ／＼、力１１ρ１理イｉのａ、ｔ＊夕・１１字と合６θ
−ｒ ／ ／ ／ ／ ／ 万／−７’ ／ θ ／ ／ ρ δガ・−Ｆ Ｏ／　　／　　／　ρ　−１ よ前額１匿櫃の埼！クリ集会 第 ４ （２） １５ 図 、ｒ５１１　　　ｐぺ頁しケストηバ１−′；デーフル
１５”　　　　講Ｌ’ｒｘトｎｒｃｂ−ン−ｙ−７Ａｙ
拓 ２θ 圀 圧得苅のブ入ト刀バし−ン θθθρθ ／／／／１ ００θθ０／ ／／／／ 丘赤箔４支の　テスト力バレー〉 篤 ■ め ２ □□□ め ２３ 困 ３０ｊ Ｐｒ７ストフ“ａ７クムあブーアル 声ゲ 荊 ４ イ支光覇のテスト力バレーヅ ｏ：　　ｓ／ｓ／ｓ／ｓ イ臭光ｆｔのテ人ト刀バレシ ０００θθ　／／／／／ρθρρρ　／／／／め ５ （２）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、計算機を使用する論理設計自動化システムにおいて
   、論理検証対象論理（論理装置全体または複数の論理ユ
   ニット）の機能を検証するための機能テスト項目セット
   を作成して登録する第１ステップと、前記論理検証対象
   論理の論理回路データを入力して論理コンパイルを行い
   、コンパイル結果を登録する第２ステップと、前記コン
   パイル結果とテストプログラムを入力して論理シミュレ
   ーションを行い、シミュレーション結果を登録する第３
   ステップと、前記機能テスト項目セットと前記シミュレ
   ーション結果を入力し、前記機能テスト項目セットのテ
   スト実施状態を表す機能テストカバレージデータを作成
   して登録する第４ステップと、前記機能テストカバレー
   ジデータを入力し、それを編集して出力する第５ステッ
   プよりなることを特徴とする論理検証充分性評価方法。 ２、特許請求の範囲第１項の方法において、前記論理検
   証対象論理の論理回路の動作を検証するための構造テス
   ト項目セットを作成して登録する第６ステップを含み、
   その第４ステップの代わりに、前記機能テスト項目セッ
   トと前記構造テスト項目セットと前記シミュレーション
   結果を入力し、前記テストプログラムの前記機能テスト
   カバレージデータと前記構造テスト項目セットのテスト
   実施状態を表す構造テストカバレージデータを作成し、
   前記テストプログラム名と対応づけて登録する第７ステ
   ップを使用し、前記論理検証対象論理の論理回路が変更
   されたときに、変更前の前記構造テスト項目セットと変
   更後の前記構造テスト項目セットと変更前の前記機能テ
   ストカバレージデータと変更前の前記構造テストカバレ
   ージデータを入力し、両者の前記構造テスト項目セット
   を比較して前記変更により無効になった変更前の無効構
   造テスト項目を認識し、その無効構造テスト項目のテス
   ト実施状態に依存して前記変更に対して有効な変更前の
   前記機能テストカバレージデータを保存して登録する第
   ８ステップを含む論理検証充分性評価方法。 ３、特許請求の範囲第１項の方法において、前記論理検
   証対象論理の機能が変更されたときに、変更前の前記機
   能テスト項目セットと変更後の前記機能テスト項目セッ
   トと変更前の前記機能テストカバレージデータを入力し
   、両者の前記機能テスト項目セットを比較して前記変更
   により無効になった無効機能テスト項目を認識し、その
   機能テストカバレージデータにおいて、その無効機能テ
   スト項目のテスト実施状態を未テストにしてその機能テ
   ストカバレージデータを登録する第９ステップを含む論
   理検証充分性評価方法。 ４、特許請求の範囲第２項の方法において、特許請求の
   範囲第３項に記載の第９ステップを含む論理検証充分性
   評価方法。 ５、特許請求の範囲第１項の方法において、その第１ス
   テップは、論理装置全体の前記機能テスト項目セットを
   作成して登録しておき、その機能テストは項目セットか
   ら前記論理検証対象論理の前記機能テスト項目を自動抽
   出するステップを含む論理検証充分性評価方法。 ６、特許請求の範囲第２項の方法において、その第６ス
   テップは、前記論理検証対象論理の論理回路データを入
   力し、その論理回路データから前記構造テスト項目セッ
   トを自動生成するステップを含む論理検証充分性評価方
   法。