JPH0363152B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0363152B2
JPH0363152B2 JP19911585A JP19911585A JPH0363152B2 JP H0363152 B2 JPH0363152 B2 JP H0363152B2 JP 19911585 A JP19911585 A JP 19911585A JP 19911585 A JP19911585 A JP 19911585A JP H0363152 B2 JPH0363152 B2 JP H0363152B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
magnetic
floating slider
sensor
magnetic disk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP19911585A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6258471A (ja
Inventor
Shoichi Nagamura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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Publication of JPS6258471A publication Critical patent/JPS6258471A/ja
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  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の属する技術分野】
本発明は、非磁性基板上に磁性層を有し、磁気
ヘツドの浮動スライダによつて高密度記録を行う
磁気デイスクの浮動スライダの浮上特性を測定す
る方法に関する。
【従来技術とその問題点】
従来磁気デイスクの浮上特性を測定するには、
磁気ヘツドアームにアコーステイツク・エミツシ
ヨン・センサ（以下AEセンサと記す）を取り付
け、デイスクの回転数を徐々に上げて、先端に取
付けられた浮動スライダへのデイスクの接触ある
いはデイスクの回転により生ずる気流の作用によ
つてアームが振動することに基づくAEセンサか
らの出力信号を、実効値電圧計等で読むことによ
つて行つていた。しかしこのようにして得られる
浮上特性は、浮動スライダの幅に相当するデイス
ク部分のみについての評価しか行えないため、デ
イスク面全体の評価ができないという欠点があつ
た。
【発明の目的】
本発明は、上述の欠点を除去して磁気デイスク
全面についてのスライダ浮上性が評価できる浮上
特性測定方法を提供することを目的とする。
【発明の要点】
本発明によれば、磁気デイスクを低い回転数で
回転させながら磁気ヘツドの浮動スライダをデイ
スクの半径全体にわたつて移動させて磁気ヘツド
アームに取り付けられたAEセンサの出力を測定
し、次いで磁気デイスクを順次より高い回転数で
回転させる同様の測定を行う操作を繰り返すこと
により、デイスク面全体についての浮上特性の評
価をすることが可能となつて上記の目的を達成す
る。
【発明の実施例】
第１図は本発明の一実施例のための装置を示
し、測定すべき磁気デイスク１は回転軸７に取り
付けられている。デイスク１の面に対向配置され
た磁気ヘツドの浮動スライダ２を支持するアーム
３には、AEセンサ４が取付けられている。AEセ
ンサ４は信号処理装置６に接続されている。アー
ム３は可動ステージ５に固定されており、矢印８
で示すようにデイスク１の半径方向に移動させる
ことができる。このような装置を用い、デイスク
１を回転軸７により低回転させる。その時に可動
ステージ５を矢印８の方向にデイスクの半径全体
の範囲で移動させ、浮動スライダ２の振動をアー
ム３を介してAEセンサ４で検出し、信号処理装
置６で信号処理を行う。さらに回転数を上げ同様
の操作を行う。AEセンサ４の出力信号の大きさ
と浮上高さとの関係を予めガラスデイスクなどを
用いて求めておけば、回転数を次第に上げてAE
センサ出力の測定を繰り返すことによりデイスク
１の面全体の浮上特性測定が行える。その際ある
回転数以上で浮動スライダ２は低浮上となり、ア
ーム３をデイスク半径方向に移動させるとデイス
ク１の面に浮上量以上の突起が存在すれば浮動ス
ライダ２が接触するので突起の検出もデイスク面
全体について行うことができる。
【発明の効果】 本発明は、浮動スライダを磁気デイスクが同一
回転数で回転している間にデイスクの半径方向に
移動させることによりデイスク面全体の浮上特性
の測定を可能にするもので、また浮動スライダが
低浮上にある回転数において浮動スライダを半径
方向に移動させることにより、デイスク面全体の
突起の検出も同時に行うことができる効果を有す
る。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例のための装置の断面
図である。 １：磁気デイスク、２：浮動スライダ、３：ア
ーム、４：AEセンサ、５：可動ステージ、６：
AEセンサ信号処理装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 磁気デイスクを低い回転数で回転させながら
    磁気ヘツドの浮動スライダをデイスクの半径全体
    にわたつて移動させて磁気ヘツドアームに取り付
    けられたアコーステイツク・エミツシヨン・セン
    サの出力を測定し、次いで磁気デイスクを順次よ
    り高い回転数で回転させる同様の測定を行う操作
    を繰り返すことを特徴とする磁気デイスクのスラ
    イダ浮上特性測定方法。
JP19911585A 1985-09-09 1985-09-09 磁気ディスクのスライダ浮上特性測定方法 Granted JPS6258471A (ja)

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JP19911585A JPS6258471A (ja) 1985-09-09 1985-09-09 磁気ディスクのスライダ浮上特性測定方法

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JPS6258471A JPS6258471A (ja) 1987-03-14
JPH0363152B2 true JPH0363152B2 (ja) 1991-09-30

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JP4704080B2 (ja) * 2005-03-18 2011-06-15 株式会社リコー クリーニング装置、プロセスユニット、及び画像形成装置
US7692888B2 (en) 2006-12-12 2010-04-06 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Apparatus, system, and method for detection of fly height margin using controlled excitation of air bearing mode
JP5403245B2 (ja) * 2009-09-01 2014-01-29 株式会社リコー クリーニングユニットおよび画像形成装置

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JPS6258471A (ja) 1987-03-14

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