JPH0363169B2 - - Google Patents

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JPH0363169B2
JPH0363169B2 JP57062660A JP6266082A JPH0363169B2 JP H0363169 B2 JPH0363169 B2 JP H0363169B2 JP 57062660 A JP57062660 A JP 57062660A JP 6266082 A JP6266082 A JP 6266082A JP H0363169 B2 JPH0363169 B2 JP H0363169B2
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JP
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cathode
carbonate
layer
grid
resist
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JP57062660A
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JPS587740A (ja
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Hooru Pigin Buruusu
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International Business Machines Corp
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Publication date
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Publication of JPH0363169B2 publication Critical patent/JPH0363169B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/04Manufacture of electrodes or electrode systems of thermionic cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02Main electrodes
    • H01J1/13Solid thermionic cathodes

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Solid Thermionic Cathode (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子管、特に多ビームCRTのカソー
ドに用いる電子放出層に関する。
この種のカソードは、永年適当な結晶構造のア
ルカリ土金属酸化物を用いて700〜1100℃に加熱
した時に電子放出をするように作られて来た。こ
れらカソードは、いわゆる中毒現象(電子放出を
助長する微小多孔質が塞がれるために起こると考
えられる)のために劣化する。良い放出性を得る
ため、特定組成のCaSrBaカーボネート(トリプ
ル・カーボネート)が用いられていた。このカー
ボネートはCRTや電子管における排気やシール
の時の、カソードの真空中初期加熱において崩落
する。熱活性化とよばれもするこのカーボネート
からの酸化物形成が、Co2ガスの排気中に起る。
酸化物は三酸化物結晶構造に害のある水蒸気に高
感受性である。従つて、業界ではカーボネートを
付着して、後にそれを酸化物に分解させることを
選択している。普通、CRTや真空管では、カソ
ード部材にカーボネートがスプレイやデイツプコ
ートにより付着され、この時カーボネート粒子を
カソード金属基体に粘着させるのに有機バインダ
が用いられる。これらバインダは、しばしばポリ
メタクリレート又はニトロセルローズをベースと
するものであり、熱活性化工程の初期加熱時、バ
ーン・オフの後カーボネート結晶の形態を元のま
ま残すので、これらが選ばれている。
この点の背景的資料は、「Handbook of
Materials and Techniquse for Vacuum
Devices」、W.H.Kohl著、Rheinhold出版社刊、
に示されている。
これら文献でも、母型を用いて作るカソードの
例はあまり示されていない。一般には、設計時に
はその必要がない。三元カーボネートの型による
処理のためのフオトレジストについて多少の報告
がある。Stanford Research Institute
Quarterly Report第3号、1968−11−15付、に
示されている方法は三元カーボネートの正確なパ
ターン作業に関するものである。この方法は、陰
画の薄膜レジストを用いる。カーボネート粒子は
フオトレジスト中に(固形成分の75%位迄)入れ
られ、ボールミルですられ、カソードにスピンコ
ートするに適する粘度のスラリーを作る。例え
ば、70%のCaSrBaカーボネート結晶がKodak
(商標)フオトレジストに入れられ、普通の光源
にさらされる。分解能の下落を防ぐため、混合物
は十分ボールミルされる。この発明の実施時に当
つては、0.025mm以下の像寸法でも不満足である。
前記StanfordのReportにより示されたフオトレ
ジストの方法は、この技術のより微細な方向への
応用を抑制するいくつかの困難点をもつ。この方
法の実施時、次のような問題がある。(イ)不透明な
レジストを通してのウエハ位置決めマーク合わせ
の困難性、(ロ)固形物により光の散乱による解像度
不良、(ハ)まぜものの入つたレジストをスピンする
困難性、(ニ)現像した区域に固体の残留物が残るこ
とにより余分な放出を防ぐための純粋なレジスト
のアンダーコートが必要になる、(ホ)放出層とカソ
ードの金属の間にレジスト層の残留物がある(ヘ)レ
ジスト表面に三元カーボネートがあるので、例え
ばガス等の汚染をうけて放出の損失を起す(ト)改良
された解像度を達成するため結晶の寸法を小さく
するにはカーボネート粒子を強くボールミルする
が、これが放出効率には逆作用する(開放した酸
化物構造を得るには大きなカーボネート結晶が用
いられる)。
適当な結晶寸法の三元カーボネートは商業的に
入手できる。W.H.Kohl著、「Cathodes and
Heaters」が参考になる。フイラメント式のカソ
ード・エミツタで、カタフオレシス(電気泳動に
よるカソード付着)によるアルカリ土元素カーボ
ネートのコートされた例が上記刊行物の519頁に
示されている。
更に、カーボネートの局部的電解除去による、
カタフオレシス付着フイラメント・カソードの形
成も既に知られている。長さが5〜15ミクロンで
断面の直径が1ミクロン以下の針状結晶が電子放
出を得るのに好適な結晶構造であり、更に針状結
晶はフイラメント表面にほぼ垂直にカタフオレシ
スにより付着できることが知られている。
先行技術において既に、真空管用のマイクロミ
ニチユア平板カソード・グリツド構造があり、こ
れに対して本願の原理を有利に適用できる。米国
特許第4138622号に示した構成はその例を示す。
上記米国特許に示されている装置は、グリツド
がカソードと実質上同じ面にあり又同じ基体上に
あるので、三元カーボネート・パターンを精密に
又きれいに形成することを必要とする。カーボネ
ートのパターンが不正確のために余分に突出して
いると、不正確な余分のグリツド放出を招来す
る。これら装置を微小化できる限界はカーボネー
ト粒子をパターン形成する分解能の限界に依存し
ている。
本発明の目的は、多ビームCRT用の新しい微
小カソード及びその製法を提供することである。
本発明の目的を更に細かく云えば、CRTカソ
ードの電子放出面をプレナー技術により形成する
こと、ウエハ表面に三元カーボネートによりマイ
クロアレーを形成して多ビームCRTカソードを
与えること、CRT排気作業中にカルシウム・ス
トロンチウム・バリウム・カーボネートを酸化物
に形成すること、ほぼ平らな表面に垂直に大きい
針状結晶を作り高い放出密度のCRT酸化物カソ
ードを提供すること、後続の製造工程で破損を受
けたり、劣化したりするのを回避するよう、カプ
セル状に包まれた(包装された)カーボネート構
造を提供すること、このカプセル用の材料(包
装)が熱活性化工程の初期過熱工程までにほとん
ど除去されるようにすること等である。
本発明の原理によれば、電子管用の電子放出層
において結晶の良い配向と良い包装を得るため三
元カーボネートの大型針状結晶を付着させるため
に電気泳動が用いられる。これは放出層を通して
密集した集団的な開放構造で有利な放出密度を与
えている。本発明の方法は、カーボネートのコー
テイングを必要とする所に、開口付のマスクを作
るためポジのレジストを用いる。このレジストの
開口部分に大型結晶のカーボネートが電気泳動に
より被塗される。第2の厚いポジのレジスト層が
第1のレジスト層並びに埋められた開口部上にス
ピン・コートされる。この厚い第2の層に大きい
マスクを用いて露光し、第1及び第2のレジス
ト・コーテイングにより完全に包装されたカーボ
ネート・パターンを残す。
更に詳しく云えば、通常のフオトレジストがシ
リコン技術の方法と同様に形成され、カタフオレ
シスの発生する区域を限定する電気的閉塞体とし
て用いられる。このレジストの持つべき要件は良
い電気的絶縁体であり、又ピンホールのないこと
である。ウエハの端部は、電界ストレスが強くレ
ジストが薄くその外側に余分のカタフオレシス付
着が起るので、この端部に至る導電性金属層を存
在させないことが重要である。
更に詳しく云うと、カタフオレシス付着液が用
意される。例えば、針状構造を持つ三元カーボネ
ート粒子をエチルアルコール液中で十分な時間、
ボールミルし、割れた結晶に表面電荷が現れるよ
うにする。この表面電荷が、電圧印加によつて起
る電界の影響に対し粒子を動かせるために用いら
れる。付着物はレジストの開口部を埋め、又レジ
ストは適当な電気絶縁性であることが必要であ
る。電気泳動で付着させると、粒子がその端で立
つので、長さ方向の断面に比べ小さい断面積で表
面を占め、解像度(精度)の点で有利さが得られ
る。従つて、同様の大きさの粒子が横になつた場
合に比べ解像度が高い。
こうして、本発明におけるマスク上の開口部へ
のカタフオレシス付着が出来、このマスクはこの
場合、通常の透明フイルムを用いた写真製版の精
度で作成される。従来のカーボネートを含むフイ
ルムでは不透明となり、位置決めマーク合わせ等
が困難で精度が落ちていたがこのような問題がな
い。この形式はレジストに含ませるものに比べ、
相当に良い解像度を与える。三元カーボネート粒
子はその端で立つて開口部に付着し針の形で平面
にほぼ垂直になる。電子放出層を持つカソードが
包装されたパターンを加熱することにより電子管
内部において得られる。
本発明を実施する際の多ビームCRTは基体の
片側上にアレー状をなして位置する複数のカソー
ドを有する。
同じ基体の同じ面上に、カソードのまわりに間
隔をとつてグリツドが置かれている。カソードを
加熱するため、基体にはヒータが連結している。
これらが合体した構造は機械的に安定で、例えば
35V以下の低いグリツド・カソード電圧と無視で
きる値のグリツド電流で動作でき、そのためカソ
ードとグリツドの間に適当な電圧が加えられれ
ば、複数個の個々に制御可能な電子ビームが形成
できる。この構造は、カソードの寸法とカソー
ド・グリツド間隔を写真製版で正確に規定しつ
つ、バツチ処理で作製できる。
下記の如く多ビームCRTのカソードの電子放
出層が本発明により提供される。
第1図1〜5は本発明を適用するのに適した先
行技術の工程を示す。ステツプ1として、基体1
4上に接面15で支えられ外面12を有する金属
層10がある。ステツプ2で面12上に純粋なネ
ガのフオトレジストで面18を持つ薄い層16が
付着される。例示的に云つて三元カーボネートを
含ませられ外面22を持つネガのフオトレジスト
層20が面18上にステツプ3で付着される。ス
テツプ4でレジストに図示してないマスクを通し
て特定のパターンに露光され、現像されたパター
ン24を残し、これは層16の一部と、三元カー
ボネートを含むレジスト22の一部からなり、純
レジスト24.1とカーボネート粒子24.2を
含む。パターン24の境界は面26、左の境2
8.1、右の境28.2である。ステツプ5でレ
ジスト24.1が加熱により焼失しほぼ同時にカ
ーボネートが崩落し、これが基体14上に所要の
例えばCaSrBa酸化物パターン30を形成する。
第2図1〜6は本発明による電子放出層の製造
工程を示す。第1図の従来の工程のように、ステ
ツプ1として、カソード基体14が面12を有す
る金属層10を接面15で支持しているものを用
意する。ステツプ2で金属セグメント41を規定
する開口40を有するポジのフオトレジスト42
が露光と現像により付着される。フオトレジスト
の左セグメント42.1と右セグメント42.2
が開口40の両側にある。
ステツプ3で開口40内に、CaSrBaカーボネ
ートのパターン44がカタフオレシスにより付着
される。針状カーボネート44.1の実質上の大
部分がセグメント41にほぼ垂直に揃えられる。
ステツプ4で、ポジのレジストの厚い包装層4
6がパターン44と隣のレジスト42.1と4
2.2の上に付けられる。ステツプ5でポジのレ
ジスト層42,46がステツプ2の時より大きい
開口のあるマスクにより露光され、現像され台4
8を残すが、これは元の層42.1と42.2の
一部を含む側部包装と元の層46のレジスト4
8.1とカーボネート・パターン44よりなる。
ステツプ6で台48のレジストが焼滅され、その
間にカーボネートが所期のCaSrBa組成の酸化物
パターン50に焼成される。
第2図に示した本発明は下記の利点を有する。
(1) 残留して沈澱した、即ち非カタフオレシス・
コートされたカーボネートは、接面A(第2図
5)を除いて、最終のレジスト現像時に除去さ
れる。
(2) 写真製版の高精度により、第1図の如き材料
を含ませたレジストによる技術の場合に比べ、
材料を含ませないポジのレジストとカタフオレ
シス処理の使用はカソード形状をより良い形で
画成できる。
(3) カソード・パターン50は金属層に接してい
るので、特に加熱して活性化した後の半導体的
なCaSrBa酸化物結晶の電気的接続性がよい。
(4) 写真製版用に強いボールミル作業を要しない
ので、より大きな結晶44.1が第1図の場合
に比べて良い電子放出を行なう。
(5) 垂直に方向の揃つた結晶44.1は、電子放
出性、構造、開放型包装、放出層の上から底迄
の結晶性の点で優れており、形状及び画面での
性能向上を伴つている。
(6) パターン44の上にレジストのバインダがあ
るのでパターン44の焼成時に、よりよい接着
が得られる。
(7) 包装物質となるレジスト48.1があるの
で、電子管内に入れる際の汚染が防げる。
(8) 包装されたカソード体はカソード構造の荒い
扱いに耐える。カーボネート付着後に、溶接、
切り込み入れ、切断等のウエハ作業を許す。
第3図は本発明の多ビームCRT60で、これ
は管62、螢光スクリーン64、ビーム加速、集
束、偏向装置66、第4図に示され管62の首部
にある構造68を含む。この構造68は図示の如
く、複数の線72,74により電気的入力信号源
に接続されている。
第4図は構造68の詳細を示す。構造68はサ
フアイア等の高温での絶縁体で熱伝導性の良い基
体76を含んでいる。基体76の背面には、タン
グステン、モリブデン等の抵抗性と耐火性のある
金属からなる薄膜ヒータ78がある。基体76の
前面にはカソード配列80A,80B,80Cと
これらをとりまく変調グリツド配列82A,82
B,82Cがある。これらカソードとグリツドは
同一平面内にある。カソード80A,80B,8
0Cとグリツド82A,82B,82Cは同一面
上にあることが必要だが、この面が平面である必
要はない。カソードはグリツドより後退していて
もよい。複数本の線72のうちの1本が電源から
ヒータ78に、そして又複数本の線74のうちの
1本がヒータ78から電源70に行つている。線
72,74からは図示してないが、カソード80
A,80B,80C、グリツド82A,82B,
82Cへも配線されている。第5図にその一部分
が示されている。
構造68は、写真製版によつてバツチ形成でき
る。例えば、カソード80A,B,Cはモリブデ
ン、タングステン、プラチナ、その他の耐火性金
属薄膜を付着させ、従来の写真製版技術で形を決
めて作れる。これらカソードは電子放出性を与え
るため、本発明に従つて、フオトレジストと
CaSrBaのカーボネートの混合物を用いて形成さ
れる。基体を真空中で約1000℃迄に加熱すると、
約500℃でフオトレジストが蒸発し、電子放出性
で適当な電圧を加えて従来形式で活性化できるカ
ソード80A,B,Cが得られる。このバツチ形
成法はカソード、グリツドの線を幅10ミクロン程
度に迄こまかく作るような微小寸法制御能力を持
つている。
動作する際には、薄膜ヒータ78が基体76を
約700℃に加熱し、電子放出が十分起るようにす
る。カソード80A,B,Cは、オン・オフ制御
されるため、グリツド82A,B,Cに対し各々
バイアスされる。別法として、隣接するグリツド
例えば82B,Cは、単一の電極で代用してもよ
い。
第5図は、三元カーボネートのカタフオレシス
付着時にカソード電極を共通に接続する手順を示
す。大量生産のためには、従来のシリコン・チツ
プによるICウエハの技法が利用できる。カソー
ドの一部をなす導体回路は、動作上グリツドから
電気的に離しておかねばならない。しかし、カタ
フオレシス・コート処理を行なうため、1つのチ
ツプ上のカソードは電気的にすべて共通に接続さ
れねばならない。さもないと、各カソードへのチ
ツプの他端からの接触が必要になる。ウエハ上の
チツプ2個毎に、一方のチツプのグリツドから他
方のチツプのカソードへと接続が得られる。この
ようにして、1つのチツプ上のすべてのカソード
を共通接続するために、隣接する各チツプの間の
接続を利用できる。チツプが個々に分離される
際、カソードから隣のグリツドに至る接続が切ら
れ、CRTとして使用する際必要な各カソードの
分離ができる。
前記のように第5図は本発明により、カソード
をカタフオレシスにより作る技術を示す。第5図
1は、開口40.1〜40.4がフオトレジスト
層42.2にあつて、カーボネートの針状結晶を
埋め込む前の形を示し、その断面が第5図2に示
されている。金属層10.1は基体14.1の周
辺15から距離Dだけ引き込んでおり、このサフ
アイア等の基体の全面にフオトレジストを付けて
から、カタフオレシス付着をする際に、電界を強
める端部を形成しない。そこで、電界はカソード
40.1から40.4の全体に亘つて均一で、電
子放出層の付着処理時に、時間及び電流の点で均
等に扱える。第5図3は、第2図の手順が複数カ
ソードになつたところを示し、その断面図を第5
図4に示す。電子放出体50.1〜50.4と導
体51.1〜51.4の各々のまわりに溝53.
1〜53.4が切られている。最終的チツプ55
は境界55.1〜55.4により規定される。残
存金属57は第3図、第4図に例示したようなグ
リツドとして働く。前述のようにこのグリツドは
個々に分断してもよい。チツプ55を最終迄形成
した後、境界55.1〜55.4に沿つて基体1
4.1と金属10.1から切り離すとチツプ55
が出来る。第5図3で一部の番号は第2図と関連
させてあるが、ここでサフアイア等の基体14.
1は、その端15から距離Dだけ入つた所に金属
10.1を有する。チツプ上にはカソードが4個
50.1〜50.4として示されている。これら
の各々はチツプの端に至る導体51.1〜51.
4を有する。チツプ上の各カソード基体と導体
は、非導電性区域で囲まれており、例えばカソー
ド50.1と導体51.1は非導電性区域53.
1により囲まれている。
電子放出層48.1〜48.4は第2図5に示
した手順で包装体48.1〜48.4(一部図示
略)により包装される。基体上の導体には接続用
パツドが各々付けられる。これにより各電極が
個々に制御を受けられるようになる。グリツドは
固定電位になるように一括してグリツド・パツド
に接続してもよい。多ビームCRTの形式によつ
ては、グリツドを別々のパツドに接続して、個々
に電位を与えて各グリツドを制御する。カソード
とそれを囲むグリツドとの間の電位は個々に変調
できる。これは、カソード電位固定でグリツド電
位を制御、又はグリツド電位固定でカソード電位
を制御、又はカソード並びにグリツドの電位両方
を個々に制御して行える。
各カソードに対する平板グリツドの各々は、円
型のカソードのまわりを取り囲むC形をなしてい
てもよい。カソードが十字形で、平板グリツドが
いくつかのカソードを囲んでいる形でもよい。
本発明による多ビームCRTは多くの利点を有
する。写真製版の使用は、カソードとグリツドの
寸法や間隔を微細に制御できるようにし、高利得
で高い分解能のカソードを持つCRTを与えてい
る。写真製版によるとグリツドとカソードの間隔
が小さいので、大きな相互コンダクタンスと小さ
いグリツド−カソード電圧が得られる。共通平板
上のグリツドは、強固な構造でマイクロフオニツ
ク雑音がなく、グリツド電流もないか、あつても
ごく僅かである。カソードとグリツドとヒータが
一体化して組立体となつているので機械的に安定
した構造である。更に、写真製版の利用は、カソ
ード−グリツド配列の集団的同時作製を可能に
し、コストを下げる。
本発明を実施する際の、電気泳動のための溶液
は種々の方法で調合できる。必要なことは粒子の
表面に電荷をつけることである。これは通常少量
の自由にイオン化する添加剤を加えて低導電性の
溶媒中で三元カーボネートをボールミルすること
により得られる。結晶がミルにより砕かれると、
高度に反応性のある新鮮な破断面が出来、これが
イオンを吸着する。これにより電気泳動により移
動でき、又付着できる荷電粒子が与えられる。以
下において、電気泳動のためのカソード用カーボ
ネート懸架液の処方を説明する。
約0.5リツトルの磁器の混合容器に80%エチ
ル・アルコールで20%メチル・アルコールの液を
200から250ミリリツトル注ぎ、30から38グラム
(9から11個のボール)のボール材を加える。コ
ート用沈澱物材料を10〜15グラム加え、容器をシ
ールし、混合機で24〜48時間の間、67r.p.m.で混
合する。その後、容器を取り外すと、中のアルコ
ールの中にコート用沈澱物が懸架されて残つてい
る。使用前に振る。上記の量で約50gのコート用
沈澱物が出来る。
非導電性溶媒中へのカーボネート沈澱物の溶解
性が限られているので、イオンが供給される。純
粋な蒸溜水、メチル・エチル・アルコール、有機
エステル等が絶縁性分散媒として用いられる。
前記の懸架液で、電圧10〜100V、時間3〜30
秒かけてカタフオレシス・コートができる。電圧
と時間は試行により決められる。低い電圧の方が
滑かな付着が得られる。本発明の原理による針状
粒子は、カソード物質として有用であるが、前記
のようにコートする面に垂直に長軸を立てて配向
され付着するので、更に有利である。カタフオレ
シス付着物は極めて軟かく、傷つき易い。バリウ
ム蟻酸塩水溶液等の付着促進剤を添加することは
既に知られている。付着物をこの溶液に入れた
後、乾かす。別法として、例えば2〜5%の少量
のバリウム蟻酸塩を当初の電気泳動懸架液にとか
してもよい。バリウム蟻酸塩は溶解してバリウ
ム・カーボネートに分解するので選定された。こ
れは、カーボネートの粒子同志の及びカソード基
体への付着を促進し、カソード・コートに悪影響
を及ぼさない。
第2図2において、第2図1の平板グリツド・
カソード用絶縁ウエハ上に旧来形の写真製版レジ
スト・マスクがのせられている。このウエハは例
えばサフアイアで金属層としてタングステン4000
Åとチタン1000Åを蒸着されている。レジストと
してはNovalacレジンは良い絶縁性を持つ。
第2図3でカソード基体に、図示してない電源
が接続され、レジスト開口をカタフオレシス付着
で埋めるよう、例えば25Vで5秒間電圧を加え
る。
第2図3の付着物を例えば80℃で5分間加熱す
る。次にこのカタフオレシス付着物をバリウム蟻
酸塩飽和水溶液に浸し、カーボネート粒子の粒子
間と基体への付着を促進するよう加熱する。
【図面の簡単な説明】
第1図は先行技術における工程図、第2図は本
発明の工程図、第3図は本発明の電子放出層を用
いるカソードを有するCRTの断面図、第4図は
第3図のCRTのカソードの断面図、第5図は本
発明によるCRTカソードをチツプ上に形成する
工程図である。 14,76……基体、10……金属層、40…
…開口、50,80……電子放出体。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 カソード用の電子放出層を形成する方法にお
    いて、 (a) 上部に金属層を設けられ、更に該金属層の上
    のほぼ平坦な面に第1のポジテイブ・フオトレ
    ジスト層を設けられた基体を用意し、 (b) 前記第1のポジテイブ・フオトレジスト層
    に、前記金属層まで達する開口を形成し、 (c) 前記開口における前記金属層に電子放出材料
    のパターンを付着し、 (d) 前記パターン上で且つ少なくとも前記第1の
    ポジテイブ・フオトレジスト層の一部分に重畳
    して第2のポジテイブ・フオトレジスト層を設
    け、 (e) 前記第1および第2のポジテイブ・フオトレ
    ジスト層から成り且つ前記パターンを内部に閉
    じ込めた領域を形成し、さらに、 (f) 前記領域の前記第1および第2のポジテイ
    ブ・フオトレジスト層を焼成する ステツプより成る、カソード用の電子放出層を
    形成する方法。 2 前記電子放出材料は針状粒子からなり、この
    針状粒子が前記金属層の表面にほぼ直角な方向で
    前記金属層に付着される特許請求の範囲第1項記
    載のカソード用の電子放出層を形成する方法。
JP57062660A 1981-06-30 1982-04-16 カソード用の電子放出層を形成する方法 Granted JPS587740A (ja)

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