JPH0363240B2 - - Google Patents
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- JPH0363240B2 JPH0363240B2 JP7050689A JP7050689A JPH0363240B2 JP H0363240 B2 JPH0363240 B2 JP H0363240B2 JP 7050689 A JP7050689 A JP 7050689A JP 7050689 A JP7050689 A JP 7050689A JP H0363240 B2 JPH0363240 B2 JP H0363240B2
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- Japan
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- ceramic substrate
- space
- electrically connected
- semiconductor device
- conductive film
- Prior art date
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/50—Encapsulations or containers
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- Led Device Packages (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は光通信用の半導体装置に関する。
光通信では、一端に電気信号を光信号に変換す
るLED(発光ダイオード)やLD(レーザダイオー
ド)の発光素子を、また他端に光信号を電気信号
を変換するPD(フオトダイオード)やAPD(アバ
ランシエフオトダイオード)を置き、両端間を光
フアイバで結合して通信を行なう。また両端間で
相互に信号のやりとりをする場合には、一端に発
光素子と受光素子を、また他端にも同様に発光素
子と受光素子を置き、両端部の素子素子−受光素
子及び受光素子−発光素子間をそれぞれ光フアイ
バで結合する。
るLED(発光ダイオード)やLD(レーザダイオー
ド)の発光素子を、また他端に光信号を電気信号
を変換するPD(フオトダイオード)やAPD(アバ
ランシエフオトダイオード)を置き、両端間を光
フアイバで結合して通信を行なう。また両端間で
相互に信号のやりとりをする場合には、一端に発
光素子と受光素子を、また他端にも同様に発光素
子と受光素子を置き、両端部の素子素子−受光素
子及び受光素子−発光素子間をそれぞれ光フアイ
バで結合する。
これら光通信に使用される半導体装置として、
第1図に示すように発光素子2およびそれを駆動
する駆動回路をIC化したチツプ4をそれぞれリ
ードフレーム6に固定し、ボンデイングワイヤ8
で所定の結線をした後、透明なプラスチツク10
でモールドした送信用の光半導体装置が知られて
いる。また同様に受光素子及びその出力信号を増
幅再生するレシーバ回路をIC化したチツプをリ
ードフレームに固定し、透明なプラスチツクでモ
ールドした受信用の光半導体装置も知られてい
る。
第1図に示すように発光素子2およびそれを駆動
する駆動回路をIC化したチツプ4をそれぞれリ
ードフレーム6に固定し、ボンデイングワイヤ8
で所定の結線をした後、透明なプラスチツク10
でモールドした送信用の光半導体装置が知られて
いる。また同様に受光素子及びその出力信号を増
幅再生するレシーバ回路をIC化したチツプをリ
ードフレームに固定し、透明なプラスチツクでモ
ールドした受信用の光半導体装置も知られてい
る。
上述の光半導体装置を用いて2つの端間で相互
に通信を行う為の双方向モジユールは、例えば第
2図及び第3図に示されるように、送信用及び受
信用の光コネクタが嵌合する凹部12,14を備
えた光不透過プラスチツクモールド16内に送信
用半導体装置18及び受信用半導体装置20を接
着剤22で固定してなる。この双方向モジユール
は、送信部と受信部が同一のプラスチツクモール
ド16内にパツケージされているので取扱い易
く、また光フアイバが2本並設されたプラグを用
いることによりモジユールとプラグの接続が簡単
に行なえるという利点を有する。
に通信を行う為の双方向モジユールは、例えば第
2図及び第3図に示されるように、送信用及び受
信用の光コネクタが嵌合する凹部12,14を備
えた光不透過プラスチツクモールド16内に送信
用半導体装置18及び受信用半導体装置20を接
着剤22で固定してなる。この双方向モジユール
は、送信部と受信部が同一のプラスチツクモール
ド16内にパツケージされているので取扱い易
く、また光フアイバが2本並設されたプラグを用
いることによりモジユールとプラグの接続が簡単
に行なえるという利点を有する。
しかしながら、上述の双方向モジユールでは次
の欠点がある。
の欠点がある。
(1) 光受信用半導体装置は数百nAという受光素
子からの微弱な信号を扱う為外部雑音の影響を
受け易く、特に送信用半導体装置では発光素子
で数十mAという大電流を扱う為、この電流の
スイツチングに起因する雑音が発生し、送信用
半導体装置と接近配置される受信用半導体装置
へ飛び込み受信用半導体装置を誤動作させる。
子からの微弱な信号を扱う為外部雑音の影響を
受け易く、特に送信用半導体装置では発光素子
で数十mAという大電流を扱う為、この電流の
スイツチングに起因する雑音が発生し、送信用
半導体装置と接近配置される受信用半導体装置
へ飛び込み受信用半導体装置を誤動作させる。
(2) 各半導体装置は、透明プラスチツクによりモ
ールドされているので信頼性特に耐湿性が悪
い。例えば、プレツシヤクツカテスト(121℃、
2atm)では数時間で故障してしまう。
ールドされているので信頼性特に耐湿性が悪
い。例えば、プレツシヤクツカテスト(121℃、
2atm)では数時間で故障してしまう。
(3) 光フアイバと発光素子、受光素子とは効率よ
く光結合させる為に光軸が精密に一致している
必要があるが、発光素子、受光素子はリード線
上にマウントされているためリードフレームの
そりや微少な変形により光軸ずれを起し易い。
更に光不透過プラスチツクモールド16内に送
信用半導体装置及び受信用半導体装置をそれぞ
れ個別に固定しているので、光フアイバが2本
並設されたプラグとの寸法公差により光軸ずれ
が起こり易い。
く光結合させる為に光軸が精密に一致している
必要があるが、発光素子、受光素子はリード線
上にマウントされているためリードフレームの
そりや微少な変形により光軸ずれを起し易い。
更に光不透過プラスチツクモールド16内に送
信用半導体装置及び受信用半導体装置をそれぞ
れ個別に固定しているので、光フアイバが2本
並設されたプラグとの寸法公差により光軸ずれ
が起こり易い。
本発明は上述の問題点を解消するものであり、
特に雑音による誤動作を防止するように工夫され
た光通信用半導体装置を提供するものである。
特に雑音による誤動作を防止するように工夫され
た光通信用半導体装置を提供するものである。
本発明は、主要表面に各々電気的に分離されて
形成された第1および第2の接地用導電膜を有す
るセラミツク基板と、第1の透孔性窓を備えた第
1の金属製のシエルであつて、セラミツク基板に
気密的に接合されてセラミツク基板との間に第1
の空間を形成するとともに、第1の接地用導電膜
と電気的に接続された第1の金属製のシエルと、
第2の透孔性窓を備えた第2の金属製のシエルで
あつて、セラミツク基板に気密的に接合されてセ
ラミツク基板との間に第2の空間を形成するとと
もに、第2の接地用導電膜と電気的に接続された
第2の金属製のシエルと、第1の空間内で、第1
の透孔性窓に対向してセラミツク基板に固定され
た受光素子と、第1の空間内で、セラミツク基板
に固定され、受光素子の光電流を増幅する回路素
子と、第2の空間内で、第2の透孔性窓に対向し
てセラミツク基板に固定された発光素子と、第1
の接地用導電膜と電気的に接続された第1の外部
接続端子と、第2の接地用導電膜と電気的に接続
された第2の外部接続端子とを備えたことを特徴
とする光通信用半導体装置である。
形成された第1および第2の接地用導電膜を有す
るセラミツク基板と、第1の透孔性窓を備えた第
1の金属製のシエルであつて、セラミツク基板に
気密的に接合されてセラミツク基板との間に第1
の空間を形成するとともに、第1の接地用導電膜
と電気的に接続された第1の金属製のシエルと、
第2の透孔性窓を備えた第2の金属製のシエルで
あつて、セラミツク基板に気密的に接合されてセ
ラミツク基板との間に第2の空間を形成するとと
もに、第2の接地用導電膜と電気的に接続された
第2の金属製のシエルと、第1の空間内で、第1
の透孔性窓に対向してセラミツク基板に固定され
た受光素子と、第1の空間内で、セラミツク基板
に固定され、受光素子の光電流を増幅する回路素
子と、第2の空間内で、第2の透孔性窓に対向し
てセラミツク基板に固定された発光素子と、第1
の接地用導電膜と電気的に接続された第1の外部
接続端子と、第2の接地用導電膜と電気的に接続
された第2の外部接続端子とを備えたことを特徴
とする光通信用半導体装置である。
以下本発明を実施例を参照して説明する。
本発明の一実施例の光半導体装置は、第4図に
その概略断面図が示されるように、所定の配線及
びメタライズ層が形成され互いに積層された第
1、第2及び第3のセラミツク基板24,26及
び28と、第1のセラミツク基板24上に積層さ
れたセラミツク製スペーサ30を備え、更にコバ
ール製のウエルドリング30,34を介して透孔
性窓36を備えた金属製シエル38及び透孔性窓
40を備えた金属製シエル42が気密的に封着さ
れている。第1のセラミツク基板24、スペーサ
30、ウエルドリング32及びシエル38により
第1の空間44が形成され、また同様に第1のセ
ラミツク基板24、スペーサ30、ウエルドリン
グ34及びシエル42により第2の空間46が形
成されている。
その概略断面図が示されるように、所定の配線及
びメタライズ層が形成され互いに積層された第
1、第2及び第3のセラミツク基板24,26及
び28と、第1のセラミツク基板24上に積層さ
れたセラミツク製スペーサ30を備え、更にコバ
ール製のウエルドリング30,34を介して透孔
性窓36を備えた金属製シエル38及び透孔性窓
40を備えた金属製シエル42が気密的に封着さ
れている。第1のセラミツク基板24、スペーサ
30、ウエルドリング32及びシエル38により
第1の空間44が形成され、また同様に第1のセ
ラミツク基板24、スペーサ30、ウエルドリン
グ34及びシエル42により第2の空間46が形
成されている。
これら第1の空間44及び第2の空間46は、
スペーサ30、ウエルドリング32,34及びシ
エル38,42により光学的に分離されている。
スペーサ30、ウエルドリング32,34及びシ
エル38,42により光学的に分離されている。
第1の空間44には透孔性窓36に対向して受
光素子48が第1のセラミツク基板24上に設け
られ、また受光素子48からの出力光電流を増幅
再生する回路素子例えばレシーバ回路用IC50
及びコンデンサ52等が同様に第1のセラミツク
基板24上に設けられている。第2の空間46に
は透孔性窓40に対向して発光素子54が第1の
セラミツク基板24上に設けられ、また発光素子
54を駆動する為の回路素子、例えば駆動用IC
56が第1のセラミツク基板24上に設けられて
いる。第3のセラミツク基板28の裏面には、受
光素子及び受光素子からの出力光電流を増幅再生
する回路素子へ電流を供給するための端子17
6、増幅再生された信号を取り出す為の端子18
0、発光素子へ電流を供給する端子170、発光
素子を駆動する回路素子へ電流を供給するための
端子168、発光素子を駆動する信号を供給する
ための端子166等その他接地素子172,17
4,178が設けられている。なお、受信側の接
地端子174,178と発光側の接地端子172
とは電気的に分離されている。
光素子48が第1のセラミツク基板24上に設け
られ、また受光素子48からの出力光電流を増幅
再生する回路素子例えばレシーバ回路用IC50
及びコンデンサ52等が同様に第1のセラミツク
基板24上に設けられている。第2の空間46に
は透孔性窓40に対向して発光素子54が第1の
セラミツク基板24上に設けられ、また発光素子
54を駆動する為の回路素子、例えば駆動用IC
56が第1のセラミツク基板24上に設けられて
いる。第3のセラミツク基板28の裏面には、受
光素子及び受光素子からの出力光電流を増幅再生
する回路素子へ電流を供給するための端子17
6、増幅再生された信号を取り出す為の端子18
0、発光素子へ電流を供給する端子170、発光
素子を駆動する回路素子へ電流を供給するための
端子168、発光素子を駆動する信号を供給する
ための端子166等その他接地素子172,17
4,178が設けられている。なお、受信側の接
地端子174,178と発光側の接地端子172
とは電気的に分離されている。
次に多層に積層された各セラミツク基板及びス
ペーサについて詳述する。第5図乃至第8図はス
ペーサ、第1のセラミツク基板、第2のセラミツ
ク基板及び第3のセラミツク基板のそれぞれ上面
図を示し、第9図は第3のセラミツク基板の裏面
図を示す。
ペーサについて詳述する。第5図乃至第8図はス
ペーサ、第1のセラミツク基板、第2のセラミツ
ク基板及び第3のセラミツク基板のそれぞれ上面
図を示し、第9図は第3のセラミツク基板の裏面
図を示す。
まず、第6図に示すように第1のセラミツク基
板24は中央部に開孔70及び切欠き72を有
し、開孔70及び切欠き72で区分された右半分
には受光素子74を載置する導電パターン76及
びバイパスコンデンサ78を設ける導電パターン
80及び電源を供給する為の導電パターン82,
84増幅再生回路からの出力を取出す導電パター
ン86等の配線が形成されている。更にこれらの
配線部を除いた大部分を覆うようにメタライズ層
88が形成されている。図中、参照番号89は増
幅再生用ICであり、増幅再生用ICの交流的接地
電位端子81は、メタライズ層へボンデイング・
ワイヤにより接続され、後述するようにリード端
子と接続されている。ここでいう交流的接地電位
端子とは、増幅再生用ICの電源端子又は接地端
子を示し、実施例では接地端子とメタライズ層と
を接続した例を示す。また開孔70と切欠き72
で区分けされた右半分には、発光素子90を載置
する導電パターン92、駆動回路用IC93に電
源を供給するための導電パターン94、入力信号
を駆動用回路素子93に供給する為の導電パター
ン95等の配線が形成されている。更にこれらの
配線部を除いた大部分を覆うようにメタライズ層
96が形成されている。開孔70のまわりには複
数個の導電物質が充填されたスルーホール98が
設けられ、右半分のスルーホールの導電物質はメ
タライズ層88と接続され、また左半分のスルー
ホール100の導電物質はメタライズ層96に接
続されている。
板24は中央部に開孔70及び切欠き72を有
し、開孔70及び切欠き72で区分された右半分
には受光素子74を載置する導電パターン76及
びバイパスコンデンサ78を設ける導電パターン
80及び電源を供給する為の導電パターン82,
84増幅再生回路からの出力を取出す導電パター
ン86等の配線が形成されている。更にこれらの
配線部を除いた大部分を覆うようにメタライズ層
88が形成されている。図中、参照番号89は増
幅再生用ICであり、増幅再生用ICの交流的接地
電位端子81は、メタライズ層へボンデイング・
ワイヤにより接続され、後述するようにリード端
子と接続されている。ここでいう交流的接地電位
端子とは、増幅再生用ICの電源端子又は接地端
子を示し、実施例では接地端子とメタライズ層と
を接続した例を示す。また開孔70と切欠き72
で区分けされた右半分には、発光素子90を載置
する導電パターン92、駆動回路用IC93に電
源を供給するための導電パターン94、入力信号
を駆動用回路素子93に供給する為の導電パター
ン95等の配線が形成されている。更にこれらの
配線部を除いた大部分を覆うようにメタライズ層
96が形成されている。開孔70のまわりには複
数個の導電物質が充填されたスルーホール98が
設けられ、右半分のスルーホールの導電物質はメ
タライズ層88と接続され、また左半分のスルー
ホール100の導電物質はメタライズ層96に接
続されている。
第2のセラミツク基板26は第7図に示される
ように第1のセラミツク基板24と同様に、中央
部に開孔102、切欠き104が設けられ、開孔
102のまわりにはスルーホール106,108
が設けられている。右半分には、電源、信号出力
用等の導電パターン110,112,114等が
設けられ、その他の部分にはメタライズ層115
が設けられている。また右半分のセラミツク基板
上にも駆動回路IC用電源、信号入力用、発光素
子用電源等の導電パターン116,118,12
0が設けられている。その他の部分にはメタライ
ズ層122が形成されている。
ように第1のセラミツク基板24と同様に、中央
部に開孔102、切欠き104が設けられ、開孔
102のまわりにはスルーホール106,108
が設けられている。右半分には、電源、信号出力
用等の導電パターン110,112,114等が
設けられ、その他の部分にはメタライズ層115
が設けられている。また右半分のセラミツク基板
上にも駆動回路IC用電源、信号入力用、発光素
子用電源等の導電パターン116,118,12
0が設けられている。その他の部分にはメタライ
ズ層122が形成されている。
第3図のセラミツク基板28は第8図にその上
面図が示されるように、中央部に開孔130、切
欠き132が設けられ、第2のセラミツク基板2
6に形成された導電パターンと接続される所定の
導電パターン134,136,138,140,
142,144が設けられている。またその配線
部を除いて右半分及び左半分にそれぞれメタライ
ズ層146,148が設けられている。各導電パ
ターン及びメタライズ層は第3のセラミツク基板
の側面に形成された導電膜を介して、第9図に示
された様に、基板裏面のリード端子取付け用の導
電パターン150,152,154,156,1
58,160,162,164と接続されてい
る。またこれらの導電パターンにはリード端子1
66,168,170,172,174,17
6,178,180が取着されている。リード端
子166〜180は、それぞれ順番に送信側入力
信号入力端子、送信側電源端子、発光素子用電源
端子、接地端子、受信側電源端子、接地端子、受
信側出力端子である。
面図が示されるように、中央部に開孔130、切
欠き132が設けられ、第2のセラミツク基板2
6に形成された導電パターンと接続される所定の
導電パターン134,136,138,140,
142,144が設けられている。またその配線
部を除いて右半分及び左半分にそれぞれメタライ
ズ層146,148が設けられている。各導電パ
ターン及びメタライズ層は第3のセラミツク基板
の側面に形成された導電膜を介して、第9図に示
された様に、基板裏面のリード端子取付け用の導
電パターン150,152,154,156,1
58,160,162,164と接続されてい
る。またこれらの導電パターンにはリード端子1
66,168,170,172,174,17
6,178,180が取着されている。リード端
子166〜180は、それぞれ順番に送信側入力
信号入力端子、送信側電源端子、発光素子用電源
端子、接地端子、受信側電源端子、接地端子、受
信側出力端子である。
さて、第5図にもどつて、スペーサ30にも第
1、第2、第3のセラミツク基板24,26,2
8と同様に中央部に開孔190、切欠き192が
設けられている。このスペーサ30は、右半分及
び左半分の領域において矩形状の開孔194,1
96が形成されている。また開孔190のまわり
には、スルーホール198,200が形成され、
右半分及び左半分にそれぞれ形成されたメタライ
ズ層202,204と接続されている。更に、開
孔194,196の周囲には、第4図に示すよう
に、導電層300,302が形成され、それぞれ
メタライズ層202,204と接続されている。
1、第2、第3のセラミツク基板24,26,2
8と同様に中央部に開孔190、切欠き192が
設けられている。このスペーサ30は、右半分及
び左半分の領域において矩形状の開孔194,1
96が形成されている。また開孔190のまわり
には、スルーホール198,200が形成され、
右半分及び左半分にそれぞれ形成されたメタライ
ズ層202,204と接続されている。更に、開
孔194,196の周囲には、第4図に示すよう
に、導電層300,302が形成され、それぞれ
メタライズ層202,204と接続されている。
上述した第1乃至第3のセラミツク基板24,
26,28及びスペーサ30は、当初グリーンセ
ラミツクで形成されており、積層した後熱処理に
より多層セラミツク基板とされ、各基板上の所定
の導電パターン及びメタライズ層はそれぞれ所定
の部位に設けられたスルーホールにより接続され
る。また積層されたセラミツク基板の短辺側側面
及び切り欠きを設けた長辺側側面には、第4図に
示すように、メタライズ層206,208が設け
られている(長辺側側面のメタライズ層は図示せ
ず)。尚、長辺側側面のメタライズ層は、セラミ
ツク基板の切り欠きで第1の空間部側と第2の空
間部側とに分離され、両メタライズ層は電気的に
絶縁されている。また第1の金属製のシエル38
はスペーサ30の第1の空間側のメタライズ層2
02と電気的に接続されまた第2の金属製のシエ
ル42は第2の空間側のメタライズ層204と電
気的に接続されている。
26,28及びスペーサ30は、当初グリーンセ
ラミツクで形成されており、積層した後熱処理に
より多層セラミツク基板とされ、各基板上の所定
の導電パターン及びメタライズ層はそれぞれ所定
の部位に設けられたスルーホールにより接続され
る。また積層されたセラミツク基板の短辺側側面
及び切り欠きを設けた長辺側側面には、第4図に
示すように、メタライズ層206,208が設け
られている(長辺側側面のメタライズ層は図示せ
ず)。尚、長辺側側面のメタライズ層は、セラミ
ツク基板の切り欠きで第1の空間部側と第2の空
間部側とに分離され、両メタライズ層は電気的に
絶縁されている。また第1の金属製のシエル38
はスペーサ30の第1の空間側のメタライズ層2
02と電気的に接続されまた第2の金属製のシエ
ル42は第2の空間側のメタライズ層204と電
気的に接続されている。
したがつて、第1の空間及び第2の空間は、そ
れぞれスペーサ及び各セラミツク基板上に設けら
れたメタライズ層、スペーサ及び各セラミツク基
板中央の開孔のまわりに設けられたスルーホー
ル、スペーサ及び各セラミツク基板の側面に設け
られたメタライズ層及び第1と第2の金属製のシ
エルによつて囲まれ、外部及び互いに隣りの空間
よりシールドされている。
れぞれスペーサ及び各セラミツク基板上に設けら
れたメタライズ層、スペーサ及び各セラミツク基
板中央の開孔のまわりに設けられたスルーホー
ル、スペーサ及び各セラミツク基板の側面に設け
られたメタライズ層及び第1と第2の金属製のシ
エルによつて囲まれ、外部及び互いに隣りの空間
よりシールドされている。
上述のように構成された本実施例によれば、受
光素子及び増幅再生回路を収容する第1の空間内
は外部からシールドされているので、非常に微弱
な光電流を扱う光受信部は、比較的大電流を高速
でスイツチングし雑音を発生する光送信部に隣接
して設けられていても雑音による誤動作を起こす
問題がなくなつた。時に上述の実施例では、光受
信部のみならず光送信部もシールドしているの
で、光送信部で発生する雑音による光受信部の誤
動作をより確実に避けることができる。
光素子及び増幅再生回路を収容する第1の空間内
は外部からシールドされているので、非常に微弱
な光電流を扱う光受信部は、比較的大電流を高速
でスイツチングし雑音を発生する光送信部に隣接
して設けられていても雑音による誤動作を起こす
問題がなくなつた。時に上述の実施例では、光受
信部のみならず光送信部もシールドしているの
で、光送信部で発生する雑音による光受信部の誤
動作をより確実に避けることができる。
また、外囲器はセラミツク、金属、ガラスを用
いた気密シール構造となつている為、耐高低温特
性、耐湿性はプラスチツクでモールドされた従来
例のものに比べ格段に向上した。例えばプレツシ
ヤクツカテスト50時間経過後も何の異常も認めら
れなかつた。更に本実施例によれば、光送受信部
が1つのセラミツク多層基板上に設けられている
為、光送信用半導体装置と光受信用半導体装置を
個別に用いるものと比べ小型化することができ
た。
いた気密シール構造となつている為、耐高低温特
性、耐湿性はプラスチツクでモールドされた従来
例のものに比べ格段に向上した。例えばプレツシ
ヤクツカテスト50時間経過後も何の異常も認めら
れなかつた。更に本実施例によれば、光送受信部
が1つのセラミツク多層基板上に設けられている
為、光送信用半導体装置と光受信用半導体装置を
個別に用いるものと比べ小型化することができ
た。
第10図は、上述実施例からスペーサを除いた
ものであり、ウエルドリング210,212を第
1のセラミツク基板24の第1の主面に直接ろう
付けし、シエル38,40を溶接したものであ
る。
ものであり、ウエルドリング210,212を第
1のセラミツク基板24の第1の主面に直接ろう
付けし、シエル38,40を溶接したものであ
る。
第11図は、ウエルドリングをも除き、第1の
セラミツク基板24の第1の主面上のメタライズ
層に直接シエル38,42をろう付けしたもので
ある。
セラミツク基板24の第1の主面上のメタライズ
層に直接シエル38,42をろう付けしたもので
ある。
上記の実施例では、光送信部に発光素子の駆動
の為の回路素子を組み込んだが、光送信部内には
発光素子のみを設けた駆動回路素子は外付けとす
ることもできる。更に、光受信部の発光素子及び
増幅再生回路素子は一体に集積化されたものを用
いることもできる。また中央開孔に沿つて設けた
開孔列は、複数個の開孔で形成したが、線状の開
孔を設けて導電性物質を充填しても同様の効果が
得られる。
の為の回路素子を組み込んだが、光送信部内には
発光素子のみを設けた駆動回路素子は外付けとす
ることもできる。更に、光受信部の発光素子及び
増幅再生回路素子は一体に集積化されたものを用
いることもできる。また中央開孔に沿つて設けた
開孔列は、複数個の開孔で形成したが、線状の開
孔を設けて導電性物質を充填しても同様の効果が
得られる。
本発明によれば、微弱な電気信号を扱う光受信
部はシールドされており、外部からの雑音により
誤動作を受けることがなく、また信頼性の高い光
通信用半導体装置が得られる。
部はシールドされており、外部からの雑音により
誤動作を受けることがなく、また信頼性の高い光
通信用半導体装置が得られる。
また発光側と受光側とで接地回路が電気的に分
離して形成されているので、接地回路のインピー
ダンスが多少低いような場合であつても、発光部
のオン、オフによる電流値変動に起因する接地電
位の微弱な変動が受光側に影響を与えることな
く、誤動作の少ない光通信用半導体装置が得られ
る。
離して形成されているので、接地回路のインピー
ダンスが多少低いような場合であつても、発光部
のオン、オフによる電流値変動に起因する接地電
位の微弱な変動が受光側に影響を与えることな
く、誤動作の少ない光通信用半導体装置が得られ
る。
第1図は従来技術の光通信用半導体装置の一例
を示す図、第2図及び第3図は光通信用モジユー
ルの一例を示す正面図及び断面図、第4図は本発
明の一実施例の光通信用半導体装置の断面図、第
5図乃至第9図は一実施例の光通信用半導体装置
に用いられるセラミツク基板を示す図、第10図
乃至第11図は本発明の他の実施例を示す断面図
である。
を示す図、第2図及び第3図は光通信用モジユー
ルの一例を示す正面図及び断面図、第4図は本発
明の一実施例の光通信用半導体装置の断面図、第
5図乃至第9図は一実施例の光通信用半導体装置
に用いられるセラミツク基板を示す図、第10図
乃至第11図は本発明の他の実施例を示す断面図
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 主要表面に各々電気的に分離されて形成され
た第1および第2の接地用導電膜を有するセラミ
ツク基板と、 第1の透孔性窓を備えた第1の金属製のシエル
であつて、前記セラミツク基板に気密的に接合さ
れて前記セラミツク基板との間に第1の空間を形
成するとともに、前記第1の接地用導電膜と電気
的に接続された第1の金属製のシエルと、 第2の透孔性窓を備えた第2の金属製のシエル
であつて、前記セラミツク基板に気密的に接合さ
れて前記セラミツク基板との間に第2の空間を形
成するとともに、前記第2の接地用導電膜と電気
的に接続された第2の金属製のシエルと、 前記第1の空間内で、前記第1の透孔性窓に対
向して前記セラミツク基板に固定された受光素子
と、 前記第1の空間内で、前記セラミツク基板に固
定され、前記受光素子の光電流を増幅する回路素
子と、 前記第2の空間内で、前記第2の透孔性窓に対
向して前記セラミツク基板に固定された発光素子
と、 前記第1の接地用導電膜と電気的に接続された
第1の外部接続端子と、 前記第2の接地用導電膜と電気的に接続された
第2の外部接続端子と とを備えたことを特徴とする光通信用半導体装
置。 2 前記第1の空間と前記第2の空間との境界部
に沿つて、前記セラミツク基板に内部に導電物質
が充填された第1および第2の開孔を備え、前記
第1の開孔の導電物質が前記第1の接地用導電膜
と電気的に接続され、また前記第2の開孔の導電
物質が前記第2の接地用導電膜と電気的に接続さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の光通信用半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1070506A JPH02399A (ja) | 1989-03-24 | 1989-03-24 | 光通信用半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1070506A JPH02399A (ja) | 1989-03-24 | 1989-03-24 | 光通信用半導体装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58109345A Division JPS601878A (ja) | 1982-07-19 | 1983-06-20 | 光通信用半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02399A JPH02399A (ja) | 1990-01-05 |
| JPH0363240B2 true JPH0363240B2 (ja) | 1991-09-30 |
Family
ID=13433485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1070506A Granted JPH02399A (ja) | 1989-03-24 | 1989-03-24 | 光通信用半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02399A (ja) |
-
1989
- 1989-03-24 JP JP1070506A patent/JPH02399A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02399A (ja) | 1990-01-05 |
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