JPH0364901A - 抵抗体印刷物における印刷位置ずれ検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えばチップ抵抗器、抵抗ネットワーク等
の電子部品の元になる抵抗体印刷物における電子部品構
成用の電極と抵抗体との間の印刷位置ずれを検出する方
法に関する。

〔従来の技術〕

従来は、例えば電子部品として複数のチップ抵抗器を作
る場合は、例えば第２図に示すように、絶縁基板４の表
面の製品領域５に複数のチップ抵抗器構成用の電極６ａ
を所定のパターンで印刷しくより具体的にはその元にな
る電極ペーストを印刷しかつ焼付け）、かつ通常はその
後に、各電極６ａｓ６ａ間にそれぞれまたがるように抵
抗体８を所定のパターンで印刷しくより具体的にはその
元になる抵抗ペーストを印刷しかつ焼付け）、このよう
にしてまず元になる抵抗体印刷物２を作り、その後これ
を所定の小片状に切断加工するようにしていた。

電子部品として抵抗ネットワークを作る等の場合は、例
えば図示例のように抵抗体８の近傍に配線用の電極６ｂ
を印刷する場合もある。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記のような抵抗体印刷物２の電極６ａや６ｂと抵抗体
８との間の印刷位置ずれの検査は、従来は、多数の抵抗
体印刷物２の内から幾つかを抜き取って検査員がその位
置ずれを検査するという抜き取り検査によって行ってい
た。

ところが、このような方法では、全数検査ではないため
、何らかの要因（例えば人為的なミス、印刷機械の突発
的なトラブル等）によって位置ずれが規格から外れてい
る抵抗体印刷物２が見過ごされる可能性があった。

特に、上記電極６ａと抵抗体８との重なり部分１０や抵
抗体８と電極６ｂとの間のギャップ部分１２の寸法が規
格から外れている場合、製品（例えばチップ抵抗器等）
の電気的特性に悪影響を及ぼし、その信頼性を低下させ
る要因になる。

例えば、上記型なり部分１０の寸法が極端に小さくなる
と、外部からの熱的ストレス等に対して抵抗値の変化が
大きくなる等の不具合が生じる。

また、上記ギャップ部分１２の寸法が小さくなると、抵
抗体８と電極６ｂ間の絶縁性が低下する等の不具合が生
じる。

ちなみに、多数の抵抗体印刷物２の全数について、その
電極６ａ、６ｂと抵抗体８との位置ずれを検査員によっ
て検査することは、膨大な労力を必要とするので現実的
ではない。

そこでこの発明は、上記のような抵抗体印刷物における
電子部品構成用の電極と抵抗体との間の印刷位置ずれを
確実にしかも簡単な方法で検出することができる印刷位
置ずれ検出方法を提供することを主たる目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、この発明の印刷位置ずれ検出
方法は、抵抗体印刷物における電子部品構成用の電極と
抵抗体との間の位置ずれのＸ方向の最大許容値をａ、Ｘ
方向と直交するＹ方向の最大許容値をｂとした場合、絶
縁基板の表面の余白部分の少なくとも３個所に、前記電
子部品構成用の電極を印刷するのと同じ印刷版を用いて
同じ印刷工程で、Ｙ方向に互いに平行に延びた第１およ
び第２の検出用電極であって前者の方が後者よりも長い
ものをそれぞれ印刷し、かつ前記電子部品構成用の抵抗
体を印刷するのと同じ印刷版を用いて同じ印刷工程で、
Ｌ形をしていてその一方の先端部が前記各個所の第１の
検出用電極にその側方から重なり寸法が前記最大許容値
ａで重なり、他方の先端部が第２の検出用電極にその先
端側から重なり寸法が前記最大許容値すで重なるような
検出用抵抗体をそれぞれ印刷し、そして全ての抵抗体印
刷物について前記各個所の第１の検出用電極と第２の検
出用電極との間の導通の有無を測定することを特徴とす
る。

〔作用〕

上記方法によれば、絶縁基板上に、電子部品構成用の電
極と検出用電極とが互いに同一の精度で、かつ電子部品
構成用の抵抗体と検出用抵抗体とが互いに同一の精度で
、それぞれ形成される。

従って、電子部品構成用の電極と抵抗体との間の＋Ｘ方
向または−Ｘ方向の位置ずれが前記最大許容値ａを越え
た場合、あるいは両者の＋Ｙ方向または−Ｙ方向の位置
ずれが前記最大許容値すを越えた場合、少なくとも１個
所の第１の検出用電極と第２の検出用電極との間の検出
用抵抗体による導通がなくなる。

従って、全ての抵抗体印刷物について、上記各個所の第
１の検出用電極と第２の検出用電極との間の導通の有無
を測定することによって、各抵抗体印刷物における電子
部品構成用の電極と抵抗体との間の位置ずれを確実にし
かも簡単に検出することができる。

〔実施例〕

第１図は、この発明に係る印刷位置ずれ検出方法を説明
するための図である。第２図の例と同等部分には同一符
号を付し、以下においては従来例との相違点を主に説明
する。

ここでは、前述した電子部品構成用の電極６ａ、６ｂと
抵抗体８との間の印刷位置ずれのＸ方向の最大許容値を
ａ、Ｘ方向と直交するＹ方向の最大許容値をｂとする。

両者の関係はａ＝ｂでもａ≠ｂでも良い。また、この明
細書で言うＸ方向あるいはＹ方向は、必ずしも第１図中
に示すような方向である必要はなく、要は直交する２方
向であれば良い。

そしてこの実施例では、前述した絶縁基板４の表面であ
って、製品領域５の外側にある余白部分の隅の方の３個
所に、即ちＡ−Ｃ部に、電子部品構成用の電極６ａや６
ｂを印刷するのと同じ印刷版を用いて同じ印刷工程で、
Ｙ方向に互いに平行に延びた第１および第２の検出用電
極１６ａおよび１６ｂをそれぞれ印刷する。

各検出用電極１６ａは各検出用電極１６ｂよりも長く、
またこの例では各検出用電極１６ｂの先端部はＴ形に少
し広がっている。

更に、上記Ａ−Ｃ部に、電子部品構成用の抵抗体８を印
刷するのと同じ印刷版を用いて同じ印刷工程で、Ｌ形を
した検出用抵抗体１８をそれぞれ印刷する。

その場合、各検出用抵抗体１８は、そのＬ形の一方の先
端部が検出用電極１６ａにその側方から重なり、他方の
先端部が検出用電極１６ｂにその先端側から重なるよう
にする。

しかもそのとき、各検出用抵抗体１８と各検出用電極１
６ａとのＸ方向の重なり寸法が前記最大許容値ａに、同
検出用抵抗体１８と各検出用電極１６ｂとのＹ方向の重
なり寸法が前記最大許容値すになるように印刷する。

上記のようにすると、絶縁基板４上に、電子部品構成用
の電極６ａ、６ｂと検出用電極１６ａ、１６ｂとが互い
に同一精度で形成される。また、電子部品構成用の抵抗
体８と検出用抵抗体１８も互いに同一精度で形成される
。

従って、何らかの原因で、電子部品構成用の電極６ａや
６ｂと抵抗体８との間の＋Ｘ方向または−Ｘ方向の位置
ずれが最大許容（１：ａを越えた場合、あるいは電極６
ａや６ｂと抵抗体８との間の＋Ｙ方向または−Ｙ方向の
位置ずれが最大許容値すを越えた場合、Ａ−Ｃ部の内の
少なくとも１個所の検出用電極１６ａと１６ｂとの間の
検出用抵抗体１８による導通がなくなる。

例えば、仮に抵抗体８等のパターンが電極６ａ等のパタ
ーンに対して＋Ｙ方向にｂより大きくずれた場合、Ａ部
の検出用抵抗体１８が検出用電極１６ｂから外れるため
、検出用抵抗体１８による検出用電極１６ａ、１６ｂ間
の導通はなくなる（即ちオーブンになり、抵抗値は無限
大に近くなる）。

同様に、抵抗体８等のパターンが電極６ａ等のパターン
に対して−Ｙ方向にｂより大きくずれた場合はＢ部およ
びＣ部の検出用電極１６ａ、１６ｂ間の導通がなくなり
、＋Ｘ方向にａより大きくずれた場合はＣ部の検出用電
極１６ａ、１６ｂ間の導通がなくなり、−Ｘ方向にａよ
り大きくずれた場合はＡ部およびＢ部の検出用電極１６
ａ、１６ｂ間の導通がなくなる。

従って、Ａ−Ｃ部の検出用電極１６ａと１６ｂとの間の
導通の有無を測定することにより、いずれか１個所でも
導通がない場合は、同一印刷版を用いて製品領域５に形
成している電子部品構成用の電極６ａや６ｂと抵抗体８
との間の位置ずれが規格外であることを検出することが
できる。

従ってこのような導通測定を全ての抵抗体印刷物２につ
いて行うことにより、前述したように電極６ａと抵抗体
８との重なり部分１０の寸法や抵抗体８と電極６ｂとの
間のギャップ部分１２の寸法等か規格から外れているも
のを、全数確実に検出することができる。

しかも、このような導通測定は電気的に極めて簡単に行
うことができるので、あまり手間もかからない。

また、上記のような検出用電極１６　ａ、　　１６　ｂ
や検出用抵抗体１８の印刷は、電子部品構成用の電極６
ａ、６ｂや抵抗体８を印刷する印刷版に奄れら用の印刷
パターンを追加しておくだけで良いので、新たな印刷工
程を設ける必要はなく、従ってコストも殆どかからない
。

また、上記のような検出用電極１６ａ、１６ｂおよび検
出用抵抗体１８の形成には、絶縁基板４の製品領域５外
に元々存在している余白部分を使うので、絶縁基板４が
そのために大型化することもない。

また、上記のような電子部品構成用の抵抗体８を形成す
る場合は、通常はそのトリミング（即ち、抵抗値を測定
しながら抵抗体にスリットを入れることによって抵抗値
を所望のものに近づける作業）を行うので、上記Ａ−Ｃ
部における検出用電極１６ａ、１６ｂ間の導通測定をこ
のトリミングの際に併せて行うようにしても良く、その
ようにすれば、全数の抵抗体印刷物２について、その電
極６ａ、６ｂと抵抗体８との位置ずれが規格内か外かを
、トリミングの際に（例えばトリミングを始める直前に
）自動的にかつ瞬時にチエツクすることができる。

しかもそのようにすれば、導通測定のための新たな工程
や手段を設ける必要がなくなるので、検出作業が一層簡
単になる。即ち、前述したように印刷工程を新たに設け
る必要がないことと相俟って、新たな工程等を一切設け
ることなく、全数の抵抗体印刷物２について位置ずれの
検出を行うことができる。従って、そのためのコストも
殆どかからない。

なお、上記各検出用電極１６ａ、１６ｂおよび各検出用
抵抗体１８の形状は、必ずしも図示例のようなものにす
る必要はなく、要は上記のような値ａ、ｂの重なりを取
ることができると共に、検出用抵抗体１８のＸ、Ｙ両方
向の位置ずれをカバーすることができるようなものであ
れば良い。例えば、上記各検出用電極１６ｂは、その先
端部が必ずしも図示例のようにＴ形に広がっている必要
はなく、検出用抵抗体１８のＸ方向の位置ずれをカバー
できる程度の広さを有するまっすぐなものにしても良い
。

また、上記のような検出用電極１６ａ、１６ｂおよび検
出用抵抗体１８を設ける場所は、絶縁基板４上の余白部
分であればどこでも良く、必ずしも図示例のような場所
に限らない。また３個所に設ければ充分であるが、それ
以上の個所に設けても良い。

また、上記各検出用電極１６ａ、１６ｂは、製品領域５
内の電極６ａ、６ｂと電気的に独立していても良いし、
あるいは回路的な影響がなければつながっていても良い
。

〔発明の効果〕

以上のようにこの発明によれば、前述したような各個所
の第１および第２の検出用電極間の導通の有無を全ての
抵抗体印刷物について調べるようにしたので、同抵抗体
印刷物における電子部品構成用の電極と抵抗体との間の
印刷位置ずれを確実に検出することができる。しかもこ
のような導通測定は電気的に極めて簡単に行うことがで
きるので、あまり手間もかからない。

また、上記のような検出用電極および検出用抵抗体の印
刷は、電子部品構成用の電極や抵抗体を印刷する印刷版
にそれら用の印刷パターンを追加しておくだけで良いの
で、新たな印刷工程を設ける必要はなく、従ってコスト
も殆どかからない。

また、上記のような検出用電極および検出用抵抗体の形
成には、絶縁基板の余白部分を使用するので、そのため
に絶縁基板が大型化することもない。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明に係る印刷位置ずれ検出方法を説明
するための図である。第２図は、抵抗体印刷物の一例を
示す概略平面図である。 ２・・・抵抗体印刷物、４・・・絶縁基板、６ａ。 ６ｂ・・・電子部品構成用の電極、８・・・電子部品構
成用の抵抗体、１６ａ、１６ｂ・・・検出用電極、１８
・・・検出用抵抗体。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）絶縁基板の表面に電子部品構成用の電極と抵抗体
   とをそれぞれ所定のパターンで印刷した抵抗体印刷物に
   おける当該電極と抵抗体との間の印刷位置ずれを検出す
   る方法であって、この位置ずれのＸ方向の最大許容値を
   ａ，Ｘ方向と直交するＹ方向の最大許容値をｂとした場
   合、前記絶縁基板の表面の余白部分の少なくとも３個所
   に、前記電子部品構成用の電極を印刷するのと同じ印刷
   版を用いて同じ印刷工程で、Ｙ方向に互いに平行に延び
   た第１および第２の検出用電極であって前者の方が後者
   よりも長いものをそれぞれ印刷し、かつ前記電子部品構
   成用の抵抗体を印刷するのと同じ印刷版を用いて同じ印
   刷工程で、Ｌ形をしていてその一方の先端部が前記各個
   所の第１の検出用電極にその側方から重なり寸法が前記
   最大許容値ａで重なり、他方の先端部が第２の検出用電
   極にその先端側から重なり寸法が前記最大許容値ｂで重
   なるような検出用抵抗体をそれぞれ印刷し、そして全て
   の抵抗体印刷物について前記各個所の第１の検出用電極
   と第２の検出用電極との間の導通の有無を測定すること
   を特徴とする抵抗体印刷物における印刷位置ずれ検出方
   法。