JPH0367213A - 光ビームの照射位置検出装置 - Google Patents
光ビームの照射位置検出装置Info
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- JPH0367213A JPH0367213A JP20425289A JP20425289A JPH0367213A JP H0367213 A JPH0367213 A JP H0367213A JP 20425289 A JP20425289 A JP 20425289A JP 20425289 A JP20425289 A JP 20425289A JP H0367213 A JPH0367213 A JP H0367213A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、光ビームを用いて画像走査(読み取り、また
は記録)を行う走査装置において、走査中の光ビームの
照射位置を検出する装置に関する。
は記録)を行う走査装置において、走査中の光ビームの
照射位置を検出する装置に関する。
〈従来の技術〉
レーザなどの光源から照射された光ビームを画像信号に
よって変調し、この光ビームで感光材料面を線順次に走
査することにより複製画像を記録する走査装置が実用化
されている。
よって変調し、この光ビームで感光材料面を線順次に走
査することにより複製画像を記録する走査装置が実用化
されている。
この種の画像走査装置は、複製画像を正確に再現するた
めに、感光材料面に照射された光ビームの照射位置に応
じた画像信号によって光ビームを変調する必要があり、
そのために走査中の光ビームの照射位置を検出する装置
を備えている。
めに、感光材料面に照射された光ビームの照射位置に応
じた画像信号によって光ビームを変調する必要があり、
そのために走査中の光ビームの照射位置を検出する装置
を備えている。
このような光ビームの照射位置検出装置として、例えば
特開昭59−174070号公報に開示された装置があ
る。以下、第7図を参照して説明する。
特開昭59−174070号公報に開示された装置があ
る。以下、第7図を参照して説明する。
画像信号記憶装置1に記憶された2次元画像信号は、C
PU2で時系列走査信号に変換されて、音響光学素子な
どの光変調器3に供給される。レーザなどの光源4から
射出された光ビームは光変調器3に入射され、前記時系
列走査信号によって変調される。変調された光ビームは
、ビームエキスパンダ5を通り、反射ミラー6.7で順
に反射されて、モータ8により回転駆動される偏向器と
しての多面鏡9に投射される。多面鏡9で反射された光
ビームは、fθレンズ10およびハーフミラ−Hを介し
て感光材料12の面に投射される。多面鏡9が回転する
ことにより、光ビームは主走査方向(第7図の紙面に垂
直な方向)に偏向走査される。感光材料12はステージ
13に装着され、このステージ13がモータ14で副走
査方向に等連送りされることにより、光ビームが線順次
に走査される。
PU2で時系列走査信号に変換されて、音響光学素子な
どの光変調器3に供給される。レーザなどの光源4から
射出された光ビームは光変調器3に入射され、前記時系
列走査信号によって変調される。変調された光ビームは
、ビームエキスパンダ5を通り、反射ミラー6.7で順
に反射されて、モータ8により回転駆動される偏向器と
しての多面鏡9に投射される。多面鏡9で反射された光
ビームは、fθレンズ10およびハーフミラ−Hを介し
て感光材料12の面に投射される。多面鏡9が回転する
ことにより、光ビームは主走査方向(第7図の紙面に垂
直な方向)に偏向走査される。感光材料12はステージ
13に装着され、このステージ13がモータ14で副走
査方向に等連送りされることにより、光ビームが線順次
に走査される。
一方、ハーフミラ−11によって分岐された光ビームは
、格子15を介して光検出器16に入射する。
、格子15を介して光検出器16に入射する。
格子15は、第8図に示すように、光ビームの走光路に
沿って透光部15aと遮光部15bとが交互に等間隔に
形成されたものである。光検出器16は、第9図に示す
ように、基116aにフォトダイオードなどの複数個の
受光素子16bを一列に配列した構成になっている。し
たがって、多面鏡9によって偏向された光ビームが格子
15を走行すると、光検出器16は光ビームが透光部1
5aに入射したときにのみ受光するため、光ビームの照
射位置に対応した間欠的な検出信号が光検出器16から
出力される。
沿って透光部15aと遮光部15bとが交互に等間隔に
形成されたものである。光検出器16は、第9図に示す
ように、基116aにフォトダイオードなどの複数個の
受光素子16bを一列に配列した構成になっている。し
たがって、多面鏡9によって偏向された光ビームが格子
15を走行すると、光検出器16は光ビームが透光部1
5aに入射したときにのみ受光するため、光ビームの照
射位置に対応した間欠的な検出信号が光検出器16から
出力される。
この検出信号に同期して画像信号記憶装置1から画像信
号が読み出されて光ビームが変調されることにより、光
ビームの照射位置に対応した画素が感光材料12の面に
記録されて、?1製画像(例えば、網点画像)が得られ
る。
号が読み出されて光ビームが変調されることにより、光
ビームの照射位置に対応した画素が感光材料12の面に
記録されて、?1製画像(例えば、網点画像)が得られ
る。
光検出器16の検出信号はアナログ信号であるから、光
検出器1,6とCPU2との間には、前記検出信号をデ
ジタル信号に変換するための信号処理回路17が設けら
れている。この信号処理回路17は、第10図に示すよ
うに、光検出器16から出力された検出信号を増幅する
増幅器1日と、増幅された検出信号S1を基準電圧発生
器19で設定されたしきい値V1.と比較して波形整形
する比較器20と、比較2m20から出力されたパルス
信号S2を、PLL回路21と1/N分周回路22との
組合せによってN倍に逓倍する逓倍回路23とから構成
されている。
検出器1,6とCPU2との間には、前記検出信号をデ
ジタル信号に変換するための信号処理回路17が設けら
れている。この信号処理回路17は、第10図に示すよ
うに、光検出器16から出力された検出信号を増幅する
増幅器1日と、増幅された検出信号S1を基準電圧発生
器19で設定されたしきい値V1.と比較して波形整形
する比較器20と、比較2m20から出力されたパルス
信号S2を、PLL回路21と1/N分周回路22との
組合せによってN倍に逓倍する逓倍回路23とから構成
されている。
この信号処理回路17から出力されたパルス信号が、C
PU2に網点発生用の基本クロック信号として与えられ
る。
PU2に網点発生用の基本クロック信号として与えられ
る。
ところで、従来装置において、格子15を通過した光ビ
ームを光検出器16に直接入射させると、次のような不
都合を生しる。
ームを光検出器16に直接入射させると、次のような不
都合を生しる。
上述したように、光検出器16は複数個の受光素子16
bを一列に配列した構成であるため、各受光素子16b
間で隙間が生しやすい。また、各受光素子16bを隙間
なく配列したとしても、第9図に斜線で示した受光素子
16b中の有効受光領域16cが素子外形よりも小さい
ため、隣り合う受光素子16bの有効受光領域16cの
間で、光ビームを感知し得ない不感帯(第9図中、A領
域)ができる。
bを一列に配列した構成であるため、各受光素子16b
間で隙間が生しやすい。また、各受光素子16bを隙間
なく配列したとしても、第9図に斜線で示した受光素子
16b中の有効受光領域16cが素子外形よりも小さい
ため、隣り合う受光素子16bの有効受光領域16cの
間で、光ビームを感知し得ない不感帯(第9図中、A領
域)ができる。
不感帯Aの長さよりも格子15のピッチが小さい場合、
光ビームが不感帯Aを走行している間、光検出器16か
ら検出信号が出力されず、CPU2に与えられる同期用
の基本クロックが欠落するために、感光材料12に記録
される網点の乱れが生じて複製画像の画質が低下すると
いう不都合が生じる。
光ビームが不感帯Aを走行している間、光検出器16か
ら検出信号が出力されず、CPU2に与えられる同期用
の基本クロックが欠落するために、感光材料12に記録
される網点の乱れが生じて複製画像の画質が低下すると
いう不都合が生じる。
そこで、第8図に示すように、格子15と光検出器16
との間に散乱板24を設けることにより、光ビームが光
検出器16の不感帯Aを通過しているときに、散乱板2
4によって散乱された光ビームを不感帯Aの両側の各素
子16bの有効受光領域16cで受光して、基本クロッ
クが欠落しないようにしている。
との間に散乱板24を設けることにより、光ビームが光
検出器16の不感帯Aを通過しているときに、散乱板2
4によって散乱された光ビームを不感帯Aの両側の各素
子16bの有効受光領域16cで受光して、基本クロッ
クが欠落しないようにしている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、上述した従来装置には次のような問題点
がある。
がある。
以下、第1I図を参照して説明する。同図(a)は光検
出器16の不感帯Aを拡大した説明図、同図(b)は同
図(alに示した不感帯Aに対向する格子15の説明図
、同図(C)は信号処理回路17に含まれる増幅器18
の出力信号S1の波形図、同図(d)は比較器20の出
力信号Stの波形図である。
出器16の不感帯Aを拡大した説明図、同図(b)は同
図(alに示した不感帯Aに対向する格子15の説明図
、同図(C)は信号処理回路17に含まれる増幅器18
の出力信号S1の波形図、同図(d)は比較器20の出
力信号Stの波形図である。
光検出器16は散乱板24を介して光ビームを検出して
いるため、各素子の有効受光領域16cへ入射する光ビ
ームの光量は少なくなる。したがって、従来装置によれ
ば、散乱による光量の低下を補うために、大出力の光源
4を使用しなければならないという問題点がある。
いるため、各素子の有効受光領域16cへ入射する光ビ
ームの光量は少なくなる。したがって、従来装置によれ
ば、散乱による光量の低下を補うために、大出力の光源
4を使用しなければならないという問題点がある。
また、光ビームの光量を大きく設定したとしても、第1
1図(C)に示すように、光ビームが不感帯Aを通過し
ているとき、光検出器I6の検出信号S。
1図(C)に示すように、光ビームが不感帯Aを通過し
ているとき、光検出器I6の検出信号S。
は、光ビームが有効受光領域16cの上を通過している
ときに比較して、その波高値が小さくなる。
ときに比較して、その波高値が小さくなる。
そのため、同図(d)に示すように、比較器20の出力
パルス信号S2の周波数が不感帯Aで乱れ、その結果と
して同期用の基本クロックの周波数が乱れて光ビームの
照射位置の検出精度が低下する。
パルス信号S2の周波数が不感帯Aで乱れ、その結果と
して同期用の基本クロックの周波数が乱れて光ビームの
照射位置の検出精度が低下する。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、散乱板のような光ビームの光量を低下させる手段を
用いることなく、光検出器の不感帯の影響を回避して、
光ビームの照射位置を精度良く検出することができる光
ビームの照射位置検出装置を提供することを目的として
いる。
て、散乱板のような光ビームの光量を低下させる手段を
用いることなく、光検出器の不感帯の影響を回避して、
光ビームの照射位置を精度良く検出することができる光
ビームの照射位置検出装置を提供することを目的として
いる。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、このような目的を達成するために、次のよう
な構成をとる。
な構成をとる。
即ち、本発明は、走査されている光ビームを透光部と遮
光部とが交互に等間隔に形成された格子を介して受光す
ることにより、前記光ビームの照射位置を検出する光ビ
ームの照射位置検出装置において、 前記光ビームを受光する複数個の受光素子の有効受光7
44間に隙間が生じないように、前記各受光素子が光ビ
ーム走行経路に沿って千鳥状に配置された光検出手段と
、 前記千鳥状に配置された二列の受光素子列にそれぞれ個
別に光ビームを入射させる光ビーム分割手段と、 を備えたものである。
光部とが交互に等間隔に形成された格子を介して受光す
ることにより、前記光ビームの照射位置を検出する光ビ
ームの照射位置検出装置において、 前記光ビームを受光する複数個の受光素子の有効受光7
44間に隙間が生じないように、前記各受光素子が光ビ
ーム走行経路に沿って千鳥状に配置された光検出手段と
、 前記千鳥状に配置された二列の受光素子列にそれぞれ個
別に光ビームを入射させる光ビーム分割手段と、 を備えたものである。
〈作用〉
本発明によれば、光ビームを受光する複数個の受光素子
の有効受光領域間に隙間が生じないように、各受光素子
が光ビーム走行経路に沿って千鳥状に配置されているの
で、光ビーム分割手段によって供給された二つの光ビー
ムのうち、少す<トも一方の光ビームが、前記千鳥状に
配置された二列の受光素子列のいずれかの受光素子によ
って受光される。
の有効受光領域間に隙間が生じないように、各受光素子
が光ビーム走行経路に沿って千鳥状に配置されているの
で、光ビーム分割手段によって供給された二つの光ビー
ムのうち、少す<トも一方の光ビームが、前記千鳥状に
配置された二列の受光素子列のいずれかの受光素子によ
って受光される。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第ユ】04銖
第1図は本実施例の要部を示した斜視図、第2図は本実
施例で使用される光検出器の構成を示した説明図である
。図中、第7図ないし第11図と同一符号で示した部分
は、従来装置と同様の構成部分であり、また、特記しな
い限り画像走査装置の各部の構成も従来装置と同様であ
るがら、ここでの説明は省略する。
施例で使用される光検出器の構成を示した説明図である
。図中、第7図ないし第11図と同一符号で示した部分
は、従来装置と同様の構成部分であり、また、特記しな
い限り画像走査装置の各部の構成も従来装置と同様であ
るがら、ここでの説明は省略する。
第1図に示すように、本実施例において、レーザなどの
光源から導かれた光ビームLBはハーフミラ−41で分
岐され、一方の光ビームLBIは反射ミラー42を介し
て偏向器としてのガルバノミラ−43に入射される0分
岐された他方の光ビームLB2は、光ビーム分割手段と
してのビームスプリッタ44ニヨって二分割された後、
ガルバノミラ−43に入射される。なお、偏向器として
は、ガルバノミラ−以外に、従来例で説明したような多
面鏡や、音響光学偏向素子などを用いることができる。
光源から導かれた光ビームLBはハーフミラ−41で分
岐され、一方の光ビームLBIは反射ミラー42を介し
て偏向器としてのガルバノミラ−43に入射される0分
岐された他方の光ビームLB2は、光ビーム分割手段と
してのビームスプリッタ44ニヨって二分割された後、
ガルバノミラ−43に入射される。なお、偏向器として
は、ガルバノミラ−以外に、従来例で説明したような多
面鏡や、音響光学偏向素子などを用いることができる。
ガルバノミラ−43で反射された光ビームLBIはfθ
レンズlOおよび反射ごクー45を介して感光材料12
に照射される。ガルバノミラ−43が揺動駆動されると
ともに、感光材料12が副走査方向に連続送りされるこ
とにより、感光材料12が光ビームLBIによって線順
次に走査される。
レンズlOおよび反射ごクー45を介して感光材料12
に照射される。ガルバノミラ−43が揺動駆動されると
ともに、感光材料12が副走査方向に連続送りされるこ
とにより、感光材料12が光ビームLBIによって線順
次に走査される。
一方、ビームスプリッタ44で二分割された光ビームL
B3.LB4は、ガルバノごクー43で反射された後、
fθレンズ10および格子15を介して光検出器30に
入射される。
B3.LB4は、ガルバノごクー43で反射された後、
fθレンズ10および格子15を介して光検出器30に
入射される。
第2図に示すように、本実施例で使用される光検出器3
0は、基板30aにフォトダイオードのような矩形状の
受光素子30bが、斜線領域で示した各々の有効受光領
域30c間の隙間が零になるように、千鳥状に配置され
た構成になっている。光ビームLB3.LB4は、各々
のビーム中心を結ぶ線分が各受光素子30bの配列方向
に対して直交するように入射され、ビーム中心間隔は千
鳥状に配列された二列の受光素子列の間隔に笠しくなる
ように設定されている。
0は、基板30aにフォトダイオードのような矩形状の
受光素子30bが、斜線領域で示した各々の有効受光領
域30c間の隙間が零になるように、千鳥状に配置され
た構成になっている。光ビームLB3.LB4は、各々
のビーム中心を結ぶ線分が各受光素子30bの配列方向
に対して直交するように入射され、ビーム中心間隔は千
鳥状に配列された二列の受光素子列の間隔に笠しくなる
ように設定されている。
このように構成された本実施例の動作を第3図を参照し
て説明する。第3図(a)〜(山は、従来例の説明で用
いた第11図の各図と対応している。
て説明する。第3図(a)〜(山は、従来例の説明で用
いた第11図の各図と対応している。
第3図(a)に示すように、光検出器30は千鳥状に配
置された各受光素子30bの有効受光領域30c間の間
隔が零になるように構成されているから、有効受光領域
30cの境界部分では、光ビームLB3およびLB4が
互いに補うように、隣り合う有効受光領域30cに股が
って入射されるので、光検出器30としては常に同一の
光量を受光する。したがって、第3図(C)に示すよう
に、光検出器30の検出信号St の波高値は常に一定
レベルに維持されるので、第3図(d)に示すように、
検出信号S1をしきい値v ***と比較して得られる
パルス信号Stの周波数も一定になる。このパルス信号
S2が、第10図に示した逓倍回路23で逓倍されて、
第7図に示したCPU2に基本クロック信号として与え
られるので、網点の乱れのない高品質の複製画像を得る
ことができる。
置された各受光素子30bの有効受光領域30c間の間
隔が零になるように構成されているから、有効受光領域
30cの境界部分では、光ビームLB3およびLB4が
互いに補うように、隣り合う有効受光領域30cに股が
って入射されるので、光検出器30としては常に同一の
光量を受光する。したがって、第3図(C)に示すよう
に、光検出器30の検出信号St の波高値は常に一定
レベルに維持されるので、第3図(d)に示すように、
検出信号S1をしきい値v ***と比較して得られる
パルス信号Stの周波数も一定になる。このパルス信号
S2が、第10図に示した逓倍回路23で逓倍されて、
第7図に示したCPU2に基本クロック信号として与え
られるので、網点の乱れのない高品質の複製画像を得る
ことができる。
第主尖嵐拠
次に、第2実施例を第4図および第5図に基づいて説明
する。第4図は本実施例で使用される光検出器の構成を
示した説明図、第5図は信号処理回路の構成図を示して
いる。
する。第4図は本実施例で使用される光検出器の構成を
示した説明図、第5図は信号処理回路の構成図を示して
いる。
第1実施例で説明した光検出器30によれば、各受光素
子30bを有効受光領域30c間の隙間が零になるよう
に配置する必要があるため、受光素子30bの位置合わ
せに精度が必要とされる。これに対し、本実施例で使用
される光検出器30は、第4図に示すように、千鳥状に
配列される各受光素子30bの有効受光領域30cが、
各々の端部において重なり合うように配置されている。
子30bを有効受光領域30c間の隙間が零になるよう
に配置する必要があるため、受光素子30bの位置合わ
せに精度が必要とされる。これに対し、本実施例で使用
される光検出器30は、第4図に示すように、千鳥状に
配列される各受光素子30bの有効受光領域30cが、
各々の端部において重なり合うように配置されている。
有効受光領域30Cの重なり部分の長さは特に限定され
ない。
ない。
そして、第5図に示すように、千鳥状に配列された二列
の受光素子列30d、30eのうち、一方の受光素子列
30dの検出信号を信号処理回路17の増幅器18aで
増幅した後、比較器20aで波形整形し、他方の受光素
子列30eの検出信号を増幅器18bで増幅した後、比
較器20bで波形整形し、比較器20a、20bの各出
力パルス信号をORゲート32を介して逓倍回路23に
与えるようにしている。なお、光ビームを二分割する光
ビーム分割手段は、第2図に示した第1実施例と同様に
構成されている。
の受光素子列30d、30eのうち、一方の受光素子列
30dの検出信号を信号処理回路17の増幅器18aで
増幅した後、比較器20aで波形整形し、他方の受光素
子列30eの検出信号を増幅器18bで増幅した後、比
較器20bで波形整形し、比較器20a、20bの各出
力パルス信号をORゲート32を介して逓倍回路23に
与えるようにしている。なお、光ビームを二分割する光
ビーム分割手段は、第2図に示した第1実施例と同様に
構成されている。
以下、第6図に示した動作波形図を参照して本実施例の
動作を説明する。
動作を説明する。
第6図(a)に示すように、有効受光領域30cの重な
り部分を光ビームLB3.LB4が通過する際、各受光
素子列30 d 、 、、30 eの検出信号S la
、 S 11.は、第6図(c)、 (d)に示すよ
うに、波高値が低下する。
り部分を光ビームLB3.LB4が通過する際、各受光
素子列30 d 、 、、30 eの検出信号S la
、 S 11.は、第6図(c)、 (d)に示すよ
うに、波高値が低下する。
これに伴い、比較器20a、20bの出力パルス信号S
la 、32%の周波数は、第6図(e)、 (f)
に示すように、有効受光領域30cの重なり部分におい
て変化するが、ORゲート32を介して各々のパルス信
号Sza、Stbの論理和が取り出されるので、ORゲ
ート32から出力されるパルス信号S、の周波数は、第
6図(濁に示すように、常に一定になる。
la 、32%の周波数は、第6図(e)、 (f)
に示すように、有効受光領域30cの重なり部分におい
て変化するが、ORゲート32を介して各々のパルス信
号Sza、Stbの論理和が取り出されるので、ORゲ
ート32から出力されるパルス信号S、の周波数は、第
6図(濁に示すように、常に一定になる。
したがって、本実施例によれば、第1実施例と同様の効
果を得られ、しかも、受光素子30bを高精度に配列す
る必要がなく、光検出器30の製造が容易になるという
固有の効果も奏する。
果を得られ、しかも、受光素子30bを高精度に配列す
る必要がなく、光検出器30の製造が容易になるという
固有の効果も奏する。
なお、上述の各実施例では、光ビーム分割手段としてビ
ームスプリッタを用いているが、もちろんハーフミラ−
と反射ミラーの組合せで分割することも可能であり、あ
るいは、複数台の光源を設けることにより、最初から分
離された光ビー人を用いるようにしてもよい。
ームスプリッタを用いているが、もちろんハーフミラ−
と反射ミラーの組合せで分割することも可能であり、あ
るいは、複数台の光源を設けることにより、最初から分
離された光ビー人を用いるようにしてもよい。
また、上記実施例は記録装置として説明したが、原稿読
み取り装置に適用することもできる。
み取り装置に適用することもできる。
〈発明の効果〉
以上の説明から明らかなように、本発明に1よれば、光
ビーム走査時において、二分割された光ビームのうち少
なくとも一方の光ビームが、千鳥状に配置された二列の
受光素子列のいずれかの受光素子に常に入射するから、
走査される光ビームの照射位置を途切れることなく精度
よく検出することができ、この発明を記録装置に適用し
た場合は、画像(例えば網点)の乱れのない高品質の?
3!製画像を得ることができるや また、本発明によれば、格子を通過した光ビームを直接
に検出することができるので、散乱板を介して光ビーム
を受光する従来装置のように光ビームの光量を不必要に
大きくする必要がなくなり、比較的小パワーの光ビーム
発生用光源を使用することができ、装置の構成上、有利
である。
ビーム走査時において、二分割された光ビームのうち少
なくとも一方の光ビームが、千鳥状に配置された二列の
受光素子列のいずれかの受光素子に常に入射するから、
走査される光ビームの照射位置を途切れることなく精度
よく検出することができ、この発明を記録装置に適用し
た場合は、画像(例えば網点)の乱れのない高品質の?
3!製画像を得ることができるや また、本発明によれば、格子を通過した光ビームを直接
に検出することができるので、散乱板を介して光ビーム
を受光する従来装置のように光ビームの光量を不必要に
大きくする必要がなくなり、比較的小パワーの光ビーム
発生用光源を使用することができ、装置の構成上、有利
である。
第1図ないし第3図は本発明の第1実施例に係り、第1
図は要部構成を示した斜視図、第2図は光検出器の構成
例を示した説明図、第3図は動作波形図である。第4図
ないし第6図は本発明の第2実施例に係り、第4図は光
検出器の構成例を示した説明図、第5図は信号処理回路
の構成図、第6図は動作波形図である。 第7図ないし第11図は従来装置に係り、第7図は画像
走査装置の概略構成を示したブロック図、第8図は光ビ
ームの照射位置検出機構の斜視図、第9図は光検出器の
構成を示した説明図、第10図は信号処理回路の構成図
、第11図は動作波形図である。 15・・・格子 15a・・・透光部 15b・・・遮光部 30 ・・・光検出器(光検出手段)30b・・・受
光素子 30c・・・有効受光領域 43・・・ガルバノミラ−
図は要部構成を示した斜視図、第2図は光検出器の構成
例を示した説明図、第3図は動作波形図である。第4図
ないし第6図は本発明の第2実施例に係り、第4図は光
検出器の構成例を示した説明図、第5図は信号処理回路
の構成図、第6図は動作波形図である。 第7図ないし第11図は従来装置に係り、第7図は画像
走査装置の概略構成を示したブロック図、第8図は光ビ
ームの照射位置検出機構の斜視図、第9図は光検出器の
構成を示した説明図、第10図は信号処理回路の構成図
、第11図は動作波形図である。 15・・・格子 15a・・・透光部 15b・・・遮光部 30 ・・・光検出器(光検出手段)30b・・・受
光素子 30c・・・有効受光領域 43・・・ガルバノミラ−
Claims (1)
- (1)走査されている光ビームを透光部と遮光部とが交
互に等間隔に形成された格子を介して受光することによ
り、前記光ビームの照射位置を検出する光ビームの照射
位置検出装置において、 前記光ビームを受光する複数個の受光素子の有効受光領
域間に隙間が生じないように、前記各受光素子が光ビー
ム走行経路に沿って千鳥状に配置された光検出手段と、 前記千鳥状に配置された二列の受光素子列にそれぞれ個
別に光ビームを入射させる光ビーム分割手段と、 を備えたことを特徴とする光ビームの照射位置検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20425289A JPH0367213A (ja) | 1989-08-07 | 1989-08-07 | 光ビームの照射位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20425289A JPH0367213A (ja) | 1989-08-07 | 1989-08-07 | 光ビームの照射位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0367213A true JPH0367213A (ja) | 1991-03-22 |
Family
ID=16487379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20425289A Pending JPH0367213A (ja) | 1989-08-07 | 1989-08-07 | 光ビームの照射位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0367213A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007283996A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Shinji Shimizu | 車輌の窓用ネット装置 |
-
1989
- 1989-08-07 JP JP20425289A patent/JPH0367213A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007283996A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Shinji Shimizu | 車輌の窓用ネット装置 |
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