JPH0370176B2 - - Google Patents
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- JPH0370176B2 JPH0370176B2 JP19303387A JP19303387A JPH0370176B2 JP H0370176 B2 JPH0370176 B2 JP H0370176B2 JP 19303387 A JP19303387 A JP 19303387A JP 19303387 A JP19303387 A JP 19303387A JP H0370176 B2 JPH0370176 B2 JP H0370176B2
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Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は各種工業材料や製品が太陽光線にあた
つて劣化する現象を人工的に促進して調べる耐光
試験に関するものである。
つて劣化する現象を人工的に促進して調べる耐光
試験に関するものである。
従来の耐光試験は紫外線カーボンアーク灯、サ
ンシヤインカーボンアーク灯、キセノンランプ等
の光を直接試料に照射して試験片に劣化を生じさ
せ、光の照射量と劣化の度合いからその試験片の
耐光性の良否を判定する方法が行われていた。し
かし更に一歩進めて耐光性をより良く改善する研
究のためには劣化を生ずるのは光源のどの波長域
の光が最も強く影響しているのかを知る必要があ
る。この目的のために分光装置を用いて試料に波
長別の光を照射する実験が試みられていたが、本
来耐光試験を目的としたものでないため、照射エ
ネルギーが弱く、耐光性の良否を判定するには照
射時間も長時間を要して、この目的を解決するた
めの装置として不十分なものであつた。
ンシヤインカーボンアーク灯、キセノンランプ等
の光を直接試料に照射して試験片に劣化を生じさ
せ、光の照射量と劣化の度合いからその試験片の
耐光性の良否を判定する方法が行われていた。し
かし更に一歩進めて耐光性をより良く改善する研
究のためには劣化を生ずるのは光源のどの波長域
の光が最も強く影響しているのかを知る必要があ
る。この目的のために分光装置を用いて試料に波
長別の光を照射する実験が試みられていたが、本
来耐光試験を目的としたものでないため、照射エ
ネルギーが弱く、耐光性の良否を判定するには照
射時間も長時間を要して、この目的を解決するた
めの装置として不十分なものであつた。
光を波長別に分けて照射するためには分光学上
どうしても光束をスリツトに集めなければなら
ず、スリツトを出た光束を分散素子を通して波長
別の光を分けるとエネルギーは弱くなつてしま
う。しかし耐光試験の目的からすると、なるべく
短時間で劣化が調べられることが望ましいので照
射エネルギーの強いものが望まれていた。又照射
エネルギーを強力にすると熱線が多くなり、装置
内部の機器が熱による影響で正確な測定の限界を
越える状況に置かれ、測定誤差を生じたり測定不
能になつたりするため、この熱による影響を受け
ないように照射エネルギーを強くすることが必要
とされていた。
どうしても光束をスリツトに集めなければなら
ず、スリツトを出た光束を分散素子を通して波長
別の光を分けるとエネルギーは弱くなつてしま
う。しかし耐光試験の目的からすると、なるべく
短時間で劣化が調べられることが望ましいので照
射エネルギーの強いものが望まれていた。又照射
エネルギーを強力にすると熱線が多くなり、装置
内部の機器が熱による影響で正確な測定の限界を
越える状況に置かれ、測定誤差を生じたり測定不
能になつたりするため、この熱による影響を受け
ないように照射エネルギーを強くすることが必要
とされていた。
又光源を波長別に分光して用いると、照射面で
のエネルギーは光源の分光特性と分光するための
光学系の特性との合わさつたものとして得られ
る。このため照射面がどれだけ波長別エネルギー
を受けたかがわからないと、劣化した試料の判定
は正確にできない。
のエネルギーは光源の分光特性と分光するための
光学系の特性との合わさつたものとして得られ
る。このため照射面がどれだけ波長別エネルギー
を受けたかがわからないと、劣化した試料の判定
は正確にできない。
又特性の注目する波長がわかつている場合には
その特定の波長だけを取り出して試料に照射する
ことも耐光試験の研究には重要なことである。
その特定の波長だけを取り出して試料に照射する
ことも耐光試験の研究には重要なことである。
このように試料が受光する波長別エネルギーが
確認出来てかつ強い照射エネルギーを有し、照射
光による熱の影響を受けず、短時間で劣化判定が
求められるような分光照射装置の出現が望まれて
いた。
確認出来てかつ強い照射エネルギーを有し、照射
光による熱の影響を受けず、短時間で劣化判定が
求められるような分光照射装置の出現が望まれて
いた。
本願発明は上記のような課題を解決するため
に、分光した光による試料の劣化の波長依存性を
求める装置において、試料に強い光を照射するた
めに照射光を集光する反射鏡を有した光源を設
け、この照射光の焦点位置手前に複数枚の透明板
の間に液体を循環させる熱線吸収フイルターを設
けて照射光の熱を吸収し、この照射光の焦点位置
にスリツトを設け、このスリツトを経た照射光を
回折格子を介して分散して分散光を試料に照射
し、さらにこの分散光の試料照射光路中にハーフ
ミラーを設けて、この分散光の一部の波長別エネ
ルギーを測定するために、微小面受光素子を波長
の分散方向に多数配列して一体とした受光器群に
照射するようにし、又試料に特定の波長の光を照
射するために、試料面直前に設けた試料面と平行
に移動可能な出射スリツトを介して特定波長の光
を取出して試料に照射するように構成することを
手段とした。
に、分光した光による試料の劣化の波長依存性を
求める装置において、試料に強い光を照射するた
めに照射光を集光する反射鏡を有した光源を設
け、この照射光の焦点位置手前に複数枚の透明板
の間に液体を循環させる熱線吸収フイルターを設
けて照射光の熱を吸収し、この照射光の焦点位置
にスリツトを設け、このスリツトを経た照射光を
回折格子を介して分散して分散光を試料に照射
し、さらにこの分散光の試料照射光路中にハーフ
ミラーを設けて、この分散光の一部の波長別エネ
ルギーを測定するために、微小面受光素子を波長
の分散方向に多数配列して一体とした受光器群に
照射するようにし、又試料に特定の波長の光を照
射するために、試料面直前に設けた試料面と平行
に移動可能な出射スリツトを介して特定波長の光
を取出して試料に照射するように構成することを
手段とした。
上記手段を採用したことにより、反射鏡によつ
て光源の光を効率よくスリツトに集光できるた
め、より強力な光を試料に照射することができ
る。又光源は発熱し照射光の熱線は多くなるが、
熱線吸収フイルターでこの熱を吸収してからスリ
ツトに集光されるため、回折格子などの照射光を
分散するための機器の使用温度範囲を越えること
がないため、熱による影響を受けることがなく、
照射光を安定して分散することができる。又分散
光の試料照射光路中にハーフミラーを設けてこの
分散光の一部を受光器群に照射するようにしたた
め、試料に照射されている波長別のエネルギーを
同時に測定することができる。
て光源の光を効率よくスリツトに集光できるた
め、より強力な光を試料に照射することができ
る。又光源は発熱し照射光の熱線は多くなるが、
熱線吸収フイルターでこの熱を吸収してからスリ
ツトに集光されるため、回折格子などの照射光を
分散するための機器の使用温度範囲を越えること
がないため、熱による影響を受けることがなく、
照射光を安定して分散することができる。又分散
光の試料照射光路中にハーフミラーを設けてこの
分散光の一部を受光器群に照射するようにしたた
め、試料に照射されている波長別のエネルギーを
同時に測定することができる。
さらに特定波長の光を取出して試料に照射する
ことも可能であり、又このエネルギーを測定する
こともできる。
ことも可能であり、又このエネルギーを測定する
こともできる。
以下図面に従つて本発明の実施例を説明する。
（第１実施例）
第１図は本発明の第１実施例を示す構成図であ
る。図において、光源室１は、楕円鏡１４を備え
た光源１５、この光束を折曲げる平面鏡１８、熱
線を吸収する熱線吸収フイルター１３などより構
成される。又光源室１に接続した分光室２は、光
源１５の焦点位置に配したスリツト１２、凹面鏡
３ａ、回折格子４、凹面鏡３ｂさらに分光室２外
に配した受光器群６に照射光の一部を送るハーフ
ミラー５などより構成されている。
る。図において、光源室１は、楕円鏡１４を備え
た光源１５、この光束を折曲げる平面鏡１８、熱
線を吸収する熱線吸収フイルター１３などより構
成される。又光源室１に接続した分光室２は、光
源１５の焦点位置に配したスリツト１２、凹面鏡
３ａ、回折格子４、凹面鏡３ｂさらに分光室２外
に配した受光器群６に照射光の一部を送るハーフ
ミラー５などより構成されている。
さて、光源１５は紫外域から近赤外域までの波
長範囲に連続した発光スペクトルを有するもの
で、例えばキセノンシヨートアークランプ等が用
いられる。（本実施例では5Kwのキセノンシヨー
トアークランプを光源とした。）光源の光を集光
した強力な照射光を照射するための反射板として
楕円鏡１４を用いている。この楕円鏡１４の第１
焦点の位置に光源１５の中心がくるように配置す
ると、第２焦点に光源の光束が集光されるのでこ
の位置にスリツト１２が配置されている。又この
光束を折曲げて装置全体を出来るだけコンパクト
にまとめるために平面鏡１８が第２焦点の手前に
配してある。
長範囲に連続した発光スペクトルを有するもの
で、例えばキセノンシヨートアークランプ等が用
いられる。（本実施例では5Kwのキセノンシヨー
トアークランプを光源とした。）光源の光を集光
した強力な照射光を照射するための反射板として
楕円鏡１４を用いている。この楕円鏡１４の第１
焦点の位置に光源１５の中心がくるように配置す
ると、第２焦点に光源の光束が集光されるのでこ
の位置にスリツト１２が配置されている。又この
光束を折曲げて装置全体を出来るだけコンパクト
にまとめるために平面鏡１８が第２焦点の手前に
配してある。
平面鏡１８とスリツト１２の間には、照射光の
熱線のみを吸収し、短波長の紫外域の照射光はそ
のまま通過する材料、即ち２枚の透明石英板の間
に液体を循環させ、液体の循環経路の途中に放熱
器（図示せず）を入れてこの放熱器を強制空冷す
ることにより液体が吸収した熱量を放熱させる熱
線吸収フイルター１３を置き、スリツト１２以降
へは不必要な熱線を通過させないようにしてい
る。ここで上記構成の熱線吸収フイルター１３を
を採用したのは、一般に用いられている通常の光
学フイルターからなる熱線吸収フイルターでは熱
線の吸収と同時に試料を劣化させる重要な紫外線
も除去してしまうためである。
熱線のみを吸収し、短波長の紫外域の照射光はそ
のまま通過する材料、即ち２枚の透明石英板の間
に液体を循環させ、液体の循環経路の途中に放熱
器（図示せず）を入れてこの放熱器を強制空冷す
ることにより液体が吸収した熱量を放熱させる熱
線吸収フイルター１３を置き、スリツト１２以降
へは不必要な熱線を通過させないようにしてい
る。ここで上記構成の熱線吸収フイルター１３を
を採用したのは、一般に用いられている通常の光
学フイルターからなる熱線吸収フイルターでは熱
線の吸収と同時に試料を劣化させる重要な紫外線
も除去してしまうためである。
スリツト１２を通過した光束は凹面鏡３ａによ
り平行光束となり、回折格子４に入射する。ここ
からの反射光は光の波長によつてそれぞれわずか
ずつ異つた方向へ反射され凹面鏡３ｂによつて試
料７の位置に集光される。ここで試料の照射面に
はスリツト１２の開口巾で決まる波長純度の波長
別の光が照射される。
り平行光束となり、回折格子４に入射する。ここ
からの反射光は光の波長によつてそれぞれわずか
ずつ異つた方向へ反射され凹面鏡３ｂによつて試
料７の位置に集光される。ここで試料の照射面に
はスリツト１２の開口巾で決まる波長純度の波長
別の光が照射される。
従つて試料７の位置に試験片をセツトして連続
照射すると、試験片の各部分には異つた波長の光
が照射されるので、もし試験片が特定の波長域に
弱い特性があれば、その波長域の光が照射された
部分だけに劣化現象を示すことになり、その試験
片の劣化に及ぼす波長を知ることができるもので
ある。
照射すると、試験片の各部分には異つた波長の光
が照射されるので、もし試験片が特定の波長域に
弱い特性があれば、その波長域の光が照射された
部分だけに劣化現象を示すことになり、その試験
片の劣化に及ぼす波長を知ることができるもので
ある。
試料７の前方にハーフミラー５を配置し、照射
光の一部を折り曲げて照射光系外に取出し照射面
までと等距離の位置に、例えば波長10nm毎の光
を受光できるような微小面受光素子を波長の分散
方向に多数配列して一体として構成した受光器群
６を配してこれに入射させるようになつている。
この受光器群６は、あらかじめ校正された強度比
から照射面での波長別の積算照度値が求められる
ようになつている。又これらの処理は増巾器８、
演算回路９、表示装置１０によつて行われ、表示
装置１０としてはCRTやプリンターが用いられ
る。
光の一部を折り曲げて照射光系外に取出し照射面
までと等距離の位置に、例えば波長10nm毎の光
を受光できるような微小面受光素子を波長の分散
方向に多数配列して一体として構成した受光器群
６を配してこれに入射させるようになつている。
この受光器群６は、あらかじめ校正された強度比
から照射面での波長別の積算照度値が求められる
ようになつている。又これらの処理は増巾器８、
演算回路９、表示装置１０によつて行われ、表示
装置１０としてはCRTやプリンターが用いられ
る。
尚、受光器群６は図示の位置だけでなく照射面
の一部に装着出来るようにしておけば、これを取
外して試料７の位置にセツトすれば試験片に照射
されるエネルギーを測定でき、上記のようにあら
かじめ強度比を校正するときの手段となる。
の一部に装着出来るようにしておけば、これを取
外して試料７の位置にセツトすれば試験片に照射
されるエネルギーを測定でき、上記のようにあら
かじめ強度比を校正するときの手段となる。
ハーフミラー５は紫外域から近赤外域までの波
長範囲の光を良く透過する材料のものが良く、例
えば透明石英板のようなものが用いられる。又透
過と反射の割合は本発明の目的では照射光そのも
のが強いので、全照射光の数％の反射光を受光器
群６に入射させればよく大部分の光は透過させて
試料７を照射する。
長範囲の光を良く透過する材料のものが良く、例
えば透明石英板のようなものが用いられる。又透
過と反射の割合は本発明の目的では照射光そのも
のが強いので、全照射光の数％の反射光を受光器
群６に入射させればよく大部分の光は透過させて
試料７を照射する。
本実施例では波長範囲250nm〜700nm間の光が
照射面上で約９cmの範囲に分散照射され、巾方向
には４cmの巾で同一波長の光が照射されるように
なつている。
照射面上で約９cmの範囲に分散照射され、巾方向
には４cmの巾で同一波長の光が照射されるように
なつている。
受光器群６としては例えばシリコンホトセル
（大きさ３×15mm）を並べて用いるとすれば、９
cm間に30個配列出来るので250〜700nmの波長を
割当てると約15nm間隔で各波長の受光量を求め
ることが出来る。
（大きさ３×15mm）を並べて用いるとすれば、９
cm間に30個配列出来るので250〜700nmの波長を
割当てると約15nm間隔で各波長の受光量を求め
ることが出来る。
本実施例では以上説明したものの他に光源１５
を点灯させるための起動装置１１、電源装置１７
があり、図示していないが光源１５を冷却するた
めの冷却装置があり冷却ダクト１６を通して冷却
が行われる。これらの装置は光源室１に収められ
ている。
を点灯させるための起動装置１１、電源装置１７
があり、図示していないが光源１５を冷却するた
めの冷却装置があり冷却ダクト１６を通して冷却
が行われる。これらの装置は光源室１に収められ
ている。
〔第２実施例〕
第２図は本発明の第２実施例を示す構成図であ
る。本実施例は第１実施例の装置で、分光室２に
設けてある試料照射部分を一部変更したものであ
る。図において、分光室２の試料照射部分の外側
にスリツト移動レール２０を固定し、これに出射
スリツト１９を移動可能に取り付け、スリツト移
動ツマミ２１によつて移動レール２０上を移動出
来る構造としてある。
る。本実施例は第１実施例の装置で、分光室２に
設けてある試料照射部分を一部変更したものであ
る。図において、分光室２の試料照射部分の外側
にスリツト移動レール２０を固定し、これに出射
スリツト１９を移動可能に取り付け、スリツト移
動ツマミ２１によつて移動レール２０上を移動出
来る構造としてある。
この目的は特定の波長の光だけを取出して試料
７に照射出来るようにしたもので、例えばある特
定波長だけに弱い試料があつた場合、この改良研
究のためにはこの波長域だけの照射が出来れば非
常に有用なものとなるからである。
７に照射出来るようにしたもので、例えばある特
定波長だけに弱い試料があつた場合、この改良研
究のためにはこの波長域だけの照射が出来れば非
常に有用なものとなるからである。
次に本発明の装置を用いて行つた１実験例を説
明する。
明する。
耐光試験機の光度を試験するための感光紙
（LSP）を用いて照射実験したところ、本発明の
第１実施例の装置では３時間照射で320nmの波長
を中心とする部分に強い退色を示し反射率Ｙ％の
変化で未退色部分がＹ＝20％に対して退色部分で
はＹ＝38％になつていた。
（LSP）を用いて照射実験したところ、本発明の
第１実施例の装置では３時間照射で320nmの波長
を中心とする部分に強い退色を示し反射率Ｙ％の
変化で未退色部分がＹ＝20％に対して退色部分で
はＹ＝38％になつていた。
この反射率の変化は約φ1.6mmの測定面積を有す
る測色計で２mmピツチで測定したものでその結果
を第３図の下段に示す。横軸は照射波長を示し縦
軸が反射率Ｙ％である。上段は照射した試料の様
子を概念的に示すものである。
る測色計で２mmピツチで測定したものでその結果
を第３図の下段に示す。横軸は照射波長を示し縦
軸が反射率Ｙ％である。上段は照射した試料の様
子を概念的に示すものである。
上述のLSPは従来の紫外線カーボンアーク灯を
用いた耐光試験機においては、20時間照射でＹ＝
26％程度の変化を示すものである。従つてこれと
比べると本発明の装置は試料の劣化時間を大幅に
短縮することができるものであることがわかる。
用いた耐光試験機においては、20時間照射でＹ＝
26％程度の変化を示すものである。従つてこれと
比べると本発明の装置は試料の劣化時間を大幅に
短縮することができるものであることがわかる。
第４図は本発明の受光器群を用いて上記試料の
３時間照射中における波長別の積算エネルギーを
求めてグラフに示したものである。横軸は波長、
縦軸が積算エネルギー（MJ／m2）を示す。従つ
て今回の実験に用いたLSPの場合には退色の変化
は3200nm付近に最大ピークがあるけれども、照
射されたエネルギーのピークは480nm付近であ
り、320nmのエネルギーはそれよりも半分程度の
エネルギーであることがわかる。
３時間照射中における波長別の積算エネルギーを
求めてグラフに示したものである。横軸は波長、
縦軸が積算エネルギー（MJ／m2）を示す。従つ
て今回の実験に用いたLSPの場合には退色の変化
は3200nm付近に最大ピークがあるけれども、照
射されたエネルギーのピークは480nm付近であ
り、320nmのエネルギーはそれよりも半分程度の
エネルギーであることがわかる。
このように照射されたエネルギー値がわかるこ
とにより、仮に等エネルギー光で照射されたらど
のような変化が予測できるかの計算や、太陽光の
分布で照射したときの結果を予測計算することが
可能となる。
とにより、仮に等エネルギー光で照射されたらど
のような変化が予測できるかの計算や、太陽光の
分布で照射したときの結果を予測計算することが
可能となる。
従つて本発明により従来から分光照射が望まれ
ていながらあまりにも長時間を要するために思う
ような試験が出来なかつた耐光性の研究分野に対
し、試験時間を大幅に短縮できかつ照射された波
長ごとのエネルギー値がわかる、有力な装置を提
供することが出来、今後の工業材料の耐光性の改
善研究に役立つところ大である。
ていながらあまりにも長時間を要するために思う
ような試験が出来なかつた耐光性の研究分野に対
し、試験時間を大幅に短縮できかつ照射された波
長ごとのエネルギー値がわかる、有力な装置を提
供することが出来、今後の工業材料の耐光性の改
善研究に役立つところ大である。
第１図は本発明の１実施例を示す構成図、第２
図は一部変更した他の実施例を示す部分平面図、
第３図は照射結果の反射率変化を示すグラフと試
料の概念図、第４図は照射実験した時の波長別エ
ネルギー積算値を示すグラフである。 １……光源室、２……分光室、３……凹面鏡、
４……回折格子、５……ハーフミラー、６……受
光器群、７……試料、８……増巾器、９……演算
回路、１０……表示装置、１１……起動装置、１
２……スリツト、１３……熱線吸収フイルター、
１４……楕円鏡、１５……光源、１６……冷却ダ
クト、１７……電源装置、１８……平面鏡、１９
……出射スリツト、２０……スリツト移動レー
ル、２１……スリツト移動ツマミ、２２……光量
試験紙、２３……照射部。
図は一部変更した他の実施例を示す部分平面図、
第３図は照射結果の反射率変化を示すグラフと試
料の概念図、第４図は照射実験した時の波長別エ
ネルギー積算値を示すグラフである。 １……光源室、２……分光室、３……凹面鏡、
４……回折格子、５……ハーフミラー、６……受
光器群、７……試料、８……増巾器、９……演算
回路、１０……表示装置、１１……起動装置、１
２……スリツト、１３……熱線吸収フイルター、
１４……楕円鏡、１５……光源、１６……冷却ダ
クト、１７……電源装置、１８……平面鏡、１９
……出射スリツト、２０……スリツト移動レー
ル、２１……スリツト移動ツマミ、２２……光量
試験紙、２３……照射部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 分光した光による試料の劣化の波長依存性を
求める装置において、試料に強い光を照射するた
めに照射光を集光する反射鏡を有した光源を設
け、この照射光の焦点位置手前に複数枚の透明板
の間に液体を循環させる熱線吸収フイルターを設
けて照射光の熱線を吸収し、この照射光の焦点位
置にスリツトを設け、このスリツトを経た照射光
を回折格子を介して分散して分散光を試料に照射
し、さらにこの分散光の試料照射光路中にハーフ
ミラーを設けて、この分散光の一部の波長別エネ
ルギーを測定するために、微小面受光素子を波長
の分散方向に多数配列しして一体とした受光器群
に照射するように構成し、試料に連続した波長別
の光を照射すると共にこの波長別の光のエネルギ
ーを同時に測定可能にすることを特徴とする分光
照射装置。 ２ 分光した光による試料の劣化の波長依存性を
求める装置において、試料に強い光を照射するた
めに照射光を集光する反射鏡を有した光源を設
け、この照射光の焦点位置手前に複数枚の透明板
の間に液体を循環させる熱線吸収フイルターを設
けて照射光の熱線を吸収し、この照射光の焦点位
置にスリツトを設け、このスリツトを経た照射光
を回折格子を介して分散し、試料面直前に設けた
試料面と平行に移動可能な出射スリツトを介して
特定波長の光を取出して試料に照射し、さらにこ
の分散光の試料照射光路中にハーフミラーを設け
て、この分散光の一部の波長別エネルギーを測定
するために、微小面受光素子を波長の分散方向に
多数配列して一体とした受光器群に照射するよう
に構成し、試料に特定に波長の光を照射すること
を特徴とする分光照射装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19303387A JPS6438631A (en) | 1987-08-01 | 1987-08-01 | Spectral irradiation apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19303387A JPS6438631A (en) | 1987-08-01 | 1987-08-01 | Spectral irradiation apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6438631A JPS6438631A (en) | 1989-02-08 |
| JPH0370176B2 true JPH0370176B2 (ja) | 1991-11-06 |
Family
ID=16301048
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19303387A Granted JPS6438631A (en) | 1987-08-01 | 1987-08-01 | Spectral irradiation apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6438631A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7038196B2 (en) * | 2004-02-02 | 2006-05-02 | Atlas Material Testing Technology Llc | Accelerated weathering test apparatus with full spectrum calibration, monitoring and control |
| JP6051296B2 (ja) * | 2013-04-26 | 2016-12-27 | 株式会社日立製作所 | 高分子材料の耐候性評価方法 |
| JP6864358B2 (ja) * | 2017-10-16 | 2021-04-28 | スガ試験機株式会社 | 耐候性試験機 |
-
1987
- 1987-08-01 JP JP19303387A patent/JPS6438631A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6438631A (en) | 1989-02-08 |
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