JPH0370545A - 磁気共鳴イメージング装置 - Google Patents
磁気共鳴イメージング装置Info
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- JPH0370545A JPH0370545A JP1209207A JP20920789A JPH0370545A JP H0370545 A JPH0370545 A JP H0370545A JP 1209207 A JP1209207 A JP 1209207A JP 20920789 A JP20920789 A JP 20920789A JP H0370545 A JPH0370545 A JP H0370545A
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- static
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、磁性体の静磁場への侵入に対する安全装置を
備え、被検体(通常は患者)の磁気共鳴像を得る磁気共
鳴イメージング装置(以下MHI装置という)に関する
。
備え、被検体(通常は患者)の磁気共鳴像を得る磁気共
鳴イメージング装置(以下MHI装置という)に関する
。
(従来の技術)
超電導コイルに超電導状態で電流を流して静磁場を発生
する超電導磁石を備え、この静磁場中に被検体を配置し
、この静磁場と直角方向に高周波磁場を加えて磁気共鳴
現象を発生させると共に、静磁場に重畳させるように傾
斜磁場を加えて被検体から得られるMR倍信号プローブ
で検出し、画像化するようにした超電導型MR・■装置
が知られている。
する超電導磁石を備え、この静磁場中に被検体を配置し
、この静磁場と直角方向に高周波磁場を加えて磁気共鳴
現象を発生させると共に、静磁場に重畳させるように傾
斜磁場を加えて被検体から得られるMR倍信号プローブ
で検出し、画像化するようにした超電導型MR・■装置
が知られている。
この超電導型MRI装置は、通常0.2T(テスラ)以
上の高磁場を発生するものである。
上の高磁場を発生するものである。
そこで、磁性体が静磁場に侵入すると、磁性体の透磁率
の大きさに対応してこの磁性体に吸引力が発生し、静磁
場が乱れる。磁性体には、小さなものでも吸引力が大き
い鉄等の透磁率の大きい強磁性体や、アルミニウム等の
透磁率の小さいものでも比較的重量のあるものでは吸引
力が大きくなる常磁性体又は外部の磁界の方向と逆の方
向に磁化されて磁束を弱める銅等の透磁率の小さい反磁
性体等がある。
の大きさに対応してこの磁性体に吸引力が発生し、静磁
場が乱れる。磁性体には、小さなものでも吸引力が大き
い鉄等の透磁率の大きい強磁性体や、アルミニウム等の
透磁率の小さいものでも比較的重量のあるものでは吸引
力が大きくなる常磁性体又は外部の磁界の方向と逆の方
向に磁化されて磁束を弱める銅等の透磁率の小さい反磁
性体等がある。
例えば、患者の手術後の止血用クリップは、小さなもの
でも強磁性体であれば、静磁場を乱す程の大きな吸引力
が働くので、この患者が静磁場の領域に入ると、このク
リップが超電導磁石に引き込まれて外れるという危険が
ある。
でも強磁性体であれば、静磁場を乱す程の大きな吸引力
が働くので、この患者が静磁場の領域に入ると、このク
リップが超電導磁石に引き込まれて外れるという危険が
ある。
このように、実際にその物が超電導磁石に吸引されるか
どうかは、静磁場の強さ、磁性体の透磁率の関係より外
部から判断することは、困難である。
どうかは、静磁場の強さ、磁性体の透磁率の関係より外
部から判断することは、困難である。
このため、操作者は、磁性体が磁石に引き込まれるとい
う事故を防ぐため検査室内に患者が入室する前に、患者
が磁性体を持っていないかどうかの検査を磁性体検知器
等を用いて行っていた。
う事故を防ぐため検査室内に患者が入室する前に、患者
が磁性体を持っていないかどうかの検査を磁性体検知器
等を用いて行っていた。
(発明が解決しようとする課題)
操作者は、患者が入室する毎に磁性体の所持検査を行わ
なければならないため、操作者への負担が大きいという
問題があった。
なければならないため、操作者への負担が大きいという
問題があった。
また、操作者以外の作業者が誤って磁性体を持込み、こ
の磁性体が超電導磁石に吸引され、MR■装置が破損す
るという問題があった。
の磁性体が超電導磁石に吸引され、MR■装置が破損す
るという問題があった。
そこで、本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり
、操作者の負担が軽減し、安全性を向上させた磁気共鳴
イメージング装置を提供することを目的としている。
、操作者の負担が軽減し、安全性を向上させた磁気共鳴
イメージング装置を提供することを目的としている。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明に係る請求項1記載の
装置は、コイルに電流を流して静磁場を発生する静磁場
発生手段と、前記静磁場を乱す磁性体の静磁場への侵入
を検出する侵入検出手段と、この検出手段からの検出信
号に基づいて前記静磁場を消失させる消失手段とを有す
るものとしたものである。
装置は、コイルに電流を流して静磁場を発生する静磁場
発生手段と、前記静磁場を乱す磁性体の静磁場への侵入
を検出する侵入検出手段と、この検出手段からの検出信
号に基づいて前記静磁場を消失させる消失手段とを有す
るものとしたものである。
また、本発明に係る請求項2記載の装置は、超電導コイ
ルに超電導状態で電流を流して静磁場を発生する静磁場
発生手段と、前記静磁場を乱す磁性体の静磁場への侵入
を検出する侵入検出手段と、この検出手段からの検出信
号に基づいて前記静磁場を消失させる消失手段とを有す
るものとしたものである。
ルに超電導状態で電流を流して静磁場を発生する静磁場
発生手段と、前記静磁場を乱す磁性体の静磁場への侵入
を検出する侵入検出手段と、この検出手段からの検出信
号に基づいて前記静磁場を消失させる消失手段とを有す
るものとしたものである。
更に本発明に係る請求項3記載の装置は、請求項1又は
2記載の装置において、消失手段を前記コイルに流れる
電流による電気エネルギを熱エネルギに変換する抵抗手
段を有するものとしたものである。
2記載の装置において、消失手段を前記コイルに流れる
電流による電気エネルギを熱エネルギに変換する抵抗手
段を有するものとしたものである。
本発明に係る請求項4記載の装置は、請求項2記載の装
置において、消失手段を前記超電導コイルを臨界温度以
上とする温度上昇手段を有するものとしたものである。
置において、消失手段を前記超電導コイルを臨界温度以
上とする温度上昇手段を有するものとしたものである。
(作 用)
以下に上記構成の装置の作用を特徴する請求項1及び2
記載の装置においては、静磁場を乱す程の磁性体が侵入
すると静磁場が変化する。
記載の装置においては、静磁場を乱す程の磁性体が侵入
すると静磁場が変化する。
侵入検出手段は、この静磁場の変化を検出することによ
り磁性体の侵入を検出し、検出信号を消失手段に送出す
る。消失手段は、この検出信号に基づいて静磁場を消失
させる。
り磁性体の侵入を検出し、検出信号を消失手段に送出す
る。消失手段は、この検出信号に基づいて静磁場を消失
させる。
請求項3記載の装置においては、消失手段の抵抗手段は
、コイルに流れている電流を電気エネルギから熱エネル
ギに変換して静磁場を消失させる。
、コイルに流れている電流を電気エネルギから熱エネル
ギに変換して静磁場を消失させる。
請求項4記載の装置においては、消失手段の温度上昇手
段は、超電導コイルの温度を臨界温度以上とする。超電
導コイルの超電導性は、急激に失われる。
段は、超電導コイルの温度を臨界温度以上とする。超電
導コイルの超電導性は、急激に失われる。
(実施例)
以下に本発明の実施例を詳細に説明する。
本発明の第1の実施例の超電導型MRI装置1の外観を
第1図に示す。第2図は第1図に示すA−A断面図であ
る。
第1図に示す。第2図は第1図に示すA−A断面図であ
る。
この超電導型MRI装置1は、静磁場を発生する静磁場
発生手段2を備えた超電導磁石架台3と、この架台3に
配置され前記静磁場内への磁性体の侵入を検出する侵入
検出手段4と、この検出手段4からの検出信号としての
電流iに基づいて前記静磁場を消失させる温度上昇手段
としての消失手段5と、患者を載置する寝台8とを有し
ている。
発生手段2を備えた超電導磁石架台3と、この架台3に
配置され前記静磁場内への磁性体の侵入を検出する侵入
検出手段4と、この検出手段4からの検出信号としての
電流iに基づいて前記静磁場を消失させる温度上昇手段
としての消失手段5と、患者を載置する寝台8とを有し
ている。
前記静磁場発生手段2は、液体ヘリウム2a内に配置さ
れた超電導コイル2bと、液体ヘリウム2aの保冷のた
め液体ヘリウム2aの周囲に配置された真空部2Cと、
前記架台3の上部に配置され開放することにより前記真
空部2Cに外気を侵入させるための弁2Cと、液体ヘリ
ウム2aが蒸発してヘリウムガスとなった場合の内部の
圧力上昇を防ぐための防爆弁2dとを有している。
れた超電導コイル2bと、液体ヘリウム2aの保冷のた
め液体ヘリウム2aの周囲に配置された真空部2Cと、
前記架台3の上部に配置され開放することにより前記真
空部2Cに外気を侵入させるための弁2Cと、液体ヘリ
ウム2aが蒸発してヘリウムガスとなった場合の内部の
圧力上昇を防ぐための防爆弁2dとを有している。
前記侵入検出手段4は、第3図に示すように検出コイル
4a内を通過する磁力線がX方向に動くことによる起電
力を検出するものである。
4a内を通過する磁力線がX方向に動くことによる起電
力を検出するものである。
前記消失手段5は、前記侵入検出手段4から送出された
電流iを受けるコントローラ6と、前記弁2Cを開放す
る弁開閉部7とを有しており、この弁2Cを開放させる
ことにより前記真空部2Cに外気を侵入させ、前記超電
導コイル2bを臨界温度以上にして超電導性を失わせる
ものである。
電流iを受けるコントローラ6と、前記弁2Cを開放す
る弁開閉部7とを有しており、この弁2Cを開放させる
ことにより前記真空部2Cに外気を侵入させ、前記超電
導コイル2bを臨界温度以上にして超電導性を失わせる
ものである。
次に、上記第1の実施例の装置1の作用を第4図及び第
5図をも参照して説明する。
5図をも参照して説明する。
第4図は第1図に示すB−B断面図で、磁性体9が静磁
場領域に侵入する前の状態を示すものである。尚、この
磁性体9は、静磁場を乱す程の強磁性体とする。
場領域に侵入する前の状態を示すものである。尚、この
磁性体9は、静磁場を乱す程の強磁性体とする。
磁力線M。は、同図に示すように、開口部3a内を貫通
しこの開口部3aの両端から開口部3aの軸方向に飛び
出すようにしてループ状に形成されている。
しこの開口部3aの両端から開口部3aの軸方向に飛び
出すようにしてループ状に形成されている。
ここで、第5図に示すように、磁性体9が静磁場領域に
侵入した場合、磁力線Mlは、磁性体9の方に引き寄せ
られ、静磁場は乱れ検出コイル4aの内側を通過する磁
力線がX方向に動くことになる。すると、検出コイル4
aに、起電力が発生しコントローラ6にこの起電力によ
る電流iが流れる。
侵入した場合、磁力線Mlは、磁性体9の方に引き寄せ
られ、静磁場は乱れ検出コイル4aの内側を通過する磁
力線がX方向に動くことになる。すると、検出コイル4
aに、起電力が発生しコントローラ6にこの起電力によ
る電流iが流れる。
コントローラ6は、この電流iに基づいて弁開閉部7に
開放信号SOを送出する。
開放信号SOを送出する。
弁開閉部7は、開放信号SOに基づき弁2Cを開放させ
る。
る。
弁2cが開放すると、真空部2Cに外気が侵入し、これ
により真空部2Cの断熱効果が失われると同時に、液体
ヘリウム2aが沸騰して蒸発しだす。この蒸発したヘリ
ウムガスは、防爆弁2dを通じて外へ逃げる。
により真空部2Cの断熱効果が失われると同時に、液体
ヘリウム2aが沸騰して蒸発しだす。この蒸発したヘリ
ウムガスは、防爆弁2dを通じて外へ逃げる。
液体ヘリウム2aが蒸発した箇所の近傍の超電導コイル
2bは、部分的に超電導性が失われる。
2bは、部分的に超電導性が失われる。
次に、部分的に超電導性が失われた箇所の超電導コイル
2bは、電流の抵抗となって熱を発生し、この熱が更に
超電導コイル2bの他の温度の低い箇所を温めるので超
電導コイル2bの超電導性が喪失した部分が加速度的に
広がり、熱の発生を促す。この発生した熱により液体ヘ
リウム2aの蒸発を一層促す。この現象はクウェンチと
いわれているもので、静磁場は、短時間の内に消失する
。
2bは、電流の抵抗となって熱を発生し、この熱が更に
超電導コイル2bの他の温度の低い箇所を温めるので超
電導コイル2bの超電導性が喪失した部分が加速度的に
広がり、熱の発生を促す。この発生した熱により液体ヘ
リウム2aの蒸発を一層促す。この現象はクウェンチと
いわれているもので、静磁場は、短時間の内に消失する
。
本発明の第2の実施例のMHI装置10の外観を第6図
に示す。
に示す。
このMRI装置10は、静磁場を発生する静磁場発生手
段としてのコイル12bを備えた架台13と、この架台
13に配置され前記静磁場内への磁性体9(第5図参照
)の侵入を検出する侵入検出手段14と、この検出手段
14からの検出信号としての電流iに基づいて前記静磁
場を消失させる消失手段15と、患者を載置する寝台8
とを有している。
段としてのコイル12bを備えた架台13と、この架台
13に配置され前記静磁場内への磁性体9(第5図参照
)の侵入を検出する侵入検出手段14と、この検出手段
14からの検出信号としての電流iに基づいて前記静磁
場を消失させる消失手段15と、患者を載置する寝台8
とを有している。
前記侵入検出手段4は、前述の第3図に示すように検出
コイル4aの内側を通過する磁力線がX方向に動くこと
による起電力を検出するものである。
コイル4aの内側を通過する磁力線がX方向に動くこと
による起電力を検出するものである。
前記消失手段15は、前記侵入検出手段4から送出され
た電流iを受けるコントローラ16と、前記超電導コイ
ル12bに流れる電流による電気エネルギを熱エネルギ
に変換する抵抗手段17とを有している。
た電流iを受けるコントローラ16と、前記超電導コイ
ル12bに流れる電流による電気エネルギを熱エネルギ
に変換する抵抗手段17とを有している。
この抵抗手段17は、電磁スイッチ17aと、抵抗器1
7bとを有しており、前記コントローラ16からの切換
信号Scを受けて前記電磁スイッチ17aを常接点Pn
から非常接点Peに切り換えて、超電導コイル12bに
流れていた電流を抵抗器17bに流し、この電気エネル
ギを熱エネルギに変換して超電導コイル12bを流れる
電流を急激に減衰させ、静磁場を急速に消失させるもの
である。
7bとを有しており、前記コントローラ16からの切換
信号Scを受けて前記電磁スイッチ17aを常接点Pn
から非常接点Peに切り換えて、超電導コイル12bに
流れていた電流を抵抗器17bに流し、この電気エネル
ギを熱エネルギに変換して超電導コイル12bを流れる
電流を急激に減衰させ、静磁場を急速に消失させるもの
である。
このMRI装置10の作用を前述の第4図及び第5図を
も参照して説明する。
も参照して説明する。
第4図に示すように磁性体9が静磁場領域に侵入してい
ない正常な状態から、第5図に示したように、磁性体9
が静磁場領域に侵入した場合、磁力線M4は、磁性体9
の方に引き寄せられ、静磁場は乱れ検出コイル4aの内
側を通過する磁力線がX方向に動くことになる。検出コ
イル4aは、この磁力線がX方向に動くことによる起電
力を電流としてコントローラ16に送出する。
ない正常な状態から、第5図に示したように、磁性体9
が静磁場領域に侵入した場合、磁力線M4は、磁性体9
の方に引き寄せられ、静磁場は乱れ検出コイル4aの内
側を通過する磁力線がX方向に動くことになる。検出コ
イル4aは、この磁力線がX方向に動くことによる起電
力を電流としてコントローラ16に送出する。
コントローラ16は、抵抗手段17に切換信号Scを送
出する。
出する。
抵抗手段17は、この切換信号Scに基づき電磁スイッ
チ17aを常接点Pnから非常接点Peに切り換える。
チ17aを常接点Pnから非常接点Peに切り換える。
電磁スイッチ17aが切り換わると、超電導コイル12
bに流れていた電流は、抵抗器17bに流れ、この電流
は熱エネルギに変換されて超電導コイル12bを流れる
電流は急激に減衰し、静磁場は急速に消失する。
bに流れていた電流は、抵抗器17bに流れ、この電流
は熱エネルギに変換されて超電導コイル12bを流れる
電流は急激に減衰し、静磁場は急速に消失する。
本発明の第3の実施例の超電導型MHI装置20の外観
を第7図に示す。第8図は第7図に示すC−C断面図で
ある。
を第7図に示す。第8図は第7図に示すC−C断面図で
ある。
この超電導型MRI装置20は、静磁場を発生する静磁
場発生手段22を備えた超電導磁石架台23と、この架
台23に配置され前記静磁場内への磁性体9(第5図参
照)の侵入を検出する侵入検出手段4と、この検出手段
4からの検出信号としての電流iに基づいて前記静磁場
を消失させる消失手段25と、患者を載置する寝台8と
を有している。
場発生手段22を備えた超電導磁石架台23と、この架
台23に配置され前記静磁場内への磁性体9(第5図参
照)の侵入を検出する侵入検出手段4と、この検出手段
4からの検出信号としての電流iに基づいて前記静磁場
を消失させる消失手段25と、患者を載置する寝台8と
を有している。
前記静磁場発生手段22は、液体ヘリウム22a内に配
置された超電導コイル22bと、液体ヘリウム22aの
保冷のため液体ヘリウム22aの周囲に配置された真空
部22cとを有している。
置された超電導コイル22bと、液体ヘリウム22aの
保冷のため液体ヘリウム22aの周囲に配置された真空
部22cとを有している。
前記侵入検出手段4は、前述の第3図に示すように検出
コイル4aの内側を通過する磁力線がX方向に動くこと
による起電力を検出するものである。
コイル4aの内側を通過する磁力線がX方向に動くこと
による起電力を検出するものである。
前記消失手段25は、前記侵入検出手段4から送出され
た電流iを受けるコントローラ26と、静磁場発生手段
22の近傍に配置され前記超電導コイル22bを臨界温
度以上とする温度上昇手段としてのヒータ用コイル27
と、このヒータ用コイル27に加熱用電源を供給する同
じく温度上昇手段としての加熱電源28とを有している
。この消失手段25のコントローラ26は、前記侵入検
出手段4から送出された電流iを受けると、前記加熱電
源28に前記コイル27に加熱用電源を供給させるため
の加熱信号shを送出し、ヒータ用コイル27を加熱さ
せるようにしている。
た電流iを受けるコントローラ26と、静磁場発生手段
22の近傍に配置され前記超電導コイル22bを臨界温
度以上とする温度上昇手段としてのヒータ用コイル27
と、このヒータ用コイル27に加熱用電源を供給する同
じく温度上昇手段としての加熱電源28とを有している
。この消失手段25のコントローラ26は、前記侵入検
出手段4から送出された電流iを受けると、前記加熱電
源28に前記コイル27に加熱用電源を供給させるため
の加熱信号shを送出し、ヒータ用コイル27を加熱さ
せるようにしている。
第3の実施例の超電導型MRI装置20の作用を前述の
第4図及び第5図をも参照して説明する。
第4図及び第5図をも参照して説明する。
第4図に示すように磁性体9が静磁場領域に侵入してい
ない正常な状態から、第5図に示すように、磁性体9が
静磁場領域に侵入した場合、磁力線Mlは、磁性体9の
方に引き寄せられ、静磁場は乱れ検出コイル4a内を通
過する磁力線がX方向に動くことになる。検出コイル4
aは、この磁力線がX方向に動くことによる起電力を電
流としてコントローラ26に送出する。
ない正常な状態から、第5図に示すように、磁性体9が
静磁場領域に侵入した場合、磁力線Mlは、磁性体9の
方に引き寄せられ、静磁場は乱れ検出コイル4a内を通
過する磁力線がX方向に動くことになる。検出コイル4
aは、この磁力線がX方向に動くことによる起電力を電
流としてコントローラ26に送出する。
コントローラ26は、加熱電源28に加熱信号shを送
出する。
出する。
加熱電源28は、この加熱信号shに基づきコイル27
に加熱電源を供給する。
に加熱電源を供給する。
加熱電源を供給されてヒータ用コイル27が加熱すると
、超電導コイル22bの温度は臨界温度以上となり、超
電導コイル22bの超電導性は急激に失われる。このた
め静磁場は急速に失われる。
、超電導コイル22bの温度は臨界温度以上となり、超
電導コイル22bの超電導性は急激に失われる。このた
め静磁場は急速に失われる。
上述した第1の実施例の超電導型MHI装置においては
、冷却媒体としての液体ヘリウム22aの蒸発による冷
却機能を喪失させるようにしているので、静磁場はごく
短時間に失われる。
、冷却媒体としての液体ヘリウム22aの蒸発による冷
却機能を喪失させるようにしているので、静磁場はごく
短時間に失われる。
第2の実施例のMHI装置においては、常電導型MRI
装置及び超電導型MRI装置の両方に適用することがで
きる。
装置及び超電導型MRI装置の両方に適用することがで
きる。
第1乃至第3の実施例装置においては、磁性体が磁石に
引き込まれるかどうかの判定を、磁性体が静磁場を変化
させるかどうかを判定することにより行うようにしてい
るので、確実に磁性体が磁石に急激に引き込まれるとい
う危険な状態を回避することができる。
引き込まれるかどうかの判定を、磁性体が静磁場を変化
させるかどうかを判定することにより行うようにしてい
るので、確実に磁性体が磁石に急激に引き込まれるとい
う危険な状態を回避することができる。
以上、一実施例について説明したが、本発明はこれに限
定されるものでなく、その要旨を変更しない範囲で種々
に変形実施が可能である。
定されるものでなく、その要旨を変更しない範囲で種々
に変形実施が可能である。
例えば、侵入検出手段は、磁力線の動きを検出するもの
としたが、磁場強度を測定するものを用い、磁場強度の
変化を電流として出力するようにしてもよい。また、侵
入検出手段は、−窓以上の起電力を発生したときに初め
て信号を送出するものを用いてもよい。温度上昇手段と
して、第1及び第3の実施例装置で示した以外に、液体
へりラム用弁を開放して液体ヘリウムを排出するように
し、超電導コイルの温度を臨界温度以上とするようにし
てもよい。
としたが、磁場強度を測定するものを用い、磁場強度の
変化を電流として出力するようにしてもよい。また、侵
入検出手段は、−窓以上の起電力を発生したときに初め
て信号を送出するものを用いてもよい。温度上昇手段と
して、第1及び第3の実施例装置で示した以外に、液体
へりラム用弁を開放して液体ヘリウムを排出するように
し、超電導コイルの温度を臨界温度以上とするようにし
てもよい。
[発明の効果コ
以上詳述した本発明によれば、侵入検出手段により静磁
場内への磁性体の侵入を検出し、この検出信号に基づい
て消失手段により静磁場を消失するようにしているので
、操作者の負担が軽減し、安全性を向上させた磁気共鳴
イメージング装置を提供することができる。
場内への磁性体の侵入を検出し、この検出信号に基づい
て消失手段により静磁場を消失するようにしているので
、操作者の負担が軽減し、安全性を向上させた磁気共鳴
イメージング装置を提供することができる。
第1図は本発明の第1の実施装置の概略構成図、第2図
はこの装置の断面図、第3図は検出コイルの起電力発生
説明図、第4図は第1図に示すB−B断面の磁性体が静
磁場領域に侵入する前の状態を示す説明図、第5図は磁
性体が静磁場領域に侵入した場合の磁力線の変化を示す
説明図、第6図は本発明の第2の実施装置の概略構成図
、第7図は本発明の第3の実施装置の概略構成図、第8
図はこの装置の断面図である。 1.10.20.・・・MRI装置、 2・・・静磁場発生手段、 2b、22b・・・超電導コイル、 4・・・侵入検出手段、 5・・・消失手段(温度上昇手段)、 8・・・磁性体、 12b・・・コイル、15・・・消
失手段(抵抗手段)、25・・・消失手段、27・・・
ヒータ用コイル(温度上昇手段)、28・・・加熱電源
(温度上昇手段)、i・・・電流、 So、Sc、S
h・・・信号。 30 第 図 第 図
はこの装置の断面図、第3図は検出コイルの起電力発生
説明図、第4図は第1図に示すB−B断面の磁性体が静
磁場領域に侵入する前の状態を示す説明図、第5図は磁
性体が静磁場領域に侵入した場合の磁力線の変化を示す
説明図、第6図は本発明の第2の実施装置の概略構成図
、第7図は本発明の第3の実施装置の概略構成図、第8
図はこの装置の断面図である。 1.10.20.・・・MRI装置、 2・・・静磁場発生手段、 2b、22b・・・超電導コイル、 4・・・侵入検出手段、 5・・・消失手段(温度上昇手段)、 8・・・磁性体、 12b・・・コイル、15・・・消
失手段(抵抗手段)、25・・・消失手段、27・・・
ヒータ用コイル(温度上昇手段)、28・・・加熱電源
(温度上昇手段)、i・・・電流、 So、Sc、S
h・・・信号。 30 第 図 第 図
Claims (4)
- (1)コイルに電流を流して静磁場を発生する静磁場発
生手段と、前記静磁場を乱す磁性体の静磁場への侵入を
検出する侵入検出手段と、この検出手段からの検出信号
に基づいて前記静磁場を消失させる消失手段とを有する
磁気共鳴イメージング装置。 - (2)超電導コイルに超電導状態で電流を流して静磁場
を発生する静磁場発生手段と、前記静磁場を乱す磁性体
の静磁場への侵入を検出する侵入検出手段と、この検出
手段からの検出信号に基づいて前記静磁場を消失させる
消失手段とを有する磁気共鳴イメージング装置。 - (3)前記消失手段は、前記コイルに流れる電流による
電気エネルギを熱エネルギに変換する抵抗手段を有する
請求項1又は2記載の磁気共鳴イメージング装置。 - (4)前記消失手段は、前記超電導コイルを臨界温度以
上とする温度上昇手段を有する請求項2記載の磁気共鳴
イメージング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1209207A JPH0370545A (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1209207A JPH0370545A (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0370545A true JPH0370545A (ja) | 1991-03-26 |
Family
ID=16569129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1209207A Pending JPH0370545A (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | 磁気共鳴イメージング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0370545A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007289670A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-11-08 | Toshiba Corp | 磁場吸引防止装置 |
| JP2012228547A (ja) * | 2006-03-31 | 2012-11-22 | Toshiba Corp | 磁場吸引防止装置 |
-
1989
- 1989-08-10 JP JP1209207A patent/JPH0370545A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007289670A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-11-08 | Toshiba Corp | 磁場吸引防止装置 |
| JP2012228547A (ja) * | 2006-03-31 | 2012-11-22 | Toshiba Corp | 磁場吸引防止装置 |
| JP2013128843A (ja) * | 2006-03-31 | 2013-07-04 | Toshiba Corp | 磁場吸引防止装置 |
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