JPH0371054A - 静電センサ装置 - Google Patents
静電センサ装置Info
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- JPH0371054A JPH0371054A JP20721689A JP20721689A JPH0371054A JP H0371054 A JPH0371054 A JP H0371054A JP 20721689 A JP20721689 A JP 20721689A JP 20721689 A JP20721689 A JP 20721689A JP H0371054 A JPH0371054 A JP H0371054A
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Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
来光りjは、被検出体との微小静電容量の変化を検出す
る静電センサ装置に関するものである。
る静電センサ装置に関するものである。
(従来の技術〕
従来からごく一般的に用いられている静電センサ装置は
、発振回路のタンク回路に用いられている静電容量を外
部静電容量の変化として発振周波数を変化させるもので
あるが、感度が低く、このため、近年においてはより感
度の高いRCA方式(発振回路の発振周波数かられずか
にずれた共振周波数をもった共振回路のコンデンサ容量
を変化させAM変調波を得る方式)の装置が使用される
ようになってきている。このRCA方弐の静電センサ装
置は、第6図に示すように、発振回路部lと、共振回路
2と、被検出体との静電容量変化を検出する検出部3と
、検波部4と、増幅回路5とからなる。前記発振回路部
1と共振回路2ばそれぞれ共振器を含み、例えば、第7
図に示すように、発振回路部lの固定発振周波数flに
対して共振回路2の共振周波数foをわずかにずれた位
置に設定しておき、検出部3によって検出される微小静
電容量の変化ΔCに対応させて共振周波数をfoからΔ
fだけ偏倚させ、前記静電容量の変化ΔCを出力電圧Δ
Vの変化として共振回路2から出力させ、これを検波部
4と増幅回路5で検波増幅して取り出すものである。
、発振回路のタンク回路に用いられている静電容量を外
部静電容量の変化として発振周波数を変化させるもので
あるが、感度が低く、このため、近年においてはより感
度の高いRCA方式(発振回路の発振周波数かられずか
にずれた共振周波数をもった共振回路のコンデンサ容量
を変化させAM変調波を得る方式)の装置が使用される
ようになってきている。このRCA方弐の静電センサ装
置は、第6図に示すように、発振回路部lと、共振回路
2と、被検出体との静電容量変化を検出する検出部3と
、検波部4と、増幅回路5とからなる。前記発振回路部
1と共振回路2ばそれぞれ共振器を含み、例えば、第7
図に示すように、発振回路部lの固定発振周波数flに
対して共振回路2の共振周波数foをわずかにずれた位
置に設定しておき、検出部3によって検出される微小静
電容量の変化ΔCに対応させて共振周波数をfoからΔ
fだけ偏倚させ、前記静電容量の変化ΔCを出力電圧Δ
Vの変化として共振回路2から出力させ、これを検波部
4と増幅回路5で検波増幅して取り出すものである。
〔発明が解決しようとする課題]
本発明者等は、共振回路2の共振器の周りの回路を高イ
ンピーダンス化回路とすることにより、微小静電容量の
検出感度を高めることができることに着目し、高感度の
静電センサ装置の開発に成功した。
ンピーダンス化回路とすることにより、微小静電容量の
検出感度を高めることができることに着目し、高感度の
静電センサ装置の開発に成功した。
しかしながら、この高感度の開発装置にあっても、被検
出体のインピーダンスやQが低い場合、例えば、人体や
水中のイオン成分を検出しようとすると、これらの被検
出体のインピーダンスが低いために検出部3における被
検出体検出用電極と共振器が直接結合されていると共振
回路2の共振器のQを著しく低下させてしまい、このQ
の大きさに出力電圧が依存するRCA方式の静電センサ
装置においては、この検出出力の大幅な低下のため、検
出能が低下して使用に耐えなくなるという問題があった
。
出体のインピーダンスやQが低い場合、例えば、人体や
水中のイオン成分を検出しようとすると、これらの被検
出体のインピーダンスが低いために検出部3における被
検出体検出用電極と共振器が直接結合されていると共振
回路2の共振器のQを著しく低下させてしまい、このQ
の大きさに出力電圧が依存するRCA方式の静電センサ
装置においては、この検出出力の大幅な低下のため、検
出能が低下して使用に耐えなくなるという問題があった
。
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり
、その目的は、インピーダンスやQが低い被検出体との
微小静電容量の検出に際しても、共振回路の共振器のQ
の低下を招くことがない高感度の静電センサ装置を提供
することにある。
、その目的は、インピーダンスやQが低い被検出体との
微小静電容量の検出に際しても、共振回路の共振器のQ
の低下を招くことがない高感度の静電センサ装置を提供
することにある。
〔課題を解決するための手段]
本発明は上記目的を達成するために、次のように構成さ
れている。すなわち、本発明は、発振周波数信号を出力
する発振回路部と、被検出体との静電容量変化を検出す
る検出部と、この検出部で検出される静電容量の微小変
化で共振周波数が変化する共振回路とを有する静電セン
サ装置において、前記検出部と共振回路との間には検出
部で検出される静電容量の変化をインダクタンスの変化
に変換して共振回路に伝えるC−L変換回路が介設され
ていることを特徴として構成されており、また、発振回
路部の発振器と、共振回路の共振器とはともにセラミッ
ク共振器により構成されていることも本発明の特徴的な
構成としており、さらに、上記共振回路又はC−L変換
回路には発振回路部の発振周波数と共振回路の共振周波
数との同調点を安定化させる安定化制御回路が接続され
ている構成も、併せて本発明の特徴的な構成としている
。
れている。すなわち、本発明は、発振周波数信号を出力
する発振回路部と、被検出体との静電容量変化を検出す
る検出部と、この検出部で検出される静電容量の微小変
化で共振周波数が変化する共振回路とを有する静電セン
サ装置において、前記検出部と共振回路との間には検出
部で検出される静電容量の変化をインダクタンスの変化
に変換して共振回路に伝えるC−L変換回路が介設され
ていることを特徴として構成されており、また、発振回
路部の発振器と、共振回路の共振器とはともにセラミッ
ク共振器により構成されていることも本発明の特徴的な
構成としており、さらに、上記共振回路又はC−L変換
回路には発振回路部の発振周波数と共振回路の共振周波
数との同調点を安定化させる安定化制御回路が接続され
ている構成も、併せて本発明の特徴的な構成としている
。
〔作用]
本発明では、検出部によって被検出体との微小静電容量
の変化を検出すると、この微小静電容量ノ変化はC−L
変換回路によってインピーダンスへの変換が行われる。
の変化を検出すると、この微小静電容量ノ変化はC−L
変換回路によってインピーダンスへの変換が行われる。
このインピーダンスの変換はインダクタンスの変換とし
て行われ、このインダクタンスの変化が共振回路の共振
器に加えられる。
て行われ、このインダクタンスの変化が共振回路の共振
器に加えられる。
このように本発明では、検出される微小静電容量の変化
がC−Lのインピーダンス変換回路によりインダクタン
スの変化に変換されるので、被検出体のインピーダンス
やQが低い場合においても、これが共振回路の共振器の
Qを低下させる要因として作用することはなく、共振回
路から静電容量の変化に対応する高出力の検出信号が取
り出されるのである。
がC−Lのインピーダンス変換回路によりインダクタン
スの変化に変換されるので、被検出体のインピーダンス
やQが低い場合においても、これが共振回路の共振器の
Qを低下させる要因として作用することはなく、共振回
路から静電容量の変化に対応する高出力の検出信号が取
り出されるのである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説j9Jする
。第1図には本発明に係る静電センサ装置の一実施例の
回路図が示されている。本実施例の装置は、発振回路部
lと、高インピーダンス変換回路6と、セラミック共振
器12からなる共振回路2と、C−L変換回路7と、検
波部4と、増幅回路5と、安定化制御回路としてのAF
C回路8とからなる。この第1図で11g1密に考えれ
ば、共振回路2はセラ〔ツク共振器12とC−L変換回
路7によって構成されるものとして考えることもできる
が、本明細書では共振回路2はC−L変換回路7を除い
たセラミック共振器12のみによって構成されるものと
して話を進めている。なお、これら第1図の回路中道三
角形の記号の頭部は接地点を示している。
。第1図には本発明に係る静電センサ装置の一実施例の
回路図が示されている。本実施例の装置は、発振回路部
lと、高インピーダンス変換回路6と、セラミック共振
器12からなる共振回路2と、C−L変換回路7と、検
波部4と、増幅回路5と、安定化制御回路としてのAF
C回路8とからなる。この第1図で11g1密に考えれ
ば、共振回路2はセラ〔ツク共振器12とC−L変換回
路7によって構成されるものとして考えることもできる
が、本明細書では共振回路2はC−L変換回路7を除い
たセラミック共振器12のみによって構成されるものと
して話を進めている。なお、これら第1図の回路中道三
角形の記号の頭部は接地点を示している。
前記発振回路部1は周知の回路であり、本実施例では、
この回路の共振器には超高周波、本実施例ではIC)(
z〜10 G Hzの範囲内で固定された一定の発振周
波数を発振するセラミック共振器10が用いられている
。この発振回路部1は前記高周波の発振信号を発振し、
これを高インピーダンス変換回路6を介して共振回路2
に加える。この共振回路2のセラミック共振器12は第
4図に示すような周波数特性を有しており、このセラミ
ック共振器12の共振周波数foに対して発振回路部l
の発振周波数rlはわずかにずらした位置に設定される
。この発振周波数rlの設定方式としては、発振周波数
をセラミック共振器12の共振周波数foの右側の周波
数f2の位置に設定するいわゆるアップポーチ方式と共
振周波数f。よりも左側の周波数foの位置に設定する
ハックポーチ方式とがあり、仕様に応しそのいずれかの
方式が採用されるが、本実施例の説明では、説明の都合
上、ハックポーチ方式の場合で説明する。
この回路の共振器には超高周波、本実施例ではIC)(
z〜10 G Hzの範囲内で固定された一定の発振周
波数を発振するセラミック共振器10が用いられている
。この発振回路部1は前記高周波の発振信号を発振し、
これを高インピーダンス変換回路6を介して共振回路2
に加える。この共振回路2のセラミック共振器12は第
4図に示すような周波数特性を有しており、このセラミ
ック共振器12の共振周波数foに対して発振回路部l
の発振周波数rlはわずかにずらした位置に設定される
。この発振周波数rlの設定方式としては、発振周波数
をセラミック共振器12の共振周波数foの右側の周波
数f2の位置に設定するいわゆるアップポーチ方式と共
振周波数f。よりも左側の周波数foの位置に設定する
ハックポーチ方式とがあり、仕様に応しそのいずれかの
方式が採用されるが、本実施例の説明では、説明の都合
上、ハックポーチ方式の場合で説明する。
このセラミック共振器12にばC−L変換回路7を介し
て検出部3が接続されている。そして、この検出部3に
は被検出体との静電容量の変化を検出する板、針、イオ
ン電極、絶縁被覆電極、熱遮断電極等の所望の電極が接
続されている。
て検出部3が接続されている。そして、この検出部3に
は被検出体との静電容量の変化を検出する板、針、イオ
ン電極、絶縁被覆電極、熱遮断電極等の所望の電極が接
続されている。
前記C−L変換回路7はホール素子、導波管等の素子や
非相反回路を用いたインピーダンスジャイレータによっ
て構成できるものであり、その回路の一例が第2図に示
されている。この第2図の回路はトランジスタジャイレ
ータと呼ばれるもので、3個の1−ランジスタ1/1,
15.16と抵抗器との組み合わせによって構成されて
おり、その入力側はセラミック共振器12側に接続され
、出力側は検出部3側に接続されている。このインピー
ダンスジャイレータはインピーダンス反転作用を行い、
出力側から見た静電容量変化を入力側から見てインダク
タンスの変化に変換するものである。
非相反回路を用いたインピーダンスジャイレータによっ
て構成できるものであり、その回路の一例が第2図に示
されている。この第2図の回路はトランジスタジャイレ
ータと呼ばれるもので、3個の1−ランジスタ1/1,
15.16と抵抗器との組み合わせによって構成されて
おり、その入力側はセラミック共振器12側に接続され
、出力側は検出部3側に接続されている。このインピー
ダンスジャイレータはインピーダンス反転作用を行い、
出力側から見た静電容量変化を入力側から見てインダク
タンスの変化に変換するものである。
一般に、セラミック誘電体はQが高く (大きく)、共
振回路の共振器をセラミック共振器10゜12によって
構成することにより、高い検出感度を期待できるのであ
るが、セラくツク共振器12と発循回路部1とを直接接
続すると、発振回路部1のインピーダンスがセラミック
共振器12の動作点でのインピーダンスよりも低いため
、セラミック共振器12のQが低下してしまい、共振点
(同調点)での出力電圧が低くなってセラミック共振器
12の本来の性能(Qが高いという性能)を十分に発揮
できなくなるという問題が生じる。このような問題を解
消するために、本実施例では、発振回路部1と共振回路
2との間に高インピーダンス変換回路6を介設している
。この高インピーダンス変換回路6はトランジスタ13
と、抵抗器、コンデンサ等の回路素子を結合して高イン
ピーダンス回路として構成されており、トランジスタ1
3はエミッタホロワ接続でセラミック共振器12に高イ
ンピーダンスを付加するとともに、セラミック共振器I
Q (jlの発振回路部1とセラくツク共振器12側
の共振回路2との相互干渉を遮断している。
振回路の共振器をセラミック共振器10゜12によって
構成することにより、高い検出感度を期待できるのであ
るが、セラくツク共振器12と発循回路部1とを直接接
続すると、発振回路部1のインピーダンスがセラミック
共振器12の動作点でのインピーダンスよりも低いため
、セラミック共振器12のQが低下してしまい、共振点
(同調点)での出力電圧が低くなってセラミック共振器
12の本来の性能(Qが高いという性能)を十分に発揮
できなくなるという問題が生じる。このような問題を解
消するために、本実施例では、発振回路部1と共振回路
2との間に高インピーダンス変換回路6を介設している
。この高インピーダンス変換回路6はトランジスタ13
と、抵抗器、コンデンサ等の回路素子を結合して高イン
ピーダンス回路として構成されており、トランジスタ1
3はエミッタホロワ接続でセラミック共振器12に高イ
ンピーダンスを付加するとともに、セラミック共振器I
Q (jlの発振回路部1とセラくツク共振器12側
の共振回路2との相互干渉を遮断している。
検波部4は結合コンデンサ25を介してセラミンク共振
器12に接続されており、この検波部4はインダクタン
ス素子21と、ダイオード22と、コンデンサ23と、
抵抗器24とによって構成されており、前記セラミック
共振器12からの出力信号は結合コンデンサ25を介し
て検波部4に加えられるようになっている。前記ダイオ
ード22と、コンデンサ23と、抵抗器24は検波回路
を構成するが、本実施例ではこのダイオード22の動作
点はO電圧よりも負側に十分深くバイアス点が設定され
ている。前記検波回路はセラミック共振器12から出ノ
ノされる超高周波の出力信号(画像信号)を包絡線検波
し、被検出体の信号帯域の信号に変換するものである。
器12に接続されており、この検波部4はインダクタン
ス素子21と、ダイオード22と、コンデンサ23と、
抵抗器24とによって構成されており、前記セラミック
共振器12からの出力信号は結合コンデンサ25を介し
て検波部4に加えられるようになっている。前記ダイオ
ード22と、コンデンサ23と、抵抗器24は検波回路
を構成するが、本実施例ではこのダイオード22の動作
点はO電圧よりも負側に十分深くバイアス点が設定され
ている。前記検波回路はセラミック共振器12から出ノ
ノされる超高周波の出力信号(画像信号)を包絡線検波
し、被検出体の信号帯域の信号に変換するものである。
このように、検波回路はセラミック共振2i12からの
超高周波信号を検波するが、このとき、ダイオード22
の特性インピーダンスを考察すれば、このダイオード2
2の順方向のインピーダンスがセラミック共振器12に
大きな影響を与え、このダイオード22を直接共振器1
2に接続すると共振器12のQが低下するという不都合
が生しる。この不都合を防止するために、前記インダク
タンス素子21がダイオード22のアノード側に接続さ
れている。つまり、コンデンサ25とこのインダクタン
ス素子21は高イ0 ンビーダンス化回路として機能する。
超高周波信号を検波するが、このとき、ダイオード22
の特性インピーダンスを考察すれば、このダイオード2
2の順方向のインピーダンスがセラミック共振器12に
大きな影響を与え、このダイオード22を直接共振器1
2に接続すると共振器12のQが低下するという不都合
が生しる。この不都合を防止するために、前記インダク
タンス素子21がダイオード22のアノード側に接続さ
れている。つまり、コンデンサ25とこのインダクタン
ス素子21は高イ0 ンビーダンス化回路として機能する。
増幅回路5はトランジスタ27と抵抗器等の素子を用い
て構成され、この増幅回路5は検波部4から加えられる
信号を増幅し図示されていない信号処理回路に供給する
一方、同時にAFC回路8に加える。
て構成され、この増幅回路5は検波部4から加えられる
信号を増幅し図示されていない信号処理回路に供給する
一方、同時にAFC回路8に加える。
このAFC回路8は、オペアンプ28と、コンデンサ2
6.29.30と、可変抵抗器31と、抵抗器32.3
5と、可変容量ダイオード33と、結合コンデンサ34
とを主要回路素子にもって構成されている。前記オペア
ンプ28の一側端子は増幅回路5の出力端に接続されて
おり、同オペアンプ28の+側端子は前記可変抵抗器3
1の摺動端子に接続されている。オペアンプ28の一掬
端子と出力端間にはコンデンサ29が接続されており、
また、オペアンプ28の出力端には抵抗器32を介して
コンデンサ30の一端側が接続され、同コンデンサ30
の他端側はアースに接続されている。さらに、オペアン
プ28の出力端は抵抗器32.35と結合コンデンサ3
4を介してセラミック共振器12の出力端側に接続され
ている。そして、結合コンデンサ34と抵抗器35との
接続部には可変容量ダイオード33のカソード側が接続
され、同可変容量ダイオード33のアノード側は接地さ
れている。
6.29.30と、可変抵抗器31と、抵抗器32.3
5と、可変容量ダイオード33と、結合コンデンサ34
とを主要回路素子にもって構成されている。前記オペア
ンプ28の一側端子は増幅回路5の出力端に接続されて
おり、同オペアンプ28の+側端子は前記可変抵抗器3
1の摺動端子に接続されている。オペアンプ28の一掬
端子と出力端間にはコンデンサ29が接続されており、
また、オペアンプ28の出力端には抵抗器32を介して
コンデンサ30の一端側が接続され、同コンデンサ30
の他端側はアースに接続されている。さらに、オペアン
プ28の出力端は抵抗器32.35と結合コンデンサ3
4を介してセラミック共振器12の出力端側に接続され
ている。そして、結合コンデンサ34と抵抗器35との
接続部には可変容量ダイオード33のカソード側が接続
され、同可変容量ダイオード33のアノード側は接地さ
れている。
このAFC回路8は増幅回路5から加えられる信号をオ
ペアンプ28により増幅するがこの信号を増幅するに際
し、コンデンサ29.30の平滑作用により、オペアン
プ28からの出力信号は周波数の低いほぼ直流の信号と
するのが一般的であるが、被検出体の動作速度に対応し
た時定数が設定される。
ペアンプ28により増幅するがこの信号を増幅するに際
し、コンデンサ29.30の平滑作用により、オペアン
プ28からの出力信号は周波数の低いほぼ直流の信号と
するのが一般的であるが、被検出体の動作速度に対応し
た時定数が設定される。
またオペアンプ28からの出力信号はコンデンサ30と
抵抗器32、コンデンサ26と抵抗器35の2個の積分
回路を通ることによって、必要なレベルまで増幅される
とともに、非常に低い信号成分が可変容量ダイオード3
3に印加される。
抵抗器32、コンデンサ26と抵抗器35の2個の積分
回路を通ることによって、必要なレベルまで増幅される
とともに、非常に低い信号成分が可変容量ダイオード3
3に印加される。
可変容量ダイオード33は逆バイアス状態で用いられて
おり、本実施例では雷源雷圧を12Vとした場合、この
可変容量ダイオード33に6■以上の逆バイアス電圧を
与え、同ダイオード33の動作点を0電圧から負側の深
いバイアス点に設定している。
おり、本実施例では雷源雷圧を12Vとした場合、この
可変容量ダイオード33に6■以上の逆バイアス電圧を
与え、同ダイオード33の動作点を0電圧から負側の深
いバイアス点に設定している。
11
2
なお、この可変容量ダイオード33の動作点の位置調整
は可変抵抗器31の抵抗値を可変することにより直流レ
ベルで調整できるようになっている。換言すれば、AF
C回路の中心動作点を可変設定できることである。前記
可変容量ダイオード33は前記積分回路から印加される
電圧に応じて容量を変・化させ、この容量変化を結合コ
ンデンサ34を介してセラミック共振器12に伝え、同
共振器12の共振周波数を変える。すなわち、何らかの
原因でセラミック共振器12の共振周波数が、例えば、
第4図のバックポーチ方式で設定した「。よりも右側に
ずれた場合には共振器12からの出力が低下し、共振周
波数特性曲線上の直線領域に定めた例えば、v0〜V、
の設定領域から外れてしまうという不都合が生じる。こ
のような場合、AFC信号を共振器12に付加すること
によって発振周波数flを自動的に右側にずらし、共振
器12からの出力かり。〜V、の設定領域から外れない
ようにするものであり、この意味においてこのAFC回
路は1種のAGC回路としても機能するものである。
は可変抵抗器31の抵抗値を可変することにより直流レ
ベルで調整できるようになっている。換言すれば、AF
C回路の中心動作点を可変設定できることである。前記
可変容量ダイオード33は前記積分回路から印加される
電圧に応じて容量を変・化させ、この容量変化を結合コ
ンデンサ34を介してセラミック共振器12に伝え、同
共振器12の共振周波数を変える。すなわち、何らかの
原因でセラミック共振器12の共振周波数が、例えば、
第4図のバックポーチ方式で設定した「。よりも右側に
ずれた場合には共振器12からの出力が低下し、共振周
波数特性曲線上の直線領域に定めた例えば、v0〜V、
の設定領域から外れてしまうという不都合が生じる。こ
のような場合、AFC信号を共振器12に付加すること
によって発振周波数flを自動的に右側にずらし、共振
器12からの出力かり。〜V、の設定領域から外れない
ようにするものであり、この意味においてこのAFC回
路は1種のAGC回路としても機能するものである。
本発明は以上説明したように構成されており、以下、そ
の動作について説明する。
の動作について説明する。
例えば、第7図に示すように、セラミック共振器12の
共振周波数(同調周波数)roに対して発振回路部lの
発振周波数11をわずかに外れた値設に設定されている
状態において、検出部3によって検出される被検出体と
の静電容量の変化がない場合にはセラミック共振器12
からvoの一定電圧が出力される。これに対し、検出部
の電極部に人が近づいたり、VHDディスクのような面
の凹凸が検出部の電極の近傍を通過することにより、検
出部によって検出される静電容量がΔCだけ変化すると
、このΔCの変化は、C−L変換回路7によって次のよ
うにインダクタンスの変化に変換される。
共振周波数(同調周波数)roに対して発振回路部lの
発振周波数11をわずかに外れた値設に設定されている
状態において、検出部3によって検出される被検出体と
の静電容量の変化がない場合にはセラミック共振器12
からvoの一定電圧が出力される。これに対し、検出部
の電極部に人が近づいたり、VHDディスクのような面
の凹凸が検出部の電極の近傍を通過することにより、検
出部によって検出される静電容量がΔCだけ変化すると
、このΔCの変化は、C−L変換回路7によって次のよ
うにインダクタンスの変化に変換される。
第3図に示すように、電気回路の4端子回路定数を集中
定数で表すときのYパラメータ(Yマトリックス)を用
いてC−L変換回路7をブラックボックスとして表し、
ジャイレータのコンダクタンスをG、入力端(セラミッ
ク共振器12側)の電圧を部Vl、電流をi、とし、出
力側(検出部33 4 側)の重圧をv2、電流を工2どすると、il、2はジ
ャイレータの全体を示す次の式で表される。
定数で表すときのYパラメータ(Yマトリックス)を用
いてC−L変換回路7をブラックボックスとして表し、
ジャイレータのコンダクタンスをG、入力端(セラミッ
ク共振器12側)の電圧を部Vl、電流をi、とし、出
力側(検出部33 4 側)の重圧をv2、電流を工2どすると、il、2はジ
ャイレータの全体を示す次の式で表される。
このインピーダンスジャイレータは出力側にコンデンサ
を接続すると、入力側はインダクタンス成分として働く
ので、出力側の静電容量の変化ΔCに刻して入力側はイ
ンピーダンスの変化ΔZ、として表される。
を接続すると、入力側はインダクタンス成分として働く
ので、出力側の静電容量の変化ΔCに刻して入力側はイ
ンピーダンスの変化ΔZ、として表される。
ΔZ ; =V+/i+ = j ωΔC/ G”た
だし、ωは角周波数 上記のように出力側で検出される静電容量の微小変化Δ
Cは(、−L変換回路7によりインピーダンスの微小変
化△Z、に変換され、このΔZ、の変化がセラミック共
振器12へ加えられる。このCL変換に際し、ΔZoの
式から分かるように、被検出体の静止状態のインピーダ
ンスは直接共振回路の共振に影響をおよぼすことがない
。このインピーダンスの変化ΔZ、を受けて、セラミッ
ク共振器12の共振周波数は例えば第7図でf。からf
olに移行する。このとき、発振周波数flは一定値に
保たれているから、セラミック共振器12から取り出さ
れる出力重圧ばV。に△■だけ加算されたv0+Δ■の
電圧として取り出される。
だし、ωは角周波数 上記のように出力側で検出される静電容量の微小変化Δ
Cは(、−L変換回路7によりインピーダンスの微小変
化△Z、に変換され、このΔZ、の変化がセラミック共
振器12へ加えられる。このCL変換に際し、ΔZoの
式から分かるように、被検出体の静止状態のインピーダ
ンスは直接共振回路の共振に影響をおよぼすことがない
。このインピーダンスの変化ΔZ、を受けて、セラミッ
ク共振器12の共振周波数は例えば第7図でf。からf
olに移行する。このとき、発振周波数flは一定値に
保たれているから、セラミック共振器12から取り出さ
れる出力重圧ばV。に△■だけ加算されたv0+Δ■の
電圧として取り出される。
一般に、第5図に示すように、あるレスポンスf (G
)を持った回路に信号f(×)を通ずと出力信号「(o
ut)として、 f (out) = f (G) f (x)の信号が
得られることが知られており、これを本実施例に当ては
めれば、「(に)を」ωL1の単一周波数、すなわち、
発振周波数で固定し、f(G)を画像信号や人の動きに
対応したP8の信号で与えるとすれば、 f(out)= jωL、±Pうどなり、振幅変調され
た出力が取り出される。本実施例において、発振周波数
を超高周波数、例えばIC!ilzとすれば、f(ou
t)はIGHzを中心とした±P8のシ1F域幅を持っ
た超高周波の信号になり、この超高周波の信号が検波回
路に加えられる。検波回路ではこの超高周波信号を包絡
線検波を行って被検出体の信号惜域(本実施例では3M
IIzの信号)に変換する。この帯域5 G 変換された信号は増幅回路5によって増幅され、その出
力信号の一部は図示されていない信号処理回路に送られ
、他の一部の信号はAFC回路8に分岐供給される。
)を持った回路に信号f(×)を通ずと出力信号「(o
ut)として、 f (out) = f (G) f (x)の信号が
得られることが知られており、これを本実施例に当ては
めれば、「(に)を」ωL1の単一周波数、すなわち、
発振周波数で固定し、f(G)を画像信号や人の動きに
対応したP8の信号で与えるとすれば、 f(out)= jωL、±Pうどなり、振幅変調され
た出力が取り出される。本実施例において、発振周波数
を超高周波数、例えばIC!ilzとすれば、f(ou
t)はIGHzを中心とした±P8のシ1F域幅を持っ
た超高周波の信号になり、この超高周波の信号が検波回
路に加えられる。検波回路ではこの超高周波信号を包絡
線検波を行って被検出体の信号惜域(本実施例では3M
IIzの信号)に変換する。この帯域5 G 変換された信号は増幅回路5によって増幅され、その出
力信号の一部は図示されていない信号処理回路に送られ
、他の一部の信号はAFC回路8に分岐供給される。
AFC回路8ではこの入力されてくる信号をコンデンサ
29と30の平滑作用によりほぼ直流に近い400m1
[zに落とし、さらに積分回路で必要レヘルまで信号増
幅してこれを可変容量ダイオード33に加える。可変容
量ダイオード33はこの加えられる信号に従い容量を変
化させ、この客足変化でセラミック共振器12の共振周
波数1゜を最適に調整する。
29と30の平滑作用によりほぼ直流に近い400m1
[zに落とし、さらに積分回路で必要レヘルまで信号増
幅してこれを可変容量ダイオード33に加える。可変容
量ダイオード33はこの加えられる信号に従い容量を変
化させ、この客足変化でセラミック共振器12の共振周
波数1゜を最適に調整する。
本実施例によれば、発振回路部lの共振器と、共振回路
2の共振器とを共にセラミック共振器1012により構
成しているから、Qを大きな値にすることが可能となる
。しかも、セラミック共振器12の周囲部の回路、つま
り、インピーダンス変換回路6と、インダクタンス素子
21とコンデンサ25の共振回路と、AFC回路8とを
高インピーダンス化回路により構成しているから、セラ
ミノク共振器の動作時にQが低下することがなく、高感
度のもとで静電容量の微小変化を検出することが可能と
なる。
2の共振器とを共にセラミック共振器1012により構
成しているから、Qを大きな値にすることが可能となる
。しかも、セラミック共振器12の周囲部の回路、つま
り、インピーダンス変換回路6と、インダクタンス素子
21とコンデンサ25の共振回路と、AFC回路8とを
高インピーダンス化回路により構成しているから、セラ
ミノク共振器の動作時にQが低下することがなく、高感
度のもとで静電容量の微小変化を検出することが可能と
なる。
その上、本実施例では、検出部3で検出される静電容量
の微小変化を(、−L変換回路7によりインダクタンス
の微小変化に変換してセラミック共振器12へ加えてい
るから、Qあるいはインピーダンスが低い被検出体の静
電容量の変化を検出する場合においても、セラミック共
振器12のインピーダンスやQを低下させるということ
がなく、被検出体のQやインピーダンスの高低に関係な
く高感度のもとて静電容量の微小変化を検出することが
可能となる。
の微小変化を(、−L変換回路7によりインダクタンス
の微小変化に変換してセラミック共振器12へ加えてい
るから、Qあるいはインピーダンスが低い被検出体の静
電容量の変化を検出する場合においても、セラミック共
振器12のインピーダンスやQを低下させるということ
がなく、被検出体のQやインピーダンスの高低に関係な
く高感度のもとて静電容量の微小変化を検出することが
可能となる。
さらに、共振器をストリップラインを使用せずにセラミ
ック共振器1.0.12により構成したから、装置の超
小型が可能となる。すなわち、共振器をストリップライ
ンで構成すると、このストリップライン長として少くと
も発振周波数波長の%の長さを確保しなければならない
ため、ストリップラインの長さが長くなり、装置の小型
化を図ることが困難になるという問題がある。共振器を
講電体7 8 を用いて構成すれば、共振器の長さをストリップライン
を用いたもののε−172にすることができる。
ック共振器1.0.12により構成したから、装置の超
小型が可能となる。すなわち、共振器をストリップライ
ンで構成すると、このストリップライン長として少くと
も発振周波数波長の%の長さを確保しなければならない
ため、ストリップラインの長さが長くなり、装置の小型
化を図ることが困難になるという問題がある。共振器を
講電体7 8 を用いて構成すれば、共振器の長さをストリップライン
を用いたもののε−172にすることができる。
この誘電体を本実施例のようにセラミックにより構成す
れば、セラミックの誘電率εは40〜90であるので、
大幅な装色の小型化が図れることになる。
れば、セラミックの誘電率εは40〜90であるので、
大幅な装色の小型化が図れることになる。
本実施例では縦20肋×横20[IIIQ×高さ2On
+mという非常に小型の装置とすることができた。
+mという非常に小型の装置とすることができた。
本実施例の装置によればI Xl0−3〜lXl0−’
PFの微小静電容量の検出を高感度のもとて検出するこ
とが可能となり、したがって、本実施例の装置を、従来
の一般的な用途であるビデオディスクとスタイラス間の
静電容量変化等の検出装置としてはもとより、さらに微
小容量の高感度検出により始めて可能となる用途、例え
ば、人体容量センサ(人の室内侵入センサ)、微小位置
検出センサ、高温位置センサ(例えば800 ”C雰囲
気中での極限位置検出センサ)、高分解能ロータリーエ
ンコーダ、微小部品検出素子(例えばキャリアテープ上
のチップコンデンサ等の検出素子)、ガスセンサ(ガス
の種類によって静電容量の違いが生じることを利用した
ガスの識別センサ)、脈拍センサ(血液中に含まれる鉄
分の通過量の変化を利用した脈拍の検出センサ)、液体
相と固体相の相転移点検出センサ(固体、液体、気体の
状態図における液体相と固体相との転移点での誘電率変
化の検出センサ)、イオン検出センサ、湿度検出センサ
等の全く新しい機能、かつ、用途を持った高感度で信頼
性のある超小型の静電センサ装置を安価に提供すること
が可能となる。
PFの微小静電容量の検出を高感度のもとて検出するこ
とが可能となり、したがって、本実施例の装置を、従来
の一般的な用途であるビデオディスクとスタイラス間の
静電容量変化等の検出装置としてはもとより、さらに微
小容量の高感度検出により始めて可能となる用途、例え
ば、人体容量センサ(人の室内侵入センサ)、微小位置
検出センサ、高温位置センサ(例えば800 ”C雰囲
気中での極限位置検出センサ)、高分解能ロータリーエ
ンコーダ、微小部品検出素子(例えばキャリアテープ上
のチップコンデンサ等の検出素子)、ガスセンサ(ガス
の種類によって静電容量の違いが生じることを利用した
ガスの識別センサ)、脈拍センサ(血液中に含まれる鉄
分の通過量の変化を利用した脈拍の検出センサ)、液体
相と固体相の相転移点検出センサ(固体、液体、気体の
状態図における液体相と固体相との転移点での誘電率変
化の検出センサ)、イオン検出センサ、湿度検出センサ
等の全く新しい機能、かつ、用途を持った高感度で信頼
性のある超小型の静電センサ装置を安価に提供すること
が可能となる。
また、本実施例では、ダイオード22の動作点を0電圧
から負側に光分離れた位置に設定しているから、ダイオ
ード22の信号の振幅成分が正側領域に入り込んで導通
するということがなく、この可変容量ダイオード33の
インピーダンスを常時高い値に維持させることが可能と
なり、セラミック共振器12のQダンプを防止すること
が可能となる。
から負側に光分離れた位置に設定しているから、ダイオ
ード22の信号の振幅成分が正側領域に入り込んで導通
するということがなく、この可変容量ダイオード33の
インピーダンスを常時高い値に維持させることが可能と
なり、セラミック共振器12のQダンプを防止すること
が可能となる。
なお、本発明は上記実施例に限定されることはなく、様
々な実施の態様を採り得るものである。
々な実施の態様を採り得るものである。
例えば、上記実施例では、発振回路部1の共振器と、共
振回路2の共振器とを共にセラミック共振19 0 器to、 12により構成したが、これらの共振器の一
方あるいは両方をストリップラインにより構成してもよ
い。ただ、この場合は装置が大型となる。
振回路2の共振器とを共にセラミック共振19 0 器to、 12により構成したが、これらの共振器の一
方あるいは両方をストリップラインにより構成してもよ
い。ただ、この場合は装置が大型となる。
また、上記実施例では、AFC回路8のAFC信号を結
合コンデンサ34を介してセラミック共振器12に加え
ているが、これとは異なり、このAFC信号を例えば第
1図の鎖線で示すようにC−L変換回路7へ加えて、同
様に共振回路2の共振周波数と発振回路部1の発振周波
数との同調点の安定化を図るようにしてもよい。
合コンデンサ34を介してセラミック共振器12に加え
ているが、これとは異なり、このAFC信号を例えば第
1図の鎖線で示すようにC−L変換回路7へ加えて、同
様に共振回路2の共振周波数と発振回路部1の発振周波
数との同調点の安定化を図るようにしてもよい。
さらに、上記実施例では、C−L変換回路をトランジス
タジャイレータで形成したが、これを他の受動非相反素
子を用いて構成してもよい。
タジャイレータで形成したが、これを他の受動非相反素
子を用いて構成してもよい。
さらに、発振周波数は1〜10GHzの範囲に限定され
るものではない。使用態様によってMHz4WやGHz
帯の中から最適周波数が選択される。
るものではない。使用態様によってMHz4WやGHz
帯の中から最適周波数が選択される。
本発明は、微小静電容量の検出部と共振回路の共振器と
の間にC−L変換回路を介設したものであるから、被検
出体のQやインピーダンスが低い場合にも、この低イン
ピーダンスの影響が共振回路の共振器に及ぶことがない
。したがって、常時、共振器のQおよびインピーダンス
を高くした状態で静電容量の検出を行うことができ、こ
れにより、高感度のもとて微小静電容量の変化を検出す
ることが可能となる。
の間にC−L変換回路を介設したものであるから、被検
出体のQやインピーダンスが低い場合にも、この低イン
ピーダンスの影響が共振回路の共振器に及ぶことがない
。したがって、常時、共振器のQおよびインピーダンス
を高くした状態で静電容量の検出を行うことができ、こ
れにより、高感度のもとて微小静電容量の変化を検出す
ることが可能となる。
また、発振回路部の共振器と共振回路の共振器とを共に
セラミック共振器により構成することにより、装置の大
幅な軽量化および小型化を図ることが可能となる。
セラミック共振器により構成することにより、装置の大
幅な軽量化および小型化を図ることが可能となる。
さらに、C−L変換回路に発振回路部の発振周波数と共
振回路の共振周波数との同調点を安定化させる安定化制
御回路を接続することにより、常時同調点を最適設定位
置のもとで動作させることが可能となり、静電容量の検
出の信頼性を大幅に高めることができる。
振回路の共振周波数との同調点を安定化させる安定化制
御回路を接続することにより、常時同調点を最適設定位
置のもとで動作させることが可能となり、静電容量の検
出の信頼性を大幅に高めることができる。
第1図は本発明に係る静電センサ装置の一実施例の回路
図、第2図は同実施例におけるC−L変換回路の回路図
、第3図は同C−L変換回路の動1 2 作説明図、第4図は発振周波数と共振周波数との同調点
の設定方式を示す説明図、第5図は信号のレスポンス変
換例を示す説明図、第6図はRCA方式の一般的な静電
センサ製置のブロフク図、第7図はRCA方式の静電セ
ンサ装置の微小静電容量の検出動作の説明図である。 1・・・発振回路部、2・・・ノ(振回路、3・−・検
出部、4・・・検波部、5・・・増幅回路、6・・・高
インピーダンス変換回路、7・・・C−1−変換回路、
8・・・AFC回路、10・・・セラミック共振器、I
2・・・セラミック共振器、13.14.15.16・
・・トランジスタ、21・・・インダクタンス素子、2
2・・・ダイオード、23・・・コンデンサ、24・・
・抵抗器、25・・・結合コンデンサ、2G・・・コン
デンサ、27・・・トランジスタ、28・・・オペアン
プ、29.30・・・コンデンサ、31・・・可変抵抗
器、32・・・抵抗器、33・・・可変容量ダイオード
、34・・・結合コンデンサ、35・−・抵抗器。
図、第2図は同実施例におけるC−L変換回路の回路図
、第3図は同C−L変換回路の動1 2 作説明図、第4図は発振周波数と共振周波数との同調点
の設定方式を示す説明図、第5図は信号のレスポンス変
換例を示す説明図、第6図はRCA方式の一般的な静電
センサ製置のブロフク図、第7図はRCA方式の静電セ
ンサ装置の微小静電容量の検出動作の説明図である。 1・・・発振回路部、2・・・ノ(振回路、3・−・検
出部、4・・・検波部、5・・・増幅回路、6・・・高
インピーダンス変換回路、7・・・C−1−変換回路、
8・・・AFC回路、10・・・セラミック共振器、I
2・・・セラミック共振器、13.14.15.16・
・・トランジスタ、21・・・インダクタンス素子、2
2・・・ダイオード、23・・・コンデンサ、24・・
・抵抗器、25・・・結合コンデンサ、2G・・・コン
デンサ、27・・・トランジスタ、28・・・オペアン
プ、29.30・・・コンデンサ、31・・・可変抵抗
器、32・・・抵抗器、33・・・可変容量ダイオード
、34・・・結合コンデンサ、35・−・抵抗器。
Claims (2)
- (1)発振周波数信号を出力する発振回路部と、被検出
体との静電容量変化を検出する検出部と、この検出部で
検出される静電容量の微小変化で共振周波数が変化する
共振回路とを有する静電センサ装置において、前記検出
部と共振回路との間には検出部で検出される静電容量の
変化をインダクタンスの変化に変換して共振回路に伝え
るC−L変換回路が介設されていることを特徴とする静
電センサ装置。 - (2)発振回路部の発振器と、共振回路の共振器とはと
もにセラミック共振器により構成されている特許請求の
範囲第1項の静電センサ装置。(3)共振回路又はC−
L変換回路には発振回路部の発振周波数と共振回路の共
振周波数との同調点を安定化させる安定化制御回路が接
続されている特許請求の範囲第1項又は第2項の静電セ
ンサ装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1207216A JP2536632B2 (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | 静電センサ装置 |
| DE69010568T DE69010568T2 (de) | 1989-05-19 | 1990-05-17 | Keramisches resonanzartiges Elektrostatikfühlergerät. |
| EP90305360A EP0398728B1 (en) | 1989-05-19 | 1990-05-17 | Ceramic resonance type electrostatic sensor apparatus |
| US07/526,247 US5231359A (en) | 1989-05-19 | 1990-05-18 | Ceramic resonance type electrostatic sensor apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1207216A JP2536632B2 (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | 静電センサ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0371054A true JPH0371054A (ja) | 1991-03-26 |
| JP2536632B2 JP2536632B2 (ja) | 1996-09-18 |
Family
ID=16536167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1207216A Expired - Fee Related JP2536632B2 (ja) | 1989-05-19 | 1989-08-10 | 静電センサ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2536632B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8132393B2 (en) | 2008-03-04 | 2012-03-13 | Sealed Air Corporation | Radial compression system for rolls of material and associated method |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5171756A (ja) * | 1974-11-14 | 1976-06-21 | Philips Nv | |
| JPS586540A (ja) * | 1981-07-02 | 1983-01-14 | Alps Electric Co Ltd | ビデオデイスク用静電容量検出回路 |
-
1989
- 1989-08-10 JP JP1207216A patent/JP2536632B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5171756A (ja) * | 1974-11-14 | 1976-06-21 | Philips Nv | |
| JPS586540A (ja) * | 1981-07-02 | 1983-01-14 | Alps Electric Co Ltd | ビデオデイスク用静電容量検出回路 |
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| US8132393B2 (en) | 2008-03-04 | 2012-03-13 | Sealed Air Corporation | Radial compression system for rolls of material and associated method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2536632B2 (ja) | 1996-09-18 |
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